JP2904542B2 - 機械的接触検知を利用するカートリッジ取扱装置の校正方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はコンピュータシステムに関し、詳細には光デ
ィスクカートリッジを取扱い収納する装置に関し、一層
詳細には、かかる装置の制御システム内の移動機構の位
置の校正に関する。

（従来の技術） 光ディスクは、レーザーをベースにした読取り装置に
よって読み取ることができるデータ記憶媒体である。
「コンパクトディスク」または「CD」として知られる光
ディスクは、音楽及びオーディオ・ビデオ作品の記録に
関して、この数年の間にしだいに普及の度を増してき
た。従来の磁気記憶媒体に比較して光ディスクの記憶容
量は膨大であるため、「ROMディスク」として知られる
光ディスクはコンピュータで読取り可能な情報を記憶す
る上で一般的になって来ている。しかしながら、ごく最
近まで、光ディスクは「消去」して、新しい情報を「書
き込む」ことができない、すなわち、ROMディスクは
「読取り専用」記憶装置であるため、コンピュータ産業
での利用はある程度制限されてきた。しかしながら、最
新のテクノロジーによって、コンピュータでの読み取り
と、コンピュータでの書込みの両方が行なえる光ディス
クが得られるようになった。従って、将来、光ディスク
は、コンピュータ産業においてしだいに重要になってい
くものと期待され、最終的には、「フロッピーディス
ク」及び「ハードディスク」といった磁気的に読取り可
能で、書込み可能な記憶媒体に取って代わる可能性があ
る。最近のもう１つの開発である、光ディスクの両面に
データを記憶する能力によって、光ディスクの記憶容量
が実質的に２倍になった。

コンピュータ用途に用いられるタイプの光ディスク
は、一般に、カートリッジに取りつけられる。光ディス
ク読取り装置は、一般に、該装置の前部表面に設けられ
た狭いスロットを介して、読み取るべきディスクを受け
入れるようになっている。現在のところ、ほとんどの光
ディスクは、手でディスク読取り装置に挿入される。し
かし、多数の光ディスクから構成される大規模なデータ
ベースの場合には、既知の場所に光ディスクを収納する
ための光ディスク収納システムと、収納場所から所望の
光ディスクを取り出し、その光ディスクを光ディスク読
取り装置に挿入することが可能な光ディスク取扱いシス
テムとを備えることが望ましく、おそらくは、不可欠で
ある。収納される光ディスクとそれに連係するディスク
読取り装置が、垂直方向に延びる縦列と水平方向に延び
る横列とから成る前後方向に延びる２次元のアレイをな
すように構成されている光ディスク収納システムの場
合、光ディスク取扱いシステムは、収納場所から光ディ
スクを取り出し、これを移動させて光ディスク読取り装
置とアライメントがとれるようにし、該光ディスク読取
り装置に挿入するため、光ディスクに係合して、これを
垂直方向、水平方向、及び、前後方向に移動させてか
ら、光ディスクを解放することができるようになってい
なければならない。また、光ディスク取扱いシステム
は、光ディスクを裏返して、その逆の面が読取り装置に
よって読取り可能な位置につくようにしなければならな
い場合もある。また、オペレータが装置にディスクを最
初に差し込むときにディスクの向きを直すことも必要に
なる。

こうした光ディスク取扱いシステムの生産及び保守コ
ストを低減し、信頼性を高めるためには、一般に、別個
の制御システムの数を最小限にまで減らすことが望まし
い。また、例えば、光電式または磁気式近接センサのよ
うな、特に誤動作を起しやすい検出装置の使用を極力少
くすることも望ましい。また、可動リードワイヤ等に関
連した問題を解消するためには、可動システムコンポー
ネントに対するセンサまたはモータの取付けを最小限に
おさえるのも望ましい。

従って、当該技術分野においては、最小限のセンサを
利用して機構の位置を検出するシステムが必要である。
更に移動機構に取付けられていないセンサを使用してこ
のような検出を行うシステムが必要である。更に、かか
る機構により加えられる力を監視することによりその機
構の初期位置を校正するシステムが必要である。更に障
害の検出のための別のセンサを必要とせずに障害を検出
するシステムが必要である。更にカートリッジの有無の
検出のための別のセンサを必要とせずにカートリッジの
有無を検出するシステムが必要である。

このようなカートリッジ取扱いシステムの種々の特徴
及び構成要素は次の米国特許出願書に開示されている。

（Ａ）1988年11月30日に出願された、メスリー（Methli
e）、オリバー（Oliver）、スティブリー（Stavely）及
びワンガー（Wanger）による米国特許出願第278,102号
「裏返しラッチ機構を備えた光ディスク取扱装置（OPTI
CAL DISK HANDLING APPARATUS WITH FLIP LATCH）」 （Ｂ）1988年12月22日に出願された、クリスティ（Chri
stie）、ワンガー（Wanger）、ドーナー（Dauner）、ジ
ョーンズ（Jones）、及びドーメル（Domel）による米国
特許出願第288,608号「光ディスク挿入装置（OPTICAL D
ISK INSERTION APPARATUS）」、 （Ｃ）1989年１月18日に出願された、ワンガー（Wange
r）、メスリー（Methlie）、スティブリー（Stavel
y）、及びオリバー（Oliver）による米国特許出願第28
9,388号「光ディスク取扱装置用水平方向変位制御アセ
ンブリ」、 （Ｄ）1989年２月２日に出願された、ワンガー（Wange
r）、メスリー（Methlie）、ジョーンズ（Jones）、及
びスティブリー（Stavely）による米国特許出願第305,8
98号「カートリッジ受動係合アセンブリを備えた光ディ
スクカートリッジ取扱装置（OPTICAL DISK CARTRIDGE H
ANDLING APPARATUS WITH PASSIVE CARTIRIDGE ENGAGEME
NT ASSEMBLY）」、 （Ｅ）1989年２月28日に出願された、ワンガー（Wange
r）、メスリー（Methlie）、クリスティ（Christie）、
ドーナー（Douner）、ジョーンズ（Jones）、オリバー
（Oliver）、及びスティブリー（Stavely）による米国
特許出願第314,012号「カートリッジ取扱いシステム（C
ARTRIDGE HANDLING SYSTEM）」。

（Ｆ）1989年３月20日に出願された、オリバー（Olive
r）、ワンガー（Wanger）、スティブリー（Stavely）、
メスリー（Methlie）、ビアンチ（Bianchi）、カトー
（Kato）、及びプレール（Proehl）による米国特許出願
代326,146号「制御システムにおける接触の機械的検知
（MECHANICAL SENSE OF TOUCH IN A CONTROL SYSTE
M）」 これらは各々そこに開示されているすべてについて参
照により特にここに取入れてある。

（発明が解決しようとする課題） 制御システム内の機構の初期位置をそのシステムのモ
ータにより加えられている力を監視することにより校正
することが本発明の目的である。

このような校正をモータの電圧および電流のフィード
バックと共に軸エンコーダのみを使用して行うのが本発
明の他の目的である。

本発明の他の目的は制御システムにより加えられてい
る力を計算することである。

他の目的はシステムにより加えられている力を監視す
ることによりシステム内の障害を検出することである。

更に他の目的は制御システムの動作の完了を加えられ
ている力を監視することにより検出することである。

本発明の他の目的は制御システムのモータの動きを所
要の力または抵抗が得られるまで調節することである。

他の目的は、トランスポート（輸送）機構がカートリ
ッジを試験区域まで動かそうとするときに受ける抵抗の
量によってそのトランスポート機構内のカートリッジを
検出することである。

本発明の更に他の目的はトランスポート機構をＹ軸位
置サーボ制御ループ内の既知の位置に正しく位置決めす
ることである。

本発明の他の目的はトランスポート機構をＺ軸位置サ
ーボ制御ループ内の既知の位置に正しく位置決めするこ
とである。

他の目的はトランスポート機構を、カートリッジ取扱
システム内で、カートリッジを収容している２つのコラ
ム（列）に関して既知の位置に正しく位置決めすること
である。

他の目的はトランスポート機構のどの面が特定の方向
に向いているかを判定することである。

他の目的はカートリッジをカートリッジ取扱システム
のセルに正しく挿入するのに必要な距離を測定すること
である。

更に他の目的はＹ軸上の既知の位置からカートリッジ
取扱システム内の上側並進位置までの距離を測定するこ
とである。

（課題を解決するための手段） 上述のおよび他の目的は、光ディスクカートリッジを
格納保持ユニットアレイすなわちセルから光ディスク読
取装置すなわち光ドライブまで動かすのに必要な六つの
運動を提供する２つの制御システムを備えている、オー
トチェンジャと呼ばれる光ディスク取扱システムによっ
て達成される。光ドライブは、セルのアレイ中に設置さ
れ、カートリッジ内の光ディスクに対してデータを読み
書きする。読取りまたは書込み動作の後、カートリッジ
はその元のセルに再び設置される。システムは、すべて
の位置決めに、２つの制御システムの２台のモータに関
する軸エンコーダ、およびモータからの電流または電圧
のフィードバックを利用する。システムは、この方法
を、移動中または移動の終りに、機構の位置の校正およ
び検出に利用する。システムは軸エンコーダを使用して
最終移動位置の近くに位置決めし、次にモータ電流また
はモータ電圧のフィードバックを利用して機構の動きに
対する抵抗を測定する。この抵抗は、特定の目標位置に
依存して、制御システムに機構がその目的点に到達した
か否かを知らせる。抵抗の量が試験されて、その抵抗が
小さすぎれば動きが完了していないことを意味し、抵抗
が大きすぎることは障害に遭遇していることを意味する
ような一定の限定が求められる。

データはカートリッジ内の光ディスクのどちらの面に
も置くことができる。制御システムはオートチェンジャ
内にある裏返し機構を使用してカートリッジを回転さ
せ、ディスクのどちらかの面を光ドライブで読み書きす
るよう設置することができる。

セルは２列に構成されている。制御システムは横方向
変位機構を使用してカートリッジを１つの列のセルから
他の列のセルまで、または、一方の列に設置されている
光ドライブの間にあるカートリッジを他方の列のセルま
で動かす。

また、メールスロットが一方の列に設置されているの
で、制御システムは横方向変位機構を使用してカートリ
ッジをメールスロットから他の列まで動かす。

制御システムは、カートリッジ係合機構を使用して、
セルまたは光ドライブに設置されているカートリッジの
露出端部に対する取り付けを行う。前後方向変位機構
は、その取り付け後、カートリッジをセルまたは光ドラ
イブから外へ動かすように制御システムにより使用され
る。カートリッジを垂直方向及び横方向に位置決めして
から、前後方向変位機構を使用してカートリッジをセル
または光ドライブの中まで動かし、ここで係合機構がカ
ートリッジを解放する。カートリッジ係合機構及び前後
方向変位機構が一緒になってトランスポート（transpor
t）という機構を形成している。

カートリッジ取扱システムの初期化中、システムは、
モータからの電流または電圧のフィードバックと共に軸
エンコーダを使用して機構のホーム位置を校正する。シ
ステムはこの方法を使用して、カートリッジの列を上げ
下げするトランスポートの垂直方向の動きについてのホ
ーム位置を決定する他、並進動作に使用する上下の位置
をも決定する。この方法は係合機構を位置決めしてカー
トリッジを挿入しまたはつかむようにする突出し運動を
校正するのに利用される。システムはカートリッジの両
面を光ドライブに提示する裏返し運動を校正し、またカ
ートリッジのコラム間の並進運動を校正する。最後に、
システムはすべての動きについての経路に障害物がない
ことを確認する。

（実施例） 下記の説明は本発明を実施する上で現在のところ最も
良く考えられた様式のものである。この説明は限定する
意味で受取るべきではなく、単に本発明の一般的原理を
説明する目的で行うものである。本発明の範囲は特許請
求の範囲を参照して判定すべきである。

本発明の光ディスク取扱いシステム（オートチェンジ
ャ（autochanger））は、光ディスクカートリッジを格
納保持ユニットアレイ（セル（cell））から光ディスク
読取り装置（光ドライブ（optical drive））まで動か
すのに必要な六つの運動を行うために２つの制御システ
ムを使用している。前記光ドライブは、前記格納保持ユ
ニットアレイ内で位置決めされ、カートリッジ内の光デ
ィスクのデータを読み書きする。読み書き動作の後、カ
ートリッジはその元のセル内に戻される。人間のオペレ
ータはカートリッジをカートリッジ挿入機構（メールス
ロット（mailslot））を通してシステムに入れることが
できる。オペレータがカートリッジをメールスロットに
入れるたびに、制御システムは、オートチェンジャに接
続されているホストコンピュータからの要求に応じて、
セルまたは光ドライブへとカートリッジを動かす。カー
トリッジは、オペレータによる取出しのために光ドライ
ブまたはセルからメールスロットへと動かすこともでき
る。

初期化中、制御システムはＹサーボ制御システム、お
よびＺサーボ制御システムの動きを校正する。この校正
には、Ｙの原点位置、Ｚの原点位置、およびコラム間の
並進の位置の他に、以下に記す他の位置も含まれる。

データはカートリッジ内の光ディスクのどちらの面に
も置くことができる。制御システムはオートチェンジャ
にある裏返し機構を使用してカートリッジを転回させ、
ディスクのどちらかの面を光ドライブが読み書きするよ
うに整えることができるようにする。初期化中、システ
ムは裏返し機構を校正して機構の特定の側を上に向け
る。

セルは２つのコラムに構成されている。制御システム
は、横方向変位機構を使用してカートリッジを一方のコ
ラムのセルから他方のコラムのセルまで動かすか、また
は、一方のコラムに設置されている光ドライブの間にあ
るカートリッジを他方のコラムのセルまで動かす。初期
化中、システムはコラムの下方に位置する並進位置を校
正する。オートチェンジャの或る変形形式では第２の並
進位置を利用することができ、システムは、かかる場合
には、初期化中にこの第２の位置をも校正する。

制御システムは、カートリッジ係合機構を使用してセ
ルまたは光ドライブに設置されているカートリッジの露
出端部に取付ける。システムはこの機構を使用して、そ
の取り付け後、カートリッジをセルまたは光ドライブか
ら外へ動かす。カートリッジを垂直方向および横方向に
位置決めしてから、該機構を使用してカートリッジをセ
ルまたは光ドライブの中まで動かし、そこでカートリッ
ジを解放する。初期化中、システムは、カートリッジを
セル、メールスロット、または光ドライブに正しく挿入
するように係合機構を動かすための最適な距離を決定す
るように、係合機構を校正する。

本発明の重要な局面は、前後方向変位機構、裏返し機
構、横方向変位機構、係合機構、及び挿入機構が２つの
制御システムの内の１つにより動作するということであ
る。２つの制御システムの内の他方はカートリッジの垂
直変位に使用される。２つの制御システムは、システム
内の特定の位置で、モータにより加えられる力を制御す
るためにモータ軸エンコーダ及び電流及び電圧のフィー
ドバックを利用して、各機構を動作させる。

オートチェンジャの機械的特徴の更に完全な説明は前
述の米国特許出願（Ｅ）を参照することにより得ること
ができ、通常動作中の制御システムの動きに関する更に
完全な説明は前述の特許出願（Ｆ）を参照することによ
り得ることができる。

次に第１図を参照すると、本発明の実施例の環境を示
すブロック図が示されている。コンピュータシステム10
にはシステムバス14に接続された処理要素12がある。処
理要素12は主メモリ20からシステムバス14を経て指令を
受取り、入力にはキーボード16を使用して、出力にはデ
ィスプレイ18を使用して、人間のオペレータと連絡を行
う。インタフェース22は、SCSI（Small Computer Syste
m Interface）インタフェースであり、オートチェンジ
ャ24をバス28を介してコンピュータシステム10と接続す
る。オートチェンジャ24は複数の光ディスクカートリッ
ジを保持するセルのアレイを備えている。各カートリッ
ジにはデータの記憶に使用する光ディスクが入ってい
る。オートチェンジャ24の中には光ドライブ26が組込ま
れており、カートリッジ内の光ディスクに対してデータ
を読み書きするのに使用される。光ドライブ26はSCSIイ
ンタフェース22を介してシステムバス14にも取付けら
れ、処理要素12の制御のもとにデータを光ドライブ26と
主メモリ20との間でやりとりする。

主メモリ20は、オペレーティングシステム30及びユー
ザソフトウェア32を含むコンピュータシステム10のプロ
グラミング指令を保持している。オペレーティングシス
テム30及びユーザソフトウェア32の組み合わせにより、
オートチェンジャ24の中のカートリッジの選択、及び光
ドライブ26によるデータの読み書きが制御される。

第２図はオートチェンジャ24の高レベルのブロック図
を示す。インタフェースバス28はインタフェース22（第
１図）をオートチェンジャのインタフェース電子装置46
と接続する。マイクロプロセッサシステム50はバス48を
通してインタフェース46に接続される。マイクロプロセ
ッサシステム50はバス52を通して制御システム電子装置
54にも接続される。マイクロプロセッサシステム50はコ
マンドをコンピュータシステム10（第１図）からバス2
8、インタフェース46、及びバス48を通して受取る。こ
のコマンドにより、オートチェンジャ24が、カートリッ
ジをセルと光ドライブ26との間で動かすと共にカートリ
ッジをメールスロット（図示せず）を通して入れたり排
出したりするようになる。マイクロプロセッサは、この
コマンドを実行して、オートチェンジャ内の２つの制御
システムを指揮する。マイクロプロセッサシステムはま
た、２つの制御システムを指揮して、カートリッジ取扱
システム内の機構のホーム位置を校正するのに必要なス
テップを実行する。

制御システムには２つのモータに接続されてオートチ
ェンジャの機械的アセンブリを駆動するインタフェース
電子装置54がある。電子装置54は一対の接続64を通して
第１のモータ60を駆動し、軸エンコーダ62からの位置フ
ィードバック信号を接続66により受取る。モータ60はモ
ータ軸68を介してオートチェンジャの機械的アセンブリ
80に機械的に接続されている。電子装置54はまた接続74
を通して第２のモータ70を駆動し、軸エンコーダ72から
の位置フィードバック信号を接続76により受取る。この
第２のモータはモータ軸78を介してオートチェンジャの
機械的アセンブリ80に機械的に接続されている。

第2A図及び第2B図は、横方向及び垂直方向に延びるセ
ルアレイ40として設置されている、複数の前後方向に延
び後方に開いているセル35、37、39などと関連して使用
する光ディスクカートリッジ取扱いシステム24の機械的
アセンブリまたは機構を示す。

取扱いシステム24は、人間のオペレータによりカート
リッジの第１の端を前に向けて手で挿入されるカートリ
ッジ43を受取る挿入機構41を備えることができる。挿入
機構はカートリッジを前後方向及び回転方向に変位さ
せ、カートリッジの第１の端をハウジングの後方に向け
て置いた状態でカートリッジをカートリッジ係合機構に
差し出すようにする。

カートリッジ係合機構45は、挿入機構41または他のセ
ル、たとえば、35、37、39に設置されたカートリッジの
露出端部分に係合するように設けられている。

前後方向変位機構47は係合機構45と関連して動作し、
その係合機構45により係合されたカートリッジ43を前後
方向に変位させる。

裏返し機構49は係合機構45と関連して動作し、係合機
構により係合されたカートリッジを前後方向の裏返し軸
DDの周りに反転回転させるのに使用される。

横方向変位機構51は係合機構45と関連して動作し、係
合機構により係合されたカートリッジ43を横方向に変位
させる。

回転可能な第１のモータ機構60は、前後方向変位機構
47、裏返し機構49、及び横方向変位機構51と連結され
て、これらに駆動力を与えるように駆動する。

ストップ機構53を設けて前後方向変位機構47の動きを
制限することができる。

裏返しラッチ機構55を設けることができる。これは、
ラッチ状態及び非ラッチ状態を有し、裏返し機構49と関
連して動作し、裏返しラッチ機構55がラッチ状態にある
とき、裏返し機構49の回転を阻止する。

ラッチ状態及び非ラッチ状態がある並進ラッチ機構57
を設けることができる。並進ラッチ機構は横方向変位機
構51と関連して動作し、並進ラッチ機構がラッチ状態に
あるとき、横方向変位機構の横方向変位を阻止する。並
進ラッチ機構57はこれを並進バー71に向って動かすこと
により非ラッチ状態になる。オートチェンジャの或る変
形形式では、第２の並進バー73をオートチェンジャの上
に設置してある。

カートリッジ取扱いシステム24には、ストップ機構53
が前後方向変位機構47と非係合の関係にあり、裏返しラ
ッチ機構55がそのラッチ状態にあり、且つ並進ラッチ機
構57がそのラッチ状態にある、突入動作状態（plunge o
perating state）がある。カートリッジ取扱いシステム
24には、ストップ機構53が前後方向変位機構47と係合関
係にあり、裏返しラッチ機構55がその非ラッチ状態にあ
り、且つ並進ラッチ機構57がそのラッチ状態にある、裏
返し動作状態（flipping operating state）がある。カ
ートリッジ取扱いシステム24には、並進ラッチ機構57が
その非ラッチ状態にある並進状態（flipping operating
state）もある。

第１のギヤ機構59が設けられ、これは横方向変位機構
51と回転変位可能な関係に取付けられると共に、前後方
向変位機構47及び裏返し機構49と連結されてこれを駆動
する。

連続駆動ベルト機構61が設けられており、これは第１
のギヤ手段59と連続的に滑り無く係合して第１のギヤ機
構59を第１のモータ機構60に連結して駆動させる。連続
ベルト機構は、第１のギヤ機構59から第１の横方向に延
びる第１の部分63、及び第１のギヤ手段から第２の横方
向に延びる第２の部分65を備えている。横方向変位機構
51は第１のギヤ機構59が回転に対してロックされている
とき連続ベルト機構61の動きを介して横方向に変位する
ことができる。

ロック状態及び非ロック状態を有するギヤロック機構
67が設けられており、これは、第１のギヤ機構59と関連
して動作する。ギヤロック機構67はそのロック状態にあ
るとき第１のギヤ機構59の回転を阻止する。カートリッ
ジ取扱いシステム24は、並進ラッチ機構57がその非ラッ
チ状態にあるときギヤロック機構67がそのロック状態に
なり、並進ラッチ機構57がそのラッチ状態にあるときギ
ヤロック機構67がその非ロック状態になるように構成さ
れ、設置されている。

光ディスクカートリッジ取扱いシステム24はまたカー
トリッジ係合機構45により係合されたカートリッジ43を
垂直に変位させる垂直変位機構69を備えている。第２の
モータ70は垂直変位機構69と関連して動作し、これに駆
動力を与える。

第３図は制御システム電子装置、モータ、及び機械的
アセンブリの詳細なブロック図であり、本発明の２つの
制御装置の内の１つを示す。制御システムにおいてモー
タを駆動するのに使用する方法はパルス幅変調（PWM）
であり、これは同様の制御システムに普通に使用されて
いる。この方法は、電圧の量を変化させるのではなく、
モータに供給される定電圧パルスのデューティサイクル
を変化させることによりモータ速度を制御することから
成る。PWM法を例示したが、他のモータ速度制御法をも
本発明の範囲内で使用することができる。

今度は第３図を参照すると、バス52がデータをマイク
ロプロセッサ50（第２図）から、ヒューレットパッカー
ドの部品番号HCTL−1000として市販されている、パルス
幅変調集積回路（IC）90に転送している。同じ機能を行
う同様の集積回路を、モトローラの部品番号MC33030、
またはシリコンゼネラルの部品番号SG1731のように、他
の製造業者から入手することができる。IC90はマイクロ
プロセッサバス52と直接にインターフェイスをとって、
マイクロプロセッサがIC90の中のレジスタに対する書込
みまたはレジスタからの読出しを行ってIC90のPWM出力
を作るのに必要な機能を行うことができるようにする。
IC90の中のPWM発生回路92はバス52から１つのデータを
受取り、このデータを、時間と共に変化する２つの出力
信号96に変換し、これを電圧増幅器100に伝える。該デ
ータの極性に基き、一度につき前記信号96の一方のみが
活動状態となり、この活動信号のディーティサイクルは
データの値に比例する。すなわち、データの値が大きく
なるほど、ディーティサイクルが長くなる。信号96は電
圧増幅器100によりモータ60を駆動するのに適したレベ
ルにまで増幅される。電圧増幅器100はマイクロプロセ
ッサからの信号102により使用可能になったり、使用不
能になったりする。

軸エンコーダ62（第２図にも示してある）はモータ軸
の角位置の２チャンネル出力を発生する市場入手可能な
部品である。この部品の例はヒューレットパッカードの
部品番号HEDS5500、HEDS−6000、及びHEDS−9000であ
る。軸エンコーダ62はモータ60の軸に取付けられて自蔵
ユニットを形成している。軸エンコーダの内部に、ディ
スクの一方の面に発光器（図示せず）を、ディスクの反
対の面に受光器（図示せず）を有するエンコーダディス
ク（図示せず）がある。ディスクはその表面に印刷また
はエッチされた一連の暗線の他は透明である。発光器か
らの光がディスクを通して照らし、軸が回転する際に、
その光を中断する暗線によってパルス列が発生する。90
°離れた２つの受光器を使用しているので、受光器から
の２出力チャンネルを使用して回転の方向を検出するこ
とができる。２つのチャンネルから出力されるパルス列
はIC90のエンコーダインタフェース及びカウンタ部94に
送られる。２つのチャンネルの位相関係によりモータが
時計方向に回転しているか反時計方向に回転しているか
がわかる。IC90は位相を復号し、軸エンコーダ62が発生
したパルスの数を数えてこのデータをマイクロプロセッ
サ50が処理するようにバス52に送る。エンコーダ62のデ
ータをIC90から得ることにより、マイクロプロセッサは
モータ60の回転の速さ及び方向を判断する。エンコーダ
インタフェース94中のカウンタもモータ軸の位置を保持
している。

制御システムインタフェース電子装置54はまたモータ
60を流れる電流を、マイクロプロセッサがこのような電
流の量を決定するのに使用することができる信号に変換
する手段を備えている。この方法によれば、モータのリ
ード線64と直列に配置されたサンプリング抵抗器（図示
せず）にかかる電圧が、この電圧104を差動増幅器106に
入力することにより、測定される。この増幅器でその電
圧はディジタルアナログ変換器（DAC）110から出力され
る既知の電圧信号と比較される。マイクロプロセッサ50
は、データをアナログ信号108に変換するDAC110にデー
タを送る。この信号108は、差動増幅器106により、モー
タ電流を表す電圧信号104と比較される。差動増幅器106
の出力信号112は、マイクロプロセッサ50に読取られ
て、DACの出力108がモータ電流に対する電圧値104より
大きいか小さいかが判定される。これにより、マイクロ
プロセッサ50はDAC110の値を信号112の値が変るまで変
更して、モータ電流を決定することができる。

第４図は初期化の手順が完了した後の、本発明のソフ
トウェアの機能フローを示す高レベルのブロック図であ
る。ブロック132、インタフェースプロトコル及びコマ
ンドI/Oは、インタフェース電子装置46（第２図）と対
話して、コンピュータシステム10（第１図）からコマン
ドを受取り、状態をコンピュータシステム10に送り返
す。ブロック132は、コマンドをカートリッジ管理ブロ
ック134に伝える。このカートリッジ管理ブロックはカ
ートリッジのすべての位置及びその対応する状態の論理
構成を維持する責任を有する。ブロック134はまたコン
ピュータシステム10からのインタフェースコマンドをオ
ートチェンジャの内部構造へと翻訳し、これを運動計画
及び実行機能ブロック136に伝える。この機能ブロック1
36は、コマンド構造をそのコマンドを実行する一連のオ
ートチェンジャのサブコマンドへと変形する。ブロック
136はまた、サブコマンドの順序付けを行って、コマン
ドを時間的に最適に実行するようにする。機能統合プロ
ック138は、制御システムの動作を修正することによ
り、コマンドを実行するための一連のサブコマンドを統
合して、必要な各機械的アセンブリを適格に動かすよう
にする。二次運動実行ブロック140は各サブコマンドを
実行するためのオートチェンジャに関する最低レベルの
運動を行う。このブロックは各制御システムへの入力位
置を調整して、ブロック136及び138から供給される所与
の加速度、ピーク速度、及び力のパラメータに基いて各
入力についての移動プロフィルを発生する。サーボ制御
ループ及びモニタブロック142は、は制御システム電子
装置54（第２図）と接続して２つの制御システムのモー
タの位置をディジタル補償アルゴリズムにより制御す
る。このブロックはまた、２つの制御システムについて
の位置、力及び速度のデータを維持し、システムを監視
し、異常なまたは予想外の状態が発生した場合に、シス
テムへの電力を使用不能にする。

第５図は本発明のサーボ制御システムを示す。制御シ
ステムのモータを制御するために従来のディジタルサー
ボ制御ループ150が用される。本発明は、Ｙ制御ルー
プ、及びＺ制御ループと称する２つの制御ループを備え
ている。各制御ループには位置信号154を加算接合156に
入力するサーボ補償器152がある。加算接合156の出力は
出力伝達関数Gc（）ブロック158に送られ、ここで加算
接合156の出力に定数Kpを乗算することにより加算接合1
56の出力が信号160へと変換される。各制御システムの
各動きについてのKpを第１表に示す。得られた値は制御
システムのインタフェース電子装置54の中のIC90に送ら
れる。次にこの信号は増幅器100により増幅されてモー
タ60に入力される。軸エンコーダ62は情報をIC90に送
る。IC90は位置及び速度の情報を信号162としてフィー
ドバック伝達関数Hc（）ブロック164に送る。フィード
バック伝達関数164は位置及び速度の情報を負フィード
バック信号166に変換し、この信号が加算接合156に入力
される。関数Hc（）は Hc（）＝１＋Kv d/dt である。ただし、d/dtは入力162の導関数であり、Kvは
定数である。Kvは各制御システムの各動きについて第１
表に示される。したがってHc（）は出力位置を出力位置
の導関数に定数Kvを掛けたものに加える。Kp及びKvの値
はシステムの精度及び安定性の必要条件によって決ま
る。Kpが大きくなると位置誤差が減る。KpとKvとの両者
によって制御システムの安定性及び性能が決まる。この
ようにして、制御ループ152は新しい位置を位置信号154
として受取り、モータ60の位置を変える。後に説明する
ように、モータ60は異なる時刻には異なる負荷を受け得
る。これら異なる負荷を補償するために、異なる補償値
Kp及びKvを補償値信号168によりサーボ補償器152に入力
することができる。また、ソフトウェアが制御システム
を停止しなければならないと決定した場合には、遮断信
号170をサーボ補償器152に入力して遮断させる。

力計算モジュール174は、モータから加えられている
力の量を決定する。この力計算モジュール174は、補償
値及びモータ速度を補償器152から信号172を通して受取
る。本発明の機械的な接触の検知方法は、オートチェン
ジャの制御システムにより加えられている力の計算と、
オートチェンジャの動作中における該力情報の使用とに
よりなされるものである。この機械的な接触の検知方法
は、システムの機械的パラメータに関する知識を使用し
てシステムのモータから機械装置に加えられている力の
量を導出するものである。力計算モジュール174により
力の計算が周期的に行われ、該力の情報を変数記憶域17
6に入れることによりシステム内部の他のソフトウェア
モジュールがそれを利用できるようにする。この力情報
は他のソフトウェアモジュールにより位置フィードバッ
ク用及びオートチェンジャ内の異常状態の検出用に検知
機構として使用される。力は方程式、 Ｆ＝Tm/r によりモータトルクと直接関係している。ただし、Ｆは
有効半径ｒで働くモータトルクTmにより発生する力であ
り、ｒはオートチェンジャの機械装置をモータ機構に取
付けるのに使用される伝動装置によって決まり、／は除
算を表わす。モータトルクTmは方程式 Tm＝Im・Kt によりモータ電流と直接関係している。ここでImは瞬時
モータ電流であり、Ktはモータのトルク定数であり、・
は乗算を表わす。

モータ電流は、電子装置を経由した直接測定により、
またはモータ電圧及びモータ速度の知識から計算によ
り、求めることができる。結果的に得られる方程式は次
のようになる。

Ｆ＝Tm/r＝（Kt/r）・Ｉ 本発明においては、直接測定は電子装置とソフトウェ
アとの組合せにより行われる。第３図を参照して上述し
たように、増幅器100からのモータ電流に比例する電圧
が差動増幅器106によりDAC110の出力と比較される。力
計算モジュール174は或る値を信号178によりDAC110に送
り、この値とモータ電流に比例する電圧との比較結果を
信号112により受取る。ソフトウェアである力計算モジ
ュール174は、信号112が比較結果が等しいことを示すま
で、その値を変化させる（信号112が比較結果が等しい
ことを示したときの前記値はモータ電流を表すものとな
る）。Kt及びｒは定数であるから、新しいＫをあらかじ
め計算することができ、結果的に得られる式は Ｆ＝Ｋ・Ｉ である。

モータ電流は式 Im＝（Vm−（Kt・Ｗ））/R によっても計算することができる。ここでVmはモータ電
圧であり、Ktはモータのトルク定数であり、或るはモー
タ及びそのモータの駆動回路に関連する抵抗であり、Ｗ
はモータ軸のラジアン速度である。制御ループ150には
ディジタル制御器が使用されているので、Vm及びＷは既
にディジタル形式で得られている。力の簡単な計算は方
程式 Fm＝（Kt/（ｒ・Ｒ））・（Vm−（Kt・Ｗ）） ＝（K1・Vm）−（K2・Ｗ） により行われる。ただしK1＝Kt/（ｒ・Ｒ）及びK2＝Kt2
/（ｒ・Ｒ）である。

以下に説明するように、力情報は、制御器ソフトウェ
ア全体を通じてフィードバック及び障害検出の形で広範
に使用される。制御器は動作の実行中に適切な時刻に力
を監視することにより動作の終了を検出することができ
る。制御器は所要の力または抵抗が得られるまでモータ
の動きを調節することができる。異常事態は、あらゆる
動きを即時停止させる理由となるものであり、力を監視
することにより検出することができる。

計算後、力は変数記憶域176に格納される。

（基本動作） 次に第６図を参照すると、移動動作に関係する主要モ
ジュール及びデータフローを示すブロック図が描かれて
いる。移動軸モジュール200は、二次移動実行モジュー
ル140（第４図）の１つであり、ΔＹ、ΔＺ、及びID値
を含む入力パラメータ201を受取る。ΔＹ及びΔＺは現
在位置と新しい位置との間の軸エンコーダのカウント数
である。ID値は、信号212によりループモニタ210に伝え
られる力の値を検索するためのルックアップテーブルへ
の索引として使用される。そのルックアップテーブルに
は、ブロック204に入力するための、［mm/s2］のディメ
ンションで表わされる加速度、及び［mm/s］のディメン
ションで表わされる速度も示されている。第１表は各制
御システムの動作についての力の値、加速度（Acce
l）、及び速度（Vp）を示している。ブロック204は加速
度及び速度のパラメータをプロフィル発生器用データに
変換し、プロフィル発生器用スケーリング情報を発生す
る。こうしてブロック204は動きを開始させる。動きが
開始されると、周期的なタイマ割込みにより、制御がプ
ロフィル発生器206へと移行する。ブロック204から伝え
られたパラメータを使用して、プロフィル発生器206は
動きをどう行うべきかの位置プロフィルを動的に構成す
る。このプロフィルには全時間にわたるＹ及びＺの位置
が含まれており、これらの位置は、信号154YによりＹ制
御ループ150Yに、信号154ZによりＺ制御ループ150Zに、
伝えられる。制御ループについては第５図を参照して説
明した。機構の移動が生ずるとき、制御ループは情報を
力計算モジュール174Y及び174Z（これについては第５図
を参照して説明した）に送り、これらモジュールは力情
報を変数記憶域176に記憶する。ブロック202によりセッ
トアップが行われているとき遮断力設定値が信号212に
よりリープモニタ210に伝えられている。ループモニタ2
10は、以下に説明するが、遮断力設定値を変数記憶域17
6に記憶されている力と比較し、力が安定限度を超過し
ていれば制御ループ150Y及び150Zを遮断する。動きが完
了すると、終了信号208が移動軸モジュール200に戻さ
れ、モジュール200はその発呼者（caller）に動きが完
了したことを知らせる。プロフィル発生器、制御ルー
プ、及びループモニタは、バックグラウンドの、割込み
により駆動されるモジュールとして動作するので制御シ
ステムは絶えずサービスされていることに留意された
い。

第７図は移動軸モジュールの手順を制御フローチャー
トとして示してある。エンターしてから、ブロック220
は移動パラメータ及びプロフィル発生器をセットアップ
することにより移動の準備を行い、ブロック222は動作
を開始し、ブロック224はバックグラウンド処理が動作
を完了するまで待機する。処理完了後、制御はブロック
226で発呼者にリターンされる。

第８図はループモニタブロック210（第６図）のフロ
ーチャートである。このモジュールは最大力パラメータ
を移動パラメータセットアップブロック202から受取
り、これらの力の値を、制御信号を受信する度に、モー
タにより加えられる力と比較する。加えられている力が
最大値より大きければ、制御システムは両方とも遮断さ
れる。次に第８図を参照するに、タイマ割込みによりエ
ンターしてから、ブロック240はＹ制御システムから加
えられている力を移動パラメータセットアップブロック
から伝えられた最大Ｙ力と比較する。力が最大Ｙ力以下
であれば、制御はブロック242に移り、カウント値が０
に設定される。カウントは、遮断を起さずに短期間だけ
力を最大値より大きくするために使用されるが、力が長
期間にわたり最大値を超過した場合には、遮断が発生す
る。長期間にわたり大きな力が確実に発生するようにす
るために、モジュールは、制御を受け且つ力が最大より
低いときはいつでもカウント値を０に設定する。

力が最大より大きければ、ブロック244はカウントを
インクリメントし、ブロック246がカウントを評価す
る。カウントを許容最大時間にわたって高い状態に保つ
のに必要な値よりも、カウントが高い場合には、制御は
ブロック248に移り、ここでＹ状態が力エラーに設定さ
れ、これにより遮断が発生される。いずれの場合でも、
制御はブロック250に移り、Ｚの力が最大Ｚ力と比較さ
れる。Ｚ力が最大より小さければ、ブロック252はカウ
ントを０に設定し、小さくなければ、ブロック254がカ
ウントをインクリメントする。ブロック256はカウント
を評価し、カウントが充分大きければ、制御はブロック
258に移り、Ｚ状態を力エラーに設定し、これにより遮
断が発生される。

次に制御はブロック260及びブロック262に進み、Ｙ状
態の力エラーまたはＺ状態の力エラーをチェックする。
いずれの条件も真であれば、制御はブロック264に進ん
でモータ駆動を遮断して運動を中止し、次にブロック26
6が制御ループを使用不能にするので新しいコマンドが
モータに行かなくなる。ブロック260またはブロック262
のいずれもエラー状態を検出しない場合、あるいは、遮
断が発生された場合には、制御はブロック268に移って
割込みからリターンする。

第９図はデータフローを示す飽和軸（saturate axe
s）動作のブロック図である。この動作は、目的点に到
達した時か、または動きに逆う所定の力を検出した時に
動きが止ることを除けば、移動動作と同じである。今度
は第９図を参照すると、飽和軸モジュール280は、二次
移動実行モジュール140（第４図）の１つであり、Δ
Ｙ、ΔＺ、及びID値を含む入力パラメータ281を受取
る。ΔＹ及びΔＺは現在位置と新しい位置との間の軸エ
ンコーダカウントの数である。ID値は次に信号283によ
りループモニタ210に伝えられる力の値を検索するため
にルックアップテーブルへの索引として使用される。そ
のルックアップテーブルは、ブロック284へ入力され
る、［mm/s2］のディメンションで表される加速度、及
び［mm/s］のディメンションで表される速度も有してい
る。ブロック284は加速度及び速度のパラメータをプロ
フィル発生器用データに変換し、プロフィル発生器用ス
ケーリング情報を発生する。次にブロック284は動作を
開始させる。一旦動作が開始されると、周期的なタイマ
割込みにより制御がプロフィル発生器206に移る。この
プロフィル発生器206は第６図のプロフィル発生器と同
じである。ブロック284から伝えられたパラメータを使
用して、プロフィル発生器206は移動をどう行うべきか
の位置プロフィルを動的に構成する。このプロフィルに
は全時間にわたるＹ及びＺの位置が含まれており、これ
らの位置が、信号154YによりＹ制御ループ150Yに、及び
信号154ZによりＺ制御ループ150Zに、伝えられる。制御
ループについては第５図を参照して説明した。機構の移
動が発生するとき、制御ループは情報を力計算モジュー
ル174Y及び174Z（これについては第５図を参照して説明
してある）に送り、これらモジュールは力情報を変数記
憶域176に記憶する。セットアップがブロック282により
行われているときは、遮断力設定値（これはしきい力設
定値の値の２倍である）が、信号288により飽和プロセ
ス286に伝えられる。また、しきい力設定値は、信号283
によりループモニタ210に送られる。このループモニタ2
10は、遮断力設定値を変数記憶域176に記憶されている
力と比較し、その力が安全限度を超えていれば制御ルー
プ150Y及び150Zを遮断する。動作が完了すると、終了信
号208が飽和軸モジュール200に戻され、このモジュール
がその発呼者に動作が完了したことを知らせる。飽和プ
ロセス286はまた変数176を信号287により監視し、ブロ
ック282から伝えられたしきい値を超過したときを判定
し、いずれかの力がしきい値を超過すると、移動が停止
信号290により停止される。この時点で飽和状態が状態
信号292を通して利用可能になる。プロフィル発生器、
制御ループ、及びループモニタはバックグラウンドの、
割込みにより駆動されるモジュールとして動作するの
で、制御システムは絶えずサービスされていることに留
意されたい。飽和プロセスはフォアグラウンドループで
動作する。

第10図は飽和軸動作のフローチャートである。エンタ
ーしてから、ブロック300は、入力パラメータ、ΔＹ及
びΔＺを処理し、遮断力値をループモニタに、プロフィ
ルバラメータをプロフィル発生器に、しきい力値を飽和
プロセスに伝え、次いで動きを開始することにより、移
動の準備をする。ブロック302は（タイマ割込みにより
駆動される力計算モジュールにより）力の値が測定され
るのを待機し、次にブロック304がＺの力がＺのしきい
値を超過しているか判定する。力がしきい値を超過して
いなければ、制御はブロック306に移り、Ｙしきい値パ
ラメータに対するＹの力値をチェックする。２つの力が
共にしきい値より小さければ、制御はブロック308に進
み、動きが終了したか、すなわち動きが最終位置に到達
したか判定する。動きが終了していなければ、制御はブ
ロック302に戻って同じチェックを行う。Ｚ力がしきい
値より大きければ、制御はブロック310に進み、飽和フ
ラグＺを設定する。Ｙ力がしきい値より大きければ、制
御はブロック312に進み、飽和フラグＹを設定する。い
ずれの場合でも、または動きが終了していれば、制御は
ブロック314に進み、動きを停止する。次にブロック316
が状態を判定してリターンし、発呼者に戻る。

上述の移動軸モジュール及び飽和軸モジュールは、特
性の動作を行う下記ルーチンに使用される。以下の説明
で、Ｙ制御システムは、トランスポートとも言われる係
合、裏返し、前後方向変位装置を垂直に動かし、Ｚ制御
システムは、係合機構を内側に突き出してカートリッジ
を取り出し、係合機構を外側に突き出し、トランスポー
トを裏返し、トランスポートの並進移動を行う。Ｚ制御
システムはメールスロットのカートリッジ挿入機構も動
かす。

（初期化および校正） 第11図はカートリッジ取扱システムの初期化の最上レ
ベルのフローチャートであり、各機構に対するサーボ制
御システム内部のホーム位置を探し出す校正プロセスを
示している。ホーム位置の探索は、一連の動きを行うこ
とであり、かかる一連の動きには、制御システムが機構
を原点と称する既知の位置に動かすのに使用する機械的
な接触の検知が含まれる。かかる一連の動きは、機械に
電力が供給される度に行われ、また制御システムのエラ
ー回復の一部として行われる。トランスポートにはセン
サが存在しないので、かかる一連の動きを行うルーチン
は、トランスポートの位置および向きについての知識を
得るために機械的な接触の検知を行う。この知識は各ル
ーチンが実行されるにつれて徐々に得られ、各ルーチン
は前のルーチンにより得られた知識に依存するものとな
る。

今度は第11図を参照すると、ブロック330は、任意の
値を位置として設定することによりサーボ位置ループを
閉じる。これら任意の値は単に開始場所であって、初期
化プロセスから生ずる校正値とは何の関係もない。ブロ
ック330は、受ける力を監視しながら、少量だけ垂直に
上下動を行う。その受ける力が小さいままであれば、シ
ステムはトランスポートに部分的に入っているカートリ
ッジが無いことを知る。力を受けていれば、カートリッ
ジが部分的にトランスポートに入っている可能性がある
ので、係合機構が外側に動いてカートリッジをつかむ
か、またはカートリッジをその格納セルに戻すかする。
後の試験でカートリッジがトランスポート内に存在する
かの判定を行うので、いずれの場合も受入れ可能であ
る。この段階中の重要な点は、カートリッジがトランス
ポートを妨げないことを確認することである。次に、係
合機構が完全に内側の位置まで動く。これにより係合機
構を完全に後退させ、並進がプロセス内にある場合には
並進を完了させ、また、裏返しがプロセス内にある場合
には裏返しを完了させる。どんな場合でも、この動きの
後には、係合機構はトランスポートの完全に内側にある
ことになり、損傷から保護される。

最初の回収が不成功であれば、ブロック332はブロッ
ク334に移って失敗フラグを設定する。最初の回収が不
成功であるときは、トランスポートは、恐らくはカート
リッジが部分的にトランスポートの中にあり及び部分的
にトランスポートの外にあるため、動くことができない
状態にある。トランスポートが動くことができないの
で、初期化プロセスは、人間のオペレータが障害を除去
するまで続けることができないので、制御は失敗フラグ
を設定してから発呼者に戻る。

最初の回収が成功すれば、制御はブロック336に進ん
で再試行カウントを０に設定する。カウントを初期化し
た後、ブロック338は校正時の次の試行に備えてカウン
トをインクリメントする。ブロック340は原点探索ルー
チン（第12図）を呼出して、ＹおよびＺのサーボ制御シ
ステムの方向を定めると共に、最右端のコラムに移動す
る。原点探索が成功すれば、ブロック342はブロック344
に移って垂直移動を校正する。垂直移動が校正される
と、ブロック346はブロック350に移って校正の状態を判
定する。ブロック342および346は、いずれかの校正ルー
チンが失敗した場合に、ブロック348に移る。ブロック3
48が失敗フラグをセットした後、または校正ルーチンが
２つとも成功した場合には、制御はブロック350に進
み、再試行が必要であるか判定する。最大４回の再試行
を行うことができるので、失敗が発生した場合には、ブ
ロック350はブロック338に戻って再試行する。その他の
場合には、初期化は成功であり、制御は発呼者に戻る。

第12図は第11図から呼出される原点探索ルーチンのフ
ローチャートを示す。エンターの後、ブロック370は第1
3図の裏返し域クリアルーチンを呼出してトランスポー
トに裏返し動作を行うのに充分な余地があることを確認
する。このルーチンが成功すれば、ブロック372はブロ
ック376に移り、成功しなければ、制御はブロック392に
進んで失敗フラグを立て、発呼者に戻る。ブロック376
はＺ軸ホーム位置探索ルーチン（第14図）を呼出し、Ｚ
サーボ制御システムをその原点に再位置決めする。これ
が成功した場合には、ブロック378はブロック382に移
り、成功しなかった場合には、制御はブロック392に移
って失敗フラグを立て、発呼者に戻る。ブロック382は
Ｙ軸ホーム位置探索ルーチン（第15図）を呼出し、Ｙサ
ーボ制御システムをその原点に再位置決めし、これが成
功した場合には、制御はブロック388に移る。また成功
しなかった場合には、制御はブロック392に進んで失敗
フラグを立て、発呼者に戻る。ブロック388はスタック
ホーム探索ルーチン（第16図）を呼出し、トランスポー
トを２つのコラムの最右端の前に再位置決めする。これ
が成功した場合には、制御は発呼者に戻り、成功しなか
った場合には、ブロック392が失敗フラグを立ててから
制御を発呼者に戻る。

第13図は第12図から呼出される裏返し域クリアルーチ
ンを示す。このルーチンは、機械的な接触の検知を採用
しながら一連の垂直移動を行って、トランスポートが裏
返し動作を自由に行なうことができる障害の無い区域を
探し出す。システムは最初、大きな力を検知するか、ま
たはトランスポートの幅に等しい距離（即ち裏返しを行
うのに充分な距離）だけ移動するまで、トランスポート
を上方に動かす。トランスポートが大きな力に逢わずに
全距離にわたって移動した場合、システムはトランスポ
ートを開始位置と終了位置との中間点に再位置決めして
から発呼者に戻る。トランスポートが移動中に力に逢え
ば、移動した距離を記録し、開始位置まで戻り、前の移
動距離をトランスポートの幅から差し引いた値に等しい
距離だけ下方に移動する。この移動が成功した場合、シ
ステムは、その移動に関する上限位置と下限位置との中
間に位置決めする。この第２の動きが失敗した場合に
は、裏返しを妨げるのに充分に近接した障害物が存在す
るので、失敗フラグを立ててから発呼者に戻る。

今度は第13図を参照するに、エンターの後、ブロック
400は垂直移動用システムゲインを設定する。ゲイン設
定値、距離、力の値および他のパラメータは各種フロー
チャートに示したすべての動きについて第１表に示して
あることに留意されたい。ブロック402は現在のＹサー
ボ制御システム位置を後の使用のため保存しておく。ブ
ロック404は飽和軸モジュールを呼出してトランスポー
トを上方に最大距離だけ、またはNkgの力を受けるま
で、移動させる（力および距離については第１表の「裏
返し域クリア」の下の「CLEAR FLIP UP」の欄を参
照）。ブロック406は飽和軸モジュールの動きがどのよ
うにして終了したかを確認する。飽和軸モジュールの動
きが全距離を動くことによって終ったのであれば、障害
物が見つかっていないので制御はブロック420に移る。
ブロック420は、最大距離の半分であるトランスポート
の所要位置を計算し、ブロック422に移ってトランスポ
ートを位置決めする。飽和軸モジュールの動きが大きな
力を受けて終了したのであれば、ブロック406はブロッ
ク408に移って力がしきい値であったかまたは間違った
力であったか判定する。力が間違った力であった場合に
は、制御はブロック426に進んで失敗フラグを立ててか
ら発呼者に戻る。力がしきい値であった場合にはトラン
スポートの行程の上方限界が見つかっているので、制御
はブロック410に移ってこの位置を保存しておく。ブロ
ック412は移動軸モジュールを呼出して、ブロック402に
より保存されていた元の開始位置まで下向きに移動して
戻る。次にブロック414は飽和軸モジュールを呼出して
可能な最大距離と既に上向きに動いた距離との差に等し
い距離だけ下向きに動かす（力および距離については第
１表の「裏返し域クリア」の下の「CLEAR FLIP DOWN」
の欄を参照）。計算した距離を動いてから停止したので
はなく、動きが力に逢った場合には、障害に遭遇したに
違いないので、ブロック416はブロック426に移る。動き
が計算した距離を完了すれば、ブロック416はブロック4
18に移って２つの動きの中間点を計算した後に、ブロッ
ク422に移ってその中間点までトランスポートを動か
す。トランスポートを中間点まで動かしてから、ブロッ
ク424は動きの期間中何らかの力を受けたかを判定する
別のチェックを行い、もし力を受けていれば、制御はブ
ロック426に進んで失敗フラグを立てる。力を受けてい
なければ、制御は発呼者に戻る。

第14図はＺサーボ制御システムをその原点位置に再位
置決めするルーチンのフローチャートである。これは、
最大距離に到達するかまたは力を受けるまで係合機構を
後退させることにより行われる。この動作は、進行中で
あった部分的な裏返しを完了させ、係合機構を原点位置
であるハードストップに向けて動かすものである。

今度は第14図を参照して、エンターの後、ブロック44
0は突出し動作用のゲインを設定する。次にブロック442
は飽和軸モジュールを呼出して係合機構を最大距離より
も大きく内側に、または力を受けるまで動かす（力およ
び距離については第１表の「Ｚホーム探索」の下の「Z
HOME SAT 1」の欄を参照）。次にブロック444は力を受
けたか確認し、力を受けていなければ、機構が可能であ
るべき距離よりも大きく動いているので、制御はブロッ
ク454に移り、失敗フラグを立てる。力を受けていれ
ば、ブロック444はブロック446に移り、Ｚの原点値を現
在のＺ軸位置にリセットする。次にブロック448は飽和
軸モジュールを呼出して係合機構を最大距離だけ外方へ
動かす（力および距離については第１表の「Ｚホーム探
索」の下の「Z HOME SAT 2」の欄を参照）。ブロック45
0は飽和軸モジュールの動きの結果をチェックし、力を
受けていれば、係合機構が完全な距離を動くのに失敗し
たのであるから、制御はブロック454に移り、失敗フラ
グを立てる。力を受けていなければ、制御はブロック45
2に移って他の間違い力を受けたか確認し、受けていれ
ば、制御はブロック454に進んで失敗フラグを立てる。
他の力を受けていなければ、制御はブロック456に進ん
でシステムゲインを待機に設定した後に発呼者に戻る。

第15図はＹサーボ制御システムをその原点位置に再位
置決めするルーチンのフローチャートである。これは、
係合機構を並進位置まで動かし（これにより横方向並進
ラッチが動作可能となる）、次いでトランスポートを可
能な最低位置まで下向きに、または力を受けるまで動か
すことにより行われる。この動作は係合機構をＹ原点位
置であるハードストップに向けて動かすことになる。

今度は第15図を参照すると、エンターの後、ブロック
470は垂直移動用のゲインを設定する。次にブロック472
は飽和軸モジュールを呼出してトランスポートを最大距
離を超えて下向きに、または力を受けるまで動かす（力
および距離については第１表の「Ｙホーム探索」の欄を
参照）。次にブロック474は力を受けたか判定し、力を
受けていなければ、係合機構が可能であるべき距離より
も大きく動いたのであるから、制御はブロック480に移
って失敗フラグを立てる。力を受けていれば、ブロック
474はブロック476に移ってＹの原点の値を現在のＹ軸位
置にリセットする。次に制御はブロック478に進み、他
の間違った力を受けたか判定し、力を受けていれば、制
御はブロック480に進んで失敗フラグを立てる。他の力
を受けていなければ、制御は、ブロック482に進んでシ
ステムゲインを待機に設定した後に発呼者に戻る。

第16図はトランスポートを一方のコラムに再位置決め
するルーチンのフローチャートである。これはトランス
ポートを最大可能距離より大きく、または力を受けるま
で動かすことにより行われる。この動作は、他方のコラ
ムのハードストップに向けて機構を動かすことになる。

今度は第16図を参照すると、エンターの後、ブロック
500は並進移動用のゲインを設定する。このルーチン
は、Ｙ軸ホーム位置探索ルーチンを呼出して後に第12図
により呼出されるものであり、トランスポートを並進位
置に設置する。次にブロック502は飽和軸モジュールを
呼出してトランスポートを最大距離より大きく横方向
に、または力を受けるまで動かす（力および距離につい
ては、第１表、スタックホーム探索のSTACK HOME SATを
参照）。次にブロック504は力を受けたか判定し、受け
ていなければ、可能であるべき以上に機構が動いたので
あるから、制御がブロック512に移り、失敗フラグを立
てる。力を受けていれば、ブロック504はブロック506に
移り、移動軸モジュールを呼出して垂直方向に並進位置
から遠ざかるように動かし、これにより並進ラッチがリ
セット可能となる。ブロック508は現在のスタック位置
を現在のトランスポートの位置にリセットする。次に制
御はブロック510に進んで他の間違った力を受けたか判
定し、他の間違った力を受けていれば、制御はブロック
512に進んで失敗フラグを立てる。他の間違った力を受
けていなければ、制御はブロック514に進んでシステム
ゲインを待機に設定した後に発呼者に戻る。

第17図は第11図から呼出される垂直プロセス校正ルー
チンの最高レベルのフローチャートである。第17図を参
照すると、エンターの後、ブロック518はトランスポー
トを左側のコラムに動かし、ブロック520は垂直経路チ
ェックルーチン（第18図）を呼出して左側のコラムに障
害物がない（即ち「クリア」である）ことを確認する。
ブロック522は第19図を呼出してトランスポート内の媒
体を試験し、ブロック524は第20図を呼出してトランス
ポートのどの側が上を向いているか判定する。ブロック
526はトランスポートを右側に動かし、ブロック528は第
18図を再び呼出して右側のコラムに障害物がないことを
確認する。最後に、ブロック530は、第21図を呼出して
Ｙサーボ制御システムについての上側並進位置の場所を
見つけた後に発呼者に戻る。

第18図はトランスポートがカートリッジ取扱システム
の２つのコラムの一方の上方を動く際に横断する経路に
障害物がないかチェックするルーチンのフローチャート
である。このルーチンはＹ軸サーボ制御システムに加わ
る力を監視しながらトランスポートをコラムの下まで動
かす。次に、再び力を監視しながらトランスポートをコ
ラムの上まで動かす。ルーチンはこれらの動きをゆっく
り行うので、機械的な接触の検知はより大きな感度を持
つことができ、動きが失敗すれば、失敗フラグを立てて
人手の介在が必要であることを指示する。

今度は第18図を参照すると、エンターの後、ブロック
540は垂直移動用のゲインを設定する（特定の設定値に
ついては第１表を参照のこと）。次にブロック542は飽
和軸モジュールを呼出してトランスポートを最小高さま
で下向きに、または力を受けるまで動かす（距離および
力については第１表の「垂直経路クリアチェック」の下
の「MEASURE VERT 1」の欄を参照）。移動してから、ブ
ロック544は力を受けたか判定し、受けていれば、移動
中力を受けるべきではないから、制御はブロック552に
進んで失敗フラグを立てる。力を受けていなければ、制
御はブロック546に進み、飽和軸モジュールを呼出して
上部最大位置まで上向きに動かす（距離および力につい
ては第１表の「垂直経路クリアチェック」の下の「MESU
RE VERT 2」の欄を参照）。再び、力を受けるべきでは
ないので、力を見つけた場合にはブロック548はブロッ
ク552に移って失敗フラグを立てる。力が見つからなか
った場合には、制御はブロック550に進み、Ｚサーボ制
御システムが力を受けたかチェックし、力を受けた場合
には失敗フラグを立てる。力を受けなかった場合、また
は失敗フラグを立てた後には、制御はブロック554に移
ってシステムゲインを待機に戻し、発呼者に戻る。

第19図はトランスポートを試験してカートリッジが存
在するか否かを判定するプロセスのフローチャートであ
る。エンターの後、ブロック560はトランスポートを試
験区域まで動かす。この区域は左側のコラムの最上部セ
ルの上の区域にある。この区域にはカートリッジの挿入
を防止する金属板がある。ブロック562は突出し動作用
の制御システムゲインを設定し、ブロック564は飽和軸
モジュールを呼出して係合機構を目標位置まで、または
Nkgの力を受けるまで動かす（力および距離については
第１表の「トランスポート内カートリッジの試験」の下
の「TEST TRANSPORT SAT」の欄を参照）。正しい力に逢
えば、ブロック566がブロック568に移り、トランスポー
トが一杯であることを示すフラグを立てる。トランスポ
ートが一杯であること、または正しい力を受けなかった
ことを示してから、制御はブロック570に移り、ここで
移動軸モジュールが呼出されて係合機構を静止位置まで
動かして戻す。次にブロック572が制御システムゲイン
を待機に設定し、制御が発呼者に戻る。

第20図はトランスポートのどの側が上を向いているか
を判定するルーチンのフローチャートである。この判定
を行うには、制御システムはトランスポートをカートリ
ッジ取扱システムの左上側まで動かす。この移動によ
り、トランスポートが、カートリッジ取扱システムの機
械的フレームから内側に突出している機械的タブと係合
できるようになる。このタブは、トランスポートの一方
の側から突出しているタブと共に、どの側が上を向いて
いるかを判定するのに使用される。

今度は第20図を参照すると、エンターの後、ブロック
580はトランスポートを左側のコラムの最上部まで動か
す。次にブロック582は現在の垂直位置を保存し、ブロ
ック584は飽和軸モジュールを呼出してトランスポート
を上向きに動かす（力および距離については第１表の
「トランスポートの面の探索」の下の「FIND TRANS SAT
1」の欄を参照）。トランスポートは一杯の距離を走行
すべきでないから、力を受けるべきであり、したがって
力が見つからなければ、ブロック586は制御をブロック6
08に移して失敗フラグを立てる。力が見つかれば、制御
はブロック588に進み、トランスポートの高さを保存す
ると共にトランスポートをブロック582で保存した垂直
位置まで動かして戻す。次にブロック590は裏返しを行
い、次にブロック592が飽和軸モジュールを呼出してト
ランスポートを再び上向きに動かす（力および距離につ
いては第１表の「トランスポートの面の探索」の下の
「FIND TRANS SAT 2」の欄を参照）。再び、トランスポ
ートは距離一杯を走行すべきでないから、力が見つから
なければ、制御はブロック608に移って失敗フラグを立
てる。力が見つかれば、制御はブロック596に進んでこ
の第２の高さ位置を保存する。２つの上向き移動の１つ
は２つのタブを互いに接触させているべきであるから、
この移動による高さは２つのタブが接触しなかった場合
の動きの高さより小さい。次にブロック598は２つの上
向き移動による２つの高さ位置を比較する。第１の高さ
が第２の高さより大きければ、制御はブロック602に進
んでトランスポートの面Ａが上に向いていることを示す
フラグを立て、その他の場合には制御はブロック600に
進んでフラグを面Ｂに設定する。いずれの場合でも、制
御はブロック604に進み、移動軸モジュールを呼出して
トランスポートをその開始位置に戻す。次にブロック60
6は過度の力があるかチェックし、１つ以上が見つかれ
ば、制御はブロック608に進んで失敗フラグを立てる。
過度の力が見つからない場合、あるいは、失敗フラグを
立てた後に、制御は発呼者に戻る。

第21図は上側並進位置までの距離を測定するプロセス
のフローチャートである。エンターの後、ブロック620
は垂直移動用のゲインを設定する（特定のゲイン設定値
については第１表を参照）。次にブロック622は飽和軸
モジュールを呼出してトランスポートを上向きに最大距
離だけ動かす（力および距離の設定値については第１表
の「上側並進高さ測定」の下の「MEASURE TPO」の欄を
参照）。トランスポートはコラムの最上部で並進バーに
遭遇すべきであるから（第2B図の符号73を参照）、力を
受けなければ、制御はブロック632に進み、失敗フラグ
を立てる。力を受けていれば、制御はブロック626に進
んでＹサーボ制御システムの現在の位置を獲得し、これ
を上側並進位置としてブロック628により保存する。ブ
ロック630は過度の力を受けたかチェックし、過度の力
を受けていれば、制御はブロック632に進んで失敗フラ
グを立てる。過度の力を受けていなければ、または失敗
フラグを立てた後、制御はブロック634に進んでシステ
ムゲインを待機に設定してから発呼者に戻る。

別の２つの校正機能は初期化中は行われないが、校正
する対象となる機構を始めて使用するときに行われる。
２つの機能はカートリッジを挿入するのに必要な突出し
距離を校正する。校正する前にカートリッジがトランス
ポートに入っていなければならないから、両機能は初期
化時には行われず、カートリッジをセル、メールスロッ
ト、またはトランスポート内に最初に入れたときに行わ
れる。その一方の機能は上記のセル中へ挿入する距離を
校正し、他方の機能は光ドライブ内への突出しを校正す
る。

第22図はカートリッジをセルから取出すプロセスのフ
ローチャートであり、このプロセスには突出し距離の校
正が組込まれている。今度は第22図を参照して、エンタ
ーの後、ブロック650は突出し用のゲインを設定する
（特定のゲインについては第１表を参照のこと）。次に
ブロック652は突出し距離が校正されているか判定し、
校正されていれば、制御はブロック654に進み、移動軸
モジュールを呼出してカートリッジを捕らえる。距離が
校正されていなければ、制御はブロック656に進み、第2
3図を呼出して距離を校正すると共に係合機構を制御内
に動かす。次にブロック658は突出し深さとして測定し
た距離を記憶し、ブロック660は校正が行われたことを
示すフラグを立てる。次にブロック662は移動軸モジュ
ールを呼出して係合機構を引き戻してカートリッジをト
ランスポート内に引き入れ、ブロック664はシステムゲ
インを待機に設定してから発呼者に戻る。

第23図は突出し距離を測定するプロセスのフローチャ
ートである。予想突出し距離はシステムの機械装置の構
成の関数であるが、この距離に関連して機械的公差が存
在する。確実な突出しを行うためには、この公差を徹底
的に校正しなければならず、本発明の機械的な接触の検
知はこの校正を行うために利用される。このルーチン
は、所望セルの前に位置決めし、所定の力を受けるまで
外側に動かし（飽和させ）、次いで前記所定の力を受け
た位置をセルまたはメールスロットの深さとして記憶す
ることにより、セルまたはメールスロットの深さの測定
を行う。

次に第23図を参照すると、エンターの後、ブロック68
0は制御システムのゲインを突出し動作用に設定する
（特定のゲイン設定値については第１表を参照）。次に
ブロック682は飽和軸モジュールを呼出して係合機構を
外側に動かす（力および距離については第１表の「突出
し距離の測定」の下の「MEAS CELL SAT」の欄を参
照）。係合機構はカートリッジに遭遇すべきであり、遭
遇すれば機構に力を及ぼすから、ブロック684が力を見
つけなければ、制御はブロック690に進んで失敗フラグ
を立てる。力を受けていれば、制御はブロック686に進
んでＺ軸位置の値を獲得し、これをブロック688が突出
し深さとして戻す。ブロック692はシステムゲインを待
機に設定してから発呼者に戻る。

第24図は光ドライブ内への突出し深さを測定するプロ
セスのフローチャートである。このプロセスはセル内へ
の突出し深さを測定するのと同様のものであるが、一旦
ドライブがカートリッジを受容すると、該ドライブはカ
ートリッジをドライブ内に引き込むという事実を考慮す
るように修正しなければならない。ドライブ挿入ルーチ
ンは、最初に係合機構をドライブ内にほぼ完全に移動さ
せる。次いで、小さな突出し移動が行われる際に、ドラ
イブ使用中信号が修正される。この移動は、ドライブが
カートリッジを受容する（これはドライブ使用中信号に
より示される）まで、または大きな力が検出されるまで
行われる。力を受ければ、エラーが報告され、力を受け
なければ、ドライブ使用中信号を得るよう動かすために
必要な距離が突出し距離として記録される。このプロセ
スはカートリッジがドライブに挿入される度に繰返され
るので、距離は絶えず再校正される。カートリッジ取扱
システムが２つ以上の光ドライブを備えている場合に
は、このプロセスは各光ドライブ毎に繰返される。

今度は第24図を参照すると、エンターした後、ブロッ
ク700は制御システムのゲインを突出し動作用に設定す
る（特定のゲイン設定値については第１表を参照）。次
にブロック702は移動軸モジュールを呼出して係合機構
を外側に動かして、ドライブ使用中信号を得るための期
待される距離に僅かに足りない位置に位置決めする。ブ
ロック704は現在のＺ軸位置を保存し、ブロック706は飽
和軸モジュールを呼出して外側に僅かな移動を行う（力
および距離については第１表の「DRIVE INSERT」を参
照）。次にブロック708は力を受けたかチェックし、力
が見つかれば、カートリッジはドライブが使用中になら
ずにドライブのスロットの端に到達しているに違いない
ので、制御はブロック716に進んで失敗フラグを立て
る。力が見つからなければ、制御はブロック710に進ん
で使用中信号をチェックし、ドライブが未だ使用中にな
っていなければ、制御はブロック706に戻って僅かな移
動を更に行う。この動きはドライブが使用中になるか、
または力を受けるまで続く。ドライブが使用中になれ
ば、制御はブロック712に移って僅かな移動中に走行し
た距離を計算し、ブロック714はこの距離を適応ドライ
ブ突出し距離として保存する。次にブロック718は移動
軸モジュールを呼出して係合機構をトランスポート内に
引き戻す。ブロック720はゲインを待機に設定してから
発呼者に戻る。

（発明の効果） 以上のように、本発明によれば、制御システム内の機
構の初期位置をそのシステムのモータにより加えられて
いる力を監視することにより校正することができる。

更に、本発明によれば、このような校正をモータを電
圧および電流のフィードバックと共に軸エンコーダのみ
を使用して行うことができる。

更に、本発明によれば、制御システムにより加えられ
ている力を校正することができる。

更に、本発明によれば、システムにより加えられてい
る力を監視することによりシステム内の障害を検出する
ことができる。

更に、本発明によれば、制御システムの動作の完了を
加えられている力を監視することにより検出することが
できる。

更に、本発明によれば、制御システムのモータの動き
を所要の力または抵抗が得られるまで調節することがで
きる。

更に、本発明によれば、機構がカートリッジを試験区
域まで動かそうとするとき受ける抵抗の量によりトラン
スポート（輸送）機構内のカートリッジを検出すること
ができる。

更に、本発明によれば、トランスポート機構をＹ軸サ
ーボ位置ループ内の既知の位置に正しく設置することで
ある。

更に、本発明によれば、トランスポート機構をＺ軸サ
ーボ位置ループ内の既知の位置に正しく設置することが
できる。

更に、本発明によれば、トランスポート機構をカート
リッジ取扱システム内のカートリッジを備えている２つ
のコラム（列）に関して既知の位置に正しく設置するこ
とができる。

更に、本発明によれば、トランスポート機構のどの面
が特定の方向に向いているかを判定することができる。

更に、本発明によれば、カートリッジをカートリッジ
取扱システムのセルに正しく挿入するのに必要な距離を
測定することができる。

更に、本発明によれば、Ｙ軸の既知の位置からカート
リッジ取扱システム内の上側並進位置までの距離を測定
することができる。

本発明の現在のところ好適な実施例についてこのよう
に説明してきたが、本発明の目的が完全に達成されてい
ることが今や認められるであろうし、当業者は構造およ
び回路類に関する多数の変更および本発明の広く異なる
実施例および用途が本発明の思想および範囲を逸脱する
ことなく示唆されていることを理解するであろう。ここ
に記した開示および説明は例示を目的とするものであ
り、如何なる意味においても本発明を限定するものでは
なく、その範囲は「特許請求の範囲」により一層適格に
規定される。

Vpは「mm/秒」で表わした許容ピーク速度である。

Accelは速度を傾斜状に上下するときに使用する加速度
であり、「mm/s²」で表わす。

Ｙ力はＹ制御システムに対する進入しきい力であり、
「kg」で表わす。

Ｚ力はＺ制御システムに対する進入しきい力であり、
「kg」で表わす。

距離は飽和中に走行する最大距離であり、エンコーダ単
位（Eu）で表わす。エンコーダ単位とは軸エンコーダか
らのフィードバックのカウントである。

制御ループで補償に使用するゲイン数は次の通りであ
る。

YKpは、Ｙ制御ループ補償器のKpの値である。

YKvは、Ｚ制御ループ補償器のKvの値である。

ZKpは、Ｚ制御ループ補償器のKpの値である。

ZKvは、Ｚ制御ループ補償器のKvの値である。

Kpの単位は、（PWMカウンタ）／（位置のエンコーダ
単位）である。

Kvの単位は、「msec」（ミリ秒）である。

すべての値は、スケーリングの目的で、256倍してあ
る。

待機 YKp＝110 YKv＝2048 ZKp＝110 ZKv＝1664 並進 YKp＝110 YKv＝2048 ZKp＝55 ZKv＝1792 突出し YKp＝220 YKv＝1357 ZKp＝110 ZKv＝1664 垂直移動 YKp＝110 YKv＝2048 ZKp＝110 ZKv＝2048

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明を組み込んだコンピュータシステムの
ブロック図であり、 第２図は、本発明の電子装置の高レベルのブロック図で
あり、 第2A図は、本発明の機械的アセンブリの側面図であり、 第2B図は、本発明の機械的アセンブリの正面図であり、 第３図は、本発明の制御システムのインタフェース電子
装置の詳細なブロック図であり、 第４図は、本発明のソフトウェアの主モジュールを示す
フローチャートであり、 第５図は、本発明のサーボ制御システムの説明図であ
り、 第６図は、移動動作時に含まれるデータフローと主モジ
ュールのブロック図であり、 第７図は、移動動作のフローチャートであり、 第８図は、制御システムによって生成される力を継続的
に監視するためのループモニタのフローチャートであ
り、 第９図は、飽和動作に含まれるデータフローと主モジュ
ールのブロック図であり、 第10図は、飽和動作のフローチャートであり、 第11図は、システムを校正するために使用される初期化
プロセスの最上レベルのフローチャートであり、 第12図は、Ｙ及びＺサーボ制御システムに関する原点位
置探索ルーチンのフローチャートであり、 第13図は、初期化開始前に障害が存在しないことを確認
するためのルーチンを示すフローチャートであり、 第14図は、Ｚサーボ制御システムに関しホーム位置を探
索するためのフローチャートであり、 第15図は、Ｙサーボ制御システムに関しホーム位置を探
索するためのルーチンのフローチャートであり、 第16図は、一方のコラムの前にトランスポートを位置決
めするためのルーチンのフローチャートであり、 第17図は、垂直運動の初期化のためのルーチンのフロー
チャートであり、 第18図は、障害に出会うことなくトランスポートが垂直
に移動可能であることを確認するルーチンのフローチャ
ートであり、 第19図は、トランスポート内の媒体に関する試験を行う
ためのルーチンのフローチャートであり、 第20図は、トランスポートのどの側が上を向いてるかを
判定するルーチンのフローチャートであり、 第21図は、第２の並進位置を探索するルーチンのフロー
チャートであり、 第22図は、距離の初期化に関する試験を含む、セルから
カートリッジを取り出すためのルーチンのフローチャー
トであり、 第23図は、カートリッジ挿入又は取り出しのために係合
機構を移動する最適距離を測定するためのルーチンのフ
ローチャートであり、 第24図は、光ドライブに対する距離の校正を含む、光ド
ライブ内にカートリッジを挿入するためのルーチンのフ
ローチャートである。

フロントページの続き (72)発明者 マーク・イー・ワンガー アメリカ合衆国コロラド州80525 フォ ート・コリンズ，クリークウッド・ドラ イヴ・2113 (72)発明者 ドナルド・ジェイ・ステイヴリー アメリカ合衆国コロラド州80525 フォ ート・コリンズ，イロクォイス・ドライ ヴ・2225 (72)発明者 クレイグ・エー・プレール アメリカ合衆国コロラド州80537 ラヴ ランド，ボンネル・ドライヴ・4610

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】カートリッジ取扱システムのトランスポー
   トを移動させるためのＹ制御システム及びＺ制御システ
   ムを備えたカートリッジ取扱システムであって、前記ト
   ランスポートが該カートリッジ取扱システムのセル内に
   カートリッジを挿入するための係合機構を備えている、
   カートリッジ取扱システムにおいて、前記係合機構の校
   正された完全セル挿入位置を決定するための方法であっ
   て、この方法が、 （ａ）前記Ｙ制御システム及び前記Ｚ制御システムを駆
   動して、前記カートリッジを収容している前記セルに対
   して前記トランスポートを位置決めし、 （ｂ）所定の力に遭遇するまで前記Ｚ制御システムを駆
   動し、その結果として得られるＺ制御システムの位置を
   前記校正された完全セル挿入位置として記憶する、 という各ステップからなることを特徴とする、カートリ
   ッジ取扱システムにおいて校正された完全セル挿入位置
   を決定するための方法。