JP2925995B2 - 半導体素子の基板電圧調整装置 - Google Patents
半導体素子の基板電圧調整装置Info
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Description
電圧調整装置に係り、外部から印加する電源電圧の変化
に拘わらず半導体素子の基板電圧を一定に維持し、素子
のしきい電圧の変化及びこれによる素子の動作時点の変
化を防止して、正確な回路動作を行い得るようにした半
導体素子の基板電圧調整装置に関するものである。
性能を向上するためには負の基板電圧VBBが必要とな
り、このとき該負の電圧(negative voltage)を外部電
源から基板に印加していたが、別の電源を必要とするた
め電源装置が複雑となる。そこで、外部電源電圧の必要
性を除いた基板電圧調整装置が開発され、このような従
来の基板電圧発生装置においては、図3に示すように、
基板103と、該基板103に印加する基板電圧の制御
用信号を出力する基板電圧調整器100と、該基板電圧
調整器100から出力した信号により発振する発振器1
01と、該発振器101の出力信号により基板電圧を発
生し、前記基板103に供給する基板電圧発生器102
と、から構成されていた。
基板103に印加する電圧は、前記基板電圧調整器10
0の制御信号により発振器101及び基板電圧発生器1
02が順次制御されて発生される。
おいては、図4に示すように、ソース端子は電源電圧に
連結され、ゲート端子は接地され、ドレイン端子は後述
するNMOSトランジスタ105のドレイン端子に連結
されるPMOSトランジスタ104と、ドレイン端子は
前記PMOSトランジスタ104のドレイン端子と共通
接続され、ゲート端子は接地され、ソース端子は後述す
る電圧降下部106のNMOSトランジスタ100のド
レイン端子に連結されるNMOSトランジスタ105
と、該NMOSトランジスタ105のソース端子からの
出力信号を所定レベルの電圧に降下し、基板電圧端子に
印加する電圧降下部106と、ソース端子は電源電圧に
連結され、ドレイン端子は前記PMOSトランジスタ1
04のドレイン端子と接続され、ゲート端子は後述する
インバーター108の出力端子と共通連結されるPMO
Sトランジスタ107と、該PMOSトランジスタ10
7と前記PMOSトランジスタ104とのドレイン端子
から出力する信号を反転するインバーター108と、該
インバーター108から出力された制御信号により発振
する発振器101と、該発振器101から出力された信
号により基板電圧を発生し、基板に印加する基板電圧発
生器102と、からなっていた。
装置の作用について説明する。先ず、電源電圧がPMO
Sトランジスタ104のソース端子に印加されると、該
PMOSトランジスタ104はターンオンし、前記NM
OSトランジスタ105はターンオフされ、ノードND
には電源電圧の損失なしに電圧が現われるので、高電位
を維持する。次いで、該高電位の電圧が前記インバータ
ー108に印加され、反転された低電位の電圧に変化
し、該低電圧は発振器101に印加されて発振動作が行
われ、基板電圧発振器102は前記発振器101の出力
信号により制御され負の基板電圧VBBを発生する。次
いで、該負の基板電圧VBBが図3の基板103に印加
されると、その瞬間の基板電圧の変化を感知するため設
置されたNMOSトランジスタ105のゲート端子とソ
ース端子間の電位差はしきい電圧よりも増加するので、
前記NMOSトランジスタ105はターンオンされる。
経路のループ経路が形成され、該ループ経路の形成され
る瞬間ノードND側から基板方向に放電が起こり、ノー
ドNDの電位は高電位から低電位に変化する。次いで、
該ノードNDの低電位信号が前記インバーター108の
入力端子に印加され、反転されて高電位となる。
された高電位信号は発振器101に印加されて該発振器
101の動作が停止され、基板電圧発生器102の動作
も停止して基板電圧の供給が中断される。
より基板電圧が上昇して前記基板電圧とNMOSトラン
ジスタ105のゲート端子間の電位差がしきい電圧より
も低くなると、NMOSトランジスタ105はターンオ
フされ、ノードNDの電圧VOUTは、電源電圧により
再び高電位に変化し、前記インバーター108により低
電位に変化して、前記発振器101及び基板電圧発生器
102が再び動作され、元来の安定な基板電圧が発生さ
れる。即ち、上昇した基板電圧は再び元来の安定な基板
電圧値に変換され、半導体素子の動作が安定化される。
ステリシス用として設置された素子であって、前記イン
バーター108から出力された電圧レベルが変化する過
渡状態における発振器101及び電圧発生器102の誤
動作を防止する。
の作用を数式を用いて説明する。基板電圧調整器100
が動作して正常レベルの基板電圧が生成されると、PM
OSトランジスタ104とNMOSトランジスタ105
とは全て飽和領域で動作する。即ち、前記PMOSトラ
ンジスタ104のソース端子とドレイン端子間の電流I
DSPは式(1)に、前記NMOSトランジスタ105
のソース端子とドレイン端子間の電流IDSNは式
(2)にて夫々表示される。
トランジスタ104及びNMOSトランジスタ105の
しきい電圧であり、KPとKNは夫々PMOSトランジ
スタ104とNMOSトランジスタ105の常数であ
る。
Nは同様な値であるため、基板電圧VBBに対し整理す
ると、式(3)が求められる。
いうことがわかる。この場合、図2中にAで示したよう
に、基板電圧は線形的に電源電圧に比例し、理想的には
電源電圧が増加しても基板電圧は一定値を維持すべきで
ある。
PMOSトランジスタ104とNMOSトランジスタ1
05とを用いて基板電圧調節器を構成すると、式(3)
に示したように、基板電圧が電源電圧の増加に従い線形
的に増加し、基板電圧の変動が各素子のしきい電圧を変
化させて回路の動作時点を変化させ、正確な回路動作を
得ることができないという不都合な点があった。
る電源電圧の変化に拘わらず半導体素子の基板電圧を一
定に維持し、素子のしきい電圧による素子の動作時点の
変化を防止して正確な回路動作を行い得る基板バイアス
電圧調整装置を提供しようとするものである。
明の目的を達成するため半導体素子の基板電圧調整装置
においては、印加する電源電圧の電流を制御する抵抗R
1と、該抵抗R1の他方側端に複数の抵抗が直列に連結
され所定レベルに電圧を調整する微細抵抗調整部と、該
微細抵抗調整部の他方側端にドレイン端子が連結され、
ゲート端子は接地され、ソース端子が基板に連結され、
該基板の電圧により動作が制御される第1NMOSトラ
ンジスタと、前記微細抵抗調整部の他方側端と前記第1
NMOSトランジスタとの共通接続点からの出力信号が
前記インバーターに印加して反転された後ゲート端子に
印加し、ソース端子及びドレイン端子は前記微細抵抗調
整部の所定抵抗に間断的に接続し、該微細抵抗調整部の
抵抗値を調整するPMOSトランジスタと、を備えてい
る。
装置の実施形態について図面を用いて詳細に説明する。
側端に印加され、電流を制限する抵抗R1と、該抵抗R
1の他方側端に接続され、微細に抵抗値を調整する微細
抵抗調整部204と、該微細抵抗調整部204の出力信
号を反転するインバーター201と、該インバーター2
01の反転された出力信号がゲート端子に印加されるP
MOSトランジスタ203と、前記微細抵抗調整部20
4の出力信号がドレイン端子に印加され、ゲート端子は
接地され、ソース端子は後述する電圧降下部に連結され
る第1NMOSトランジスタ200と、該第1NMOS
トランジスタ200のソース端子からの出力信号が印加
され、所定レベルに電圧を降下させて基板電圧端子(図
示せず)に出力する電圧降下部202と、前記インバー
ター201からの制御信号によりリングオシレータが発
振し、該発振された信号を出力する発振器101と、該
発振器101の出力信号により基板電圧を発生し、基板
に出力する基板電圧発生器102と、から構成されてい
る。
1に示すように、抵抗R1とノードNnとの間に直列に
連結された抵抗R2〜Rnと、前記各抵抗R2〜Rnと
並列に連結されたスイッチSW1〜SWn−1と、から
なっている。
前記第1NMOSトランジスタ200のソース端子から
の出力信号がドレイン端子とゲート端子とに共通に印加
され、ソース端子は基板電圧端子(図示せず)に接続さ
れた第2NMOSトランジスタ205とによりなってい
る。
圧調整装置の作用を説明する。
の瞬間第NノードNnの出力電圧VOUTは、NMOS
トランジスタ200のソース端子の電位がゲート端子の
電位と殆ど同様であるため動作せず、電源電圧はそのま
ま現われる。即ち、出力電圧VOUTは、高電位となっ
てインバーター201の入力端子に印加され、該インバ
ーター201を通って低電位になり、発振器101と基
板電圧発生器102とを動作させ、負電圧を発生した
後、基板電圧を基板103に供給する。
給される瞬間、NMOSトランジスタ200のゲート端
子とソース端子間の電圧差がしきい電圧よりも大きくな
るのでNMOSトランジスタ200が動作し、該NMO
Sトランジスタ200の動作により第NノードNnから
基板電圧間に電流経路の放電ループが形成される。
電圧方向に放電が起こり、第NノードNnの電圧VOU
Tは低電位になって前記インバーター201を通って高
電位に変化し、前記発振器101と基板電圧発生器10
2との動作を停止させ、基板103に供給される基板電
圧の発生を中止させる。
基板電圧VBBが上昇してNMOSトランジスタ200
のゲート端子とソース端子との電位差がしきい電圧より
も小さくなると、前記NMOSトランジスタ200は動
作しなくなり、再び第Nノードの電圧は電源電圧の高電
位に変換される。
発生器102を動作させ、上昇した基板電圧を元来の決
められた安定な電圧に降下させる役割を行う。
と微細抵抗調節部204との接続関係及び動作について
説明する。
端子及びドレイン端子を各スイッチSWa、SWbを通
って抵抗R2の両方端子の第1ノードN1と第2ノード
N2とに接続する場合は、抵抗R2と並列連結されたス
イッチSW1は開放し、残りの各スイッチSW2〜SW
n−1はショートさせる。また、前記スイッチSWa、
SWbを第1ノードN1と第3ノードN3とに接続する
場合は、前記各抵抗R2、R3と夫々並列接続された各
スイッチSW1、SW2は開放し、残りの各スイッチS
W3、SW4〜SWn−1はショートさせる。
能になって半導体設計時にヒステリシス電圧レベルの調
整が容易になり、前記発振器101及び基板電圧発生器
102の動作時と停止時間の過渡状態における誤動作を
防止するためのヒステリシス電圧レベルの調整が容易に
なる。
いて数式を用いて説明する。図1に示したように、正常
状態で基板電圧調整器が動作するとき抵抗R1、R2〜
Rnを通って流れる電流I R は次式(4)に示したよう
になる。(但し、R=R1+R2+…+Rn)
飽和領域で動作し、ドレイン端子とソース端子間に流れ
る電流IDSNは前記式(2)のようになる。
値を有するため、基板電圧に対し整理すると次の式
(5)が得られる。
することが分かる。且つ、本発明に係る電源電圧と基板
電圧との関係においては、図2中のBに示すように、電
源電圧が増加しても所定の基板電圧値に至ると、基板電
圧の変化はないということが分かる。
時には、従来装置のグラフAに比べ、本発明装置のグラ
フBが理想的な基板電圧に近接されているということが
分かり、この点は半導体チップ内部の初期電源の設定時
に有利である。
体素子の基板電圧調整装置は、外部から印加する電源電
圧の不安定な変化に拘わりなく半導体素子の基板電圧を
一定に維持し、半導体素子のしきい電圧変化とこれによ
る半導体素子の動作時点の変化とを防止して、正確な回
路動作を行い得るという効果がある。
示したブロック図である。
と基板電圧VBB間の相関関係比較表示グラフである。
ブロック図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 電源端子に一方端子が接続された第1の
抵抗と、前記第1の 抵抗の他方端子に接続されかつ互いに直列に
接続された複数の第2の抵抗を含み、出力電圧を所定レ
ベルに調整して出力ノードから出力する微細抵抗調整部
と、前記 微細抵抗調整部の出力ノードにドレイン端子が接続
され、ゲート端子が接地され、ソース端子が基板に接続
され、前記基板の電圧により動作が制御される第1のN
MOSトランジスタと、前記微細抵抗調整部 の出力電圧を反転するインバーター
と、前記 インバーターの出力電圧により発振する発振器と、前記 発振器の出力電圧により基板電圧を発生する基板電
圧発生器と、前記インバーターの出力電圧が ゲート端子に印加される
PMOSトランジスタと、前記PMOSトランジスタのソース端子を前記複数の第
2の抵抗のうちいずれか1つの抵抗の高電圧側端子に接
続する第1のスイッチと、 前記PMOSトランジスタのドレイン端子を前記複数の
第2の抵抗のうち当該他のいずれか1つの抵抗の高電圧
側端子に接続する第2のスイッチと、 前記第1のNMOSトランジスタと前記基板との間に挿
入され、ドレイン端子及びゲート端子が前記第1のNM
OSトランジスタのソース端子に共通に接続され、ソー
ス端子が前記基板に接続され、前記第1のNMOSトラ
ンジスタに印加する電圧を所定レベルに降下させる第2
のNMOSトランジスタと を備えた半導体素子の基板電
圧調整装置。 - 【請求項2】 前記微細抵抗調整部は、前記複数の第2
の抵抗にそれぞれ並列に接続された複数の第3のスイッ
チを含み、前記複数の第3のスイッチのうち、前記PM
OSトランジスタに接続されるときに前記PMOSトラ
ンジスタのソース端子とドレイン端子との間に接続され
る1又は複数の第2の抵抗に並列に接続された1または
複数の第3のスイッチはオフされ、それ以外の第3のス
イッチはオンされるようになる請求項1記載の半導体素
子の基板電圧調整装置。
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