JP2904579B2 - コイン検査装置 - Google Patents
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- coin
- coil
- coils
- coin inspection
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Control Of Vending Devices And Auxiliary Devices For Vending Devices (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
- Telephone Function (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、少なくとも２つの発振磁界が装置を通るコ
インの通路に発生し、コインと各磁界との間の相互作用
をモニターするための手段が供給されるコイン検査装置
に関する。
インの通路に発生し、コインと各磁界との間の相互作用
をモニターするための手段が供給されるコイン検査装置
に関する。
２つまたはそれ以上の磁界の使用は、装置が２つまた
はそれ以上の異なるコイン特性を検査できるようにす
る。これらの特性は、コインの材料、コインの厚さ及び
コインの直径を含む。実際、これらの特性をお互いに完
全に独立的に検査することは普通不可能であるが、それ
にもかかわらず上記多数の検査は大きな値になることを
証明した。
はそれ以上の異なるコイン特性を検査できるようにす
る。これらの特性は、コインの材料、コインの厚さ及び
コインの直径を含む。実際、これらの特性をお互いに完
全に独立的に検査することは普通不可能であるが、それ
にもかかわらず上記多数の検査は大きな値になることを
証明した。
コイン特性が検査される時、モニター手段は、コイン
が受納基準を満たしているかどうかを確認するために、
コイン及び磁界間の相互作用の程度を適度に正確に評価
しなければならない。しかしながら、一方の磁界は、コ
インの到達を検出するためだけに使用され、そしてその
磁界が関係するかぎり、モニター手段は、周知のよう
に、装置内で起こる出来事のコイン検査シーケンスに応
答して、検査されるべきコインである目標がその磁界の
付近にあることを表わすのに十分大きく相互作用の程度
が生じているかどうかを検出するためだけに使用され
る。また、コインと磁界のうちの１つとの相互作用を、
コイン到達を表示するため及び受納基準に対して検査す
るための両方に利用することは可能である。
が受納基準を満たしているかどうかを確認するために、
コイン及び磁界間の相互作用の程度を適度に正確に評価
しなければならない。しかしながら、一方の磁界は、コ
インの到達を検出するためだけに使用され、そしてその
磁界が関係するかぎり、モニター手段は、周知のよう
に、装置内で起こる出来事のコイン検査シーケンスに応
答して、検査されるべきコインである目標がその磁界の
付近にあることを表わすのに十分大きく相互作用の程度
が生じているかどうかを検出するためだけに使用され
る。また、コインと磁界のうちの１つとの相互作用を、
コイン到達を表示するため及び受納基準に対して検査す
るための両方に利用することは可能である。
発振磁界を与える１つの方法は、コルピッツの発振回
路のような自励発振回路の一部として接続されている１
個の誘導コイルをコイン通路の近くに配置することであ
る。このような磁界を発生する他の方法は、互いに直列
逆接続、直列順接続、並列逆接続、並列順接続のいずれ
かに接続された２個のコイルをコイン通路の対抗面にか
つ互いに重なり合うように配置することである。このよ
うな磁界を与える更に別の方法は、固定周波数発振器に
よって駆動されるまたはクロック回路の周波数を分周し
たものによって駆動されるコイン通路の一側面上の第１
のコイルを備えることであり、また上記第１のコイルと
重なり合いかつコイン通路の向こう側で第１のコイルと
向かい合わせにもう１つのコイルを備えることであり、
この第２のコイルは第１のコイルより送信された磁界に
より誘導される発振信号を有し、この発振信号は、コイ
ンが上記２個のコイル間を通過する時コインと磁界の間
に生じる相互作用の程度に影響される。
路のような自励発振回路の一部として接続されている１
個の誘導コイルをコイン通路の近くに配置することであ
る。このような磁界を発生する他の方法は、互いに直列
逆接続、直列順接続、並列逆接続、並列順接続のいずれ
かに接続された２個のコイルをコイン通路の対抗面にか
つ互いに重なり合うように配置することである。このよ
うな磁界を与える更に別の方法は、固定周波数発振器に
よって駆動されるまたはクロック回路の周波数を分周し
たものによって駆動されるコイン通路の一側面上の第１
のコイルを備えることであり、また上記第１のコイルと
重なり合いかつコイン通路の向こう側で第１のコイルと
向かい合わせにもう１つのコイルを備えることであり、
この第２のコイルは第１のコイルより送信された磁界に
より誘導される発振信号を有し、この発振信号は、コイ
ンが上記２個のコイル間を通過する時コインと磁界の間
に生じる相互作用の程度に影響される。
コインと磁界間の相互作用の程度は、自励発振装置に
おける１個のコイルもしくは複数のコイルをよぎる電気
信号をモニターすること、または送受信装置の受信コイ
ルをよぎる信号をモニターすることにより検出される。
両方の装置において、コインが受納可能かどうか、また
はコイン到達応答に対してコインが存在するかどうかを
確認するために利用されるのは、上記電気信号の振幅か
周波数か位相である。
おける１個のコイルもしくは複数のコイルをよぎる電気
信号をモニターすること、または送受信装置の受信コイ
ルをよぎる信号をモニターすることにより検出される。
両方の装置において、コインが受納可能かどうか、また
はコイン到達応答に対してコインが存在するかどうかを
確認するために利用されるのは、上記電気信号の振幅か
周波数か位相である。
２つの磁界が互いに独立してコインと交差するために
は、磁界を発生又は交差するコイルを離隔させることに
よって磁界を離隔させることが通常である。このこと
は、一般的に、単一の磁界の装置よりも２倍に等しいス
ペースを占有する。コイン検査装置では、コンパクト性
が常にかつ益々望まれている。
は、磁界を発生又は交差するコイルを離隔させることに
よって磁界を離隔させることが通常である。このこと
は、一般的に、単一の磁界の装置よりも２倍に等しいス
ペースを占有する。コイン検査装置では、コンパクト性
が常にかつ益々望まれている。
米国特許第3,918,563号において、同一コアに巻かれ
異なる周波数で動作する２個の送信コイルを備えること
が提案されたが、コイン受納性に対して望ましい検査を
適用する目的のため、包含された２つの周波数を個々に
モニターできるように互いに分離するために周波数フィ
ルター回路網を追加する必要があった。
異なる周波数で動作する２個の送信コイルを備えること
が提案されたが、コイン受納性に対して望ましい検査を
適用する目的のため、包含された２つの周波数を個々に
モニターできるように互いに分離するために周波数フィ
ルター回路網を追加する必要があった。
本発明の目的は、２つの発振磁界と相互作用するコイ
ルに取られる場所の量をできるだけ少なくしつつ、互い
に実質的に独立する磁界を維持することにある。
ルに取られる場所の量をできるだけ少なくしつつ、互い
に実質的に独立する磁界を維持することにある。
本発明は、装置を通るコインの通路に少なくとも２つ
の発振磁界を発生させる手段と、コインと各磁界の間の
相互作用をモニターする手段とからなるコイン検査装置
において、上記磁界が、一方のコイルが他方を取り囲ん
でいる２つの誘導コイルにそれぞれ関連し、高透磁率材
料が、上記コイル間に配置されかつ各コイルに関係して
いる磁界のほんのわずかの割合しか他のコイルと相互作
用しないことを保証するように形成されるコイン検査装
置を提供することにある。
の発振磁界を発生させる手段と、コインと各磁界の間の
相互作用をモニターする手段とからなるコイン検査装置
において、上記磁界が、一方のコイルが他方を取り囲ん
でいる２つの誘導コイルにそれぞれ関連し、高透磁率材
料が、上記コイル間に配置されかつ各コイルに関係して
いる磁界のほんのわずかの割合しか他のコイルと相互作
用しないことを保証するように形成されるコイン検査装
置を提供することにある。
上記に仕方において一方のコイル内に他方のコイルを
配置することによって、コイルに占められる通路の側壁
の総範囲は、並行なコイルを使用する通常の技術と比較
して実質的に縮小することができるが、コインと２つの
磁界の相互作用をモニターする能力は維持される。
配置することによって、コイルに占められる通路の側壁
の総範囲は、並行なコイルを使用する通常の技術と比較
して実質的に縮小することができるが、コインと２つの
磁界の相互作用をモニターする能力は維持される。
上述した実施例の内の１つにおいて、１個のコアが内
側コイル及び外側コイルのために役立ち、そして２つに
磁界用の別個のインダクターを位置付けかつ固定するの
に関与する余分な組立工程が回避される。
側コイル及び外側コイルのために役立ち、そして２つに
磁界用の別個のインダクターを位置付けかつ固定するの
に関与する余分な組立工程が回避される。
他の３つの実施例において、別々のコア部材が内側コ
イル及び外側コイルに使用され、連続フェライト形成技
術を使用して許容誤差範囲内に確実に維持することが困
難なため１品コアをあるデザインに作ろうとする場合に
起き得る困難さを回避する。これらの実施例のうちの１
つにおいて、２個のコア部材の磁気回路は、それらの間
に低透磁率ギャップを伴って、２個のコイル間に位置す
る２つの並行な壁を備えることにより完全に別々にさ
れ、その結果これらの壁の各々は、コインの場所へ別々
に各磁界を導く。他の２つの実施例において、コイルは
別々のコア部材を有し、１品同心の実施例のように、一
方の部材の一部である高透磁率材料の１つの壁が上記２
個のコイルを分離しているが、この壁と他方のコア部材
との間に低高透磁率ギャップが存在している。これらの
実施例において、それぞれのコア部材を備えた２個のコ
イルが、それらの間の環状のギャップを満たしかつそれ
らを互いに固定するためにたぶん粘着性の低透磁率材料
を使用して単一ユニット内へ前もって組立てられていな
ければ、２個の構成要素は、装置を組み立てる際に位置
決めされかつ固定されなければならない。
イル及び外側コイルに使用され、連続フェライト形成技
術を使用して許容誤差範囲内に確実に維持することが困
難なため１品コアをあるデザインに作ろうとする場合に
起き得る困難さを回避する。これらの実施例のうちの１
つにおいて、２個のコア部材の磁気回路は、それらの間
に低透磁率ギャップを伴って、２個のコイル間に位置す
る２つの並行な壁を備えることにより完全に別々にさ
れ、その結果これらの壁の各々は、コインの場所へ別々
に各磁界を導く。他の２つの実施例において、コイルは
別々のコア部材を有し、１品同心の実施例のように、一
方の部材の一部である高透磁率材料の１つの壁が上記２
個のコイルを分離しているが、この壁と他方のコア部材
との間に低高透磁率ギャップが存在している。これらの
実施例において、それぞれのコア部材を備えた２個のコ
イルが、それらの間の環状のギャップを満たしかつそれ
らを互いに固定するためにたぶん粘着性の低透磁率材料
を使用して単一ユニット内へ前もって組立てられていな
ければ、２個の構成要素は、装置を組み立てる際に位置
決めされかつ固定されなければならない。
日本のサンヨー株式会社により売られたVE602と呼ば
れるコインメカニズムにおいて、実質的に同じ直径の２
個のコイルは、一般にＥ形状の直径の断面を有するフェ
ライトコアにおける１個の環状凹部材内に一方の上部に
他方を合わせられ、第３のコイルがフェライトコアを取
り囲んで配置されるが、それ自身のコアは有していなか
ったということが、この点で言及されている。内側コイ
ルのうちの１個が駆動され、外側コイルは、それに非常
に弱く誘導的に結合され、駆動されたコイルで発生した
磁界を捕えるのに役立っており、また他方の内側コイル
は、駆動されたコイルにしっかりと誘導的に結合され、
外側コイルに誘導された信号の位相が測定できるよう
に、対照基準信号を供給するのに役立っていた。この位
相は、３個のコイルの近くに接近して通過するコインの
特性に影響を受けると思われる。
れるコインメカニズムにおいて、実質的に同じ直径の２
個のコイルは、一般にＥ形状の直径の断面を有するフェ
ライトコアにおける１個の環状凹部材内に一方の上部に
他方を合わせられ、第３のコイルがフェライトコアを取
り囲んで配置されるが、それ自身のコアは有していなか
ったということが、この点で言及されている。内側コイ
ルのうちの１個が駆動され、外側コイルは、それに非常
に弱く誘導的に結合され、駆動されたコイルで発生した
磁界を捕えるのに役立っており、また他方の内側コイル
は、駆動されたコイルにしっかりと誘導的に結合され、
外側コイルに誘導された信号の位相が測定できるよう
に、対照基準信号を供給するのに役立っていた。この位
相は、３個のコイルの近くに接近して通過するコインの
特性に影響を受けると思われる。
その配置は、２個の発振磁界を利用せず、それゆえコ
インに２つの検査を実行できず、そして実際にそれは１
つの検査を実行するために３個のコイルを必要とするこ
とが注目されるべきことである。対照的に、本発明の態
様は、２個の並行コイルで占められるであろうものより
実質的に少ないコイン通路の範囲及び長さを占める２個
のコイルのみを使用して、２つのコイン検査を適用する
ことを可能にする。
インに２つの検査を実行できず、そして実際にそれは１
つの検査を実行するために３個のコイルを必要とするこ
とが注目されるべきことである。対照的に、本発明の態
様は、２個の並行コイルで占められるであろうものより
実質的に少ないコイン通路の範囲及び長さを占める２個
のコイルのみを使用して、２つのコイン検査を適用する
ことを可能にする。
本発明がより明確に理解されるように、いくつかの実
施例を次の付随する概略図に関連して説明する。
施例を次の付随する概略図に関連して説明する。
第１図は、各ユニットが、一方が他方を取り囲む２個
のコイルを含んでいる対向する１対のインダクターユニ
ットからなるコイン感応形態の断面図を示す。
のコイルを含んでいる対向する１対のインダクターユニ
ットからなるコイン感応形態の断面図を示す。
第２図は、コイルが露出される面に向かって見た、第
１図のインダクターユニットのうちの１個の平面図を示
す。
１図のインダクターユニットのうちの１個の平面図を示
す。
第３図、４図、５図は、一方のコイルが他方のコイル
を取り囲みかつ各コイルのコアの間にギャップがある、
２個のコイルの３つの形態の断面図を示す。
を取り囲みかつ各コイルのコアの間にギャップがある、
２個のコイルの３つの形態の断面図を示す。
第１図に関して、断面図は、コインが転がるように傾
斜しているコイントラックに沿ってコイン２が（左から
右へ）転がっている、典型的なコイン検査装置のコイン
通路内を下向きに見て取られている。それぞれの側壁６
及び８は、コインの横方向への運動を制限するようにコ
イントラック４のどちらの側面にも位置しており、また
側壁６及び８は、コインが一方の壁、この場合壁６、に
接触して図のように転がることを強いるように、垂直に
傾斜している。
斜しているコイントラックに沿ってコイン２が（左から
右へ）転がっている、典型的なコイン検査装置のコイン
通路内を下向きに見て取られている。それぞれの側壁６
及び８は、コインの横方向への運動を制限するようにコ
イントラック４のどちらの側面にも位置しており、また
側壁６及び８は、コインが一方の壁、この場合壁６、に
接触して図のように転がることを強いるように、垂直に
傾斜している。
第１のインダクターユニット10は、例えば適当な接着
剤を使用して壁８に固定され、第２の同一なインダクタ
ーユニット12は、同様に壁６に固定されている。
剤を使用して壁８に固定され、第２の同一なインダクタ
ーユニット12は、同様に壁６に固定されている。
一方のインダクターユニット10は、第１及び２図に関
して詳細に説明される。インダクターユニット10は、内
側コイル16を取り囲む外側コイル14からなり、コイル14
及び16はこの場合互いに同心となっている。
して詳細に説明される。インダクターユニット10は、内
側コイル16を取り囲む外側コイル14からなり、コイル14
及び16はこの場合互いに同心となっている。
コイル14及び16は、フェライトのような高透磁率材料
の単一本体に取り付けられている。この単一本体は、２
個のコイル間に位置した環状壁部材18と、外側コイル14
の回りに配置した環状周壁部材20と、内側コイル16で取
り囲まれた中心部材22と、両コイルの上に横たわりかつ
壁18、20及び22を連通する背面部材24とからなってい
る。
の単一本体に取り付けられている。この単一本体は、２
個のコイル間に位置した環状壁部材18と、外側コイル14
の回りに配置した環状周壁部材20と、内側コイル16で取
り囲まれた中心部材22と、両コイルの上に横たわりかつ
壁18、20及び22を連通する背面部材24とからなってい
る。
少々驚いたことに、外側コイル14の磁気回路は、電流
が供給される時、外側周壁20と、コイル14の上に横たわ
る背面部材24の一部と、コイル14及び16を分離し次に周
壁部材20の端面に戻るループにおけるコイン通路の中へ
壁部材18の端面から延出する壁部材18とで実質的に完全
に閉じ込められていることが認められた。したがって、
磁気回路は、一般にトロイダル形状になっており、内側
コイル16の巻線の周りまで伸びていない。
が供給される時、外側周壁20と、コイル14の上に横たわ
る背面部材24の一部と、コイル14及び16を分離し次に周
壁部材20の端面に戻るループにおけるコイン通路の中へ
壁部材18の端面から延出する壁部材18とで実質的に完全
に閉じ込められていることが認められた。したがって、
磁気回路は、一般にトロイダル形状になっており、内側
コイル16の巻線の周りまで伸びていない。
同様に、内側コイル16の磁気回路は、中心壁部材22を
介して、コイル16の上に横たわる背面部材24の一部を介
して放射状に外側に、壁部材18に向かって導く背面部材
24のその一部を介して、壁部材18を介して上に、コイン
通路内へまた次にそこから内側壁部材22の端面へ戻るル
ープにおいてその端面を介して外へ出ている。
介して、コイル16の上に横たわる背面部材24の一部を介
して放射状に外側に、壁部材18に向かって導く背面部材
24のその一部を介して、壁部材18を介して上に、コイン
通路内へまた次にそこから内側壁部材22の端面へ戻るル
ープにおいてその端面を介して外へ出ている。
上述のことは、インダクターユニット10のみが活動し
ている場合の磁気回路を説明している。図のような特別
な形態において、インダクターユニット10の外側コイル
14とインダクターユニット12の外側コイル14′は、共に
それらがコルピッツ発振回路の周波数決定インダクタン
スを形成するように、並列順接続される。その結果とし
て、それらのうちの２個のコイルの磁気回路がより延長
されたトロイドになっている場合、それらは共に動かさ
れ、コイル14を取り囲む同等部材の周りに伸びたそれと
まったく同じ方法で、コイル14′を直接取り囲む３つの
高透磁率部材の周りに伸びている。内側コイル16及び1
6′は、コルピッツ発振回路内に並列順接続されるよう
にもくろまれ、それらの磁気回路は、２個のコイル14及
び14′と同じく根本的に延長されたトロイダルパターン
を有している。
ている場合の磁気回路を説明している。図のような特別
な形態において、インダクターユニット10の外側コイル
14とインダクターユニット12の外側コイル14′は、共に
それらがコルピッツ発振回路の周波数決定インダクタン
スを形成するように、並列順接続される。その結果とし
て、それらのうちの２個のコイルの磁気回路がより延長
されたトロイドになっている場合、それらは共に動かさ
れ、コイル14を取り囲む同等部材の周りに伸びたそれと
まったく同じ方法で、コイル14′を直接取り囲む３つの
高透磁率部材の周りに伸びている。内側コイル16及び1
6′は、コルピッツ発振回路内に並列順接続されるよう
にもくろまれ、それらの磁気回路は、２個のコイル14及
び14′と同じく根本的に延長されたトロイダルパターン
を有している。
両コルピッツ発振器が動作している時、両方のコイル
対14、14′及び16、16′の発振磁界は、膨張したり収縮
したりするが、２つのコイル対が互いに電磁的にまった
く独立的に動作できるように、１つのコイル対の磁界は
他方のコイル対の線を切らない。これは理想的な状態で
あり、実際は各コイルで発生した磁界とそれの内側（ま
たは外側）のコイルの巻線との間にある程度の相互作用
が存在するが、これは装置の満足な動作を妨げるには不
十分なものにさせることができることが言及されなけれ
ばならない。
対14、14′及び16、16′の発振磁界は、膨張したり収縮
したりするが、２つのコイル対が互いに電磁的にまった
く独立的に動作できるように、１つのコイル対の磁界は
他方のコイル対の線を切らない。これは理想的な状態で
あり、実際は各コイルで発生した磁界とそれの内側（ま
たは外側）のコイルの巻線との間にある程度の相互作用
が存在するが、これは装置の満足な動作を妨げるには不
十分なものにさせることができることが言及されなけれ
ばならない。
内側コイル16及び16′を含む発振回路を約100kHzで動
作させることによって、コインが２個のコイル間を転が
る時に引き起こされる最大振幅変化は、コインが作られ
ている材料を主として示す。外側コイル14及び14′を含
むコルピッツ発振器を約1MHzで動作させることによっ
て、コインがそれれらを通過する時の最大周波数変化
は、コインの厚さを主として示す。２つの異なる周波数
を使用するコイン検査技術と、それから引き出されるべ
き恩恵は、米国特許第3,870,137号において説明されて
おり、コインの材料、厚さ及び直径の測定に関する別の
情報は、英国特許第2,094,008号において見出すことが
できる。これらの先行特許及び多くのその他の特許中に
関する技術は、第１及び２図に示す同心コイル形態（及
び第３図乃至第５図に見られるもの）と共に一般的に使
用できる。
作させることによって、コインが２個のコイル間を転が
る時に引き起こされる最大振幅変化は、コインが作られ
ている材料を主として示す。外側コイル14及び14′を含
むコルピッツ発振器を約1MHzで動作させることによっ
て、コインがそれれらを通過する時の最大周波数変化
は、コインの厚さを主として示す。２つの異なる周波数
を使用するコイン検査技術と、それから引き出されるべ
き恩恵は、米国特許第3,870,137号において説明されて
おり、コインの材料、厚さ及び直径の測定に関する別の
情報は、英国特許第2,094,008号において見出すことが
できる。これらの先行特許及び多くのその他の特許中に
関する技術は、第１及び２図に示す同心コイル形態（及
び第３図乃至第５図に見られるもの）と共に一般的に使
用できる。
多くの状態において、コイン通路を横切って対向した
コイルは一対では動作しないが、むしろ１個のコイルが
コイン通路の近くに配置され、自励発振回路の一部を形
成し、コイルの信号特性が、コイルによってコイン通路
に発生した発振磁界と相互作用するコインに影響を受け
ることが特に言及されなければならない。第１図に示す
誘導的ユニットの１つ、例えばユニット10、は２個の上
記１面コイルとして動作できる。コイルが２面形態で使
用されても１面形態で使用されても、互いに横方向に離
れて配置されたポットコアにおける環状コイルを分離す
るよりも実質的に少ないコイン通路側壁の範囲を占める
コイル、これは普通の配置であるが、によってコインに
適用されるべきコイン検査を可能にすることが認識され
るであろう。
コイルは一対では動作しないが、むしろ１個のコイルが
コイン通路の近くに配置され、自励発振回路の一部を形
成し、コイルの信号特性が、コイルによってコイン通路
に発生した発振磁界と相互作用するコインに影響を受け
ることが特に言及されなければならない。第１図に示す
誘導的ユニットの１つ、例えばユニット10、は２個の上
記１面コイルとして動作できる。コイルが２面形態で使
用されても１面形態で使用されても、互いに横方向に離
れて配置されたポットコアにおける環状コイルを分離す
るよりも実質的に少ないコイン通路側壁の範囲を占める
コイル、これは普通の配置であるが、によってコインに
適用されるべきコイン検査を可能にすることが認識され
るであろう。
一方のコイルの磁界は他方のコイルの巻線と実質的に
相互作用せず、そのため異なる周波数が使用される点で
コイン特性が２つの異なる周波数磁界でどんな影響を有
しているかを十分に正確に検出するために周波数フィル
ター回路を使用する必要がないことは、上記説明から明
白であろう。
相互作用せず、そのため異なる周波数が使用される点で
コイン特性が２つの異なる周波数磁界でどんな影響を有
しているかを十分に正確に検出するために周波数フィル
ター回路を使用する必要がないことは、上記説明から明
白であろう。
第１図及び２図に関して記載されたように、両方のコ
イル対14、14′及び16、16′は、おのおの自励発振器回
路の一部となっている。しかしながら、対向したコイル
の一方もしくは両方を、初めに説明したように送信／受
信モードで動作させることは可能である。
イル対14、14′及び16、16′は、おのおの自励発振器回
路の一部となっている。しかしながら、対向したコイル
の一方もしくは両方を、初めに説明したように送信／受
信モードで動作させることは可能である。
また、第１図及び２図の外側コイル対14、14′は、英
国特許第2,094,008号において説明されている仕方でコ
イン厚さと同様にコイン到達に感応させるように使用で
きることが説明されるべきである。
国特許第2,094,008号において説明されている仕方でコ
イン厚さと同様にコイン到達に感応させるように使用で
きることが説明されるべきである。
次に第３図について見ると、これは、第１図の各イン
ダクターユニト10及び12の代わりに使用できる２個の同
心インダクターを通る断面図を示す。内側のインダクタ
ーは、内側及び外側壁44及び46を有する環状コア42の面
の環状凹部内に配置されたコイル40からなり、また上記
コアはコイル40の後ろにありかつ壁部材44及び46を連結
する背面部材47を有している。外側インダクターは、内
側インダクターと同様とされており、後壁53で連結され
た内側及び外側側壁50及び52間の凹部内のコイル48から
なっているが、内側インダクターを取り囲むことができ
るようにそれより大きい直径とされており、上記２個の
コア間に環状形のギャップ54がある。壁46及び50は、各
コイルの磁気回路がそれ自身のコアに制限され、それゆ
え他方のコイルの巻線を実質的に切らないかまたは横切
らないことを保証する。銅製のリングのようなシールド
は、総合的な磁気遮断を達成するために壁46及び50の間
に取り付けられる。一方のコイルが他方のコイルを取り
囲んでいるので、第３図の配置は、第１図の配置と同様
に、減少した範囲とコイントラック長さを占める同一な
利点を与えるが、全く同じ程度ではない。しかしなが
ら、それはもっと多くの部品を使用して製造する必要が
あり、また第１図及び２図に示す実施例における２個の
コイルの磁気回路間で共有された材料のいくつかを有す
ることにより達成される高透磁率材料における、そして
占有スペースにおける経済性を与えない。
ダクターユニト10及び12の代わりに使用できる２個の同
心インダクターを通る断面図を示す。内側のインダクタ
ーは、内側及び外側壁44及び46を有する環状コア42の面
の環状凹部内に配置されたコイル40からなり、また上記
コアはコイル40の後ろにありかつ壁部材44及び46を連結
する背面部材47を有している。外側インダクターは、内
側インダクターと同様とされており、後壁53で連結され
た内側及び外側側壁50及び52間の凹部内のコイル48から
なっているが、内側インダクターを取り囲むことができ
るようにそれより大きい直径とされており、上記２個の
コア間に環状形のギャップ54がある。壁46及び50は、各
コイルの磁気回路がそれ自身のコアに制限され、それゆ
え他方のコイルの巻線を実質的に切らないかまたは横切
らないことを保証する。銅製のリングのようなシールド
は、総合的な磁気遮断を達成するために壁46及び50の間
に取り付けられる。一方のコイルが他方のコイルを取り
囲んでいるので、第３図の配置は、第１図の配置と同様
に、減少した範囲とコイントラック長さを占める同一な
利点を与えるが、全く同じ程度ではない。しかしなが
ら、それはもっと多くの部品を使用して製造する必要が
あり、また第１図及び２図に示す実施例における２個の
コイルの磁気回路間で共有された材料のいくつかを有す
ることにより達成される高透磁率材料における、そして
占有スペースにおける経済性を与えない。
第４図及び５図に示す２つの更に別の実施例におい
て、同様に内側コイル及び外側コイルがあり、各コイル
は図に示す断面を有するそれ自身のコア部材を備えてい
ることが明らかであろう。第３図の実施例と違っている
が第１図及び２図の実施例と同様に、内側及び外側コイ
ルの磁気回路は、第４図の実施例における円筒形のフェ
ライト壁56かまたは第５図の実施例における円筒形の壁
58を共有している。第４図の実施例において、外側コイ
ルの磁界は、外側コイルのＬ型コア部材から共有壁56ま
で低透磁率のギャップ60を横切って通過し、それに対し
て第５図の実施例においては、内側コイルの磁界は、内
側コイルのＴ型コア部材から共有壁58までギャップ62を
横切って通過する。両方の場合において、その形態は、
ギャップを横切って通過する磁界は共有壁に主として制
限され、ほんのわずかの割合が他方のコイルの巻線を切
るように広がるようなものとなる。
て、同様に内側コイル及び外側コイルがあり、各コイル
は図に示す断面を有するそれ自身のコア部材を備えてい
ることが明らかであろう。第３図の実施例と違っている
が第１図及び２図の実施例と同様に、内側及び外側コイ
ルの磁気回路は、第４図の実施例における円筒形のフェ
ライト壁56かまたは第５図の実施例における円筒形の壁
58を共有している。第４図の実施例において、外側コイ
ルの磁界は、外側コイルのＬ型コア部材から共有壁56ま
で低透磁率のギャップ60を横切って通過し、それに対し
て第５図の実施例においては、内側コイルの磁界は、内
側コイルのＴ型コア部材から共有壁58までギャップ62を
横切って通過する。両方の場合において、その形態は、
ギャップを横切って通過する磁界は共有壁に主として制
限され、ほんのわずかの割合が他方のコイルの巻線を切
るように広がるようなものとなる。
隣接した磁気回路においてお互いに甚だしく相違しな
い磁束レベルを使用することが、全ての実施例において
望ましい。なぜなら、もしそれが非常に甚だしく相違し
ているなら、高磁束回路の磁束の小さい割合のみでさえ
低磁束回路のコイルとの相互作用は、望ましくない程度
にその出力を変調することにより低磁束回路の正しい動
作を受け入れがたい程度に妨害することを引き起こし得
るからである。
い磁束レベルを使用することが、全ての実施例において
望ましい。なぜなら、もしそれが非常に甚だしく相違し
ているなら、高磁束回路の磁束の小さい割合のみでさえ
低磁束回路のコイルとの相互作用は、望ましくない程度
にその出力を変調することにより低磁束回路の正しい動
作を受け入れがたい程度に妨害することを引き起こし得
るからである。
このような影響は、回路を一度に１つずつ励磁するこ
とにより縮小できるが、この場合ですら、２個の隣接し
たコイルの間の磁気結合が過大になると、一方のコイル
は、コイン自身の影響を好ましくなく覆いかくす程度ま
で他方のコイルに負荷をかけるかも知れない。
とにより縮小できるが、この場合ですら、２個の隣接し
たコイルの間の磁気結合が過大になると、一方のコイル
は、コイン自身の影響を好ましくなく覆いかくす程度ま
で他方のコイルに負荷をかけるかも知れない。
許容し得る一方のコイルの磁界と他方のコイル間の相
互作用の大きさは、適用されるべき信号処理のタイプに
依存するであろう。例えば、第１図に関して上述された
実施例において、1MHzの周波数信号をモニターするため
に、信号は増殖され、次にデジタル処理に適する方形波
パルス列を発生するようにインバーターで方形にされ
る。1MHz信号が常にインバータースレショールドを越え
ている限りは、方形波パルス列のパルス幅のみが変調さ
れるようになり、その周波数は変調されず、その結果測
定の正確さは影響を受けないだろうから、２つの回路間
の磁束漏洩に起因する100kHzでの変調度は、問題になら
ないだろう。
互作用の大きさは、適用されるべき信号処理のタイプに
依存するであろう。例えば、第１図に関して上述された
実施例において、1MHzの周波数信号をモニターするため
に、信号は増殖され、次にデジタル処理に適する方形波
パルス列を発生するようにインバーターで方形にされ
る。1MHz信号が常にインバータースレショールドを越え
ている限りは、方形波パルス列のパルス幅のみが変調さ
れるようになり、その周波数は変調されず、その結果測
定の正確さは影響を受けないだろうから、２つの回路間
の磁束漏洩に起因する100kHzでの変調度は、問題になら
ないだろう。
それにもかかわらず、一方のコイルに関連する磁界の
50％以上が他方のコイルと相互作用することが許される
なら、有効な結果は得られそうもない。この割合を20％
以下にすることが望ましいが、必要とされる正確さと特
別な形態と使用される信号処理のタイプとによって、30
％またはちょうど40％までが許容できるかも知れない。
第３図、４図、５図において、２個のコア部材間の小さ
いギャップは、フェライトコアの形成のために現在の技
術を使用する時に生じる寸法変化を調整することができ
る。
50％以上が他方のコイルと相互作用することが許される
なら、有効な結果は得られそうもない。この割合を20％
以下にすることが望ましいが、必要とされる正確さと特
別な形態と使用される信号処理のタイプとによって、30
％またはちょうど40％までが許容できるかも知れない。
第３図、４図、５図において、２個のコア部材間の小さ
いギャップは、フェライトコアの形成のために現在の技
術を使用する時に生じる寸法変化を調整することができ
る。
高透磁率材料の円筒形壁の各々の厚さを、製造技術に
よって課せられた拘束と一致する最小にすることが一般
に望ましい。2mmより少ない壁厚は容易に達成され、実
際問題としてどんな壁もまたは各々の壁はほぼ1mmの厚
さで作ることができる。
よって課せられた拘束と一致する最小にすることが一般
に望ましい。2mmより少ない壁厚は容易に達成され、実
際問題としてどんな壁もまたは各々の壁はほぼ1mmの厚
さで作ることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G07D 1/00 - 13/00
Claims (27)
- 【請求項１】装置を通るコインの通路において少なくと
も２つの発振磁界を発生する手段と、コインと各磁界と
の間の相互作用をモニターする手段とからなるコイン検
査装置において、上記磁界が、２個の誘導コイルとそれ
ぞれ関連しており、２個のコイルのうちの一方が他方を
取り囲んでおり、高透磁率材料が２個のコイルの間に配
置されかつ各コイルに関連した磁界のほんのわずかな割
合しか他方のコイルと相互作用しないことを保証するよ
うに形成されていることを特徴とするコイン検査装置。 - 【請求項２】請求項１のコイル検査装置において、該高
透磁率材料は、両コイルの磁気回路と協動し、かつ形成
する高透磁率材料の単一本体の一部であるコイン検査装
置。 - 【請求項３】請求項２のコイン検査装置において、コイ
ルが高透磁率材料の単一本体の同一面にある各々の凹部
内に配置される、コイン検査装置。 - 【請求項４】請求項１のコイン検査装置において、両コ
イルの磁気回路は、２個のコイル間に配置された高透磁
率材料を共有するコイン検査装置。 - 【請求項５】請求項４のコイン検査装置において、各コ
イルが高透磁率材料のそれ自身のコア部材を有し、前記
共有材料が内側コイルのコア部材の一部となっており、
外側コイルの磁気回路が外側コイルコア部材と共有材料
との間の低透磁率ギャップを横切って通過するコイン検
査装置。 - 【請求項６】請求項４のコイン検査装置において、各コ
イルが高透磁率材料のそれ自身のコア部材を有し、前記
共有材料が内側コイルのコア部材の一部となっており、
内側コイルの磁気回路が内側コイルコア部材と共有材料
との間の低透磁率ギャップを横切って通過するコイン検
査装置。 - 【請求項７】請求項１のコイン検査装置において、各コ
イルが高透磁率材料のそれ自身のコア部材を有し、前記
コア部材がコイル間に配置された壁を有し、該壁が低透
磁率ギャップによって分離されており、各壁が１個のコ
イルのみの磁気回路内にあるコイン検査装置。 - 【請求項８】請求項１から請求項７のいずれかのコイン
検査装置において、２個のコイルが同心であるコイン検
査装置。 - 【請求項９】請求項１から請求項８のいずれかのコイン
検査装置において、高透磁率材料の周壁部分が外側コイ
ルの回りに配置されるコイン検査装置。 - 【請求項１０】請求項１から請求項９のいずれかのコイ
ン検査装置において、高透磁率材料の中央部分が内側コ
イルによって囲まれるコイン検査装置。 - 【請求項１１】請求項１から請求項10のいずれかのコイ
ン検査装置において、高透磁率材料の背面部分が２個の
コイルの各々の背面に横たわるコイン検査装置。 - 【請求項１２】請求項１から請求項11のいずれかのコイ
ン検査装置において、コインが装置を通るそれの通路上
を端に沿って動いて行く平面の近くに２個のコイルが、
配置されるコイン検査装置。 - 【請求項１３】請求項１から請求項12のいずれかのコイ
ン検査装置において、２個のコイルの各々が自励発振回
路の周波数決定素子を形成するコイン検査装置。 - 【請求項１４】請求項１から請求項13のいずれかのコイ
ン検査装置において、２個のコイルが異なる周波数で動
かされるコイン検査装置。 - 【請求項１５】請求項14のコイン検査装置において、前
記モニターする手段は、各発振回路からの、コインと各
磁界との間の相互作用の程度を表すそれぞれの信号を引
き出す手段を備え、該手段が周波数フィルターを含まな
いコイン検査装置。 - 【請求項１６】請求項12のコイン検査装置において、該
装置は、第１の２個のコイルからコイン通路の反対側に
横たわる第２の２個の誘導コイルを備え、第２の２個の
コイルの各々は、第１の２個のコイルの各１つと整合し
て２対のコイルを形成しており、各対はコイン通路を横
切って対向する２個の重なり合うコイルからなるコイン
検査装置。 - 【請求項１７】請求項16のコイン検査装置において、第
２の２個のコイルは請求項１から請求項10のいずれかに
おいて特定される態様の高透磁率材料に関連するコイン
検査装置。 - 【請求項１８】請求項16又は請求項17のコイン検査装置
において、各コイル対において、コイルが ａ）直列逆接続、 ｂ）直列順接続、 ｃ）並列逆接続、及び ｄ）並列順接続 のうちの１つの形式で接続されるコイン検査装置。 - 【請求項１９】請求項16から請求項18のいずれかのコイ
ン検査装置において、２個のコイルの各々が自励発振回
路の周波数決定素子を形成するコイン検査装置。 - 【請求項２０】請求項19のコイン検査装置において、コ
イル対が異なる周波数で動かされるコイン検査装置。 - 【請求項２１】請求項16又は請求項17のコイン検査装置
において、一方のコイル対の一方のコイルが発振磁界の
１つを発生するために駆動され、該コイル対の他方のコ
イルが上記磁界によって誘導された発振信号を有し、該
発振信号のパラメーターがコインと上記磁界間の相互作
用の程度に応答するコイン検査装置。 - 【請求項２２】請求項21のコイン検査装置において、他
方のコイル対のコイルが、同様に、それぞれ駆動コイル
と該駆動コイルによって誘導された発振信号を有するコ
イルであるコイン検査装置。 - 【請求項２３】請求項21のコイン検査装置において、他
のコイル対のコイルが ａ）直列逆接続、 ｂ）直列順接続、 ｃ）並列逆接続、及び ｄ）並列順接続 のうちの１つの形式で接続されるコイン検査装置。 - 【請求項２４】請求項23のコイン検査装置において、他
のコイル対のコイルが自励発振回路の周波数決定素子を
形成するコイン検査装置。 - 【請求項２５】請求項22から請求項24のいずれかのコイ
ン検査装置において、コイル対が異なる周波数で動かさ
れるコイン検査装置。 - 【請求項２６】請求項１から請求項25のいずれかのコイ
ン検査装置において、前記モニター手段が、コインの存
在を表わすためにコインと前記１つの磁界との相互作用
に応答し、かつコイン受納基準を満たしているかどうか
を判断するためにコインと前記他の磁界との相互作用に
応答するコイン検査装置。 - 【請求項２７】請求項１から請求項26のいずれかのコイ
ン検査装置において、前記モニター手段は、コインと前
記磁界の両方との相互作用に応答してコインの受納基準
を判断するコイン検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8918997A GB2235559A (en) | 1989-08-21 | 1989-08-21 | Coin testing apparatus |
| GB8918997.1 | 1989-08-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04507469A JPH04507469A (ja) | 1992-12-24 |
| JP2904579B2 true JP2904579B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=10661907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2511604A Expired - Fee Related JP2904579B2 (ja) | 1989-08-21 | 1990-08-09 | コイン検査装置 |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5323891A (ja) |
| EP (1) | EP0489041B1 (ja) |
| JP (1) | JP2904579B2 (ja) |
| KR (1) | KR920704246A (ja) |
| AT (1) | ATE130949T1 (ja) |
| AU (1) | AU649403B2 (ja) |
| BR (1) | BR9007618A (ja) |
| CA (1) | CA2064729C (ja) |
| DD (1) | DD297271A5 (ja) |
| DE (1) | DE69023913T2 (ja) |
| ES (1) | ES2080832T3 (ja) |
| GB (1) | GB2235559A (ja) |
| HK (1) | HK1007023A1 (ja) |
| HU (1) | HUT61112A (ja) |
| IE (1) | IE902897A1 (ja) |
| WO (1) | WO1991003032A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5263566A (en) * | 1991-04-10 | 1993-11-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Coin discriminating apparatus |
| US5244070A (en) * | 1992-03-04 | 1993-09-14 | Duncan Industries Parking Control Systems Corp. | Dual coil coin sensing apparatus |
| JP3031525B2 (ja) * | 1995-01-27 | 2000-04-10 | 旭精工株式会社 | 電子式の硬貨選別装置 |
| US5579887A (en) * | 1995-06-15 | 1996-12-03 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection apparatus |
| AUPN495295A0 (en) * | 1995-08-23 | 1995-09-14 | Microsystem Controls Pty Ltd | Apparatus for obtaining certain characteristics for an article |
| US6047808A (en) * | 1996-03-07 | 2000-04-11 | Coinstar, Inc. | Coin sensing apparatus and method |
| US6056104A (en) * | 1996-06-28 | 2000-05-02 | Coinstar, Inc. | Coin sensing apparatus and method |
| US5988348A (en) | 1996-06-28 | 1999-11-23 | Coinstar, Inc. | Coin discrimination apparatus and method |
| US6520308B1 (en) * | 1996-06-28 | 2003-02-18 | Coinstar, Inc. | Coin discrimination apparatus and method |
| EP0819944A1 (en) * | 1996-07-16 | 1998-01-21 | Lucent Technologies Inc. | Eddy current sensor |
| GB2323200B (en) * | 1997-02-24 | 2001-02-28 | Mars Inc | Coin validator |
| GB2323199B (en) | 1997-02-24 | 2000-12-20 | Mars Inc | Method and apparatus for validating coins |
| US5992603A (en) * | 1997-12-18 | 1999-11-30 | Ginsan Industries Inc | Coin acceptance mechanism and method of determining an acceptable coin |
| JPH11328473A (ja) * | 1998-03-17 | 1999-11-30 | Nippon Conlux Co Ltd | 硬貨検知方法および装置 |
| GB2340681B (en) | 1998-08-14 | 2003-07-30 | Mars Inc | Oscillators |
| KR100390251B1 (ko) * | 1999-10-06 | 2003-07-04 | 가부시키가이샤 닛폰 콘락스 | 코인 검사방법 및 장치 |
| GB2366371A (en) * | 2000-09-04 | 2002-03-06 | Mars Inc | Sensing documents such as currency items |
| US7152727B2 (en) * | 2001-09-21 | 2006-12-26 | Coinstar, Inc. | Method and apparatus for coin or object sensing using adaptive operating point control |
| US7581885B2 (en) * | 2004-11-24 | 2009-09-01 | General Electric Company | Method and system of aligning x-ray detector for data acquisition |
| JP5617096B2 (ja) * | 2005-10-24 | 2014-11-05 | 旭精工株式会社 | ゲーム機のメダル投入装置におけるメダル選別装置 |
| JP5261689B2 (ja) * | 2005-10-24 | 2013-08-14 | 旭精工株式会社 | ゲーム機のメダル投入装置におけるにメダル選別装置 |
| JP5167470B2 (ja) * | 2006-06-30 | 2013-03-21 | 旭精工株式会社 | コイン識別センサおよびコインセレクタのコイン識別装置 |
| DE102007046390B3 (de) * | 2007-09-20 | 2008-11-27 | National Rejectors, Inc. Gmbh | Verfahren zum Prüfen von Münzen |
| US8561777B2 (en) | 2007-10-23 | 2013-10-22 | Mei, Inc. | Coin sensor |
| EP2826026A1 (en) | 2012-03-14 | 2015-01-21 | MEI, Inc. | Coin sensor |
| US9036890B2 (en) | 2012-06-05 | 2015-05-19 | Outerwall Inc. | Optical coin discrimination systems and methods for use with consumer-operated kiosks and the like |
| JP2014182539A (ja) * | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Nippon Conlux Co Ltd | 硬貨識別装置 |
| US9022841B2 (en) | 2013-05-08 | 2015-05-05 | Outerwall Inc. | Coin counting and/or sorting machines and associated systems and methods |
| US9443367B2 (en) | 2014-01-17 | 2016-09-13 | Outerwall Inc. | Digital image coin discrimination for use with consumer-operated kiosks and the like |
| CN104134269B (zh) * | 2014-06-23 | 2017-07-07 | 江苏多维科技有限公司 | 一种硬币检测系统 |
| US20170092409A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-30 | Apple Inc. | Preferentially Magnetically Oriented Ferrites for Improved Power Transfer |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2120826A (en) | 1982-05-21 | 1983-12-07 | Coin Controls | Validating coins |
| US4855678A (en) | 1985-09-13 | 1989-08-08 | Thyssen Industrie Ag | Apparatus for guiding the sensor holder of a surface testing apparatus |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3764897A (en) * | 1971-12-28 | 1973-10-09 | Singer Co | Electromagnetic thickness gauging using a transmitting coil shaped to provide a constant field over a range of measuring distances |
| GB1483192A (en) * | 1973-11-22 | 1977-08-17 | Mars Inc | Arrival sensor |
| FR2305809A1 (fr) * | 1975-03-25 | 1976-10-22 | Crouzet Sa | Dispositif d'authentification de titres monetaires |
| GB2094008B (en) * | 1981-02-11 | 1985-02-13 | Mars Inc | Improvements in and relating to apparatus for checking the validity of coins |
| US4705154A (en) * | 1985-05-17 | 1987-11-10 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Coin selection apparatus |
| US4855677A (en) * | 1988-03-11 | 1989-08-08 | Westinghouse Electric Corp. | Multiple coil eddy current probe and method of flaw detection |
| JPH07120453B2 (ja) * | 1989-02-17 | 1995-12-20 | 富士電機株式会社 | 電子式硬貨選別装置の硬貨返却信号発生装置 |
| JP2767278B2 (ja) * | 1989-04-10 | 1998-06-18 | 株式会社日本コンラックス | 硬貨選別装置 |
| GB8912522D0 (en) * | 1989-05-26 | 1989-07-19 | Coin Controls | Coin discrimination apparatus with temperature compensation |
| GB2233805B (en) * | 1989-07-07 | 1993-02-10 | Mars Inc | Coin testing apparatus |
-
1989
- 1989-08-21 GB GB8918997A patent/GB2235559A/en not_active Withdrawn
-
1990
- 1990-08-09 AU AU61724/90A patent/AU649403B2/en not_active Ceased
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- 1990-08-09 ES ES90912110T patent/ES2080832T3/es not_active Expired - Lifetime
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Patent Citations (2)
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| DE69023913D1 (de) | 1996-01-11 |
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