JP2922743B2 - 熱処理装置 - Google Patents

熱処理装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、液晶用ガラス基板や
半導体ウエハなど(以下、「基板」という)に熱処理を
施す熱処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は、従来の熱処理装置を示す模式図
である。この装置は、レジスト等が塗布された基板を加
熱する装置であり、特にダイレクト式と称されるもので
ある。この装置には、発熱体たる面発熱ヒータ2が設け
られており、この面発熱ヒータ2の上面にプレート4が
載置される一方、裏面側にヒータ押え板6が配置されて
いる。そして、プレート4の上方主面に熱処理対象たる
基板8を載置するようになっている。なお、同図におい
て、10はプレートカバーである。
【0003】このように構成された熱処理装置では、図
示を省略する適当な保持機構(例えば、吸着機構)によ
って基板8をプレート4上に吸着固定した状態のまま
で、面発熱ヒータ2に通電することによって、面発熱ヒ
ータ2が発熱し、その熱がプレート4を介して基板8に
与えられて、基板8が加熱処理される。
【0004】また、上記のようにして熱処理を行ってい
る間も、その周辺で作業者や他の処理ユニットは種々の
作業を行うので、高温になる部分(面発熱ヒータ2,プ
レート4,ヒータ押え板6,基板8,プレートカバー1
0)をその周辺の作業領域から断熱・隔離する必要があ
る。そこで、従来より、高温部分を比較的大きな断熱カ
バー12で覆って周辺作業領域と隔離している。この断
熱カバー12は、手動で開閉可能となっており、メンテ
ナンス時に作業者が開閉させる以外は、通常閉成されて
いる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の熱処理装置で
は、プレート4の上方位置に断熱カバー12によって形
成された比較的大きな空間14が存在している。そのた
め、プレート4からの熱の一部はその空間14に逃げ、
その結果、基板8の昇温速度が遅くなるという問題が生
じていた。また、空間14に逃げた熱によって断熱カバ
ー12の温度が高くなり、熱処理装置の周辺に配置され
た他の処理ユニットに熱影響を与えることもある。さら
に、このように断熱カバー12の温度が上昇するという
ことは、熱処理装置の周辺で作業する作業者の安全性の
面でも好ましくない。
【0006】図9に示すように、熱処理対象たる基板8
の回りに比較的広い空間14が存在するため、その空間
14における外乱(例えば、空気流、熱の対流など)の
影響が基板8に及び、基板8の昇温速度が低下するだけ
でなく、基板8の面内温度分布が不均一となるといった
問題も生じる。
【0007】さらに、近年、製品の種類などに対応し
て、基板8の面内温度分布を適当に制御したいというニ
ーズがあるが、従来の熱処理装置では、単にプレート4
を介して基板8に熱を与えて基板8を熱処理しているだ
けなので、基板8の面内温度分布を操作することは困難
であり、上記ニーズを満足することができなかった。
【0008】この発明は、上記課題を解消するためにな
されたもので、断熱カバーの昇温を防止する一方、その
面内温度分布の均一性を維持しながら、熱処理対象たる
基板を高速度で昇温させることができる熱処理装置を提
供することを第1の目的とする。
【0009】この発明の第2の目的は、熱処理対象たる
基板の面内温度分布を制御することができる熱処理装置
を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を第1のプレートの上方主面上に直接もしくは所定の間
隔をあけて載置し、前記第1のプレートからの熱によっ
て前記基板を熱処理する一方、前記第1のプレートおよ
び前記基板を断熱カバーで覆い、装置外部への熱の伝達
を防止する熱処理装置であって、上記目的を達成するた
め、前記断熱カバーで覆われた空間で、しかも前記基板
の上方近傍位置に、前記第1のプレートと対向して配置
された第2プレートを備え、前記第2プレートに、前記
第1のプレートからの熱線の一部を受けて輻射熱を前記
基板に向けて輻射する特性と、前記第1のプレートから
の熱線の一部を反射して前記基板に反射熱を与える特性
とを付与している。
【0011】
【0012】請求項の発明は、前記第1および第2の
プレートで挟まれた空間の周辺部に閉鎖手段をさらに設
け、前記第1および第2のプレートと前記閉鎖手段とで
密閉空間を形成するようにしている。
【0013】請求項の発明は、前記第2のプレートの
前記下方主面の表面形状を、前記基板面内において必要
とされる温度分布に応じた表面形状に仕上げている。
【0014】請求項の発明は、前記第1および第2の
プレートを相対的に移動させる移動手段をさらに設け、
基板の熱処理を行うときには前記第1および第2のプレ
ートを相互に近接させる一方、基板の出し入れを行うと
きには前記第1および第2のプレートを相互に離隔する
ようにしている。
【0015】請求項の発明は、前記第1および第2の
プレートで半密閉空間を形成している。
【0016】
【作用】請求項1の発明では、断熱カバーで覆われた空
間で、しかも基板の上方近傍位置に、第2のプレートが
第1のプレートと対向配置される。そして、その第2の
プレートが第1のプレートからの熱線の一部を受けて輻
射熱を基板に向けて輻射するとともに、前記第1のプレ
ートからの熱線の一部を反射して前記基板に反射熱を与
える。このため、前記第1および第2のプレートによっ
て比較的狭い空間が形成され、その空間に基板が配置さ
れることになる。そして、前記第1のプレートからの熱
の広がりは前記第2のプレートによってほぼ前記空間に
規制される。
【0017】
【0018】請求項の発明では、第1および第2のプ
レートで挟まれた空間の周辺部に閉鎖手段がさらに設け
られ、前記第1および第2のプレートと前記閉鎖手段と
で密閉空間が形成され、その密閉空間に基板が配置され
ることとなる。そして、前記第1のプレートからの熱の
広がりは密閉空間に規制される。
【0019】請求項の発明では、第2のプレートの下
方主面の表面形状が、基板面内において必要とされる温
度分布に応じた表面形状に仕上げられる。したがって、
第2のプレートからの輻射熱および反射熱が温度分布に
対応して基板表面に与えられる。
【0020】請求項の発明では、第1および第2のプ
レートを相対的に移動させる移動手段がさらに設けら
れ、基板の熱処理を行うときには前記第1および第2の
プレートを相互に近接させる一方、基板の出し入れを行
うときには前記第1および第2のプレートを相互に離隔
する。
【0021】請求項の発明では、第1および第2のプ
レートが半密閉空間を形成し、その半密閉空間に基板が
配置され、熱処理が行われる。
【0022】
【実施例】図1は、この発明にかかる熱処理装置の一実
施例を示す模式図である。この実施例が従来例(図9)
と大きく相違する点は、断熱カバー12で形成された空
間14で、しかも基板8の上方近接位置に、プレート4
の上方主面とほぼ同一サイズに仕上げられた別のプレー
ト16が上下方向に移動自在に設けられている点と、そ
のプレート16を上下方向に移動させるための駆動源、
例えばエアーシリンダ18が設けられている点である。
なお、その他の構成は、同一であるため、同一符号を付
してその説明を省略する。また、ここでは、両プレート
4,16を明瞭に区別・説明するため、前者を「第1の
プレート」と称する一方、後者を「第2のプレート」と
称する。
【0023】次に、上記のように構成された熱処理装置
の動作について説明する。この装置では、熱処理が行わ
れていないとき(待機状態)は、図1の2点鎖線に示す
ように、第2のプレート16は第1のプレート4から上
方に離隔されている。そして、この状態で図示を省略す
る搬送機構により熱処理対象たる基板8が第1のプレー
ト4上に載置されると、適当な保持機構(例えば、吸着
機構)によって基板8を第1のプレート4上に吸着固定
する。それに続いて、エアーシリンダ18を駆動し、第
2のプレート16を下方に移動させて、図1に示すよう
に、第1および第2のプレート4,16で半密閉空間2
0を形成する。
【0024】そして、このように第1および第2のプレ
ート4,16で半密閉空間20が形成され、その半密閉
空間20に基板8が配置された状態のままで、面発熱ヒ
ータ2に通電して、基板8の熱処理を行う。すなわち、
通電によって、面発熱ヒータ2が発熱し、その熱が第1
のプレート4を介して基板8に与えられて、基板8が加
熱処理される。
【0025】このとき、第1および第2のプレート4,
16を近接させ、半密閉空間20を形成しているため、
第1のプレート4からの熱の広がりは半密閉空間20に
より規制される。その結果、その半密閉空間20に位置
する基板8に第1のプレート4からの熱が効率良く与え
られ、短時間に基板8の温度を昇温させることができ
る。つまり、昇温速度を従来例よりも大幅に高めること
ができる。
【0026】また、半密閉空間20を設けることによ
り、空間14における外乱の影響がその空間20に位置
する基板8に及ぶのを効果的に防止することができ、基
板8の面内温度分布の均一性を保ちながら基板8の熱処
理を行うことができる。
【0027】さらに、第1のプレート4からの熱のほと
んどが半密閉空間20に与えられるため、空間14に逃
げる熱が少なくなり、断熱カバー12の温度上昇を防止
することができる。その結果、断熱カバー12の昇温に
伴う問題(熱処理装置周辺に配置された他の処理ユニッ
トへの熱影響,作業者の安全性の低下など)を解消する
ことができる。
【0028】熱処理が完了すると、エアーシリンダ18
を駆動し、第2のプレート16を上方に移動させた後、
搬送機構により熱処理済みの基板8を次の処理ステーシ
ョンに搬送する。こうして、熱処理装置は最初の待機状
態に戻る。
【0029】なお、上記一連の処理は必要回数実行さ
れ、複数の基板8を順次熱処理していく。
【0030】ところで、第2のプレート16を輻射性に
優れた材料、例えばアルミニュームで形成すると、基板
8の昇温速度をさらに高めることができる。というの
も、アルミニューム製の第2のプレート16は、第1の
プレート4からの熱線の一部を受けて輻射熱を基板8に
向けて輻射するとともに、第1のプレート4からの熱線
の一部を反射して基板8に反射熱を与えるため、第1の
プレート4からの熱をより効率良く基板8表面に与える
ことができ、上記実施例にも増して、基板8の昇温速度
を高めることができる。特に、輻射効率を考慮した場
合、第2のプレート16の下方主面22(第1のプレー
ト4と対向する面)を鏡面に仕上げるほうが好ましい。
一方、温度分布の均一性を高めるためには、下方主面2
2を粗面に仕上げ、第1のプレート4からの熱線を乱反
射させるほうがよい。
【0031】また、図2ないし図4に示すように、第2
のプレート16の下方主面22を種々の形状に仕上げる
ことによって、第2のプレート16からの基板8に向け
て与えられる熱の方向が変化し、その結果、基板8面内
の温度分布を制御することができる。すなわち、第2の
プレート16の下方主面22の表面形状を、基板8面内
において必要とされる温度分布に応じた表面形状に仕上
げることによって、基板8の温度分布を操作することが
できる。
【0032】例えば、図2に示すように第2のプレート
16の下方主面22を下向きに凸形状に形成することに
よって中心部の輻射熱を周辺部に反射させて周辺部にお
ける温度低下を抑えることができる。一方、これとは逆
に図3に示すように第2のプレート16の下方主面22
を下向きに凹形状に形成し中心部よりも周辺部を基板8
に近づけることによっても周辺部における温度低下を抑
えることができる。また、図4に示すように第2のプレ
ート16の下方主面22を波型形状に形成することによ
って輻射熱を乱反射させ基板8面内の温度分布を均一に
することができる。
【0033】なお、上記実施例では、第1のプレート4
と第2のプレート16とを近接配置することによって、
半密閉空間20を形成している(図1参照)が、図5に
示すように、プレートカバー10の側面部を上方にさら
に伸ばし、第1のプレート4,第2のプレート16およ
びプレートカバー10とで半密閉空間20を形成するよ
うにしてもよい。さらに、図6に示すように、第2のプ
レート16の外周部にプレートカバー24を設け、プレ
ートカバー10,24が相互に重なるようにしてもよ
い。
【0034】また、上記実施例では、半密閉する場合に
ついて説明したが、例えば図7に示すように、第1およ
び第2のプレート4,16で挟まれた空間(上記におけ
る半密閉空間20)の周辺部にパッキン(閉鎖手段)2
6をさらに設け、第1および第2のプレート4,16と
パッキン26とで密閉空間28を形成してもよい。この
場合、第1のプレート4から空間14に逃げる熱がほと
んどなく、しかも空間14における外乱の基板8への影
響もほとんどないため、半密閉空間20を形成した場合
(図1,図5,図6)に比べて、より高い速度で、しか
も均一に基板8を昇温させることができる。
【0035】また、基板8を上下方向に移動させるため
に、例えば図8に示すように、基板8の裏面を支持する
基板保持部30を設けることがある。この場合、基板保
持部30を上下方向に移動させる機構が必要であるが、
同図に示すように、第2のプレート16にそれら基板保
持部30を取り付けることにより、エアーシリンダ18
による第2のプレート16の上下動作とともに、基板支
持部30も上下移動させることができ、基板保持部30
の上下移動用の機構が不要となる。
【0036】また、上記実施例では、発熱体として面発
熱ヒータ2を用いているが、これ以外に、シースヒータ
や赤外線ヒータなどを用いてもよい。また、エアーシリ
ンダ18の代わりに、モータ等の駆動装置を用いてもよ
い。さらに、エアーシリンダ18により第2のプレート
16のみを上下移動させるようにしているが、第2のプ
レート16を固定しておき、面発熱ヒータ2,第1のプ
レート4,ヒータ押え板6,基板8およびプレートカバ
ー10を一体的に上下移動させるようにしてもよく、要
は第1および第2のプレート4,16を相対的に移動さ
せるようにすれば、基板8の搬送が容易となる。ただ
し、この点を考慮しない場合には、第1および第2のプ
レート4,16を固定してもよく、上下移動用の機構は
この発明にかかる熱処理装置の必須構成要素というわけ
ではない。
【0037】さらに、上記実施例では、ダイレクト式の
熱処理装置を示して説明したが、この発明はこの方式の
熱処理装置以外にも、種々の方式の熱処理装置、例えば
第1のプレート4から複数のピンを立設させ、それらの
ピンによって基板の裏面を支持して、第1のプレート4
から上方に一定間隔だけ離れた位置に基板を保持しなが
ら熱処理するプロキシミティ方式の熱処理装置にも適用
することができる。
【0038】
【発明の効果】以上のように、請求項1および請求項
の発明によれば、断熱カバーで覆われた空間で、しかも
基板の上方近傍位置に、第2のプレートを第1のプレー
トと対向配置しているため、前記第1および第2のプレ
ートによって比較的狭い空間が形成され、その空間に基
板が配置されることになるので、断熱カバーの昇温を防
止する一方、その面内温度分布の均一性を維持しなが
ら、熱処理対象たる基板を高速度で昇温させることがで
きる。また、前記第2のプレートが前記第1のプレート
からの熱線の一部を受けて輻射熱を前記基板に向けて輻
射する特性と、前記第1のプレートからの熱線の一部を
反射して前記基板に反射熱を与える特性とを有するよう
にしているので、前記第1のプレートからの熱をさらに
効率良く前記基板に与えることができ、昇温速度をさら
に高めることができる。
【0039】
【0040】請求項の発明によれば、第1および第2
のプレートで挟まれた空間の周辺部に閉鎖手段をさらに
設け、前記第1および第2のプレートと前記閉鎖手段と
で密閉空間を形成するようにしているので、前記第1の
プレートからの熱をさらに効率良く前記基板に与えるこ
とができるので、昇温速度をさらに高めることができ
る。
【0041】請求項の発明によれば、第2のプレート
の下方主面の表面形状を、基板面内において必要とされ
る温度分布に応じた表面形状に仕上げているので、熱処
理対象たる基板の面内温度分布を制御することができ
る。
【0042】請求項の発明によれば、第1および第2
のプレートにより半密閉空間を形成し、その半密閉空間
に基板を配置するようにしているので、前記第1のプレ
ートからの熱をさらに効率良く前記基板に与えることが
できるので、昇温速度をさらに高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる熱処理装置の一実施例を示す
模式図である。
【図2】第2のプレートの第1変形例を示す断面図であ
る。
【図3】第2のプレートの第2変形例を示す断面図であ
る。
【図4】第2のプレートの第3変形例を示す断面図であ
る。
【図5】この発明にかかる熱処理装置の第1変形例を示
す部分模式図である。
【図6】この発明にかかる熱処理装置の第2変形例を示
す部分模式図である。
【図7】この発明にかかる熱処理装置の第3変形例を示
す部分模式図である。
【図8】この発明にかかる熱処理装置の第4変形例を示
す模式図である。
【図9】従来の熱処理装置を示す模式図である。
【符号の説明】
4 第1のプレート 8 基板 12 断熱カバー 14 空間 16 第2のプレート 20 半密閉空間 22 下方主面 26 パッキン(閉鎖手段) 28 密閉空間

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を第1のプレートの上方主面上に直
    接もしくは所定の間隔をあけて載置し、前記第1のプレ
    ートからの熱によって前記基板を熱処理する一方、前記
    第1のプレートおよび前記基板を断熱カバーで覆い、装
    置外部への熱の伝達を防止する熱処理装置において、 前記断熱カバーで覆われた空間で、しかも前記基板の上
    方近傍位置に、前記第1のプレートと対向して配置され
    た第2プレートを備え、 前記第2プレートは、前記第1のプレートからの熱線の
    一部を受けて輻射熱を前記基板に向けて輻射する特性
    と、前記第1のプレートからの熱線の一部を反射して前
    記基板に反射熱を与える特性とを有することを特徴とす
    る熱処理装置。
  2. 【請求項2】 前記第1および第2のプレートで挟まれ
    た空間の周辺部に閉鎖手段をさらに設け、前記第1およ
    び第2のプレートと前記閉鎖手段とで密閉空間を形成す
    る請求項記載の熱処理装置。
  3. 【請求項3】 前記第2のプレートの前記下方主面の表
    面形状が、前記基板面内において必要とされる温度分布
    に応じた表面形状に仕上げられた請求項記載の熱処理
    装置。
  4. 【請求項4】 前記第1および第2のプレートを相対的
    に移動させる移動手段がさらに設けられ、基板の熱処理
    を行うときには前記第1および第2のプレートを相互に
    近接させる一方、基板の出し入れを行うときには前記第
    1および第2のプレートを相互に離隔する請求項記載
    の熱処理装置。
  5. 【請求項5】 前記第1および第2のプレートで半密閉
    空間が形成された請求項1記載の熱処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3363368B2 (ja) * 1998-01-16 2003-01-08 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
JP2005019725A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Shinku Jikkenshitsu:Kk アニール装置及びアニール方法
JP5041736B2 (ja) * 2006-06-09 2012-10-03 キヤノントッキ株式会社 基板加熱装置及び基板加熱方法
JP7109211B2 (ja) * 2018-03-06 2022-07-29 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11715653B2 (en) 2019-05-24 2023-08-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate processing apparatus

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