JP2879355B2 - 形状測定方法 - Google Patents
形状測定方法Info
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- JP2879355B2 JP2879355B2 JP15355390A JP15355390A JP2879355B2 JP 2879355 B2 JP2879355 B2 JP 2879355B2 JP 15355390 A JP15355390 A JP 15355390A JP 15355390 A JP15355390 A JP 15355390A JP 2879355 B2 JP2879355 B2 JP 2879355B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、たとえばプレスパネルなどのように平面
とこれに連なる曲面を有する被測定物の形状を光切断法
によって測定するに際し、2次元撮像手段で撮像された
画像データを処理して上記平面と曲面との変曲点を求め
る形状測定方法に関する。
とこれに連なる曲面を有する被測定物の形状を光切断法
によって測定するに際し、2次元撮像手段で撮像された
画像データを処理して上記平面と曲面との変曲点を求め
る形状測定方法に関する。
従来の技術および発明の課題 上記のような被測定物の形状測定においては、平面と
曲面との変曲点の検出を必要とすることが多い。
曲面との変曲点の検出を必要とすることが多い。
上記のような被測定物の形状を測定する方法として、
光切断法が検討されているが、光切断法において、上記
のような変曲点を自動的に検出する方法は提案されてい
ない。
光切断法が検討されているが、光切断法において、上記
のような変曲点を自動的に検出する方法は提案されてい
ない。
このため、従来は、表面粗さ計などを用いて作業者が
目視によって形状を測定しているが、人為的誤差が大き
く、測定に時間がかかるという問題があった。
目視によって形状を測定しているが、人為的誤差が大き
く、測定に時間がかかるという問題があった。
画像データから変曲点を検出する方法として、1次微
分または2次微分を用いた差分法が考えられるが、この
ような方法では、きずなどによるノイズの影響を受けや
すく、精度の高い測定が困難である。
分または2次微分を用いた差分法が考えられるが、この
ような方法では、きずなどによるノイズの影響を受けや
すく、精度の高い測定が困難である。
この発明の目的は、上記の問題を解決し、光切断法を
用いて平面と曲面との変曲点を自動的にかつ正確に検出
できる方法を提供することにある。
用いて平面と曲面との変曲点を自動的にかつ正確に検出
できる方法を提供することにある。
課題を解決するための手段 この発明による形状測定方法は、 平面とこれに連なる曲面を有する被測定物の形状を光
切断法によって測定するに際し、2次元撮像手段で撮像
された画像データを処理して上記平面と曲面との変曲点
を求める方法であって、 互いに直交する第1座標軸と第2座標軸を用いて、被
測定物の平面に当たった光部分の直線部が第1座標軸と
平行になるように、上記画像データを表わし、この光部
分の直線部の端点と被測定物の曲面に当たった光部分の
曲線部の端点を検出し、画像データの第2座標軸方向の
座標値を平滑化し、この平滑データを光部分の直線部側
から走査して、平滑データの微分値が所定値以上となる
点を第1仮変曲点とし、この第1仮変曲点と光部分の曲
線部の端点の間の第1座標軸方向の座標値の差と第2座
標軸方向の座標値の差との比が所定の範囲に入るまで第
1仮変曲点を求め、この比が所定の範囲に入る第1仮変
曲点を仮変曲点とし、画像データを光部分の直線部側か
ら走査して、画像データの第2座標軸方向の座標値の微
分値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし、この第
2仮変曲点と仮変曲点の座標の差が所定値以下となるま
で第2仮変曲点を求め、この差が所定値以下となる第2
仮変曲点を上記変曲点とすることを特徴とするものであ
る。
切断法によって測定するに際し、2次元撮像手段で撮像
された画像データを処理して上記平面と曲面との変曲点
を求める方法であって、 互いに直交する第1座標軸と第2座標軸を用いて、被
測定物の平面に当たった光部分の直線部が第1座標軸と
平行になるように、上記画像データを表わし、この光部
分の直線部の端点と被測定物の曲面に当たった光部分の
曲線部の端点を検出し、画像データの第2座標軸方向の
座標値を平滑化し、この平滑データを光部分の直線部側
から走査して、平滑データの微分値が所定値以上となる
点を第1仮変曲点とし、この第1仮変曲点と光部分の曲
線部の端点の間の第1座標軸方向の座標値の差と第2座
標軸方向の座標値の差との比が所定の範囲に入るまで第
1仮変曲点を求め、この比が所定の範囲に入る第1仮変
曲点を仮変曲点とし、画像データを光部分の直線部側か
ら走査して、画像データの第2座標軸方向の座標値の微
分値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし、この第
2仮変曲点と仮変曲点の座標の差が所定値以下となるま
で第2仮変曲点を求め、この差が所定値以下となる第2
仮変曲点を上記変曲点とすることを特徴とするものであ
る。
作用 光切断法において、平面とこれに連なる曲面を有する
被測定物を2次元撮像手段で撮像すると、第4図のよう
な画像が得られる。この画像は被測定物の表面に当たっ
た光の部分(光部分)(H1)を表わしており、直線部
(L1)が平面の光部分、曲線部(C1)が曲面の光部分を
表わしており、直線部(L1)と曲線部(C1)との変曲点
(RS)が平面と曲面の変曲点に対応している。
被測定物を2次元撮像手段で撮像すると、第4図のよう
な画像が得られる。この画像は被測定物の表面に当たっ
た光の部分(光部分)(H1)を表わしており、直線部
(L1)が平面の光部分、曲線部(C1)が曲面の光部分を
表わしており、直線部(L1)と曲線部(C1)との変曲点
(RS)が平面と曲面の変曲点に対応している。
この発明の方法においては、第4図のように、互いに
直交するY軸(第1座標軸)とZ軸(第2座標軸)を用
いて、直線部(L1)がY軸と平行になるように、画像デ
ータを表わす。そして、直線部(L1)の端点(S1)と曲
線部(C1)の端点(E1)を検出し、画像データのZ座標
値を平滑化し、この平滑データを直線部(L1)側から走
査して、平滑データの微分値が所定値以上となる点を第
1仮変曲点とし、この第1仮変曲点と曲線部の端点(E
1)の間のY座標値の差とZ座標値の差との比が所定の
範囲に入るまで第1仮変曲点を求め、この比が所定の範
囲に入る第1仮変曲点を仮変曲点とし、画像データを直
線部(L1)側から走査して、画像データのZ座標値の微
分値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし、この第
2仮変曲点と仮変曲点の座標の差が所定値以下となるま
で第2仮変曲点を求め、この差が所定値以下となる第2
仮変曲点を変曲点(RS)とする。このため、次に説明す
るように、光切断法を用いて変曲点を自動的にかつ正確
に検出することができ、したがって、誤差が小さく、測
定が容易で、測定時間も短縮される。
直交するY軸(第1座標軸)とZ軸(第2座標軸)を用
いて、直線部(L1)がY軸と平行になるように、画像デ
ータを表わす。そして、直線部(L1)の端点(S1)と曲
線部(C1)の端点(E1)を検出し、画像データのZ座標
値を平滑化し、この平滑データを直線部(L1)側から走
査して、平滑データの微分値が所定値以上となる点を第
1仮変曲点とし、この第1仮変曲点と曲線部の端点(E
1)の間のY座標値の差とZ座標値の差との比が所定の
範囲に入るまで第1仮変曲点を求め、この比が所定の範
囲に入る第1仮変曲点を仮変曲点とし、画像データを直
線部(L1)側から走査して、画像データのZ座標値の微
分値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし、この第
2仮変曲点と仮変曲点の座標の差が所定値以下となるま
で第2仮変曲点を求め、この差が所定値以下となる第2
仮変曲点を変曲点(RS)とする。このため、次に説明す
るように、光切断法を用いて変曲点を自動的にかつ正確
に検出することができ、したがって、誤差が小さく、測
定が容易で、測定時間も短縮される。
画像データのZ座標値を平滑化し、この平滑データを
直線部(L1)側から走査して微分すると、微分値は変曲
点に達するまでは小さいが、変曲点では大きくなる。ま
た、画像データを平滑化してから微分しているので、単
に画像データを微分する場合に比べて、ノイズの影響を
受けにくい。このため、平滑データの微分値が所定値以
上となる点を第1仮変曲点とすれば、通常は、この第1
仮変曲点は真の変曲点(RS)の近傍の点になる。
直線部(L1)側から走査して微分すると、微分値は変曲
点に達するまでは小さいが、変曲点では大きくなる。ま
た、画像データを平滑化してから微分しているので、単
に画像データを微分する場合に比べて、ノイズの影響を
受けにくい。このため、平滑データの微分値が所定値以
上となる点を第1仮変曲点とすれば、通常は、この第1
仮変曲点は真の変曲点(RS)の近傍の点になる。
上記のように平滑データの微分値の大小を調べても、
ノイズの影響により、真の変曲点(RS)から離れた点を
第1仮変曲点として検出することがある。ところが、こ
のような場合でも、第1仮変曲点と曲線部(C1)の端点
(E1)の間のY座標値の差ΔYとZ座標値の差ΔZとの
比ΔY/ΔZを調べることにより、次のように、真の変曲
点(RS)から離れた第1仮変曲点を仮変曲点とせずに、
真の変曲点(RS)の近傍の第1仮変曲点だけを仮変曲点
として検出することができる。
ノイズの影響により、真の変曲点(RS)から離れた点を
第1仮変曲点として検出することがある。ところが、こ
のような場合でも、第1仮変曲点と曲線部(C1)の端点
(E1)の間のY座標値の差ΔYとZ座標値の差ΔZとの
比ΔY/ΔZを調べることにより、次のように、真の変曲
点(RS)から離れた第1仮変曲点を仮変曲点とせずに、
真の変曲点(RS)の近傍の第1仮変曲点だけを仮変曲点
として検出することができる。
すなわち、変曲点(RS)と端点(E1)との位置関係は
被測定物によって決まっており、ほぼ一定であるから、
変曲点(RS)についての比ΔY/ΔZもほぼ一定である。
この変曲点(RS)についての比ΔY/ΔZを含む一定の範
囲を定めれば、変曲点(RS)の近傍の第1仮変曲点(P
o)については比ΔY/ΔZが上記の範囲に入るが、変曲
点(RS)から離れた第1仮変曲点(P1)(P2)について
は比ΔY/ΔZが上記の範囲を外れる。したがって、比Δ
Y/ΔZが上記の範囲を外れたときにはその第1仮変曲点
を仮変曲点とはせずに、次の第1仮変曲点を求め、比Δ
Y/ΔZが上記の範囲に入ったときの第1仮変曲点を仮変
曲点とすることにより、真の変曲点(RS)の近傍の第1
仮変曲点(Po)だけを仮変曲点として検出することがで
きる。
被測定物によって決まっており、ほぼ一定であるから、
変曲点(RS)についての比ΔY/ΔZもほぼ一定である。
この変曲点(RS)についての比ΔY/ΔZを含む一定の範
囲を定めれば、変曲点(RS)の近傍の第1仮変曲点(P
o)については比ΔY/ΔZが上記の範囲に入るが、変曲
点(RS)から離れた第1仮変曲点(P1)(P2)について
は比ΔY/ΔZが上記の範囲を外れる。したがって、比Δ
Y/ΔZが上記の範囲を外れたときにはその第1仮変曲点
を仮変曲点とはせずに、次の第1仮変曲点を求め、比Δ
Y/ΔZが上記の範囲に入ったときの第1仮変曲点を仮変
曲点とすることにより、真の変曲点(RS)の近傍の第1
仮変曲点(Po)だけを仮変曲点として検出することがで
きる。
上記のようにして求めた仮変曲点は、平滑化によりデ
ータがなまっているので、必ずしも真の変曲点(RS)と
一致しないが、真の変曲点(RS)は仮変曲点の近傍に存
在する。そして、画像データのZ座標値をそのまま微分
した微分値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし
て、仮変曲点との座標の差が所定値以下となる第2仮変
曲点を変曲点とするので、ノイズの影響を受けずに、真
の変曲点(RS)を正確に検出することができる。
ータがなまっているので、必ずしも真の変曲点(RS)と
一致しないが、真の変曲点(RS)は仮変曲点の近傍に存
在する。そして、画像データのZ座標値をそのまま微分
した微分値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし
て、仮変曲点との座標の差が所定値以下となる第2仮変
曲点を変曲点とするので、ノイズの影響を受けずに、真
の変曲点(RS)を正確に検出することができる。
実 施 例 以下、図面を参照して、この発明の実施例を説明す
る。
る。
第1図は、被測定物をであるプレスパネル(1)と、
形状測定装置の全体概略構成を示す。
形状測定装置の全体概略構成を示す。
パネル(1)は、互いに直角をなす2つの平面すなわ
ち第1平面(1a)と第2平面(1b)とが1/4部分円筒面
(1c)で繋っているものであり、測定時には、第1平面
(1a)が水平になり、かつ第2平面(1b)が下向きに垂
直になるように配置される。
ち第1平面(1a)と第2平面(1b)とが1/4部分円筒面
(1c)で繋っているものであり、測定時には、第1平面
(1a)が水平になり、かつ第2平面(1b)が下向きに垂
直になるように配置される。
測定装置は、光源(3)、CCDテレビカメラ(2次元
撮像手段)(4)、画像処理装置(5)および演算処理
装置(6)を備えている。
撮像手段)(4)、画像処理装置(5)および演算処理
装置(6)を備えている。
光源(3)は、パネル(1)の表面の真上から第1平
面(1a)および第2平面(1b)と直交するスリット光線
を照射するものであり、たとえば半導体レーザなどが使
用される。
面(1a)および第2平面(1b)と直交するスリット光線
を照射するものであり、たとえば半導体レーザなどが使
用される。
テレビカメラ(4)は、光源(3)に面するパネル
(1)の表面に当たった光を撮像するためのものであ
る。
(1)の表面に当たった光を撮像するためのものであ
る。
画像処理装置(5)は、テレビカメラ(4)の映像信
号を処理して、後述する画像データを演算装置に出力す
るものである。
号を処理して、後述する画像データを演算装置に出力す
るものである。
演算処理装置(6)は、画像処理装置(5)の出力よ
りパネル(1)の形状を求めるものであり、コンピュー
タによって構成されている。
りパネル(1)の形状を求めるものであり、コンピュー
タによって構成されている。
第2図は、テレビカメラ(4)で撮像されたテレビ画
像の1例を示す。なお、テレビ画像について、第2図の
上下左右を上下左右とする。
像の1例を示す。なお、テレビ画像について、第2図の
上下左右を上下左右とする。
テレビ画像は水平走査線(A)と所定の基準クロック
パルスによって複数の点に等分され、各点は、次のよう
に、Y軸とZ軸を用いて表わされる。すなわち、テレビ
画像の中央の左右方向の軸をY軸、上下方向の軸をZ軸
とし、これらの交点を原点(0)とする。したがって、
水平走査線方向すなわち水平走査方向がZ軸方向、これ
と直交する垂直走査方向がY軸方向となる。また、テレ
ビ画像の右側がY軸の正方向、左側が負方向であり、テ
レビ画像の下側がZ軸の正方向、上側が負方向である。
そして、各点の座標値は、パネル(1)の実際の寸法
(mm)を100倍した整数値で表わされる。テレビ画像と
これに写っているパネルの部分の実際の寸法との関係
は、パネル(1)とテレビカメラ(4)との相対位置関
係によって決まる。今、テレビ画面の左右幅がパネル
(1)の実際の寸法30mmに、テレビ画面の上下幅がパネ
ル(1)の実際の寸法20mmにそれぞれ相当するとすれ
ば、テレビ画像の原点(0)のY座標値およびZ座標値
はともに0、右端のY座標値は+1500(+15mm)、左端
のY座標値は−1500(−15mm)、下端のZ座標値は+10
00(+10mm)、上端のZ座標値は−1000(−10mm)であ
る。
パルスによって複数の点に等分され、各点は、次のよう
に、Y軸とZ軸を用いて表わされる。すなわち、テレビ
画像の中央の左右方向の軸をY軸、上下方向の軸をZ軸
とし、これらの交点を原点(0)とする。したがって、
水平走査線方向すなわち水平走査方向がZ軸方向、これ
と直交する垂直走査方向がY軸方向となる。また、テレ
ビ画像の右側がY軸の正方向、左側が負方向であり、テ
レビ画像の下側がZ軸の正方向、上側が負方向である。
そして、各点の座標値は、パネル(1)の実際の寸法
(mm)を100倍した整数値で表わされる。テレビ画像と
これに写っているパネルの部分の実際の寸法との関係
は、パネル(1)とテレビカメラ(4)との相対位置関
係によって決まる。今、テレビ画面の左右幅がパネル
(1)の実際の寸法30mmに、テレビ画面の上下幅がパネ
ル(1)の実際の寸法20mmにそれぞれ相当するとすれ
ば、テレビ画像の原点(0)のY座標値およびZ座標値
はともに0、右端のY座標値は+1500(+15mm)、左端
のY座標値は−1500(−15mm)、下端のZ座標値は+10
00(+10mm)、上端のZ座標値は−1000(−10mm)であ
る。
各水平走査線のY座標値は、変数Y[i]に格納され
る。ここで、iは水平走査線(A)の番号(走査線番
号)である。水平走査線(A)の数はたとえば484本で
あり、右端のものを0として、順に番号を付している。
すなわち、右端の水平走査線(A)の番号iは0、左端
の水平走査線(A)の番号iは483である。
る。ここで、iは水平走査線(A)の番号(走査線番
号)である。水平走査線(A)の数はたとえば484本で
あり、右端のものを0として、順に番号を付している。
すなわち、右端の水平走査線(A)の番号iは0、左端
の水平走査線(A)の番号iは483である。
テレビ画像には、パネル(1)に当たった光の部分
(光部分)(H1)が表われる。光部分(H1)は、第1平
面(1a)に当たった光の部分に対応する直線部(L1)
と、円筒面(1c)に当たった光の部分に対応する曲線部
(C1)とからなる。通常、直線部(L1)は左側に、曲線
部(C1)は右側に表われる。直線部(L1)の左端を始点
(S1)、曲線部(C1)の右端を終点(E1)、直線部(L
1)から曲線部(C1)に移る点(変曲点)をR始点(R
S)と呼ぶことにする。パネル(1)に当たった光をテ
レビカメラ(4)で撮像した場合、反射率の関係などよ
り、円筒面(1c)の第1平面(1a)側の部分しか写ら
ず、円筒面(1c)と第2平面(1b)の境界部まで写らな
いことがある。したがって、R始点(RS)は、第1平面
(1a)から円筒面(1c)に写る点すなわち実際の円筒面
(1c)の始点と一致するが、終点(E1)は、円筒面(1
c)から第2平面(1b)に移る点すなわち実際の円筒面
(1c)の終点(R終点)(RE)とは必ずしも一致しな
い。
(光部分)(H1)が表われる。光部分(H1)は、第1平
面(1a)に当たった光の部分に対応する直線部(L1)
と、円筒面(1c)に当たった光の部分に対応する曲線部
(C1)とからなる。通常、直線部(L1)は左側に、曲線
部(C1)は右側に表われる。直線部(L1)の左端を始点
(S1)、曲線部(C1)の右端を終点(E1)、直線部(L
1)から曲線部(C1)に移る点(変曲点)をR始点(R
S)と呼ぶことにする。パネル(1)に当たった光をテ
レビカメラ(4)で撮像した場合、反射率の関係などよ
り、円筒面(1c)の第1平面(1a)側の部分しか写ら
ず、円筒面(1c)と第2平面(1b)の境界部まで写らな
いことがある。したがって、R始点(RS)は、第1平面
(1a)から円筒面(1c)に写る点すなわち実際の円筒面
(1c)の始点と一致するが、終点(E1)は、円筒面(1
c)から第2平面(1b)に移る点すなわち実際の円筒面
(1c)の終点(R終点)(RE)とは必ずしも一致しな
い。
画像処理装置(5)は、上記のように等分した複数の
点に対応する映像信号を輝度情報に変換し、光部分(H
1)のある水平走査線(A)についてのみ、次のような
画像データi、Y[i]およびZ[i]を作って演算処
理装置(6)に出力する。iは、光部分(H1)のある水
平走査線(A)の走査線番号である。Y[i]は、光部
分(H1)のある水平走査線(A)のY座標値である。Z
[i]は、このi番目の水平走査線i上の光部分(H1)
のZ座標値である。なお、このような機能を有する画像
処理装置(5)として、市販品を使用することができ
る。
点に対応する映像信号を輝度情報に変換し、光部分(H
1)のある水平走査線(A)についてのみ、次のような
画像データi、Y[i]およびZ[i]を作って演算処
理装置(6)に出力する。iは、光部分(H1)のある水
平走査線(A)の走査線番号である。Y[i]は、光部
分(H1)のある水平走査線(A)のY座標値である。Z
[i]は、このi番目の水平走査線i上の光部分(H1)
のZ座標値である。なお、このような機能を有する画像
処理装置(5)として、市販品を使用することができ
る。
次に、第3図のフローチャートを参照して、測定時の
演算処理装置(6)の動作の1例の概略を説明する。
演算処理装置(6)の動作の1例の概略を説明する。
第3図において、まず、画像処理装置(5)から画像
データを読込み(ステップ1)、画像データの再配置を
行なう(ステップ2)。次に、始点(S1)および終点
(E1)の検出を行なう(ステップ3)。次に、画像デー
タの座標変換を行ない(ステップ4)、R始点(RS)の
検出を行なう(ステップ5)。次に、回帰関数の決定を
行ない(ステップ6)、R終点(RE)を決定する(ステ
ップ7)。そして、最後に、形状のチェックを行ない
(ステップ8)、処理を終了する。
データを読込み(ステップ1)、画像データの再配置を
行なう(ステップ2)。次に、始点(S1)および終点
(E1)の検出を行なう(ステップ3)。次に、画像デー
タの座標変換を行ない(ステップ4)、R始点(RS)の
検出を行なう(ステップ5)。次に、回帰関数の決定を
行ない(ステップ6)、R終点(RE)を決定する(ステ
ップ7)。そして、最後に、形状のチェックを行ない
(ステップ8)、処理を終了する。
前述のように、画像処理装置から得られる画像データ
は、光部分(H1)のある水平走査線番号iについてのY
[i]、Z[i]のみである。このため、ステップ2の
データ再配置により、光部分の存在しない走査線番号i
に関して、Y[i]およびZ[i]を次のようにセット
する。
は、光部分(H1)のある水平走査線番号iについてのY
[i]、Z[i]のみである。このため、ステップ2の
データ再配置により、光部分の存在しない走査線番号i
に関して、Y[i]およびZ[i]を次のようにセット
する。
Z[i]=1000 Y[i]=0 ステップ3の始点S1および終点E1の検出は、走査線番
号iを変化させて画像データを調べることにより行なう
ことができる。
号iを変化させて画像データを調べることにより行なう
ことができる。
ステップ4の座標変換は、Y軸に対する直線部(L1)
の傾き角を求め、この傾き角が0になるように、画像デ
ータを回転させることにより行なわれる。
の傾き角を求め、この傾き角が0になるように、画像デ
ータを回転させることにより行なわれる。
次に、この発明の要旨であるステップ5のR始点(R
S)の検出処理につき、テレビ画像を示す第4図および
検出処理のフローチャートを示す第5図に基づいて説明
する。
S)の検出処理につき、テレビ画像を示す第4図および
検出処理のフローチャートを示す第5図に基づいて説明
する。
すなわち、まず、画像データのZ座標軸の平滑化を行
なう。この処理は、たとえば、iをS1(始点)からE1
(終点)+4まで走査して、次の式により平滑データS
[i]を求めるものである(ステップ101、102、103、1
04、102、……103)。
なう。この処理は、たとえば、iをS1(始点)からE1
(終点)+4まで走査して、次の式により平滑データS
[i]を求めるものである(ステップ101、102、103、1
04、102、……103)。
S[i]=(Z[i]+Z[i−1]+Z[i−2] +Z[i−3]+Z[i−4])/5 次に、iをS1からE1+9へ走査し、第1仮変曲点の検
出を行なう。この処理は次の式により平滑データをS
[i]の微分値D[i]を求め、これを所定のしきい値
と比較し、しきい値以上となる点を第1仮変曲点(P)
とするものである(ステップ201、202、203、204、20
5、202、……203、206)。
出を行なう。この処理は次の式により平滑データをS
[i]の微分値D[i]を求め、これを所定のしきい値
と比較し、しきい値以上となる点を第1仮変曲点(P)
とするものである(ステップ201、202、203、204、20
5、202、……203、206)。
D[i]=S[i−5]−S[i] 第1仮変曲点(P)が検出されると、その第1仮変曲
点(P)と終点(E1)の間のY座標値の差ΔYおよびZ
座標値の差ΔZ、ならびにこれらの比ΔY/ΔZを求め
(ステップ301)、これが真のR始点(RS)についての
比ΔY/ΔZを含む所定の範囲(R始点存在範囲)にある
かどうかを調べる(ステップ302)。比ΔY/ΔZがR始
点存在範囲になければ、その第1仮変曲点(P)は仮変
曲点とはせずに、引続きiを走査して、第1仮変曲点の
検出(ステップ204、205、202、……203、206)と、検
出された第1仮変曲点(P)についての比ΔY/ΔZの演
算およびチェック(ステップ301、302)を続ける。そし
て、ステップ302において比ΔY/ΔZがR始点存在範囲
に入る第1仮変曲点(P)を仮変曲点(R)とする(ス
テップ303)。
点(P)と終点(E1)の間のY座標値の差ΔYおよびZ
座標値の差ΔZ、ならびにこれらの比ΔY/ΔZを求め
(ステップ301)、これが真のR始点(RS)についての
比ΔY/ΔZを含む所定の範囲(R始点存在範囲)にある
かどうかを調べる(ステップ302)。比ΔY/ΔZがR始
点存在範囲になければ、その第1仮変曲点(P)は仮変
曲点とはせずに、引続きiを走査して、第1仮変曲点の
検出(ステップ204、205、202、……203、206)と、検
出された第1仮変曲点(P)についての比ΔY/ΔZの演
算およびチェック(ステップ301、302)を続ける。そし
て、ステップ302において比ΔY/ΔZがR始点存在範囲
に入る第1仮変曲点(P)を仮変曲点(R)とする(ス
テップ303)。
第4図のような画像データのZ座標値を上記のように
平滑化し、この平滑データS[i]の上記のように微分
すると、微分値D[i]は始点(S1)からR始点(RS)
に達するまでは小さいが、R始点(RS)では大きくな
る。また、画像データを平滑化してから微分しているの
で、単に画像データを微分する場合に比べて、ノイズの
影響を受けにくい。このため、平滑データS[i]の微
分値D[i]がしきい値以上となる点を第1仮変曲点と
すれば、通常は、この第1仮変曲点はR始点(RS)の近
傍の点になる。
平滑化し、この平滑データS[i]の上記のように微分
すると、微分値D[i]は始点(S1)からR始点(RS)
に達するまでは小さいが、R始点(RS)では大きくな
る。また、画像データを平滑化してから微分しているの
で、単に画像データを微分する場合に比べて、ノイズの
影響を受けにくい。このため、平滑データS[i]の微
分値D[i]がしきい値以上となる点を第1仮変曲点と
すれば、通常は、この第1仮変曲点はR始点(RS)の近
傍の点になる。
上記のように平滑データS[i]の微分値D[i]の
大小を調べても、ノイズの影響により、R始点(RS)か
ら離れた点を第1仮変曲点として検出することがある。
ところが、このような場合でも、上記のように第1仮変
曲点と曲線部(C1)の終点(E1)の間のY座標値の差Δ
YとZ座標値の差ΔZとの比ΔY/ΔZを調べることによ
り、真のR始点(RS)から離れた第1仮変曲点を仮変曲
点とせずに、真のR始点(RS)の近傍の第1仮変曲点だ
けを仮変曲点として検出することができる。
大小を調べても、ノイズの影響により、R始点(RS)か
ら離れた点を第1仮変曲点として検出することがある。
ところが、このような場合でも、上記のように第1仮変
曲点と曲線部(C1)の終点(E1)の間のY座標値の差Δ
YとZ座標値の差ΔZとの比ΔY/ΔZを調べることによ
り、真のR始点(RS)から離れた第1仮変曲点を仮変曲
点とせずに、真のR始点(RS)の近傍の第1仮変曲点だ
けを仮変曲点として検出することができる。
すなわち、R始点(RS)と終点(E1)との位置関係は
パネル(1)によって決まっており、ほぼ一定であるか
ら、R始点(RS)についての比ΔY/ΔZもほぼ一定であ
る。このR始点(RS)についての比ΔY/ΔZを含む一定
のR始点存在範囲を定めれば、R始点(RS)の近傍の第
1仮変曲点(Po)については比ΔY/ΔZがR始点存在範
囲に入るが、R始点(RS)から離れた第1仮変曲点(P
1)(P2)については比ΔY/ΔZがR始点存在範囲を外
れる。したがって、比ΔY/ΔZがR始点存在範囲を外れ
たときにはその第1仮変曲点を仮変曲点とはせずに、次
の第1仮変曲点を求め、比ΔY/ΔZがR始点存在範囲に
入ったときの第1仮変曲点を仮変曲点とすることによ
り、真のR始点(RS)の近傍の第1仮変曲点(Po)だけ
を仮変曲点として検出することができる。
パネル(1)によって決まっており、ほぼ一定であるか
ら、R始点(RS)についての比ΔY/ΔZもほぼ一定であ
る。このR始点(RS)についての比ΔY/ΔZを含む一定
のR始点存在範囲を定めれば、R始点(RS)の近傍の第
1仮変曲点(Po)については比ΔY/ΔZがR始点存在範
囲に入るが、R始点(RS)から離れた第1仮変曲点(P
1)(P2)については比ΔY/ΔZがR始点存在範囲を外
れる。したがって、比ΔY/ΔZがR始点存在範囲を外れ
たときにはその第1仮変曲点を仮変曲点とはせずに、次
の第1仮変曲点を求め、比ΔY/ΔZがR始点存在範囲に
入ったときの第1仮変曲点を仮変曲点とすることによ
り、真のR始点(RS)の近傍の第1仮変曲点(Po)だけ
を仮変曲点として検出することができる。
仮変曲点が検出されると、iをS1からE1+9へ走査
し、第2仮変曲点の検出を行なう。この処理は、次の式
により画像データのZ座標値Z[i]の微分値D[i]
を求め、これを所定のしきい値と比較し、しきい値以上
となる点を第2仮変曲点(Q)とするものである(ステ
ップ401、402、403、404、405、402、……403、406)。
し、第2仮変曲点の検出を行なう。この処理は、次の式
により画像データのZ座標値Z[i]の微分値D[i]
を求め、これを所定のしきい値と比較し、しきい値以上
となる点を第2仮変曲点(Q)とするものである(ステ
ップ401、402、403、404、405、402、……403、406)。
D[i]=Z[i−5]−Z[i] 第2仮変曲点(Q)が検出されると、その第2仮変曲
点(Q)と仮変曲点(R)のY座標値の差ΔYを求め
(ステップ407)、この差を所定のしきい値と比較する
(ステップ408)。この差がしきい値より大きければ、
その第2仮変曲点(Q)はR始点とはせずに、引続きi
を走査して、第2仮変曲点の検出(ステップ404、405、
402、……403、406)と、検出された第2仮変曲点
(Q)についての差ΔYの演算およびチェック(ステッ
プ407、408)を続ける。そして、ステップ408において
差ΔYがしきい値以下となる第2仮変曲点(Q)をR始
点(RS)とし(ステップ409)、処理を終了する。
点(Q)と仮変曲点(R)のY座標値の差ΔYを求め
(ステップ407)、この差を所定のしきい値と比較する
(ステップ408)。この差がしきい値より大きければ、
その第2仮変曲点(Q)はR始点とはせずに、引続きi
を走査して、第2仮変曲点の検出(ステップ404、405、
402、……403、406)と、検出された第2仮変曲点
(Q)についての差ΔYの演算およびチェック(ステッ
プ407、408)を続ける。そして、ステップ408において
差ΔYがしきい値以下となる第2仮変曲点(Q)をR始
点(RS)とし(ステップ409)、処理を終了する。
上記のようにして求めた仮変曲点(R)は、平滑化に
よりデータがなまっているので、必ずしも真のR始点
(RS)と一致しないが、真のR始点(RS)は仮変曲点
(R)の近傍に存在する。そして、上記のように画像デ
ータのZ座標値Z[i]をそのまま微分した微分値が所
定値以上となる点を第2仮変曲点(Q)として、仮変曲
点(R)との差ΔYが所定値以下となる第2仮変曲点
(Q)をR始点とするので、ノイズの影響を受けずに、
真のR始点(RS)を正確に検出することができる。
よりデータがなまっているので、必ずしも真のR始点
(RS)と一致しないが、真のR始点(RS)は仮変曲点
(R)の近傍に存在する。そして、上記のように画像デ
ータのZ座標値Z[i]をそのまま微分した微分値が所
定値以上となる点を第2仮変曲点(Q)として、仮変曲
点(R)との差ΔYが所定値以下となる第2仮変曲点
(Q)をR始点とするので、ノイズの影響を受けずに、
真のR始点(RS)を正確に検出することができる。
なお、上記の処理において、比ΔY/ΔZのかわりに比
ΔY/ΔZを用いることもできる。
ΔY/ΔZを用いることもできる。
ステップ6の回帰関数決定の処理は、光部分(H1)の
曲線部(C1)を推定するための回帰関数たとえばZ=ae
bYの係数aおよびbを最小2乗法によって決定するもの
であり、たとえば、R始点(RS)がZ軸と一致するよう
に画像データの座標変換(平行移動)を行ない、R始点
(RS)のZ座標値を順に変えて、仮に求めた回帰関数と
画像データとの誤差の2乗の重み付き積分値が最小にな
るようにaおよびbを決定する。
曲線部(C1)を推定するための回帰関数たとえばZ=ae
bYの係数aおよびbを最小2乗法によって決定するもの
であり、たとえば、R始点(RS)がZ軸と一致するよう
に画像データの座標変換(平行移動)を行ない、R始点
(RS)のZ座標値を順に変えて、仮に求めた回帰関数と
画像データとの誤差の2乗の重み付き積分値が最小にな
るようにaおよびbを決定する。
ステップ7のR終点(RE)の決定処理は、たとえば、
次のようにして行なわれる。
次のようにして行なわれる。
上記のようにして回帰関数である指数関数Z=aebYが
決まると、これを用い、R始点(RS)からZ座標値を少
しずつ変えながら、指数関数上のY座標値を計算し、こ
のY座標値の1次微分値が所定のしきい値Tより小さく
なった点をR終点(RE)とする。また、逆に、指数関数
Z=aebYを用い、R始点(RS)からY座標値を少しずつ
変えながら、指数関数上のZ座標値を計算し、このZ座
標値の1次微分値が所定のしきい値Tより大きくなった
点をR終点(RE)とすることもできる。
決まると、これを用い、R始点(RS)からZ座標値を少
しずつ変えながら、指数関数上のY座標値を計算し、こ
のY座標値の1次微分値が所定のしきい値Tより小さく
なった点をR終点(RE)とする。また、逆に、指数関数
Z=aebYを用い、R始点(RS)からY座標値を少しずつ
変えながら、指数関数上のZ座標値を計算し、このZ座
標値の1次微分値が所定のしきい値Tより大きくなった
点をR終点(RE)とすることもできる。
最後のステップ8の形状のチェックは、前記方法によ
って求めたプレスパネル(1)の形状測定データとプレ
スパネル(1)の形状規模データとを比較し、形状の検
査を行なう。
って求めたプレスパネル(1)の形状測定データとプレ
スパネル(1)の形状規模データとを比較し、形状の検
査を行なう。
パネル(1)とテレビカメラ(4)との相対位置関係
により、テレビ画像が第2図と異なるものになることが
ある。ところが、このような場合でも、上記とほぼ同様
に画像データを処理して、測定を行なうことができる。
また、画像データに適当な座標変換を施すことにより、
第2図のような画像データに変換して、処理することも
できる。
により、テレビ画像が第2図と異なるものになることが
ある。ところが、このような場合でも、上記とほぼ同様
に画像データを処理して、測定を行なうことができる。
また、画像データに適当な座標変換を施すことにより、
第2図のような画像データに変換して、処理することも
できる。
発明の効果 この発明の形状測定方法によれば、上述のように、光
切断法を用いて平面と曲面との変曲点(R始点)を自動
的にかつ正確に検出することができ、誤差が小さく、測
定が容易で、測定時間も短縮される。しかも、きずなど
のノイズの影響を受けにくく、精度の高い測定ができ
る。
切断法を用いて平面と曲面との変曲点(R始点)を自動
的にかつ正確に検出することができ、誤差が小さく、測
定が容易で、測定時間も短縮される。しかも、きずなど
のノイズの影響を受けにくく、精度の高い測定ができ
る。
第1図はこの発明の実施例を示す被測定物と形状測定装
置の概略斜視図、第2図はテレビ画像の1例を示す図、
第3図は形状測定の処理の1例を示すフローチャート、
第4図はR始点検出処理の1例を説明するためのテレビ
画像の光部分の図、第5図はR始点検出処理の1例を示
すフローチャートである。 (1)……プレスパネル(被測定物)、(1a)(1b)…
…平面、(1c)……部分円筒面、(3)……光源、
(4)……CCDテレビカメラ(2次元撮像手段)、
(5)……画像処理装置、(6)……演算処理装置。
置の概略斜視図、第2図はテレビ画像の1例を示す図、
第3図は形状測定の処理の1例を示すフローチャート、
第4図はR始点検出処理の1例を説明するためのテレビ
画像の光部分の図、第5図はR始点検出処理の1例を示
すフローチャートである。 (1)……プレスパネル(被測定物)、(1a)(1b)…
…平面、(1c)……部分円筒面、(3)……光源、
(4)……CCDテレビカメラ(2次元撮像手段)、
(5)……画像処理装置、(6)……演算処理装置。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−118604(JP,A) 特開 昭60−196608(JP,A) 特開 平3−32470(JP,A) 特開 平3−186705(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 11/00 - 11/30 G06T 7/00
Claims (1)
- 【請求項1】平面とこれに連なる曲面を有する被測定物
の形状を光切断法によって測定するに際し、2次元撮像
手段で撮像された画像データを処理して上記平面と曲面
との変曲点を求める方法であって、 互いに直交する第1座標軸と第2座標軸を用いて、被測
定物の平面に当たった光部分の直線部が第1座標軸と平
行になるように、上記画像データを表わし、この光部分
の直線部の端点と被測定物の曲面に当たった光部分の曲
線部の端点を検出し、画像データの第2座標軸方向の座
標値を平滑化し、この平滑データを光部分の直線部側か
ら走査して、平滑データの微分値が所定値以上となる点
を第1仮変曲点とし、この第1仮変曲点と光部分の曲線
部の端点の間の第1座標軸方向の座標値の差と第2座標
軸方向の座標値の差との比が所定の範囲に入るまで第1
仮変曲点を求め、この比が所定の範囲に入る第1仮変曲
点を仮変曲点とし、画像データを光部分の直線部側から
走査して、画像データの第2座標軸方向の座標値の微分
値が所定値以上となる点を第2仮変曲点とし、この第2
仮変曲点と仮変曲点の座標の差が所定値以下となるまで
第2仮変曲点を求め、この差が所定値以下となる第2仮
変曲点を上記変曲点とすることを特徴とする形状測定方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15355390A JP2879355B2 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15355390A JP2879355B2 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 形状測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0443907A JPH0443907A (ja) | 1992-02-13 |
JP2879355B2 true JP2879355B2 (ja) | 1999-04-05 |
Family
ID=15565021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15355390A Expired - Lifetime JP2879355B2 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 形状測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2879355B2 (ja) |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP15355390A patent/JP2879355B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0443907A (ja) | 1992-02-13 |
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