JP2903070B2 - 光トランシーバの試験方法 - Google Patents
光トランシーバの試験方法Info
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- JP2903070B2 JP2903070B2 JP3119594A JP11959491A JP2903070B2 JP 2903070 B2 JP2903070 B2 JP 2903070B2 JP 3119594 A JP3119594 A JP 3119594A JP 11959491 A JP11959491 A JP 11959491A JP 2903070 B2 JP2903070 B2 JP 2903070B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザを送信と受
信との双方に時分割で使用する一素子形の時分割方向制
御伝送方式（いわゆるピンポン伝送方式、以下「ＴＣＭ
方式」という）に利用する。特にＴＣＭ方式において使
用される光トランシーバの動作が正常か否かを試験する
方法に関する。
信との双方に時分割で使用する一素子形の時分割方向制
御伝送方式（いわゆるピンポン伝送方式、以下「ＴＣＭ
方式」という）に利用する。特にＴＣＭ方式において使
用される光トランシーバの動作が正常か否かを試験する
方法に関する。
【０００２】半導体レーザは基本的にＰＮ接合をもつダ
イオードであり、発光素子としてだけでなく、受光素子
としても使用できる。すなわち、しきい値以上の順バイ
アスを印加すれば発光素子として使用でき、それ以下の
バイアスないし逆バイアスでは、その発振波長およびそ
れより短い波長に対して感度のある受光素子として使用
できる。
イオードであり、発光素子としてだけでなく、受光素子
としても使用できる。すなわち、しきい値以上の順バイ
アスを印加すれば発光素子として使用でき、それ以下の
バイアスないし逆バイアスでは、その発振波長およびそ
れより短い波長に対して感度のある受光素子として使用
できる。
【０００３】このような半導体レーザの特性を利用した
一素子形ＴＣＭ方式の基本的な構成例を図６に示し、こ
の方式に用いられる一般的なフレーム構成を図７に示
す。
一素子形ＴＣＭ方式の基本的な構成例を図６に示し、こ
の方式に用いられる一般的なフレーム構成を図７に示
す。
【０００４】送信受信切替回路１と半導体レーザ２とに
より構成された伝送装置（以下「トランシーバ」とい
う）は、光ファイバ伝送路３を介して、半導体レーザ４
と送信受信切替回路５とにより構成された光トランシー
バに接続される。それぞれの光トランシーバには、情報
供給源および情報供給先となる装置、例えば端末装置が
接続されるが、ここでは省略する。
より構成された伝送装置（以下「トランシーバ」とい
う）は、光ファイバ伝送路３を介して、半導体レーザ４
と送信受信切替回路５とにより構成された光トランシー
バに接続される。それぞれの光トランシーバには、情報
供給源および情報供給先となる装置、例えば端末装置が
接続されるが、ここでは省略する。
【０００５】送信受信切替回路１、５はそれぞれ、半導
体レーザ２、４の動作モードを切り替え、光ファイバ伝
送路３へのバースト信号の送信と、同じ光ファイバ伝送
路３からのバースト信号の受信とを時分割で行う。すな
わち、半導体レーザ２が送信モードのとき半導体レーザ
４は受信モードとなり、半導体レーザ４が送信モードの
ときには半導体レーザ２が受信モードとなるように切り
替えられる。
体レーザ２、４の動作モードを切り替え、光ファイバ伝
送路３へのバースト信号の送信と、同じ光ファイバ伝送
路３からのバースト信号の受信とを時分割で行う。すな
わち、半導体レーザ２が送信モードのとき半導体レーザ
４は受信モードとなり、半導体レーザ４が送信モードの
ときには半導体レーザ２が受信モードとなるように切り
替えられる。
【０００６】これを図７を参照して詳しく説明すると、
半導体レーザ２が送信を開始したとき、半導体レーザ４
は、伝送遅延時間ＴＤの後に受信を開始する。伝送遅延
時間ＴＤは、光ファイバ伝送路３中を光が伝送されるの
に要する時間である。半導体レーザ４は、受信が完了す
ると送信モードに切り替えられ、送信切替のためのガー
ド時間ＴＧが経過した後に送信を開始する。
半導体レーザ２が送信を開始したとき、半導体レーザ４
は、伝送遅延時間ＴＤの後に受信を開始する。伝送遅延
時間ＴＤは、光ファイバ伝送路３中を光が伝送されるの
に要する時間である。半導体レーザ４は、受信が完了す
ると送信モードに切り替えられ、送信切替のためのガー
ド時間ＴＧが経過した後に送信を開始する。
【０００７】半導体レーザ２は、送信が完了すると受信
モードに切り替えられ、自分の送信した光が相手に届く
までの伝送遅延時間ＴＤ、相手の送信切替のためのガー
ド時間ＴＧおよび相手の送信した光が自分に届くまでの
伝送遅延時間ＴＤが経過した後に受信を開始する。受信
が完了するとガード時間ＴＧが経過した後に再び送信を
開始する。
モードに切り替えられ、自分の送信した光が相手に届く
までの伝送遅延時間ＴＤ、相手の送信切替のためのガー
ド時間ＴＧおよび相手の送信した光が自分に届くまでの
伝送遅延時間ＴＤが経過した後に受信を開始する。受信
が完了するとガード時間ＴＧが経過した後に再び送信を
開始する。
【０００８】このように、半導体レーザ２と半導体レー
ザ４とは、時分割で送受信を繰り返す。この繰り返しの
周期、すなわち１バースト時間ＴＢは、半導体レーザ
２、４の送信時間、すなわち情報伝送時間をＴＩとし
て、 ＴＢ＝２ＴＩ＋２ＴＤ＋２ＴＧ となる。
ザ４とは、時分割で送受信を繰り返す。この繰り返しの
周期、すなわち１バースト時間ＴＢは、半導体レーザ
２、４の送信時間、すなわち情報伝送時間をＴＩとし
て、 ＴＢ＝２ＴＩ＋２ＴＤ＋２ＴＧ となる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】このような方式におい
て、正常な動作が行われなかった場合には、送信受信切
替回路１と半導体レーザ２とにより構成された光トラン
シーバ、半導体レーザ４と送信受信切替回路５とにより
構成された光トランシーバ、または光ファイバ伝送路３
のいずれに原因があるかについて、それぞれを試験する
方法が必要となる。本明細書では、光トランシーバを試
験の対象とする。
て、正常な動作が行われなかった場合には、送信受信切
替回路１と半導体レーザ２とにより構成された光トラン
シーバ、半導体レーザ４と送信受信切替回路５とにより
構成された光トランシーバ、または光ファイバ伝送路３
のいずれに原因があるかについて、それぞれを試験する
方法が必要となる。本明細書では、光トランシーバを試
験の対象とする。
【００１０】一般の伝送方式では、伝送装置の試験方法
として、自分の発生する信号を折り返す試験方法が用い
られている。しかし、一素子形のＴＣＭ方式では、送信
と受信とを同じ素子で行うため、光トランシーバの折り
返し試験は行われていなかった。
として、自分の発生する信号を折り返す試験方法が用い
られている。しかし、一素子形のＴＣＭ方式では、送信
と受信とを同じ素子で行うため、光トランシーバの折り
返し試験は行われていなかった。
【００１１】本発明は、半導体レーザを送信素子および
受信素子として使用する一素子形のＴＣＭ方式における
光トランシーバの試験方法を提供することを目的とす
る。
受信素子として使用する一素子形のＴＣＭ方式における
光トランシーバの試験方法を提供することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の試験方法は、一
端に反射点が設けられた光ファイバをその端と反対側の
端で半導体レーザに接続し、この光ファイバに半導体レ
ーザから試験光信号を間欠的に送信し、反射点で反射さ
れた試験光信号を同じ半導体レーザで受光することを特
徴とする。
端に反射点が設けられた光ファイバをその端と反対側の
端で半導体レーザに接続し、この光ファイバに半導体レ
ーザから試験光信号を間欠的に送信し、反射点で反射さ
れた試験光信号を同じ半導体レーザで受光することを特
徴とする。
【００１３】
【作用】ある程度長い光ファイバを用い、その光ファイ
バを往復する光の伝搬時間より短いパルスの試験光信号
を半導体レーザから光ファイバに送信する。試験光信号
を送信した後には、半導体レーザを送信モードから受信
モードに切り替える。これにより、半導体レーザの送信
した試験光信号が再びその半導体レーザに戻るまでに、
その半導体レーザが受信モードに切り替えられ、その試
験光信号を受信できる。したがって、光トランシーバの
送信および受信の動作を確認できる。
バを往復する光の伝搬時間より短いパルスの試験光信号
を半導体レーザから光ファイバに送信する。試験光信号
を送信した後には、半導体レーザを送信モードから受信
モードに切り替える。これにより、半導体レーザの送信
した試験光信号が再びその半導体レーザに戻るまでに、
その半導体レーザが受信モードに切り替えられ、その試
験光信号を受信できる。したがって、光トランシーバの
送信および受信の動作を確認できる。
【００１４】
【実施例】図１は本発明の原理を示す図である。
【００１５】光トランシーバ内の半導体レーザ１１は、
光送信と光受信との双方に時分割で使用される。その動
作を試験するため、半導体レーザ１１には一端に反射点
として反射部１３が設けられた光ファイバ１２がその端
と反対側の端で接続される。
光送信と光受信との双方に時分割で使用される。その動
作を試験するため、半導体レーザ１１には一端に反射点
として反射部１３が設けられた光ファイバ１２がその端
と反対側の端で接続される。
【００１６】この状態で光トランシーバの動作を試験す
るには、半導体レーザ１１に間欠的な試験信号を供給
し、この半導体レーザ１１を間欠的に駆動する。これに
より、半導体レーザ１１から光ファイバ１２に試験光信
号が間欠的に送信され、反射部１３で反射される。この
反射した試験光信号を半導体レーザ１１で受光する。こ
れにより、自分の発生した信号を折り返して試験するル
ープが形成される。
るには、半導体レーザ１１に間欠的な試験信号を供給
し、この半導体レーザ１１を間欠的に駆動する。これに
より、半導体レーザ１１から光ファイバ１２に試験光信
号が間欠的に送信され、反射部１３で反射される。この
反射した試験光信号を半導体レーザ１１で受光する。こ
れにより、自分の発生した信号を折り返して試験するル
ープが形成される。
【００１７】図２は光レベルと時間との関係を示す図で
あり、（ａ）は半導体レーザ１１からの送信光レベル、
（ｂ）は半導体レーザ１１に戻る反射光レベルを示す。
あり、（ａ）は半導体レーザ１１からの送信光レベル、
（ｂ）は半導体レーザ１１に戻る反射光レベルを示す。
【００１８】光ファイバ１２を伝搬して反射部１３で反
射した光は、伝搬時間に相当する時間遅れΔｔの後に、
半導体レーザ１１で受光される。この時間遅れΔｔを適
切に設定することで、図２に示したように、半導体レー
ザ１１の発光していないときに、この試験光信号を半導
体レーザ１１で受光できる。すなわち、試験信号が反射
点で折り返され、送信および受信部の正常または異常の
動作を確認できる。
射した光は、伝搬時間に相当する時間遅れΔｔの後に、
半導体レーザ１１で受光される。この時間遅れΔｔを適
切に設定することで、図２に示したように、半導体レー
ザ１１の発光していないときに、この試験光信号を半導
体レーザ１１で受光できる。すなわち、試験信号が反射
点で折り返され、送信および受信部の正常または異常の
動作を確認できる。
【００１９】図３は具休的な回路構成の一例を示すブロ
ック構成図である。ここでは、試験を行うための回路が
光トランシーバ内に設けられた場合の例を示す。
ック構成図である。ここでは、試験を行うための回路が
光トランシーバ内に設けられた場合の例を示す。
【００２０】この光トランシーバは、半導体レーザ１
１、試験信号発生回路１４、駆動回路１５および受信回
路１６を備える。半導体レーザ１１は、通常は光ファイ
バ伝送路（図示せず）が接続されるが、試験時には、一
端に反射部１３が設けられた光ファイバ１２が接続され
る。駆動回路１５には情報供給源が接続され、受信回路
１６には情報供給先の装置が接続されるが、ここでは省
略する。
１、試験信号発生回路１４、駆動回路１５および受信回
路１６を備える。半導体レーザ１１は、通常は光ファイ
バ伝送路（図示せず）が接続されるが、試験時には、一
端に反射部１３が設けられた光ファイバ１２が接続され
る。駆動回路１５には情報供給源が接続され、受信回路
１６には情報供給先の装置が接続されるが、ここでは省
略する。
【００２１】通常の動作時には、端末装置その他の情報
供給源からの信号が駆動回路１５に供給され、その信号
により半導体レーザー１１が駆動される。また、駆動回
路１５から半導体レーザ１１に供給するバイアスを例え
ば零にすると、この半導体レーザ１１が受信モードとな
り、光ファイバ伝送路からの光信号を受信できる。
供給源からの信号が駆動回路１５に供給され、その信号
により半導体レーザー１１が駆動される。また、駆動回
路１５から半導体レーザ１１に供給するバイアスを例え
ば零にすると、この半導体レーザ１１が受信モードとな
り、光ファイバ伝送路からの光信号を受信できる。
【００２２】試験時には、光ファイバ伝送路の代わりに
光ファイバ１２が半導体レーザ１１に接続され、駆動回
路１５には試験信号発生回路１４からの試験信号が供給
される。駆動回路１５はこの試験信号により半導体レー
ザ１１を駆動し、試験光信号を発生させる。この光信号
は光ファイバ１２を伝搬し、反射部１３により反射さ
れ、再び光ファイバを逆方向に伝搬して半導体レーザ１
１に入射する。このとき半導体レーザ１１を受信モード
にしておき、受信回路１６により検出する。
光ファイバ１２が半導体レーザ１１に接続され、駆動回
路１５には試験信号発生回路１４からの試験信号が供給
される。駆動回路１５はこの試験信号により半導体レー
ザ１１を駆動し、試験光信号を発生させる。この光信号
は光ファイバ１２を伝搬し、反射部１３により反射さ
れ、再び光ファイバを逆方向に伝搬して半導体レーザ１
１に入射する。このとき半導体レーザ１１を受信モード
にしておき、受信回路１６により検出する。
【００２３】このようにして、試験信号が、試験信号発
生回路１４、駆動回路１５、半導体レーザ１１、光ファ
イバ１２、反射部１３、光ファイバ１２、半導体レーザ
１１、受信回路１６の経路で折り返される。このように
して、動作が正常か否かを確認できる。
生回路１４、駆動回路１５、半導体レーザ１１、光ファ
イバ１２、反射部１３、光ファイバ１２、半導体レーザ
１１、受信回路１６の経路で折り返される。このように
して、動作が正常か否かを確認できる。
【００２４】図４は回路構成の別の例を示す。
【００２５】図３に示した構成では、試験のために光フ
ァイバ伝送路と光ファイバとの接続替えが必要であっ
た。これに対して図４の構成では、この接続替えを自動
的に行うことができる。すなわち、この光トランシーバ
は、半導体レーザ１１、試験信号発生回路１４、駆動回
路１５および受信回路１６に加えて、試験制御回路１７
および光スイッチ１８を備える。
ァイバ伝送路と光ファイバとの接続替えが必要であっ
た。これに対して図４の構成では、この接続替えを自動
的に行うことができる。すなわち、この光トランシーバ
は、半導体レーザ１１、試験信号発生回路１４、駆動回
路１５および受信回路１６に加えて、試験制御回路１７
および光スイッチ１８を備える。
【００２６】試験制御回路１７は、試験時に試験信号発
生回路１４を動作させるとともに、光スイッチ１８の切
り替えを制御する。この制御により光スイッチ１８は、
通常時には半導体レーザ１１に通信用の光ファイバ伝送
路２０を接続し、試験時には光ファイバ伝送路２０の代
わりに光ファイバ１２を接続する。このようにして、試
験信号発生回路１４、駆動回路１５、半導体レーザ１
１、光ファイバ１２、反射部１３、光ファイバ１２、半
導体レーザ１１、受信回路１６の経路で折り返し試験を
行うことができる。
生回路１４を動作させるとともに、光スイッチ１８の切
り替えを制御する。この制御により光スイッチ１８は、
通常時には半導体レーザ１１に通信用の光ファイバ伝送
路２０を接続し、試験時には光ファイバ伝送路２０の代
わりに光ファイバ１２を接続する。このようにして、試
験信号発生回路１４、駆動回路１５、半導体レーザ１
１、光ファイバ１２、反射部１３、光ファイバ１２、半
導体レーザ１１、受信回路１６の経路で折り返し試験を
行うことができる。
【００２７】図５は端末装置からの折り返し試験方法を
示す。
示す。
【００２８】上述した例では、光トランシーバ内で試験
信号を発生して試験を行っていた。これに対して図５に
示した例では、試験信号を端末装置２１から接続線２２
を介して光トランシーバ１０に供給する。このとき光ト
ランシーバ１０では、その内部で試験信号を折り返し、
その受信結果を端末装置２１に返送する。このように、
外部からの試験信号により光トランシーバを試験するこ
ともできる。
信号を発生して試験を行っていた。これに対して図５に
示した例では、試験信号を端末装置２１から接続線２２
を介して光トランシーバ１０に供給する。このとき光ト
ランシーバ１０では、その内部で試験信号を折り返し、
その受信結果を端末装置２１に返送する。このように、
外部からの試験信号により光トランシーバを試験するこ
ともできる。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の試験方法
は、半導体レーザを送信素子および受信素子の双方に時
分割で利用する一素子形の時分割方向制御伝送方式に使
用される光トランシーバの動作を試験できる。このよう
に試験方法が確立されることにより、一素子形時分割方
向制御伝送方式の経済的な運用が可能となる。
は、半導体レーザを送信素子および受信素子の双方に時
分割で利用する一素子形の時分割方向制御伝送方式に使
用される光トランシーバの動作を試験できる。このよう
に試験方法が確立されることにより、一素子形時分割方
向制御伝送方式の経済的な運用が可能となる。
【図１】 本発明の原理を示す図。
【図２】 光レベルと時間との関係を示す図。
【図３】 具体的な回路構成の一例を示すブロック構成
図。
図。
【図４】 回路構成の別の例を示す図。
【図５】 端末装置からの折り返し試験方法を示す図。
【図６】 一素子形ＴＣＭ方式の基本的な構成例を示す
図。
図。
【図７】 ＴＣＭ方式に用いられる一般的なフレーム構
成を示す図。
成を示す図。
１、５ 送信受信切替回路 ２、４、１１ 半導体レーザ ３、２０ 光ファイバ伝送路 １２ 光ファイバ １３ 反射部 １４ 試験信号発生回路 １５ 駆動回路 １６ 受信回路 １７ 試験制御回路 １８ 光スイッチ ２１ 端末装置 ２２ 接続線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01M 11/00 G02B 6/00 H04B 10/24
Claims (1)
- 【請求項１】 同一の半導体レーザを光送信と光受信と
に時分割で使用する光トランシーバの動作を試験する方
法において、 一端に反射点が設けられた光ファイバを前記一端と反対
側の端で前記半導体レーザに接続し、 この光ファイバに前記半導体レーザから試験光信号を間
欠的に送信し、 前記反射点で反射された試験光信号を前記半導体レーザ
で受光することを特徴とする光トランシーバの試験方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3119594A JP2903070B2 (ja) | 1991-01-07 | 1991-01-07 | 光トランシーバの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3119594A JP2903070B2 (ja) | 1991-01-07 | 1991-01-07 | 光トランシーバの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04249734A JPH04249734A (ja) | 1992-09-04 |
| JP2903070B2 true JP2903070B2 (ja) | 1999-06-07 |
Family
ID=14765251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3119594A Expired - Fee Related JP2903070B2 (ja) | 1991-01-07 | 1991-01-07 | 光トランシーバの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2903070B2 (ja) |
-
1991
- 1991-01-07 JP JP3119594A patent/JP2903070B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04249734A (ja) | 1992-09-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |