JP2900072B2 - 形状測定方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、たとえばプレスパネルなどのように平面
とこれに連なる他の平面または曲面を有する被測定物の
形状を光切断法によって測定するに際し、２次元撮像手
段で撮像された画像データを処理して上記平面と他の平
面または曲面との変曲点を求める形状測定方法に関す
る。

従来の技術および発明の課題 上記のような被測定物の形状測定においては、平面と
他の平面または曲面との変曲点の検出を必要とすること
が多い。

上記のような被測定物の形状を測定する方法として、
光切断法が検討されているが、光切断法において、上記
のような変曲点を自動的に検出する方法は提案されてい
ない。

このため、従来は、表面粗さ計などを用いて作業者が
目視によって形状を測定しているが、人為的誤差が大き
く、測定に時間がかかるという問題があった。

画像データから変曲点を検出する方法として、１次微
分または２次微分を用いた差分法が考えられるが、この
ような方法では、きずなどによるノイズの影響を受けや
すく、精度の高い測定が困難である。

この発明の目的は、上記の問題を解決し、光切断法を
用いて平面と平面または曲面との変曲点を自動的にかつ
正確に検出できる方法を提供することにある。

課題を解決するための手段 この発明による形状測定方法は、 平面とこれに連なる他の平面または曲面を有する被測
定物の形状を光切断法によって測定するに際し、２次元
撮像手段で撮影された画像データを処理して上記平面と
他の平面または曲面との変曲点を求める方法であって、 上記画像データを平滑化し、この平滑データを２次微
分し、この２次微分データをさらに平滑化し、この平滑
データが所定値以下となる点を上記変曲点とすることを
特徴とするものである。

作用 画像データを平滑化し、この平滑データを２次微分
し、この２次微分データをさらに平滑化し、この平滑デ
ータが所定値以下となる点を変曲点とするので、光切断
法を用いて変曲点を自動的にかつ正確に検出することが
できる。このため、誤差が小さく、測定が容易で、測定
時間も短縮される。

画像データを１次微分すると、１次微分データの変化
は変曲点以外では小さいが、変曲点では大きくなる。こ
のため、画像データを２次微分すると、２次微分データ
は変曲点以外では小さいが、変曲点では大きくなり、こ
れによって変曲点を検出することができる。しかも、画
像データを平滑化してから２次微分し、２次微分データ
をさらに平滑化してから処理しているので、きずなどの
ノイズの影響を受けにくく、精度の高い測定ができる。

実 施 例 以下、図面を参照して、この発明の実施例を説明す
る。

第１図は、被測定物であるプレスパネル（１）および
測定台（２）と、形状測定装置の全体概略構成を示す。

パネル（１）は、互いに直角をなす２つの平面すなわ
ち第１平面（1a）と第２平面（1b）とが1/4部分円筒面
（1c）で繋っているものであり、測定台（２）にのせら
れる。測定台（２）は、上下２段の水平面すなわち上側
の第１水平面（2a）と下側の第２水平面（2b）の間に垂
直な基準面（2c）が形成されたものである。そして、パ
ネル（１）は、第１平面（1a）が水平かつ第１水平面
（2a）と同じ高さになり、かつ第２平面（1b）が基準面
（2c）と平行になるように、第２水平面（2b）上にのせ
られる。

測定装置は、光源（３）、CCDテレビカメラ（２次元
撮像手段）（４）、画像処理装置（５）および演算処理
装置（６）を備えている。

光源（３）は、測定台（２）およびパネル（１）の表
面に真上から第１水平面（2a）および基準面（2c）と直
交するスリット光線を照射するものであり、たとえば半
導体レーザなどが使用される。

テレビカメラ（４）は、光源（３）に面する測定台
（２）およびパネル（１）の表面に当たった光を撮像す
るためのものである。

画像処理装置（５）は、テレビカメラ（４）の映像信
号を処理して、後述する画像データを演算装置に出力す
るものである。

演算処理装置（６）は、画像処理装置（５）の出力よ
りパネル（１）の形状を求めるものであり、コンピュー
タによって構成されている。

第２図は、テレビカメラ（４）で撮像されたテレビ画
像の１例を示す。なお、テレビ画像について、第２図の
上下左右を上下左右とする。

テレビ画像は水平走査線（Ａ）と所定の基準クロック
パルスによって複数の点に等分され、各点は、次のよう
に、Ｙ軸とＺ軸を用いて表わされる。すなわち、テレビ
画像の中央の左右方向の軸をＹ軸、上下方向の軸をＺ軸
とし、これらの交点を原点（０）とする。したがって、
水平走査線方向すなわち水平走査方向がＺ軸方向、これ
と直交する垂直走査方向がＹ軸方向となる。また、テレ
ビ画像の右側がＹ軸の正方向、左側が負方向であり、テ
レビ画像の下側がＺ軸の正方向、上側が負方向である。
そして、各点の座標値は、パネル（１）の実際の寸法
（mm）を100倍した整数値で表わされる。テレビ画像と
これに写っているパネルの部分の実際の寸法との関係
は、パネル（１）とテレビカメラ（４）との相対位置関
係によって決まる。今、テレビ画面の左右幅がパネル
（１）の実際の寸法30mmに、テレビ画面の上下幅がパネ
ル（１）の実際の寸法20mmにそれぞれ相当するとすれ
ば、テレビ画像の原点（０）のＹ座標値およびＺ座標値
はともに０、右端のＹ座標値は＋1500（＋15mm）、左端
のＹ座標値は−1500（−15mm）、下端のＺ座標値は＋10
00（＋10mm）、上端のＺ座標値は−1000（−10mm）であ
る。

各水平走査線のＹ座標値は、変数Ｙ［ｉ］に格納され
る。ここで、ｉは水平走査線（Ａ）の番号（走査線番
号）である。水平走査線（Ａ）の数はたとえば484本で
あり、右端のものを０として、順に番号を付している。
すなわち、右端の水平走査線（Ａ）の番号ｉは０、左端
の水平走査線（Ａ）の番号ｉは483である。

通常、テレビ画像の左端にはパネル（１）に当たった
光の部分（H1）、右側には測定台（２）に当たった光の
部分（H2）がそれぞれ表わされる。なお、前者を第１光
部分、後者を第２光部分と呼ぶことにする。

第１光部分（H1）は、第１平面（1a）に当たった光の
部分に対応する第１直線部（L1）と、円筒面（1c）に当
たった光の部分に対応する曲線部（C1）とからなる。第
１直線部（L1）の左端を第１始点（S1）、曲線部（C1）
の右端を第１終点（E1）、第１直線部（L1）から曲線部
（C1）に移る点（変曲点）をＲ始点（RS）と呼ぶことに
する。パネル（１）に当たった光をテレビカメラ（４）
で撮像した場合、反射率の関係などより、円筒面（1c）
の第１平面（1a）側の一部しか写らない。したがって、
Ｒ始点（RS）は、第１平面（1a）から円筒面（1c）に移
る点すなわち実際の円筒面（1c）の始点と一致するが、
第１終点（E1）は、円筒面（1c）から第２平面（1b）に
移る点すなわち実際の円筒面（1c）の終点（Ｒ終点）
（RE）とは一致しない。

第２光部分（H2）は、第２図（ａ）のように表われる
場合と、同図（ｂ）のように表われる場合とがある。第
２図（ａ）の場合、第２光部分（H2）は、第１水平面
（2a）に当たった光の部分に対応する第２直線部（L2）
と、基準面（2c）に当たった光の部分に対応する第３直
線部（L3）とからなる。この場合、第２直線部（L2）の
右端を第２始点（S2）、第３直線部（L3）の左端を第２
終点（E2）、第２直線部（L2）から第３直線部（L3）に
移る点（変曲点）を折点（F2）と呼ぶことにする第２図
（ｂ）の場合、第２光部分（H2）は、第１水平面（2a）
に当たった光の部分に対応する第２直線部（L2）だけか
らなる。この場合、第２直線部（L2）の右端が第２始点
（S2）、左端が第２終点（E2）であると同時に折点（F
2）となる。

画像処理装置（５）は、上記のように等分した複数の
点に対応する映像信号を輝度情報に変換し、光部分（H
1）（H2）のある水平走査線（Ａ）についてのみ、次の
ような画像データｉ、Ｙ［ｉ］、Ｚ［ｉ］およびＬ
［ｉ］を使って演算処理装置（６）に出力する。ｉは、
光部分（H1）（H2）のある水平走査線（Ａ）の走査線番
号である。Ｙ［ｉ］は、光部分（H1）（H2）のある水平
走査線（Ａ）のＹ座標値である。Ｚ［ｉ］は、このｉ番
目の水平走査線ｉ上の光部分（H1）（H2）のＺ座標値で
ある。Ｌ［ｉ］は、このｉ番目の水平走査線ｉ上の光部
分（H1）（H2）の輝度すなわち光の強度である。なお、
このような画像データのうち、第１光部分（H1）に対応
するものを第１データ、第２光部分（H2）に対応するも
のを第２データと呼ぶことにする。なお、このような機
能を有する画像処理装置（５）として、市販品を使用す
ることができる。

次に、第３図のフローチャートを参照して、測定時の
演算処理装置（６）の動作の１例の概略を説明する。

この測定は、曲線部（C1）の画像データから円筒面
（1c）の終点（Ｒ終点）（RE）を検出して、第２平面
（1b）の位置を求め、これと基準面（2c）との間隔を求
めるものである。なお、前述のように、第１光部分（H
1）の曲線部（C1）には、円筒面（1c）に当たった光の
一部しか写っていない。このため、上記の測定において
は、曲線部（C1）の画像データより、回帰曲線を用いて
円筒面（1c）の形状を推定し、これによってＲ終点（R
E）を検出している。

第３図において、まず、画像処理装置（５）からデー
タを読込み（ステップ１）、データの再配置を行なう
（ステップ２）。次に、第２始点（S2）、第２終点（E
2）、第１始点（S1）および第１終点（E1）の検出を行
なう（ステップ３）。次に、折点（F2）の延出を行ない
（ステップ４）、Ｒ始点（RS）の検出を行なう（ステッ
プ５）。次に、回帰関数の決定を行ない（ステップ
６）、Ｒ終点（RE）を決定する（ステップ７）。そし
て、最後に、第２平面（1b）と基準面（2c）の間隔を計
算し（ステップ８）、処理を終了する。

前述のように、画像処理装置から得られるデータは、
光部分（H1）（H2）のある水平走査線番号ｉについての
Ｙ［ｉ］、Ｚ［ｉ］、Ｌ［ｉ］のみである。このため、
ステップ２のデータ再配置により、光部分の存在しない
走査線番号ｉに関して、Ｙ［ｉ］、Ｚ［ｉ］およびＬ
［ｉ］を次のようにセットする。

Ｚ［ｉ］＝1000 Ｙ［ｉ］＝Ｌ［ｉ］＝０ ステップ３のS2、E2、S1、E1の検出は、走査線番号ｉ
を変化させて画像データを調べることにより行なうこと
ができる。

第４図は、第３図のステップ４の第２データの折点
（F2）検出の処理の１例を示す。

第４図において、まず、第２データの平滑化を行なう
（ステップ410）。この処理はｉをE2（第２終点）からS
2（第２始点）＋４まで走査して、平滑データＳ［ｉ］
を求めるものであり、その詳細が第５図に示されてい
る。

第５図において、まず、ｉにE2をセットし（ステップ
411）、次の式により平滑データＳ［ｉ］を演算する
（ステップ412）。

Ｓ［ｉ］＝（Ｚ［ｉ］＋Ｚ［ｉ−１］＋Ｚ［ｉ−２］ ＋Ｚ［ｉ−３］＋Ｚ［ｉ−４］）/5 次に、ｉがS2＋４より大きいかどうかを調べ（ステッ
プ413）、大きければ、ｉを１減少させて（ステップ41
4）、ステップ412に戻り、ｉ＞S2＋４でなくなるまでス
テップ412、413および414を繰返す。ステップ413におい
てｉ＞S2＋４でなくなると、処理を終了する。

第４図において、ステップ410の第２データの平滑化
が終了すると、平滑データＳ［ｉ］の１次微分を行なう
（ステップ420）。この処理はｉをE2からS2＋９まで走
査し、平滑データＳ［ｉ］を微分した１次微分データD1
［ｉ］を求めるものであり、その詳細が第６図に示され
ている。

第６図において、まず、ｉにE2をセットし（ステップ
421）、次の式により１次微分データD1［ｉ］を演算す
る（ステップ422）。

D1［ｉ］＝Ｓ［ｉ−５］−Ｓ［ｉ］ 次に、ｉがS2＋９より大きいかどうかを調べ（ステッ
プ423）、大きければ、ｉを１減少させて（ステップ42
4）、ステップ422に戻り、ｉ＞S2＋９でなくなるまでス
テップ422、423および424を繰返す。ステップ423におい
てｉ＞S2＋９でなくなると、処理を終了する。

第４図において、ステップ420の平滑データＳ［ｉ］
の１次微分が終了すると、２次微分を行なう（ステップ
430）。この処理はｉをE2からS2＋14まで走査し、１次
微分データD1［ｉ］を微分した２次微分データD2［ｉ］
を求めるものであり、その詳細が第７図に示されてい
る。

第７図において、まず、ｉにE2をセットし（ステップ
431）、次の式により２次微分データD2［ｉ］を演算す
る（ステップ432）。

D2［ｉ］＝D1［ｉ−５］−D1［ｉ］ 次に、ｉがS2＋14より大きいかどうかを調べ（ステッ
プ433）、大きければ、ｉを１減少させて（ステップ43
4）、ステップ432に戻り、ｉ＞S2＋14でなくなるまでス
テップ432、433および434を繰返す。ステップ433におい
てｉ＞S2＋14でなくなると、処理を終了する。

第４図において、ステップ430の２次微分が終了する
と、２次微分データの平滑化を行なう（ステップ44
0）。この処理はｉをE2−２からS2＋16まで走査し、２
次微分データD2［ｉ］を平滑化した平滑データＳ［ｉ］
を求めるものであり、その詳細が第８図に示されてい
る。

第８図において、まず、ｉにE2−２をセットし（ステ
ップ441）、次の式により平滑データＳ［ｉ］を演算す
る（ステップ442）。

Ｓ［ｉ］＝（D2［ｉ＋２］＋D2［ｉ＋１］＋D2［ｉ］ ＋D2［ｉ−１］＋D2［ｉ−２］）/5 次に、ｉがS2＋16より大きいかどうかを調べ（ステッ
プ433）、大きければ、ｉを１減少させて（ステップ44
4）、ステップ442に戻り、ｉ＞S2＋16でなくなるまでス
テップ442、443および444を繰返す。そして、ステップ4
43においてｉ＞S2＋16でなくなると、処理を終了する。

第４図において、ステップ440の平滑化が終了する
と、折点F2の決定を行ない（ステップ450）、処理を終
了する。この処理の概要は、次のとおりである。

ｉとＳ［ｉ］の関係は、第９図のようになる。まず、
ｉをE2−２からS2−16へ走査し、Ｓ［ｉ］が初めてしき
い値（たとえば９）以上となる点Psがあれば、その点か
ら初めてＳ［ｉ］が０以下になる点を求め、この点のｉ
より１大きい値（ｉ＋１）を折点F2とする。E2−２から
S2＋16までの間にPsがない場合は、E2をF2とする。

Psが存在する場合のノイズ対策の第１として、Ps−１
からF2までの間に所定値（たとえば８）以上のＳ［ｉ］
が１つ以上なければ、Psが存在しないとして、E2をF2と
する。また、第２として、Ｓ［ｉ］≦０でF2を決定する
際、第10図に示すように、Ｓ［ｉ］が０以下になったの
ちに再び正の値であれば、次にＳ［ｉ］が０以下になる
点によってF2を決定する。さらに、第３として、F2での
平滑化データＳ［F2］が１で、F2＋１での平滑化データ
Ｓ［F2＋１］も１の場合、F2はノイズとして、F2＋１を
新しいF2とする。この操作は、Ｓ［ｉ］≠１となるまで
行なう。

ステップ450の折点F2の決定の処理の詳細が、第11図
に示されている。

第11図において、まず、ｉにE2−２をセットする（ス
テップ451）。次に、Ｓ［ｉ］が９以上であるかどうか
を調べ（ステップ452）、そうでなければ、ｉがS2＋16
より大きいかどうかを調べる（ステップ453）。ｉ＞S2
＋16であれば、ｉを１減少させ（ステップ454）、ステ
ップ452に戻る。ステップ453においてｉ＞S2＋16でなけ
れば、E2をF2とし（ステップ455）、処理を終了する。
ステップ453でｉ＞S2＋16でないのは、E2−２からS2＋1
6までの間にPsがない場合であり、ステップ455において
E2をF2とする。

ステップ452においてＳ［ｉ］≧９になったならば、
そのときのｉをPsとする（ステップ456）。次に、ｉを
１減少させて（ステップ457）、Ｓ［ｉ］が以下である
かどうかを調べ（ステップ458）、そうでなければ、ス
テップ457に戻る。そして、ステップ458においてＳ
［ｉ］≦０になると、そのときのｉより１大きい値（ｉ
＋１）をF2とする（ステップ459）。

上記のようにしてPsおよびF2が求まると、ｉにPs−１
をセットして（ステップ460）、Ｓ［ｉ］が８以上であ
るかどうかを調べ（ステップ461）、そうでなければ、
ｉがF2より大きいかどうかを調べ（ステップ462）、そ
うであれば、ｉを１減少させて（ステップ463）、ステ
ップ461に戻る。ステップ462においてｉ＞F2でなけれ
ば、ステップ455に進む。ステップ461においてＳ［ｉ］
≧８であれば、次のステップ464に進む。ステップ460、
461、462および463は、ノイズ対策の第１の処理であ
る。ステップ462においてｉ＞F2でなくなるのは、Ps−
１からF2までの間に８以上のＳ［ｉ］がない場合であ
り、この場合は、前述のように、ステップ455に進ん
で、E2をF2とする。

ステップ464では、Ｓ［F2−２］が０より大きいかど
うかを調べ、そうでなければ、処理を終了する。ステッ
プ464においてＳ［F2−２］＞０であれば、F2−３をｉ
にセットする（ステップ465）。次に、Ｓ［ｉ］が０以
上であるかどうかを調べ（ステップ466）、そうでなけ
れば、ｉがPs＋16より大きいかどうかを調べ（ステップ
467）、そうであれば、ｉを１減少させて（ステップ46
8）、ステップ466に戻る。ステップ466においてＳ
［ｉ］≦０であれば、そのときのｉより１大きい値（ｉ
＋１）をF2とし（ステップ469）、次のステップ470に進
む。ステップ464、465、466、467、468および469は、ノ
イズ対策の第２の処理である。

ステップ470では、Ｓ［F2］およびＳ［F2＋１］がと
もに１であるかどうかを調べ、そうでなければ、処理を
終了する。ステップ470においてＳ［F2］＝Ｓ［F2＋
１］＝１であれば、ｉにF2をセットする（ステップ47
1）。次に、Ｓ［ｉ］が１でないかどうかを調べ（ステ
ップ472）、１であれば、ｉを１減少させ（ステップ47
3）、ステップ472に戻る。ステップ472においてＳ
［ｉ］が１でなければ、そのときのｉをF2として（ステ
ップ474）、処理を終了する。ステップ470、471、472、
473および474は、ノイズ対策の第３の処理である。

次に、第３図のステップ５の第１データのＲ始点RSの
検出は、ｉの走査方向が逆になるだけで、第２データの
折点F2の検出と同様である。これを簡単に説明すると、
次のようになる。

まず、第１データの平滑化を行ない、平滑データＳ
［ｉ］の１次微分および２次微分を行ない、２次微分デ
ータの平滑化を行ない、最後にＲ始点（RS）の決定を行
なう。

第１データの平滑化は、ｉをE1（第１終点）からS1
（第１始点）−４まで走査し、次の式により、平滑デー
タＳ［ｉ］を求めるものである。

Ｓ［ｉ］＝（Ｚ［ｉ］＋Ｚ［ｉ＋１］＋Ｚ［ｉ＋２］ ＋Ｚ［ｉ＋３］＋Ｚ［ｉ＋４］）/5 平滑データＳ［ｉ］の１次微分は、ｉをE1からS1−９
まで走査し、次の式により、平滑データＳ［ｉ］を微分
した１次微分データD1［ｉ］を求めるものである。

D1［ｉ］＝Ｓ［ｉ＋５］−Ｓ［ｉ］ 平滑データＳ［ｉ］の２次微分は、ｉをE1からS1−14
まで走査し、次の式により、１次微分データD1［ｉ］を
微分した２次微分データD2［ｉ］を求めるものである。

D2［ｉ］＝D1［ｉ＋５］−D1［ｉ］ ２次微分データの平滑化は、ｉをE1＋２からS1−16ま
で走査し、次の式により、２次微分データD2［ｉ］を平
滑化した平滑データＳ［ｉ］を求めるものである。

Ｓ［ｉ］＝（D2［ｉ＋２］＋D2［ｉ＋１］＋D2［ｉ］ ＋D2［ｉ−１］＋D2［ｉ−２］）/5 RSの決定は、F2の決定とほぼ同じである。

第３図のステップ６の回帰関数決定の処理は、第１光
部分（H1）の曲線部（C1）を推定するための回帰関数た
とえばＺ＝ae^bYの係数ａおよびｂを最小２乗法によって
決定するものであり、たとえば、第１光部分（H1）の第
１直線部（L1）がＹ軸と平行になるように画像データの
座標変換（回転変換）を行なったのち、Ｒ始点（RS）が
Ｚ軸と一致するように画像データの座標変換（平行移
動）を行ない、Ｒ始点（RS）のＺ座標値を順に変えて、
仮に求めた回帰関数と画像データとの誤差の２乗の重み
付き積分値が最小になるようにａおよびｂを決定する。

第３図のステップ７のＲ終点（RE）の決定処理は、た
とえば、次のようにして行われる。

上記のようにして回帰関数である指数関数Ｚ＝ae^bYが
決まると、これを用い、Ｒ始点（RS）からＺ座標値を少
しずつ変えながら、指数関数上のＹ座標値を計算し、こ
のＹ座標値の１次微分値が所定のしきい値Ｔより小さく
なった点をＲ終点（RE）とする。また、逆に、指数関数
Ｚ＝ae^bYを用い、Ｒ始点（RS）からＹ座標値を少しずつ
変えながら、指数関数上のＺ座標値を決算し、このＺ座
標値の１次微分値が所定のしきい値Ｔより大きくなった
点をＲ終点（RE）とすることもできる。

このようにして求められたＲ終点（RE）はパネル
（１）の円筒面（1c）と第２平面（1b）との境界に合致
しており、Ｒ終点（RE）のＹ座標値は第２平面（1b）の
Ｙ座標値と一致している。また、先に求められている折
点（F2）は測定値（２）の第１水平面（2a）と基準面
（2c）との境界と合致しており、折点（F2）のＹ座標値
は基準面（2c）のＹ座標値と一致ている。したがって、
Ｒ終点（RE）のＹ座標値と折点（F2）のＹ座標値との差
が、パネル（１）の第２平面（1b）と基準面（2c）との
間隔を表わしている。第３図のステップ８では、このよ
うにＲ終点（RE）のＹ座標値と折点（F2）のＹ座標値と
の差を演算することにより、パネル（１）の第２平面
（1b）と基準面（2c）との間隔を求めている。

パネル（１）および測定台（２）とテレビカメラ
（４）との相対位置関係により、テレビ画像が第２図と
異なるものになることがある。ところが、このような場
合でも、上記とほぼ同様に画像データを処理して、測定
を行うことができる。また、画像データに適当な座標変
換を施すことにより、第２図のように画像データに変換
して、処理することもできる。

発明の効果 この発明の形状測定方法によれば、上述のように、光
切断法を用いて平面と他の平面または曲面との変曲点を
自動的にかつ正確に検出することができ、誤差が小さ
く、測定が容易で、測定時間も短縮される。しかも、き
ずなどのノイズの影響を受けにくく、精度の高い速度が
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示す被測定物と形状測定装
置の概略斜視図、第２図はテレビ画像の１例を示す図、
第３図は形状測定の処理の１例を示すフローチャート、
第４図は第３図の第２データの折点検出処理の１例を示
すフローチャート、第５図は第４図の平滑データ演算の
処理の１例を示すフローチャート、第６図は第４図の１
次微分データ演算の処理の１例を示すフローチャート、
第７図は第４図の２次微分データ演算の処理の１例を示
すフローチャート、第８図は第４図の平滑データ演算の
処理の１例を示すフローチャート、第９図は走査線番号
と平滑データの関係の１例を示すグラフ、第10図は走査
線番号と平滑データの関係の他の１例を示すグラフ、第
11図は第４図の折点決定の処理の１例を示フローチャー
トである。 （１）……プレスパネル（被測定物）、（1a）（1b）…
…平面、（1c）……部分円筒面、（２）……測定台、
（2a）（2b）……水平面、（2c）……基準面、（３）…
…光源、（４）……CCDテレビカメラ（２次元撮像手
段）、（５）……画像処理装置、（６）……演算処理装
置。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】平面とこれに連なる他の平面または曲面を
   有する被測定物の形状を光切断法によって測定するに際
   し、２次元撮像手段で撮影された画像データを処理して
   上記平面と他の平面または曲面との変曲点を求める方法
   であって、 上記画像データを平滑化し、この平滑データを２次微分
   し、この２次微分データをさらに平滑化し、この平滑デ
   ータが所定値以下となる点を上記変曲点とすることを特
   徴とする形状測定方法。