JPS6270727A - 光反射減衰量測定装置 - Google Patents
光反射減衰量測定装置Info
- Publication number
- JPS6270727A JPS6270727A JP21162285A JP21162285A JPS6270727A JP S6270727 A JPS6270727 A JP S6270727A JP 21162285 A JP21162285 A JP 21162285A JP 21162285 A JP21162285 A JP 21162285A JP S6270727 A JPS6270727 A JP S6270727A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical switch
- light
- measured
- light source
- time
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）発明の技術分野
この発明は、光滅哀器、光ブアイバなどの被測定端の光
反射減衰量を測定する場合に、光源の光を光スイッチを
介して被測定端に加え、被ＭＩｌ定端からの反射波を光
スイッチを介して受光器で測定するようにした光反射減
衰量測定装置において、 。
反射減衰量を測定する場合に、光源の光を光スイッチを
介して被測定端に加え、被ＭＩｌ定端からの反射波を光
スイッチを介して受光器で測定するようにした光反射減
衰量測定装置において、 。
測定系以外から混入する不要な反射光の影響が少なくな
るようにしたものである。
るようにしたものである。
（ｂ）従来技術と問題点
被測定端の光反射減衰量を測定するとき、光分岐結合器
などを用いると、被測定端からの反射量の他に近端反射
量や光源からの漏洩光なども測定し・てしまうことがあ
り、被測定端の正確な反射域Ｒ口がｆ１１１定できない
という問題がある。
などを用いると、被測定端からの反射量の他に近端反射
量や光源からの漏洩光なども測定し・てしまうことがあ
り、被測定端の正確な反射域Ｒ口がｆ１１１定できない
という問題がある。
（ｃ）発明の目的
この発明は、光源からパルス状の光を被測定端に出射し
、反射域ｆｆｆｆ１を測定する場合に不要な光を光スイ
ッチのオンオフ時間で排除するようにし、正確な反射域
ｆｆ１ｆｆｉを測定することができるようにした測定装
置の提供を目的とする。
、反射域ｆｆｆｆ１を測定する場合に不要な光を光スイ
ッチのオンオフ時間で排除するようにし、正確な反射域
ｆｆ１ｆｆｉを測定することができるようにした測定装
置の提供を目的とする。
（ｄ１発明の実施例
ます、この発明による実施例の構成図を第１図に示す。
第１図の１は光源、２は光スイッチ、３は被測定端、４
は受光器、５はパルス発生器、６は全反射器である。
は受光器、５はパルス発生器、６は全反射器である。
第１図では、光源１の光を光スイッチ２から被測定端３
に出射し、被測定端３からの反射波と全反射器６からの
反射波を光スイッチ２を介して受光器４で測定する。
に出射し、被測定端３からの反射波と全反射器６からの
反射波を光スイッチ２を介して受光器４で測定する。
第１図の光反射減衰量は、全反射器６による全反射量と
被測定端による反射量の比で表される。
被測定端による反射量の比で表される。
パルス発生器５は、光源１の光発生時間と光切換器２の
オン時間を制御する。
オン時間を制御する。
光スイッチ２は、オンのとき光源１と被測定端３を結合
するようにし、オフのとき被測定端３と受光器４を結合
するように動作する。
するようにし、オフのとき被測定端３と受光器４を結合
するように動作する。
被測定端３の例として、光減衰器、光ファイバなどのほ
か、受光器４以外の受光器も被測定端になる。
か、受光器４以外の受光器も被測定端になる。
この発明は、パルス発生器５で光源１の光発生時間と光
スイッチ２のオンオフ時間を制御し、光スイッチ２に加
えるパルス幅を調整することにより、被測定端３からの
反射波以外の不要な光を排除するようにするものである
。
スイッチ２のオンオフ時間を制御し、光スイッチ２に加
えるパルス幅を調整することにより、被測定端３からの
反射波以外の不要な光を排除するようにするものである
。
次に、第１図各部の実施例の波形図を第２図に示す。
第２図（ア）は光源１の出射光の波形であり、出射時間
Ｔ１はパルス発生器５で制御される。
Ｔ１はパルス発生器５で制御される。
第２図（イ）は光スイッチ２がオンになっている時間Ｔ
２の波形であり、オン時間Ｔ２はパルス発生器５で制御
される。
２の波形であり、オン時間Ｔ２はパルス発生器５で制御
される。
光スイッチ２がオンのときは光源１の光を被測定端３に
送り、光スイッチ２がオフのときは被測定端３または全
反射器６の反射波を受光器４に送る。
送り、光スイッチ２がオフのときは被測定端３または全
反射器６の反射波を受光器４に送る。
第２図から明らかなように１．Ｔ２＞Ｔｌになるように
する。
する。
第２図（つ）の実線は受光器４で測定した反射波の波形
であり、受光時間はＴ３である。
であり、受光時間はＴ３である。
受光時間Ｔ３は、第２図（イ）のオン時間Ｔ２がオフに
なったところから始まる。
なったところから始まる。
第２図（つ）の点線力は全反射器６による全反射量であ
り、点線キは被測定端３の反射量である。
り、点線キは被測定端３の反射量である。
また、点線りは光スイッチ２の出射端反射量であり、反
射減衰量の測定には不要なものである。
射減衰量の測定には不要なものである。
第２図（イ）のオン時間Ｔ２を調節すれば、第２図（つ
）の点線りの影響を少なくすることができる。
）の点線りの影響を少なくすることができる。
例えば、光源１の発光時間Ｔ１をＯ−０，２μＳとし、
光スイッチ２のオン時間Ｔ２を０〜０．５μＳとすれば
、受光器４の受光時間Ｔ３は０．５〜０．７μｓになる
。
光スイッチ２のオン時間Ｔ２を０〜０．５μＳとすれば
、受光器４の受光時間Ｔ３は０．５〜０．７μｓになる
。
この結果、光スイッチ２による出射端の反射量りは０．
２〜０．５μｓの範囲に大部分が入っているので、点線
りの影響を受けないで測定することができるようになる
。
２〜０．５μｓの範囲に大部分が入っているので、点線
りの影響を受けないで測定することができるようになる
。
このように、この発明は出射パルス幅よりも長いパルス
幅の制御信号をパルス発生器５がら光切換器２に送るこ
とにより、光スイッチ２の出射端からの反射波などの不
要波の影響を除くようにしたものであり、近接した不要
端からの反射波があるときに、特に有効である。
幅の制御信号をパルス発生器５がら光切換器２に送るこ
とにより、光スイッチ２の出射端からの反射波などの不
要波の影響を除くようにしたものであり、近接した不要
端からの反射波があるときに、特に有効である。
この場合、光スイッチ２のオン時間Ｔ２をあまり長くす
ると受光器４の受光時間Ｔ３が短くなり、正確な測定が
できなくなるので、点線りなどの影響を受けない範囲で
オン時間Ｔ２を短くする。
ると受光器４の受光時間Ｔ３が短くなり、正確な測定が
できなくなるので、点線りなどの影響を受けない範囲で
オン時間Ｔ２を短くする。
（ｅ）発明の効果
この発明によれば、パルス発生器で光源の発光時間と光
スイッチのオン時間を制御しているので、被測定端以外
からの不要な反射波などの影響を少な（することができ
、被測定端からの反射光だけ取り出して被測定端の反射
減衰量を正確に測定することができる。
スイッチのオン時間を制御しているので、被測定端以外
からの不要な反射波などの影響を少な（することができ
、被測定端からの反射光だけ取り出して被測定端の反射
減衰量を正確に測定することができる。
第１図はこの発明による実施例の構成図、第２図は第１
図の各部の波形図。 ｌ・・・・・・光源、２・・・・・・光スイッチ、３・
・・・・・被測定端、４・・・・・・受光器、５・・・
・・・パルス発生器、６・・・・・・全反射器。
図の各部の波形図。 ｌ・・・・・・光源、２・・・・・・光スイッチ、３・
・・・・・被測定端、４・・・・・・受光器、５・・・
・・・パルス発生器、６・・・・・・全反射器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光スイッチがオンのとき光源の光を前記光スイッチ
を介して被測定端に送出し、前記光スイッチがオフのと
き前記被測定端からの第１の反射波と前記被測定端に配
置した全反射器からの第２の反射波を前記光スイッチを
介して受光器に入れ、第１の反射波と第２の反射波の比
から前記被測定端の光反射減衰量を測定する装置におい
て、前記光源の発生時間と前記光スイッチのオン時間を
制御するパルス発生器を備え、 前記パルス発生器の出力で前記光源をオンにするととも
に前記光スイッチをオンにし、前記パルス発生器の出力
で前記光源をオフにしてから前記光スイッチをオフにす
るまでの時間を制御することを特徴とする光反射減衰量
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21162285A JPS6270727A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 光反射減衰量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21162285A JPS6270727A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 光反射減衰量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6270727A true JPS6270727A (ja) | 1987-04-01 |
Family
ID=16608816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21162285A Pending JPS6270727A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 光反射減衰量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6270727A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS645142U (ja) * | 1987-06-25 | 1989-01-12 | ||
| CN102486434A (zh) * | 2010-12-27 | 2012-06-06 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | λ/4电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法 |
| CN104697750A (zh) * | 2015-03-16 | 2015-06-10 | 厦门先机光电设备有限公司 | 一种led光源板的测试机 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55152433A (en) * | 1979-05-17 | 1980-11-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Light loss measuring instrument |
| JPS58113831A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | Fujitsu Ltd | 損失分布測定装置 |
-
1985
- 1985-09-25 JP JP21162285A patent/JPS6270727A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55152433A (en) * | 1979-05-17 | 1980-11-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Light loss measuring instrument |
| JPS58113831A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-06 | Fujitsu Ltd | 損失分布測定装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS645142U (ja) * | 1987-06-25 | 1989-01-12 | ||
| CN102486434A (zh) * | 2010-12-27 | 2012-06-06 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | λ/4电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法 |
| CN102486434B (zh) * | 2010-12-27 | 2014-03-12 | 北京国科世纪激光技术有限公司 | λ/4电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法 |
| CN104697750A (zh) * | 2015-03-16 | 2015-06-10 | 厦门先机光电设备有限公司 | 一种led光源板的测试机 |
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