JP2874659B2 - 基板表面処理装置 - Google Patents

基板表面処理装置

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JP2874659B2
JP2874659B2 JP20065796A JP20065796A JP2874659B2 JP 2874659 B2 JP2874659 B2 JP 2874659B2 JP 20065796 A JP20065796 A JP 20065796A JP 20065796 A JP20065796 A JP 20065796A JP 2874659 B2 JP2874659 B2 JP 2874659B2
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は表面処理装置に関
し、特にガラス基板等の表面に薬液を供給しその後その
薬液を除去して前記基板の洗浄を行う基板表面処理装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の基板表面処理装置は、例
えば、特開平6−342782号公報に開示されている
ように、現像液が盛られた基板上に吸引口を向け配置さ
れた吸引ノズルを設け、この吸引ノズルを基板面上に移
動させながら現像液を吸引除去するものや、あるいは、
実開平2−44327号公報に開示されているように、
基板表裏面にガス吐出口と液体吸引口を設け、液切りに
よる「むら」及び「ミスト」の発生を抑えながら基板表
裏面の処理液を除去することを特徴としている装置があ
る。
【0003】図6は従来の一例を示す基板表面処理装置
の構成を示す図である。この基板表面処理装置は、図6
に示すように、基板18を搬送する複数の搬送ローラ1
2が並べ配設されたドームを備え、上流から送られる基
板18に薬液を噴霧する薬液ノズル13が並べ配設され
る薬液処理ユニット10と、基板18に盛られた薬液1
9を除去する吸引ヘッド4を備える薬液回収ユニット1
7と、薬液が除去された基板に洗浄水を噴射する水洗ノ
ズル14を配設する水洗処理ユニット11で構成されて
いる。
【0004】この基板表面処理装置による基板処理動作
は、まず、上流より搬送ローラ12で送られて薬液処理
ユニット10内にある基板は、薬液ノズル13により薬
液が基板表面20に噴霧される。ドーム内に飛散した薬
液は薬液タンク8に回収される。次に、搬送ローラ12
により基板18が薬液回収ユニット17内に搬送され
る。薬液回収ユニット17内では、基板18が低速搬送
され吸引ユニット7の吸引ヘッド4により基板18の表
裏面に付着する薬液19が吸引される。そして、吸引さ
れた薬液は吸引ユニット7を経て薬液タンク8に回収さ
れる。その後、シャッタ16が開き、搬送ローラ12に
より基板18は水洗処理ユニット11に搬送される。搬
送後には、シャッター16が閉し、水洗処理ユニット1
1内で水洗ノズル14によりリンス液が基板18の表裏
面に噴射され、残余する薬液が洗い流されリンス液とと
もにリンス液タンク15に蓄えられる。
【0005】また、処理に使用される薬液は高価である
ので、薬液タンク8に蓄えられた薬液は再生され薬液ノ
ズル13に供給するように循環されていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の基板表面処理装置では、薬液20とリンス液を
分離回収する為に、薬液回収ユニット17内で基板表面
1aの薬液2を吸引ヘッド4で吸引した後、水洗処理ユ
ニット11内に基板1を搬送させシャッタ16を閉める
迄の間、水洗ノズル14によるリンス液を吐出すること
ができないようにシーケンス動作が設計されている。そ
の結果、基板表面20に停留する薬液19の殆どを回収
すると、回収し切れなかった基板表面に固着する薬液が
シミのようになり、リンス液で洗浄し切れず基板に付着
したままとなり製品不良を発生させるという問題があ
る。また、水洗処理ユニット11に入る迄に乾燥しない
程度に基板表面20に薬液19を残すために、吸引ヘッ
ド4の吸引力を弱め薬液を基板表面に残し水洗処理ユニ
ット11に搬入させリンス液で洗浄すると、効果はみら
れるものの、薬液の使用量が増え運用コストが高くなる
という欠点がある。
【0007】従って、本発明の目的は、薬液の回収率を
高めかつ薬液のシミなどを残すことなく完全に薬液を基
板から除去する基板表面処理装置を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、基板表
面に薬液を噴霧しその後その薬液を除去ししかる後洗浄
を行う基板表面処理装置において、前記薬液か塗布され
る前記基板を移動させながら該基板表裏面の前記薬液を
吸取る一対の吸引ヘッドと、前記吸取られた該薬液の代
りにリンス液を吐出し該薬液から前記リンス液に置換す
る液置換ユニットと、前記薬液から置換された前記リン
ス液を洗い流す水洗処理ユニットとを備える基板表面処
理装置である。
【0009】また、前記液置換ユニットが、前記吸引ヘ
ッドの吸引口と反対側に吐出口を向けるリンス液吐出ヘ
ッドと、前記吸引ヘッドと前記吐出ヘッドの間に配置さ
れ前記基板と接触するスポンジローラとを備えることが
望ましい。さらに、前記吸引ヘッドの前段に配置され前
記吸引ヘッドの該吸引口より前記基板面から引離される
吸引口をもつ少なくとも一対の他の吸引ヘッドを備える
ことが望ましい。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
【0011】図1は本発明の一実施の形態における基板
表面処理装置の構成を示す図である。この基板表面処理
装置は、図1に示すように、薬液19を基板表面20か
ら吸引する吸引ヘッド4の後段に残余する薬液を吸い取
るスポンジローラ1と薬液を置換するために洗浄水を基
板表面20に吐出する吐出ヘッド2とで構成される液置
換ユニット9を設けたことである。それ以外は前述の図
6で説明した従来例と同じである。
【0012】図2は図1の液置換ユニットを含む近傍を
示す上面図である。吸引ヘッド4の吸引口と吐出ヘッド
2の吐出口は、相反する向きに配置し、スポンジローラ
1を中間に配置させている。このことは吐出ヘッド1か
ら吐出するリンス液3が吸引ヘッド4側に回り込み吸引
ヘッド4で回収される薬液19を希釈しないようにして
いる。また、スポンジローラ2は少ない圧力で基板18
の幅方向と均一に接触する凹凸のない構造である。
【0013】図3は図1の吸引ヘッドを抽出して示す
図、図4は図1の吐出ヘッドを抽出して示す図である。
吸引ヘッド4の構造は、図3に示すように、基板18の
幅方向に均一に吸引できるようスリット状の吸引口4a
を設けており、吐出ヘッド2の構造は、図4に示すよう
に、基板18の幅方向にリンス液3を供給できるレベル
の小径の溝または穴を数十個設けた吐出口2aを設けて
いる。
【0014】次に、この基板表面処理装置の動作につい
て説明する。まず、薬液処理ユニット10内で搬送ロー
ラ12を回転させて基板18を低速搬送、または揺動動
作を行い、薬液ノズル13により薬液を基板表面20に
スプレーする。薬液処理後、基板18を搬送ローラ12
により液置換ユニット9に搬送される。液置換ユニット
9内では、基板18を低速搬送するに伴ない吸引ユニッ
ト7により吸引ヘッド4の吸引口4aから基板18の表
裏面の薬液を吸引すると同時に吐出ヘッド2の吐出口2
aよリンス液3を吐出する。このことにより薬液はリン
ス液3に瞬時に置換される。なお、リンス液3が吸引口
4a側に逆流しないよう、スポンジローラ1を基板表面
20と接触させながら回転させる。吸引圧力は、薬液の
粘度により異なるが、リンス液3の吐出流量は、8リッ
トル/分程度で良い。その後、搬送ローラ12により基
板18にリンス液3を供給した状態で水洗処理ユニット
11に搬送させる。そして、水洗処理ユニット11内
で、水洗ノズル14によりリンス液を基板1表裏面にス
プレーする。
【0015】図5は図1の基板表面処理装置の変形例に
おける構成を示す図である。この基板表面処理装置は、
図5に示すように、前述の実施の形態の基板表面処理装
置の吸引ヘッド4の前段にもう一対の吸引ヘッド5を設
けたことである。この吸引ヘッド5は吸引ヘッド4に比
べ吸引口が基板18より離して配置されている。すなわ
ち、送られてくる基板18の薬液19の液層の半分程度
を予じめ吸引ヘッド5で吸込み、残りを吸引ヘッド4で
吸取る動作を行なっている。このように、二段構えで薬
液19を吸引すれば、基板18の高速搬送に対応できる
という利点がある。それ以外の構成は、前述の実施の形
態における基板表面処理装置と同じである。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、薬液が表
面に塗布され送られてくる基板上の薬液を回収する吸引
ヘッドと瞬時に薬液の代りにリンス液を基板に滴下する
液置換ユニットとを設けることによって、薬液を吸取り
後の基板表面の乾燥を抑えながら薬液を回収できるの
で、薬液の回収率が従来の2倍になりその分運用コスト
の低減が図れるという効果がある。また、瞬時に薬液か
らリンス液に置換できるので、薬液の乾燥後に残る薬液
のシミなどが無くなり、それによる、製品不良の発生が
皆無となる効果が得られた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における基板表面処理装
置の構成を示す図である。
【図2】図1の液置換ユニットを含む近傍を示す上面図
である。
【図3】図1の吸引ヘッドを抽出して示す図である。
【図4】図1の吐出ヘッドを抽出して示す図である。
【図5】図1の基板表面処理装置の変形例における構成
を示す図である。
【図6】従来の一例を示す基板表面処理装置の構成を示
す図である。
【符号の説明】
1 スポンジローラ 2 吐出ヘッド 3 リンス液 4,5 吸引ヘッド 7 吸引ユニット 8 薬液タンク 9 液置換ユニット 10 薬液処理ユニット 11 水洗処理ユニット 12 搬送ローラ 13 薬液ノズル 14 水洗ノズル 15 リンス液タンク 18 基板 19 薬液 20 基板表面

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板表面に薬液を噴霧しその後その薬液
    を除去ししかる後洗浄を行う基板表面処理装置におい
    て、前記薬液か塗布される前記基板を移動させながら該
    基板表裏面の前記薬液を吸取る一対の吸引ヘッドと、前
    記吸取られた該薬液の代りにリンス液を吐出し該薬液か
    ら前記リンス液に置換する液置換ユニットと、前記薬液
    から置換された前記リンス液を洗い流す水洗処理ユニッ
    トとを備えることを特徴とする基板表面処理装置。
  2. 【請求項2】 前記液置換ユニットが、前記吸引ヘッド
    の吸引口と反対側に吐出口を向けるリンス液吐出ヘッド
    と、前記吸引ヘッドと前記吐出ヘッドの間に配置され前
    記基板と接触するスポンジローラとを備えることを特徴
    とする請求項1記載の基板表面処理装置。
  3. 【請求項3】 前記吸引ヘッドの前段に配置され前記吸
    引ヘッドの該吸引口より前記基板面から引離される吸引
    口をもつ少なくとも一対の他の吸引ヘッドを備えること
    を特徴とする請求項1および2記載の基板表面処理装
    置。
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