JP2905323B2 - 試験設備管理方式 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 157
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 66
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 64
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 40
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000047 product Substances 0.000 description 60
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 10
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 238000013523 data management Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は工場ラインにおける製品
の自動試験装置等の試験設備の管理を行う試験設備管理
装置に関する。
の自動試験装置等の試験設備の管理を行う試験設備管理
装置に関する。
【０００２】近年、殆どの工場ラインでは、通信機器等
の製品試験を自動的に行う自動試験装置による管理シス
テムが適用されているが、自動試験装置又は製品を載置
するパレット等の試験設備の異常を管理するまでには至
らない。
の製品試験を自動的に行う自動試験装置による管理シス
テムが適用されているが、自動試験装置又は製品を載置
するパレット等の試験設備の異常を管理するまでには至
らない。
【０００３】このような試験設備に異常が発生した場
合、製品が良品であっても不良品と見なされることがあ
る。また、夜間等に無人で試験を行う場合、人が居ない
ので異常の判断、その処置を行うことができず効率の良
い試験を行うことができない。そこで、試験設備の故障
をも自動管理することができる試験ライン管理装置が要
望されている。
合、製品が良品であっても不良品と見なされることがあ
る。また、夜間等に無人で試験を行う場合、人が居ない
ので異常の判断、その処置を行うことができず効率の良
い試験を行うことができない。そこで、試験設備の故障
をも自動管理することができる試験ライン管理装置が要
望されている。
【０００４】
【従来の技術】図３は通信機器等の製品試験を行うため
の試験ラインの概略図である。この図において、１は矢
印Ｙ１，Ｙ２方向に環状に回動するコンベアである。２
はパレットであり、コンベア１上に載置固定されてお
り、コンベア１に対して着脱自在となっている。３は製
品であり、パレット上に載置固定されており、パレット
２に対して着脱自在となっている。
の試験ラインの概略図である。この図において、１は矢
印Ｙ１，Ｙ２方向に環状に回動するコンベアである。２
はパレットであり、コンベア１上に載置固定されてお
り、コンベア１に対して着脱自在となっている。３は製
品であり、パレット上に載置固定されており、パレット
２に対して着脱自在となっている。
【０００５】パレット２と製品３とは、側面図４に示す
ようにパレット２のコネクタ４に製品３の接続部が接続
ケーブル５で接続されている。６ａ〜６ｃは何れも同構
成の自動接続装置、７ａ〜７ｃは何れも同構成の自動試
験装置であり、接続ケーブル８によって接続されてい
る。
ようにパレット２のコネクタ４に製品３の接続部が接続
ケーブル５で接続されている。６ａ〜６ｃは何れも同構
成の自動接続装置、７ａ〜７ｃは何れも同構成の自動試
験装置であり、接続ケーブル８によって接続されてい
る。
【０００６】自動接続装置６ａ〜６ｃは、コンベア１に
よって搬送されてくる製品３をパレット２を介して自動
試験装置７ａ〜７ｃに電気的に接続／切離しを行うもの
である。これは図４に示すように、自動接続装置６ａ〜
６ｃのコネクタ部９のピン１０を、矢印Ｙ３で示す双方
向に移動してパレット２のコネクタ４に着脱することに
よって行われる。
よって搬送されてくる製品３をパレット２を介して自動
試験装置７ａ〜７ｃに電気的に接続／切離しを行うもの
である。これは図４に示すように、自動接続装置６ａ〜
６ｃのコネクタ部９のピン１０を、矢印Ｙ３で示す双方
向に移動してパレット２のコネクタ４に着脱することに
よって行われる。
【０００７】自動試験装置７ａ〜７ｃは、図５に示すよ
うにディスク装置２１に記憶された複数種類の測定項目
ａ〜ｎとそれらを制御するコンピュータ２０とから構成
されており、各コンピュータ２０は主コンピュータ２１
に接続されている。
うにディスク装置２１に記憶された複数種類の測定項目
ａ〜ｎとそれらを制御するコンピュータ２０とから構成
されており、各コンピュータ２０は主コンピュータ２１
に接続されている。
【０００８】各自動試験装置７ａ〜７ｂで測定された各
項目の測定結果は主コンピュータ２１によって収集さ
れ、主ディスク装置２２に記憶されるようになってお
り、この記憶された情報は、プリンタ２３に出力される
ようになっている。
項目の測定結果は主コンピュータ２１によって収集さ
れ、主ディスク装置２２に記憶されるようになってお
り、この記憶された情報は、プリンタ２３に出力される
ようになっている。
【０００９】自動試験装置７ａ〜７ｃは、測定に先立ち
測定すべき項目がマークされた測定項目ファイルをコン
ピュータ２０により主ディスク装置２２から読み込んで
きて、その項目のみを測定するようになっており、各々
の自動試験装置７ａ〜７ｃで別項目の測定を行うように
なっている。
測定すべき項目がマークされた測定項目ファイルをコン
ピュータ２０により主ディスク装置２２から読み込んで
きて、その項目のみを測定するようになっており、各々
の自動試験装置７ａ〜７ｃで別項目の測定を行うように
なっている。
【００１０】以上説明した構成の管理システムによれ
ば、コンベア１によって搬送される製品の種々の項目の
電気的特性が、各自動試験装置７ａ〜７ｃによって測定
される。この測定結果が主コンピュータ２１によって収
集され、製品１台分の測定データが完成し、測定データ
管理結果、製品障害情報、及び出来高管理結果等がプリ
ンタ２３に出力される。
ば、コンベア１によって搬送される製品の種々の項目の
電気的特性が、各自動試験装置７ａ〜７ｃによって測定
される。この測定結果が主コンピュータ２１によって収
集され、製品１台分の測定データが完成し、測定データ
管理結果、製品障害情報、及び出来高管理結果等がプリ
ンタ２３に出力される。
【００１１】但し、上記では、自動接続装置６ａ〜６ｃ
及び自動試験装置７ａ〜７ｃを３組としたが、実際には
それ以上の組数の装置が用いられることが多い。
及び自動試験装置７ａ〜７ｃを３組としたが、実際には
それ以上の組数の装置が用いられることが多い。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した試
験ラインの管理システムにおいては、図４に示すパレッ
ト２のコネクタ４（接続ケーブル５を含む）、自動接続
装置６ａ〜６ｂのコネクタ９（ピン１０を含む）及び接
続ケーブル８に、接触不良や断線等の異常が発生した場
合、製品３の電気的特性が正常であっても不良として判
断される問題があった。
験ラインの管理システムにおいては、図４に示すパレッ
ト２のコネクタ４（接続ケーブル５を含む）、自動接続
装置６ａ〜６ｂのコネクタ９（ピン１０を含む）及び接
続ケーブル８に、接触不良や断線等の異常が発生した場
合、製品３の電気的特性が正常であっても不良として判
断される問題があった。
【００１３】このように生じる不良は、プリンタ２３に
印刷された製品３の障害情報を見て人が判断しなければ
ならないために、その判断が適性でなかったり処理が遅
れたりすることになる。
印刷された製品３の障害情報を見て人が判断しなければ
ならないために、その判断が適性でなかったり処理が遅
れたりすることになる。
【００１４】また、夜間等の無人運転時には人がいない
ために設備異常であった場合その処置ができないと言っ
た問題があった。本発明は、このような点に鑑みてなさ
れたものであり、製品の試験を行う自動試験装置等の設
備異常を自動的に検出することができる試験設備管理装
置を提供することを目的としている。
ために設備異常であった場合その処置ができないと言っ
た問題があった。本発明は、このような点に鑑みてなさ
れたものであり、製品の試験を行う自動試験装置等の設
備異常を自動的に検出することができる試験設備管理装
置を提供することを目的としている。
【００１５】
【課題を解決するための手段】図１に本発明の試験設備
管理装置の原理説明図を示す。この図に示す試験設備管
理装置は、主コンビュータ５１により管理され、かつ搬
送手段５２によって搬送される個々の製品５3，…を、
共通記憶手段５４から読み出される試験項目ファイルの
指示に基づき測定する複数の自動試験手段５５ａ，５５
ｂ，５５ｃを有して成る試験設備にあって、試験設備を
自動管理することにより試験設備に異常が生じた際に、
その異常を自動で検出できるようにしたものである。
管理装置の原理説明図を示す。この図に示す試験設備管
理装置は、主コンビュータ５１により管理され、かつ搬
送手段５２によって搬送される個々の製品５3，…を、
共通記憶手段５４から読み出される試験項目ファイルの
指示に基づき測定する複数の自動試験手段５５ａ，５５
ｂ，５５ｃを有して成る試験設備にあって、試験設備を
自動管理することにより試験設備に異常が生じた際に、
その異常を自動で検出できるようにしたものである。
【００１６】主コンピュータ５１により制御されること
によって試験設備の異常を自動検出する手段として、図
示するように、第１不良項目書込手段５６と、第１カウ
ント数書込手段５７と、第１カウント数設定手段５８
と、第１異常情報書込手段５９と、第１解除手段６０と
を具備した。
によって試験設備の異常を自動検出する手段として、図
示するように、第１不良項目書込手段５６と、第１カウ
ント数書込手段５７と、第１カウント数設定手段５８
と、第１異常情報書込手段５９と、第１解除手段６０と
を具備した。
【００１７】第１不良項目書込手段５６は、複数の自動
試験手段５５ａ〜５５ｃにより検出された製品５３の不
良項目を、自動試験手段５５ａ〜５５ｃ毎に共通記憶手
段５４に書き込むものである。
試験手段５５ａ〜５５ｃにより検出された製品５３の不
良項目を、自動試験手段５５ａ〜５５ｃ毎に共通記憶手
段５４に書き込むものである。
【００１８】第１カウント数書込手段５７は、同じ自動
試験手段、例えば５５ａにより検出された同じ不良項目
の数をカウントし、そのカウント数を共通記憶手段５４
に書き込むと共に、同じ自動試験手段５５ａで検出され
た異なる不良項目が第１不良項目書込手段５６により共
通記憶手段５４に書き込まれた場合に、それまでの不良
項目のカウント数を解除して新たに書き込まれた不良項
目のカウント数を共通記憶手段５４に書き込むものであ
る。
試験手段、例えば５５ａにより検出された同じ不良項目
の数をカウントし、そのカウント数を共通記憶手段５４
に書き込むと共に、同じ自動試験手段５５ａで検出され
た異なる不良項目が第１不良項目書込手段５６により共
通記憶手段５４に書き込まれた場合に、それまでの不良
項目のカウント数を解除して新たに書き込まれた不良項
目のカウント数を共通記憶手段５４に書き込むものであ
る。
【００１９】第１カウント数設定手段５８は、不良項目
のカウント数と比較する設定値を任意に設定するもので
ある。第１異常情報書込手段５９は、不良項目のカウン
ト数が第１カウント数設定手段５８による設定値以上と
なった場合に第１異常情報を共通記憶手段５４に書き込
むものである。
のカウント数と比較する設定値を任意に設定するもので
ある。第１異常情報書込手段５９は、不良項目のカウン
ト数が第１カウント数設定手段５８による設定値以上と
なった場合に第１異常情報を共通記憶手段５４に書き込
むものである。
【００２０】第１解除手段６０は、１つの自動試験手
段、例えば５５ａが試験項目ファイルの命令に基づき製
品５３の測定を行った際にその測定結果が良となった場
合に、先に第１不良項目書込手段５６により共通記憶手
段５４に書き込まれた不良項目及び、第１カウント数書
込手段５７により共通記憶手段５４に書き込まれたカウ
ント数を解除するものである。
段、例えば５５ａが試験項目ファイルの命令に基づき製
品５３の測定を行った際にその測定結果が良となった場
合に、先に第１不良項目書込手段５６により共通記憶手
段５４に書き込まれた不良項目及び、第１カウント数書
込手段５７により共通記憶手段５４に書き込まれたカウ
ント数を解除するものである。
【００２１】また、製品を機械的／電気的に固定する補
助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…に製品５３，…が固
定されて搬送手段５２で搬送され、複数の自動試験手段
５５ａ，…５５ｃが補助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，
…を介して製品５３，…の測定を行う場合、主コンピュ
ータ５１により制御されることによって試験設備の異常
を自動検出する手段として、図２に示すように、第２不
良項目書込手段６３と、第２カウント数書込手段６４
と、第２カウント数設定手段６５と、第２異常情報書込
手段６６と、第２解除手段６７とを具備した。
助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…に製品５３，…が固
定されて搬送手段５２で搬送され、複数の自動試験手段
５５ａ，…５５ｃが補助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，
…を介して製品５３，…の測定を行う場合、主コンピュ
ータ５１により制御されることによって試験設備の異常
を自動検出する手段として、図２に示すように、第２不
良項目書込手段６３と、第２カウント数書込手段６４
と、第２カウント数設定手段６５と、第２異常情報書込
手段６６と、第２解除手段６７とを具備した。
【００２２】第２不良項目書込手段６３は、補助手段６
２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…を介して複数の自動試験手段
５５ａ〜５５ｃにより検出された製品５３の不良項目
を、補助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…毎に共通記憶
手段５４に書き込むものである。
２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…を介して複数の自動試験手段
５５ａ〜５５ｃにより検出された製品５３の不良項目
を、補助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…毎に共通記憶
手段５４に書き込むものである。
【００２３】第２カウント数書込手段６４は、同じ補助
手段、例えば６２ａを介して同じ自動試験手段、例えば
５５ａで検出された同じ不良項目の数をカウントし、そ
のカウント数を共通記憶手段５４に書き込むと共に、同
じ補助手段６２ａを介して同じ自動試験手段５５ａで検
出された異なる不良項目が第２不良項目書込手段６３に
より共通記憶手段５４に書き込まれた場合に、それまで
の不良項目のカウント数を解除して新たに書き込まれた
不良項目のカウント数を共通記憶手段５４に書き込むも
のである。
手段、例えば６２ａを介して同じ自動試験手段、例えば
５５ａで検出された同じ不良項目の数をカウントし、そ
のカウント数を共通記憶手段５４に書き込むと共に、同
じ補助手段６２ａを介して同じ自動試験手段５５ａで検
出された異なる不良項目が第２不良項目書込手段６３に
より共通記憶手段５４に書き込まれた場合に、それまで
の不良項目のカウント数を解除して新たに書き込まれた
不良項目のカウント数を共通記憶手段５４に書き込むも
のである。
【００２４】第２カウント数設定手段６５は、不良項目
のカウント数と比較する設定値を任意に設定するもので
ある。第２異常情報書込手段６６は、不良項目のカウン
ト数が該第２カウント数設定手段(65)による設定値以上
となった場合に第２異常情報を共通記憶手段(64)に書き
込むものである。
のカウント数と比較する設定値を任意に設定するもので
ある。第２異常情報書込手段６６は、不良項目のカウン
ト数が該第２カウント数設定手段(65)による設定値以上
となった場合に第２異常情報を共通記憶手段(64)に書き
込むものである。
【００２５】第２解除手段６７は、１つの自動試験手
段、例えば５５ａが試験項目ファイルの命令に基づき同
じ補助手段６２ａを介して製品５３の測定を行った際に
その測定結果が良となった場合、先に第２不良項目書込
手段６３により共通記憶手段５４に書き込まれた不良項
目及び、第２カウント数書込手段６５により共通記憶手
段５４に書き込まれたカウント数を解除するものであ
る。
段、例えば５５ａが試験項目ファイルの命令に基づき同
じ補助手段６２ａを介して製品５３の測定を行った際に
その測定結果が良となった場合、先に第２不良項目書込
手段６３により共通記憶手段５４に書き込まれた不良項
目及び、第２カウント数書込手段６５により共通記憶手
段５４に書き込まれたカウント数を解除するものであ
る。
【００２６】更に、図２に示すように、複数の自動試験
手段５５ａ〜５５ｃの内、製品５３搬送方向の前段に配
置された自動試験手段、例えば５５ａ及び自己の自動試
験手段５５ｂの測定を行うための自己前段試験項目ファ
イル６８と、製品搬送方向の後段に配置された自動試験
手段、例えば５５ｃ及び自己の自動試験手段５５ｂの測
定を行うための自己後段試験項目ファイル６９とを共通
記憶手段５４に記憶し、前記した第１異常情報により異
常が検出された自動試験手段５５ａ又は５５ｂ又は５５
ｃが製品５３の測定を行わないように制御する測定停止
手段７０を設け、自動試験手段、例えば５５ｂの異常が
検出された場合に、測定停止手段７０により異常が検出
された自動試験手段５５ｂが製品５３の測定を行わない
ようにすると共に、異常が検出された自動試験手段５５
ｂの前段の自動試験手段５５ａが自己後段試験項目ファ
イル６９を読み込んで自己及び異常が検出された自動試
験手段５５ａ，５５ｂの受け持つ測定を行うようにする
か、又は異常が検出された自動試験手段５５ｂの後段の
自動試験手段５５ｃが自己前段試験項目ファイル６８を
読み込んで自己及び異常が検出された自動試験手段５５
ｃ，５５ｂの受け持つ測定を行うように構成するのが好
ましい。
手段５５ａ〜５５ｃの内、製品５３搬送方向の前段に配
置された自動試験手段、例えば５５ａ及び自己の自動試
験手段５５ｂの測定を行うための自己前段試験項目ファ
イル６８と、製品搬送方向の後段に配置された自動試験
手段、例えば５５ｃ及び自己の自動試験手段５５ｂの測
定を行うための自己後段試験項目ファイル６９とを共通
記憶手段５４に記憶し、前記した第１異常情報により異
常が検出された自動試験手段５５ａ又は５５ｂ又は５５
ｃが製品５３の測定を行わないように制御する測定停止
手段７０を設け、自動試験手段、例えば５５ｂの異常が
検出された場合に、測定停止手段７０により異常が検出
された自動試験手段５５ｂが製品５３の測定を行わない
ようにすると共に、異常が検出された自動試験手段５５
ｂの前段の自動試験手段５５ａが自己後段試験項目ファ
イル６９を読み込んで自己及び異常が検出された自動試
験手段５５ａ，５５ｂの受け持つ測定を行うようにする
か、又は異常が検出された自動試験手段５５ｂの後段の
自動試験手段５５ｃが自己前段試験項目ファイル６８を
読み込んで自己及び異常が検出された自動試験手段５５
ｃ，５５ｂの受け持つ測定を行うように構成するのが好
ましい。
【００２７】更には、前記した第２異常情報により補助
手段、例えば６２ｃの異常が検出された場合に、異常が
検出された補助手段６２ｃを自動交換するようにするの
が好ましい。
手段、例えば６２ｃの異常が検出された場合に、異常が
検出された補助手段６２ｃを自動交換するようにするの
が好ましい。
【００２８】
【作用】上述した本発明の図１に示す構成によれば、通
常動作として、搬送手段（例えばコンベア）５２によっ
て搬送される個々の製品５３，…が、各々の自動試験手
段５５ａ，５５ｂ，５５ｃによって測定される。製品５
３が例えば通信装置であれば、電気的特性が測定され
る。
常動作として、搬送手段（例えばコンベア）５２によっ
て搬送される個々の製品５３，…が、各々の自動試験手
段５５ａ，５５ｂ，５５ｃによって測定される。製品５
３が例えば通信装置であれば、電気的特性が測定され
る。
【００２９】各々の自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５
ｃは、共通記憶手段５４から読み出される試験項目ファ
イルの指示に基づき測定を行うようになっており、自動
試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃのハード構成は同じで
あるが、各々の自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃが
試験項目ファイルの指示に基づき異なる測定を行うよう
になっている。
ｃは、共通記憶手段５４から読み出される試験項目ファ
イルの指示に基づき測定を行うようになっており、自動
試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃのハード構成は同じで
あるが、各々の自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃが
試験項目ファイルの指示に基づき異なる測定を行うよう
になっている。
【００３０】各々の自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５
ｃにより測定された結果は、主コンピュータ５１で収集
され、共通記憶手段５４に記憶されるようになってお
り、記憶された結果は表示手段（例えばプリンタ）６１
に表示されるようになっている。
ｃにより測定された結果は、主コンピュータ５１で収集
され、共通記憶手段５４に記憶されるようになってお
り、記憶された結果は表示手段（例えばプリンタ）６１
に表示されるようになっている。
【００３１】次に、自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５
ｃに異常が生じた際、その異常を検出する場合について
説明する。但し、自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃ
の異常とは、自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃと製
品５３とを接続する図示せぬコネクタ等の接続インター
フェイスを含むものとする。
ｃに異常が生じた際、その異常を検出する場合について
説明する。但し、自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃ
の異常とは、自動試験手段５５ａ，５５ｂ，５５ｃと製
品５３とを接続する図示せぬコネクタ等の接続インター
フェイスを含むものとする。
【００３２】まず、第１カウント数設定手段５８によっ
て、製品５３の測定不良項目のカウント数と比較する設
定値を設定する。例えば設定値を「３」に設定したとす
る。自動試験手段５５ａにより製品５３の不良が測定さ
れたとすると、第１不良項目書込手段５６によって、自
動試験手段５５ａにより測定されたと認識できる製品５
３の不良項目が共通記憶手段５４に書き込まれる。
て、製品５３の測定不良項目のカウント数と比較する設
定値を設定する。例えば設定値を「３」に設定したとす
る。自動試験手段５５ａにより製品５３の不良が測定さ
れたとすると、第１不良項目書込手段５６によって、自
動試験手段５５ａにより測定されたと認識できる製品５
３の不良項目が共通記憶手段５４に書き込まれる。
【００３３】この時、第１カウント数書込手段５７によ
って、その書き込まれた不良項目のカウント数の「１」
が共通記憶手段５４に書き込まれる。次の製品の同じ不
良が同じ自動試験手段５５ａにより測定されたとする
と、前記同様に第１不良項目書込手段５６によって、自
動試験手段５５ａにより測定されたと認識できる製品５
３の不良項目が共通記憶手段５４に書き込まれると共
に、第１カウント数書込手段５７によって、その書き込
まれた不良項目のカウント数の「２」が共通記憶手段５
４に書き込まれる。
って、その書き込まれた不良項目のカウント数の「１」
が共通記憶手段５４に書き込まれる。次の製品の同じ不
良が同じ自動試験手段５５ａにより測定されたとする
と、前記同様に第１不良項目書込手段５６によって、自
動試験手段５５ａにより測定されたと認識できる製品５
３の不良項目が共通記憶手段５４に書き込まれると共
に、第１カウント数書込手段５７によって、その書き込
まれた不良項目のカウント数の「２」が共通記憶手段５
４に書き込まれる。
【００３４】そして、その次の製品の同じ不良が同じ自
動試験手段５５ａにより測定されたとすると、前記同様
に自動試験手段５５ａにより測定されたと認識できる製
品５３の不良項目が書き込まれると共に、その不良項目
のカウント数の「３」が書き込まれる。
動試験手段５５ａにより測定されたとすると、前記同様
に自動試験手段５５ａにより測定されたと認識できる製
品５３の不良項目が書き込まれると共に、その不良項目
のカウント数の「３」が書き込まれる。
【００３５】この時、第１カウント数設定手段５８によ
る設定値が「３」なので、第１異常情報書込手段５９に
よって、第１異常情報が共通記憶手段５４に書き込まれ
る。この書き込まれた第１異常情報は、主コンピュータ
５１の制御によって、表示手段６１に出力される。これ
によって表示手段６１に自動試験手段５５ａに障害が発
生したことを示す情報が表示される。
る設定値が「３」なので、第１異常情報書込手段５９に
よって、第１異常情報が共通記憶手段５４に書き込まれ
る。この書き込まれた第１異常情報は、主コンピュータ
５１の制御によって、表示手段６１に出力される。これ
によって表示手段６１に自動試験手段５５ａに障害が発
生したことを示す情報が表示される。
【００３６】また、先に記述した不良項目のカウント数
の「２」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、その
次の製品の異なる不良が同じ自動試験手段５５ａにより
測定されたとすると、自動試験手段５５ａにより測定さ
れたと認識できる製品５３の不良項目が書き込まれる。
この場合、第１カウント数書込手段５７によって、それ
までの不良項目のカウント数の「２」が解除され、新た
に書き込まれた不良項目のカウント数の「１」が共通記
憶手段５４に書き込まれる。
の「２」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、その
次の製品の異なる不良が同じ自動試験手段５５ａにより
測定されたとすると、自動試験手段５５ａにより測定さ
れたと認識できる製品５３の不良項目が書き込まれる。
この場合、第１カウント数書込手段５７によって、それ
までの不良項目のカウント数の「２」が解除され、新た
に書き込まれた不良項目のカウント数の「１」が共通記
憶手段５４に書き込まれる。
【００３７】一方、先に記述した不良項目のカウント数
の「２」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、自動
試験手段５５ａによるその次の製品の測定結果が良であ
った場合、第１解除手段６０によって、先に共通記憶手
段５４に書き込まれた不良項目及び、そのカウント数の
「２」が解除される。つまり、不良項目はブランク状態
となり、カウント数は「０」となる。
の「２」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、自動
試験手段５５ａによるその次の製品の測定結果が良であ
った場合、第１解除手段６０によって、先に共通記憶手
段５４に書き込まれた不良項目及び、そのカウント数の
「２」が解除される。つまり、不良項目はブランク状態
となり、カウント数は「０」となる。
【００３８】以上説明した図１に示す本発明によれば、
製品５３の良／不良の試験を適性に行うことができると
共に、各自動試験手段５５ａ〜５５ｃの異常を検出する
ことができる。
製品５３の良／不良の試験を適性に行うことができると
共に、各自動試験手段５５ａ〜５５ｃの異常を検出する
ことができる。
【００３９】次に、図２に示すように、製品を機械的／
電気的に固定する補助手段（例えば製品をセットするコ
ネクタを有するパレット）６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…
に製品５３，…が固定されて搬送手段５２で搬送される
ような構成の場合に、補助手段６２ａ，６２ｂ，６２
ｃ，…の異常を検出する場合について説明する。
電気的に固定する補助手段（例えば製品をセットするコ
ネクタを有するパレット）６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…
に製品５３，…が固定されて搬送手段５２で搬送される
ような構成の場合に、補助手段６２ａ，６２ｂ，６２
ｃ，…の異常を検出する場合について説明する。
【００４０】まず、第２カウント数設定手段６５によっ
て、製品５３の測定不良項目のカウント数と比較する設
定値を設定する。例えば設定値を「２」に設定したとす
る。補助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより
製品５３を測定した際にその製品５３の不良が測定され
たとする。この場合、第２不良項目書込手段６３によっ
て、補助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより
測定されたと認識できる製品５３の不良項目が共通記憶
手段５４に書き込まれる。
て、製品５３の測定不良項目のカウント数と比較する設
定値を設定する。例えば設定値を「２」に設定したとす
る。補助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより
製品５３を測定した際にその製品５３の不良が測定され
たとする。この場合、第２不良項目書込手段６３によっ
て、補助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより
測定されたと認識できる製品５３の不良項目が共通記憶
手段５４に書き込まれる。
【００４１】この時、第２カウント数書込手段６４によ
って、その書き込まれた不良項目のカウント数の「１」
が共通記憶手段５４に書き込まれる。同種類の他の製品
５３が固定された同じ補助手段６２ａが一巡して来たと
する。そして、補助手段６２ａを介して自動試験手段５
５ｂにより製品５３を測定した際に、前回測定と同様な
製品５３の不良が測定されたとする。この場合、前記同
様に補助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより
測定されたと認識できる製品５３の不良項目が書き込ま
れると共に、その書き込まれた不良項目のカウント数の
「２」が書き込まれる。
って、その書き込まれた不良項目のカウント数の「１」
が共通記憶手段５４に書き込まれる。同種類の他の製品
５３が固定された同じ補助手段６２ａが一巡して来たと
する。そして、補助手段６２ａを介して自動試験手段５
５ｂにより製品５３を測定した際に、前回測定と同様な
製品５３の不良が測定されたとする。この場合、前記同
様に補助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより
測定されたと認識できる製品５３の不良項目が書き込ま
れると共に、その書き込まれた不良項目のカウント数の
「２」が書き込まれる。
【００４２】この時、第２カウント数設定手段６５によ
る設定値が「２」なので、第２異常情報書込手段６６に
よって、第２異常情報が共通記憶手段５４に書き込まれ
る。この書き込まれた第２異常情報は、主コンピュータ
５１の制御によって、表示手段６１に出力される。これ
によって表示手段６１に補助手段６２ａに障害が発生し
たことを示す情報が表示される。
る設定値が「２」なので、第２異常情報書込手段６６に
よって、第２異常情報が共通記憶手段５４に書き込まれ
る。この書き込まれた第２異常情報は、主コンピュータ
５１の制御によって、表示手段６１に出力される。これ
によって表示手段６１に補助手段６２ａに障害が発生し
たことを示す情報が表示される。
【００４３】また、先に記述した不良項目のカウント数
の「１」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、同種
類の他の製品５３が固定された同じ補助手段６２ａが一
巡して来て、その補助手段６２ａを介して自動試験手段
５５ｂにより製品５３が測定されたとする。
の「１」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、同種
類の他の製品５３が固定された同じ補助手段６２ａが一
巡して来て、その補助手段６２ａを介して自動試験手段
５５ｂにより製品５３が測定されたとする。
【００４４】この場合に前回測定と異なる不良が測定さ
れたとすると、第２不良項目書込手段６３によって、補
助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより測定さ
れたと認識できる製品５３の不良項目が書き込まれ、第
２カウント数書込手段６４によって、前回の不良項目の
カウント数の「１」が解除され、新たに書き込まれた不
良項目のカウント数の「１」が共通記憶手段５４に書き
込まれる。
れたとすると、第２不良項目書込手段６３によって、補
助手段６２ａを介して自動試験手段５５ｂにより測定さ
れたと認識できる製品５３の不良項目が書き込まれ、第
２カウント数書込手段６４によって、前回の不良項目の
カウント数の「１」が解除され、新たに書き込まれた不
良項目のカウント数の「１」が共通記憶手段５４に書き
込まれる。
【００４５】一方、先に記述した不良項目のカウント数
の「１」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、同種
類の他の製品５３が固定された同じ補助手段６２ａが一
巡して来て、その補助手段６２ａを介して自動試験手段
５５ｂにより製品５３が測定され、この測定結果が良で
あったとする。
の「１」が共通記憶手段５４に書き込まれた後に、同種
類の他の製品５３が固定された同じ補助手段６２ａが一
巡して来て、その補助手段６２ａを介して自動試験手段
５５ｂにより製品５３が測定され、この測定結果が良で
あったとする。
【００４６】この場合、第２解除手段６７によって、前
回共通記憶手段５４に書き込まれた不良項目及び、その
カウント数の「１」が解除される。つまり、不良項目は
ブランク状態となり、カウント数は「０」となる。
回共通記憶手段５４に書き込まれた不良項目及び、その
カウント数の「１」が解除される。つまり、不良項目は
ブランク状態となり、カウント数は「０」となる。
【００４７】以上説明した図２に示す本発明によれば、
製品５３の良／不良の試験を適性に行うことができると
共に、各補助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…の異常を
検出することができる。
製品５３の良／不良の試験を適性に行うことができると
共に、各補助手段６２ａ，６２ｂ，６２ｃ，…の異常を
検出することができる。
【００４８】また、この場合、異常の検出された補助手
段６２ａが自動交換されるようにしておけば、無人運転
にも対応できる。次に、図２に示すように、自己前段試
験項目ファイル６８及び自己後段試験項目ファイル６９
を共通記憶手段５４に設けると共に、測定停止手段７０
を設けた場合について説明する。
段６２ａが自動交換されるようにしておけば、無人運転
にも対応できる。次に、図２に示すように、自己前段試
験項目ファイル６８及び自己後段試験項目ファイル６９
を共通記憶手段５４に設けると共に、測定停止手段７０
を設けた場合について説明する。
【００４９】例えば上述した手段５６〜６０により、自
動試験手段５５ｂの異常が検出されたとすると、測定停
止手段７０によって自動試験手段５５ｂが製品５３の測
定を行わないようにされる。この時、自動試験手段５５
ｂの前段の自動試験手段５５ａが自己後段試験項目ファ
イル６９を読み込む。これによって、自動試験手段５５
ａが自己及び異常が検出された自動試験手段５５ａ，５
５ｂの受け持つ測定を行う。
動試験手段５５ｂの異常が検出されたとすると、測定停
止手段７０によって自動試験手段５５ｂが製品５３の測
定を行わないようにされる。この時、自動試験手段５５
ｂの前段の自動試験手段５５ａが自己後段試験項目ファ
イル６９を読み込む。これによって、自動試験手段５５
ａが自己及び異常が検出された自動試験手段５５ａ，５
５ｂの受け持つ測定を行う。
【００５０】又は、自動試験手段５５ｂの異常が検出さ
れた場合に、自動試験手段５５ｂの後段の自動試験手段
５５ｃが自己前段試験項目ファイル６８を読み込んだと
すると、自動試験手段５５ｃが自己及び異常が検出され
た自動試験手段５５ｃ，５５ｂの受け持つ測定を行う。
れた場合に、自動試験手段５５ｂの後段の自動試験手段
５５ｃが自己前段試験項目ファイル６８を読み込んだと
すると、自動試験手段５５ｃが自己及び異常が検出され
た自動試験手段５５ｃ，５５ｂの受け持つ測定を行う。
【００５１】このように、異常が生じた自動試験手段の
測定を、他の自動試験手段が行うようにできるので、夜
間等の無人運転時でも対応することができ、無人運転時
の設備異常発生に対してロスミニマム化を図ることがで
きる。
測定を、他の自動試験手段が行うようにできるので、夜
間等の無人運転時でも対応することができ、無人運転時
の設備異常発生に対してロスミニマム化を図ることがで
きる。
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
製品の試験を行う自動試験手段等の設備異常を自動的に
検出することができる効果がある。
製品の試験を行う自動試験手段等の設備異常を自動的に
検出することができる効果がある。
【００５３】また、夜間等の無人運転時の設備異常発生
に対してロスミニマム化を図ることができる効果があ
る。
に対してロスミニマム化を図ることができる効果があ
る。
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の他の原理説明図である。
【図３】工場の試験ラインの概略構成図である。
【図４】図３に示すパレット、製品及び自動接続装置の
概略側面図である。
概略側面図である。
【図５】自動試験装置の制御構成図である。
５１ 主コンピュータ ５２ 搬送手段 ５３ 製品 ５４ 共通記憶手段 ５５ａ，５５ｂ，５５ｃ 自動試験手段 ５６ 第１不良項目書込手段 ５７ 第１カウント数書込手段 ５８ 第１カウント数設定手段 ５９ 第１異常情報書込手段 ６０ 第１解除手段 ６１ 表示手段 ６２ａ，６２ｂ，６２ｃ 補助手段 ６３ 第２不良項目書込手段 ６４ 第２カウント数書込手段 ６５ 第２カウント数設定手段 ６６ 第２異常情報書込手段 ６７ 第２解除手段 ６８ 自己前段試験項目ファイル ６９ 自己後段試験項目ファイル ７０ 測定停止手段
Claims (4)
- 【請求項１】 主コンピュータ(51)により管理され、か
つ搬送手段(52)によって搬送される個々の製品(53,…)
を、共通記憶手段(54)から読み出される試験項目ファイ
ルの指示に基づき測定する複数の自動試験手段(55a,55
b,55c)を有して成る試験設備の試験設備管理装置におい
て、 前記複数の自動試験手段(55a,55b,55c)により検出され
た前記製品(53)の不良項目を、自動試験手段(5a,55b,55
c)毎に前記共通記憶手段(54)に書きこむ第１不良項目書
込手段(56)と、 同じ自動試験手段(例えば55a)により検出された同じ不
良項目の数をカウントし、そのカウント数を該共通記憶
手段(54)に書き込むと共に、同じ自動試験手段(55a)で
検出された異なる不良項目が該第１不良項目書込手段(5
6)により共通記憶手段(54)に書き込まれた場合に、それ
までの不良項目のカウント数を解除して新たに書き込ま
れた不良項目のカウント数を共通記憶手段(54)に書き込
む第１カウント数書込手段(57)と、 設定値を任意に設定する第１カウント数設定手段(58)
と、 該カウント数が該第１カウント数設定手段(58)による設
定値以上となった場合に第１異常情報を共通記憶手段(5
4)に書き込む第１異常情報書込手段(59)と、 １つの自動試験手段（例えば55a)が前記試験項目ファイ
ルの命令に基づき製品(53)の測定を行った際にその測定
結果が良となった場合に、先に第１不良項目書込手段(5
6)により共通記憶手段(54)に書き込まれた不良項目及
び、第１カウント数書込手段(57)により共通記憶手段(5
4)に書き込まれたカウント数を解除する第１解除手段(6
0)とを具備し、 該第１異常情報を表示手段(61)に表示することによって
前記複数の自動試験手段(55a,55b,55c)の異常を認識で
きるようにしたことを特徴とする試験設備管理装置。 - 【請求項２】 製品を機械的／電気的に固定する補助手
段(62a,62b,62c,…)に前記製品(53,…)が固定されて前
記搬送手段(52)で搬送され、前記複数の自動試験手段(5
5a,55b,55c)が該補助手段(62a,62b,62c,…)を介して製
品(53,…)を測定を行う場合、 該補助手段(62a,62b,62c,…)を介して複数の自動試験手
段(55a,55b,55c)により検出された該製品(53)の不良項
目を、該補助手段(62a,62b,62c,…)毎に前記共通記憶手
段(54)に書き込む第２不良項目書込手段(63)と、 同じ補助手段(例えば62a)を介して同じ自動試験手段(例
えば55a)で検出された同じ不良項目の数をカウントし、
そのカウント数を該共通記憶手段(54)に書き込むと共
に、同じ補助手段(62a）を介して同じ自動試験手段(55
a)で検出された異なる不良項目が該第２不良項目書込手
段(63)により共通記憶手段(54)に書き込まれた場合に、
それまでの不良項目のカウント数を解除して新たに書き
込まれた不良項目のカウント数を共通記憶手段(54)に書
き込む第２カウント数書込手段(64)と、 設定値を任意に設定する第２カウント数設定手段(65)
と、 該カウント数が該第２カウント数設定手段(65)による設
定値以上となった場合に第２異常情報を共通記憶手段(5
4)に書き込む第２異常情報書込手段(66)と、 １つの自動試験手段(例えば55a)が前記試験項目ファイ
ルの命令に基づき同じ補助手段(62a)を介して製品(53)
の測定を行った際にその測定結果が良となった場合、先
に第２不良項目書込手段(63)により共通記憶手段(54)に
書き込まれた不良項目及び、第２カウント数書込手段(6
5)により共通記憶手段(54)に書き込まれたカウント数を
解除する第２解除手段(67)とを具備し、 該第２異常情報を表示手段(61）に表示することによっ
て補助手段(62a,62b,62c,…）の異常を認識できるよう
にしたことを特徴とする請求項１記載の試験設備管理装
置。 - 【請求項３】 前記複数の自動試験手段(55a,55b,55c)
の内、前記製品(53)搬送方向の前段に配置された自動試
験手段(例えば55a)及び自己の自動試験手段(55b)の測定
を行うための自己前段試験項目ファイル(68)と、製品搬
送方向の後段に配置された自動試験手段(例えば55c)及
び自己の自動試験手段(55b)の測定を行うための自己後
段試験項目ファイル(69)とを前記共通記憶手段(54)に記
憶し、 前記第１異常情報により異常が検出された自動試験手段
(55a又は55b又は55c)が該製品(53)の測定を行わないよ
うに制御する測定停止手段(70)を設け、 自動試験手段(例えば55b)の異常が検出された場合に、
測定停止手段(70)により該異常が検出された自動試験手
段(55b)が該製品(53)の測定を行わないようにすると共
に、該異常が検出された自動試験手段(55b)の前段の自
動試験手段(55a)が該自己後段試験項目ファイル(69)を
読み込んで自己及び異常が検出された自動試験手段(55
c,55b)の受け持つ測定を行うようにするか、又は該異常
が検出された自動試験手段(55b)の後段の自動試験手段
(55c)が該自己前段試験項目ファイル(68)を読み込んで
自己及び異常が検出された自動試験手段(55c,55b)の受
け持つ測定を行うようにしたことを特徴とする請求項１
記載の試験設備管理装置。 - 【請求項４】 前記第２異常情報により前記補助手段
(例えば62c)の異常が検出された場合に、異常が検出さ
れた補助手段(62c)を自動交換するようにしたことを特
徴とする請求項２記載の試験設備管理装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29703491A JP2905323B2 (ja) | 1991-11-13 | 1991-11-13 | 試験設備管理方式 |
| US07/975,095 US5297059A (en) | 1991-11-13 | 1992-11-12 | Testing device control system for detecting testing device failure |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29703491A JP2905323B2 (ja) | 1991-11-13 | 1991-11-13 | 試験設備管理方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05135241A JPH05135241A (ja) | 1993-06-01 |
| JP2905323B2 true JP2905323B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=17841366
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29703491A Expired - Lifetime JP2905323B2 (ja) | 1991-11-13 | 1991-11-13 | 試験設備管理方式 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5297059A (ja) |
| JP (1) | JP2905323B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5741985A (en) * | 1996-07-10 | 1998-04-21 | Pfi Vacuum Forming, Inc. | Electronic assembly pallet |
| KR100207994B1 (ko) * | 1997-06-17 | 1999-07-15 | 윤종용 | 내전압 검사장치 및 자동 검사방법 |
| ITMI20010609A1 (it) * | 2001-03-22 | 2002-09-22 | Ocme Srl | Impianto automatizzato per il controllo di pallet |
| US6594599B1 (en) * | 2001-05-09 | 2003-07-15 | Alcatel | System, work station and method for testing a product and generating a statistical model that predicts the processibility of making like products |
| DK1636104T3 (da) * | 2002-12-10 | 2010-10-11 | Chep Technology Pty Ltd | Automatiseret palleinspektion og -reparation |
| PT1694570E (pt) | 2003-12-19 | 2011-07-25 | Chep Technology Pty Ltd | Aparelho e método para a inspeção e a reparação automatizada de paletas |
| US20060249436A1 (en) * | 2005-05-04 | 2006-11-09 | Hardman James L Jr | Pallet defect inspection systems and methods |
| EP3018081B1 (en) * | 2014-11-06 | 2017-08-02 | Hewlett-Packard Industrial Printing Ltd. | Pallet conveyors for printers |
| EP3315309B1 (en) * | 2016-10-31 | 2021-08-04 | HP Scitex Ltd | Vacuum within a pallet conveyor for a printing system |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2519582A1 (fr) * | 1981-10-21 | 1983-07-18 | Groult Emile | Installation de surveillance et de commande de fabrication, notamment d'une machine d'imprimerie |
| US4589080A (en) * | 1982-06-11 | 1986-05-13 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for predicting failure in a copier's paper path |
| JPS6033011A (ja) * | 1983-08-04 | 1985-02-20 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 測定デ−タ合否判別装置 |
| US4707796A (en) * | 1983-10-19 | 1987-11-17 | Calabro Salvatore R | Reliability and maintainability indicator |
| US4752897A (en) * | 1987-05-01 | 1988-06-21 | Eastman Kodak Co. | System for monitoring and analysis of a continuous process |
| JPH0252156A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Kawasaki Steel Corp | 注湯装置の溶鋼加熱方法および装置 |
| JPH03156383A (ja) * | 1989-11-14 | 1991-07-04 | Fujitsu Ltd | 自走車搬送システム |
| US5170362A (en) * | 1991-01-15 | 1992-12-08 | Atlantic Richfield Company | Redundant system for interactively evaluating the capabilities of multiple test subjects to perform a task utilizing a computerized test system |
-
1991
- 1991-11-13 JP JP29703491A patent/JP2905323B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-11-12 US US07/975,095 patent/US5297059A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5297059A (en) | 1994-03-22 |
| JPH05135241A (ja) | 1993-06-01 |
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