JP2909672B2 - 測定器のパネル情報設定装置 - Google Patents

測定器のパネル情報設定装置

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JP2909672B2
JP2909672B2 JP3301145A JP30114591A JP2909672B2 JP 2909672 B2 JP2909672 B2 JP 2909672B2 JP 3301145 A JP3301145 A JP 3301145A JP 30114591 A JP30114591 A JP 30114591A JP 2909672 B2 JP2909672 B2 JP 2909672B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測定器の測定項目毎の
操作パネルの情報をパネル情報とし、複数組のパネル情
報をメモリに記憶させて、このメモリから読み出したパ
ネル情報を、操作パネルの表示部および測定部へ設定す
る測定器のパネル情報設定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、同一製品の測定検査を連続して
行なう場合、その製品に対して測定条件の異なる複数の
測定項目があるときに、測定項目を変える毎に、測定器
の操作パネルのキー操作で多数の測定条件を変更設定し
ていたのでは、効率が極めて悪い。
【0003】このため、予め各測定項目毎の測定条件に
対応した操作パネルのパネル情報をメモリに記憶し、こ
のメモリに対して指定されたアドレスのパネル情報を、
測定部へ一挙に設定するパネル情報設定装置を備えた測
定器が従来よりあった。
【0004】図6は、この種の測定器に用いられている
従来のパネル情報設定装置の概略構成を示すブロック図
である。
【0005】図6において、メモリ1には、例えば10
個のパネル情報D0〜D9がアドレス順に記憶されてお
り、そのアドレスは、アドレスカウンタ2によって指定
される。
【0006】アドレスカウンタ2は、アップダウンパル
ス出力手段3からのパルスを受けてアドレス値を増減さ
せる。アップダウンパルス出力手段3は、ロータリノブ
4の回転操作を検知して、アップパルスまたはダウンパ
ルスを出力する。
【0007】パネル情報読出手段5は、リコールキー6
がオン操作されると、メモリ1に対して読出信号Rを出
力し、アドレスカウンタ2によって指定されたアドレス
に記憶されているパネル情報をメモリ1から読出して、
図示しない操作パネルの表示部および測定部へ設定す
る。
【0008】したがって、予め、メモリ1に、測定を行
なう順番にパネル情報を記憶させておけば、ロータリノ
ブ4を一定方向に回転操作するだけで、測定項目毎のパ
ネル情報を次々に切り換えることができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような従来のパネル情報設定装置では、メモリ1に設定
した複数のパネル情報のうち一部だけを用いて測定を行
なう場合、必要なパネル情報の数に対して、ロータリノ
ブ2の操作回数は多くなってしまう。
【0010】例えば、必要なパネル情報が、D0、D
2、D4、… 等のように1つおきの場合であっても、
D0→D1→D2、D2→D3→D4、…のように、不
要なパネル情報の分も含めてロータリノブ2を操作しな
ければならない。
【0011】また、例えば、必要なパネル情報がD0〜
D5までの場合に、D5からD0へ戻すために、D5→
D6→D7→D8→D9→D0あるいはD5→D4→D
3→D2→D1→D0までの無駄な操作が必要となり、
効率的な測定を行なうことができなかった。
【0012】これは、アップダウンキー等によってメモ
リ1をアドレスする場合でも同様である。
【0013】本発明は、この課題を解決したパネル情報
設定装置を提供することを目的としている。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明の測定器のパネル情報設定装置は、測定器の操
作パネルに表示される1組の測定条件に対応したパネル
情報を予めメモリに複数記憶させ、前記メモリに対して
読出アドレスを指定することによって、該指定されたア
ドレスのパネル情報を、測定部および表示部へ設定する
測定器のパネル情報設定装置において、前記メモリに記
憶されている任意のパネル情報に所定のスキップデータ
を付加するスキップデータ書込み手段と、前記メモリに
対して読出アドレスを出力するアドレス出力手段と、前
記アドレス出力手段から前記メモリへ出力される読出ア
ドレスを1つずつ増減可変するためのアップダウン操作
部と、前記アップダウン操作部の操作を検知して、前記
スキップデータが付加されていないパネル情報が前記メ
モリから読み出されるまで、前記メモリに対する読出ア
ドレスを、前記アップダウン操作部の操作方向と同一方
向に可変するスキップ読出手段とを備えている。
【0015】
【作用】本発明の測定器のパネル情報設定装置は、上記
のように構成されているため、メモリに記憶されている
複数のパネル情報のうち任意のパネル情報にスキップデ
ータを付加することができ、パネル情報を切り換えるた
めにアップダウン操作部が操作されると、スキップ読出
手段によって、スキップデータが付加されていないパネ
ル情報がメモリから読み出されるまで、読出アドレスが
アップダウン操作部の操作方向に可変される。
【0016】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
【0017】図1は、信号発生器のパネル情報設定装置
に本発明を適用した実施例を示す機能ブロック図であ
る。
【0018】この信号発生器の操作部10には、パネル
情報のアドレス指定および測定条件の数値データ入力の
ためのテンキー11と、後述するリコールモード時の読
出アドレスの可変操作のためのロータリノブ12、アッ
プキー13、ダウンキー14と、周波数設定キー15、
出力レベル設定キー16、変調モード設定キー17等
(以下、図示せず)の各設定キーと、パネル情報設定装
置30への情報の書込みあるいは読出しを行なうための
リコールキー20、イニシャルキー21、メモリーキー
22、ストアキー23およびスキップキー24が設けら
れている。
【0019】また、この操作部10には、現在の測定条
件と、後述するメモリ31のアドレス値を表示する表示
部25が設けられており、この表示部25に表示されて
いるパネル情報は、インタフェース回路(以下、I/O
回路と記す)26を介して測定部である信号発生回路2
7へ設定されている。
【0020】パネル情報設定装置30は、マイクロコン
ピュータによって構成されており、図1はその機能ブロ
ックを示している。
【0021】パネル情報設定装置30のメモリ31は、
例えば00番地から99番地までのアドレスを有してお
り、各アドレスは、図2に示すように、周波数データ
F、出力レベルデータL、変調データMおよびスキップ
データSを格納できるビット長さを有している。
【0022】このメモリ31は、アドレス出力手段であ
るアドレスカウンタ32の出力値によってアドレス指定
される。
【0023】アドレスカウンタ32は、テンキー11で
入力された値にアドレスをセットし、後述するスキップ
読出手段40からのアップダウンパルスによって、アド
レスを1つずつ増減させる。
【0024】測定条件入力手段34は、各設定キー(周
波数設定キー15、出力レベル設定キー16等)の操作
による情報とともにテンキー11から入力される数値デ
ータを組み合わせてパネル情報とし、このパネル情報を
表示部25およびI/O回路26へ出力する。なお、こ
の測定条件入力手段34は、後述するスキップ読出手段
40によってメモリ31からパネル情報が読み出されて
いる状態(以下、リコールモードと記す)のときには、
パネル情報の出力が停止される。
【0025】パネル情報書込み手段35は、イニシャル
キー21がオン操作されると、スキップ読出手段40に
よるリコールモードを解除させ、測定条件入力手段34
から設定されるパネル情報を表示部25およびI/O回
路26へ出力させ、メモリ31へ書き込むためのパネル
情報の入力を可能な状態(以下、書込みモードと記す)
にする。
【0026】そして、メモリーキー22がオン操作され
ると、測定条件入力手段34から入力された1組のパネ
ル情報をラッチし、メモリーキー22のオン操作後にス
トアキー23がオン操作されると、メモリ31へ書込み
信号Wを出力して、ラッチしているパネル情報をアドレ
スカウンタ32で指定されるアドレスに書き込む。
【0027】スキップデータ書込み手段36は、メモリ
ーキー22がオン操作された後に、スキップキー24が
オン操作されると、アドレスカウンタ32で指定される
アドレスに記憶されているデータの最終ビットに「1」
のスキップデータを書き込む。
【0028】なお、メモリ31に対するパネル情報およ
びスキップデータの書込みの際に、アドレスカウンタ3
2は、テンキー11からのアドレスセットのみを受付け
るように構成されている。
【0029】スキップ読出手段40は、リコールキー2
0がオン操作されたリコールモードのとき、測定条件入
力手段34のパネル情報の出力を停止させるとともに、
メモリ31に対して読出信号Rを出力してメモリ31か
らパネル情報を読み出す。
【0030】図3は、リコールモードにおけるスキップ
読出手段40の処理手順を示すフローチャートであり、
以下、スキップ読出手段40をこのフローチャートによ
って説明する。
【0031】スキップ読出手段40は、リコールモード
において、ロータリノブ12がアップ方向へ操作される
か、またはアップキー13が操作されると、アップパル
スをアドレスカウンタ32へ1つ出力して、メモリ31
に対するアドレスを1つ増加させる(ステップ1、
2)。
【0032】このアドレス指定によってメモリ32から
読み出されたデータに、パネル情報が書き込まれてい
て、しかもスキップデータが付加されていないときに
は、このパネル情報を表示部25およびI/O回路26
へ出力して、信号発生回路27へ設定する(ステップ3
〜5)。
【0033】また、パネル情報が書き込まれていない場
合またはスキップデータが付加されている場合には、さ
らにアップパルスを1つ出力して、次のアドレスを指定
させる。以下同様にして、スキップデータが付加されて
いないパネル情報が読み出されるまで、アップパルスを
連続的に出力する。
【0034】また、逆にロータリノブ12がダウン操作
されるか、あるいはダウンキー14が操作された場合に
は、スキップデータが付加されていないパネル情報が読
み出されるまで、アドレスカウンタ32へダウンパルス
を出力する(ステップ6〜8)。
【0035】したがって、ロータリノブ12を同一方向
に操作し続けると、このスキップ読出手段40からは、
スキップデータが付加されていないパネル情報のみが、
順番に信号発生回路27へ設定されることになる。
【0036】次にこの信号発生器のパネル情報の設定動
作について説明する。
【0037】始めに、メモリ31へのパネル情報の書込
みについて説明する。
【0038】例えば、メモリ31の00番地へ、周波数
12MHz、出力レベル−20dBm、AM50%変調
等からなる1つのパネル情報を書き込む場合には、始め
にイニシャルキー21をオン操作する。
【0039】この操作によって測定条件入力手段34か
らのパネル情報の入力が可能な状態に設定される。
【0040】ここで、周波数設定キー15のオン操作に
続いてテンキー11から「12」が入力され、出力レベ
ル設定キー16のオン操作に続いてテンキー11から
「−20」が入力され、変調モード設定キー17による
AM変調指定に続いてテンキー11から「50」が入力
されると、これらの入力された各測定条件は、表示部2
5およびI/O回路26へ出力される。
【0041】表示部25に表示された測定条件に間違い
がないことが確認された後、メモリーキー22がオン操
作されると、これらの測定条件は、1組のパネル情報と
して、パネル情報書込み手段35にラッチされる。
【0042】次に、テンキー11によって「00」が入
力されると、、メモリ31のアドレスが00番地に指定
され、例えば図4に示すように、このアドレス値と、各
測定条件が表示部25に表示される。
【0043】ここで、ストアキー23がオン操作される
と、パネル情報書込み手段35は、メモリ31に書込み
信号Wを出力して、表示部25に表示されているパネル
情報をメモリ31の00番地に書き込む。
【0044】以下同様の操作を繰り返すことによって、
任意のアドレスに任意のパネル情報を書き込むことがで
きる。
【0045】また、このようにして書き込んだパネル情
報のうち、例えば、通常の測定では、頻繁に使用しない
特別なパネル情報に、スキップデータを書き込む場合に
は、メモリーキー22をオン操作し、テンキー11によ
って、特別なパネル情報のアドレスを指定した後、スキ
ップキー24をオン操作する。
【0046】この操作によって、スキップデータ書込み
手段36は、メモリ31の指定されたアドレスに書き込
まれているデータの最終ビットに「1」のスキップデー
タを書き込む。
【0047】次に、図5に示すように複数のパネル情報
が書き込まれたメモリ31から順番にパネル情報を読み
出して、信号発生回路27へ設定する場合の動作につい
て説明する。
【0048】アドレスが10番地の状態でリコールキー
20がオン操作されると、スキップ読出手段40は、リ
コールモードとなり、この状態からロータリノブ12が
アップ方向に1回操作されると、アドレスカウンタ32
へアップパルスが出力されて、アドレスが11番地に指
定される。
【0049】11番地のデータには、パネル情報が書き
込まれており、しかもスキップデータが付加されていな
いため、このパネル情報はスキップ読出手段40から信
号発生回路27へ設定される。
【0050】ロータリノブ12をアップ方向へ操作し続
けた場合には、10番地以降のスキップデータの無いパ
ネル情報が、「10」→「11」→「13」→「15」
→「19」… のアドレス順に設定されることになる。
【0051】また、逆にロータリノブ12をダウン方向
に操作した場合には、「10」→「08」→「07」→
「05」→「03」…のアドレス順にパネル情報が次々
に設定されることになり、必要なパネル情報のみを順番
に設定することができる。
【0052】また、特定のパネル情報を設定したい場合
には、テンキー11によってそのアドレスを指定すれば
よく、この場合には、スキップデータの有無の判定はお
こなわれない。
【0053】なお、前記実施例では、信号発生器のパネ
ル情報設定装置に本発明を適用していたが、信号発生器
だけでなく、スペクトラムアナライザ等の各種の分析測
定装置についても本発明を同様に適用できる。
【0054】また、前記実施例では、パネル情報の書き
込み操作あるいは読出操作のためにそれぞれ専用のキー
を用いていたが、測定条件設定するための各種のキーを
代用して、パネル情報の読出操作や書込み操作を行なう
ようにしてもよい。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の測定器の
パネル情報設定装置は、メモリに記憶された任意のパネ
ル情報にスキップデータを付加することができ、アップ
ダウン操作部が操作されると、スキップ読出手段によっ
て、スキップデータが付加されていないパネル情報が読
み出されるまで、読出アドレスが可変されて、スキップ
データの付加されていないパネル情報のみが測定部に設
定される。
【0056】このため、予め、頻繁に使用しない測定項
目のパネル情報にスキップデータを付加しておけば、必
要なパネル情報のみを順番に設定することができ、測定
効率が格段に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す機能ブロック図
である。
【図2】一実施例のパネル情報の記憶状態を示すメモリ
図である。
【図3】一実施例のパネル情報読出動作の手順を示すフ
ローチャートである。
【図4】一実施例の書込み動作中の表示状態を示す図で
ある。
【図5】一実施例のパネル情報の記憶状態を示すメモリ
図である。
【図6】従来装置の構成を示す概略ブロック図である。
【符号の説明】
10 操作部 11 テンキー 12 ロータリノブ 13 アップキー 14 ダウンキー 15 周波数設定キー 16 出力レベル設定キー 17 変調モード設定キー 20 リコールキー 21 イニシャルキー 22 メモリーキー 23 ストアキー 24 スキップキー 25 表示部 26 インタフェース回路 27 信号発生回路 30 パネル情報設定装置 31 メモリ 32 アドレスカウンタ 34 測定条件入力手段 35 パネル情報書込み手段 36 スキップデータ書込み手段 40 スキップ読出手段

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定器の操作パネルに表示される1組の測
    定条件に対応したパネル情報を予めメモリに複数記憶さ
    せ、前記メモリに対して読出アドレスを指定することに
    よって、該指定されたアドレスのパネル情報を、測定部
    および表示部へ設定する測定器のパネル情報設定装置に
    おいて、 前記メモリに記憶されている任意のパネル情報に所定の
    スキップデータを付加するスキップデータ書込み手段
    と、 前記メモリに対して読出アドレスを出力するアドレス出
    力手段と、 前記アドレス出力手段から前記メモリへ出力される読出
    アドレスを1つずつ増減可変するためのアップダウン操
    作部と、 前記アップダウン操作部の操作を検知して、前記スキッ
    プデータが付加されていないパネル情報が前記メモリか
    ら読み出されるまで、前記メモリに対する読出アドレス
    を、前記アップダウン操作部の操作方向と同一方向に可
    変するスキップ読出手段とを備えたことを特徴とする測
    定器のパネル情報設定装置。
JP3301145A 1991-10-21 1991-10-21 測定器のパネル情報設定装置 Expired - Lifetime JP2909672B2 (ja)

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JPH05113352A JPH05113352A (ja) 1993-05-07
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