JP2872891B2 - 気化装置 - Google Patents

気化装置

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JP2872891B2
JP2872891B2 JP5215019A JP21501993A JP2872891B2 JP 2872891 B2 JP2872891 B2 JP 2872891B2 JP 5215019 A JP5215019 A JP 5215019A JP 21501993 A JP21501993 A JP 21501993A JP 2872891 B2 JP2872891 B2 JP 2872891B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置等にお
けるガス供給装置で使用される気化装置に関し、さらに
詳細には、常温常圧で液体として存在する材料を一定量
精密に気化してガス使用装置に供給する気化装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体集積回路(以下、「L
SI」という)中の絶縁膜として、気相成膜された酸化
珪素薄膜等が多用されている。かかる酸化珪素等の気相
成膜は、成膜槽中に載置された半導体基板(以下、「ウ
ェハ」という)上に、化学蒸着成膜法(以下、「CV
D」という)にて行うのが普通である。そのための珪素
供給源としては、例えばモノシランSiH4のような常温
常圧で気体であるものばかりでなく、有機シラン(以
下、「TEOS」という)のような、常温常圧では液体
であるものも使用される。これらのうち、成膜しようと
する膜に求められる諸特性や、成膜時の温度条件等の制
約等により、最も適切なものが用いられる。しかし液状
珪素源を用いる場合は、当然、気化しなければ気相反応
には供しえない。
【0003】このために液状珪素源を気化する手段とし
ては、従来、図9に示すものが使用されていた。すなわ
ち、管壁に小孔95が設けられた気化管92内にアシス
トガス93を流しておき、小孔95から液状珪素源(T
EOSとする)91を流量コントローラ96により流量
制御し供給するのである。また、気化管92内の小孔9
5に対向する位置には、小孔95を閉じるための遮断弁
98が設けられている。ここでTEOS91は、コンダ
クタンスバルブ97によって霧化され、さらに自身の蒸
気圧によって気化し、アシストガス93との混合ガス9
4となって、図示しない成膜槽へ送られるのである。ア
シストガス93としては、通常不活性なガスである窒素
2 ガスまたはヘリウムHe ガス等が用いられることが
多い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図9に
示す従来の気化装置では、以下の問題点があった。 (1)TEOS91を気化管92内で気化させるには、
液体状態のTEOS91を霧化させ気化管92に送り込
む必要があり、そのため小孔95は極めて小さく形成し
なければならない。したがってその開口調整は極めて困
難なものとなっている。また、液体TEOS91を霧化
させるコンダクタンスバルブ97の調節が極めて困難で
霧粒の大きさが一定しにくい。
【0005】(2)また、半導体製造工程全体の生産性
向上のためには、成膜工程においても成膜速度の高速化
を図る必要がある。そのためには成膜槽へ気化されたT
EOS91をより多く供給しなければならない。ところ
が、TEOS91の気化管92内での気化速度は、気化
管92内の全圧およびTEOS91の蒸気圧により制限
される。したがってTEOS91を、アシストガス93
の流量等により定まる飽和量以上に供給しても、気化管
92内で液体として滞留し気相反応に寄与しないので、
成膜速度上昇には限界があることになる。また、流量コ
ントローラ96による液体TEOS91の流量制御にあ
たって、気泡発生により制御に支障を来すことがある。
また、流量コントローラ96のセンサ部が細管であるた
め目詰まりを起こすことがある。また、流量コントロー
ラ96の応答性が遅いことによるガスの無駄もある。
【0006】(3)さらに、気化管92内に液体のTE
OS91が滞留することにより、特に成膜を抑制もしく
は停止しようとするときにおいて、混合ガス94の成膜
槽への供給制御がきわめて困難になる。気化管92内に
滞留している液体TEOS91が気化し続けるため、成
膜槽内での成膜反応が継続するからである。また、一旦
気化したTEOSが再液化することもあり、かかるTE
OS再液化が混合ガス94の流量センサあるいは流量コ
ントローラ内で発生すると、流量制御に著しい支障をき
たし、プロセス不良の原因となる。さらに、流量センサ
あるいは流量コントローラの故障にもつながることはも
ちろんである。
【0007】また、気化管92内に滞留している液体T
EOS91のミストが、そのままパーティクルとして成
膜槽に侵入することがある。かかるパーティクルがウェ
ハに付着すると、パターンディフェクトが発生して不良
チップとなり、プロセス歩留まりが低下する。そして、
かかる弊害防止のためには、気化管92と成膜槽との間
にパーティクルの通過を阻止するフィルタを設けるとと
もに、高い頻度で気化管92内壁の洗浄とフィルタの交
換とを行う必要がある。したがって、設備費が増大する
ばかりでなく、操業コストも増大する。特に、近年にお
けるLSIの集積度の著しい向上に伴い、回路加工にも
一層の微細化が要求されていることから、成膜プロセス
においても従来以上に膜質・膜圧の均一性が要求される
に至っている。このことから、TEOS等成膜材料の供
給流量のより正確なコントロールが必要となっている。
【0008】本発明は、上記従来技術の問題点を解決し
て、常温常圧では液体であり加熱により気化する材料を
精密に気化制御して気相反応槽へ供給でき、かつ、設備
費や操業コストの増大あるいは歩留まりの低下がない気
化器および気化装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の気化装置は、常温常圧で液体である液体材
料を気化して、気化された材料を供給する気化装置にお
いて、前記液体材料を加熱して気化させる加熱した平板
と、前記加熱した平板に定量の前記液体材料を供給する
液体定量供給手段とを有することを特徴とする構成とさ
れる。また、前記の気化装置において、前記気化された
材料と混合して前記気化された材料を搬送する不活性ガ
スを供給する搬送手段を有することを特徴とする構成と
される。
【0010】また、前記の気化装置において、前記液体
定量供給手段が、受液ポートと送液ポートとを穿設され
るとともに内部に前記液体材料を充填される液体チャン
バと、前記液体チャンバの容積を微小量変化させる体積
可変手段とを有することを特徴とする構成とされる。ま
た、前記の気化装置において、前記液体定量供給手段
が、弁座と、前記弁座に当接または離間するダイヤフラ
ム弁体とを有する送液遮断手段を備えることを特徴とす
る構成とされる。
【0011】
【作用】上記の構成よりなる本発明の気化装置において
は、液体材料の供給を行われないときは、送液遮断手段
の弁体が、自重およびバネ力により下方に移動して弁座
に当接し、滴下手段への液体材料の供給を遮断してい
る。そして、液体材料を供給する際は、液体定量供給手
段の体積可変手段が、液体チャンバの有効容積を減少さ
せ、かかる容積減少分に相当する体積の液体材料が、送
液遮断手段へ送出される。
【0012】このとき、送液遮断手段のダイヤフラム弁
体が、液体定量供給手段からの送圧により上方に移動し
て弁座から離間し、弁は開となる。これにより、液体定
量供給手段から送出される液体材料は加熱した平板に供
給される。加熱した平板上で液体材料は、加熱され蒸発
気化する。そして、かかる液体材料の蒸気は、搬送手段
により供給される不活性ガスと混合して混合ガスとな
る。液体定量供給手段からの液体材料の送出が終了する
と、送液遮断手段の弁体は再び自重およびバネ力により
下方に移動して弁座に当接し、弁を閉じる。これによ
り、加熱した平板への液体材料の供給は直ちに停止され
る。加熱した平板への液体材料の供給を行わないとき、
液体定量供給手段の体積可変手段は、液体チャンバの有
効容積を増大させ、これにより液体チャンバは液体材料
を補充し、次回の液体送出に備える。
【0013】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例であるT
EOS気化装置について図面を参照して説明する。図1
は本実施例の気化装置の構成を示す断面図である。図1
に示す気化装置は基本的に、加熱した平板11を内蔵す
る気化器1と、送液遮断手段であるチェック弁2と、液
体定量供給手段である定量ポンプ3とを組み合わせてな
るものである。
【0014】気化器1は、定量ポンプ3からチェック弁
2を介して供給される液体TEOSを気化するととも
に、後述するアシストガスとの混合ガスとして図示しな
い気相成膜装置(たとえばプラズマCVD装置等)に供
給するものである。定量ポンプ3は、図1中右側に取り
付けられた吸込弁装置4を介して図示しないTEOSタ
ンクから供給される液体TEOSを、所定量気化器1へ
送出するものである。チェック弁2は、これらの間にあ
って、定量ポンプ3からの液体TEOSの送出があると
き以外、液体TEOSの流路を遮断するものである。か
かる気化器1、チェック弁2、および定量ポンプ3につ
いて、以下順次、詳細な構造および動作を説明する。
【0015】まず、定量ポンプ3について説明する。図
1中定量ポンプ3は、下方のサーボシリンダ14に中部
材15を挟持して釣鐘状のカバー体16を固設したもの
である。カバー体16には、液体TEOSを収納するT
EOSチャンバ18が形成されている。また、カバー体
16の頂部には、泡抜ポート20と泡抜弁21とが設け
られている。中部材15には、受液ポート19と送液ポ
ート17とが、TEOSチャンバ18と連通するように
穿設されている。
【0016】TEOSチャンバ18内には、ロッド22
がベローズ23を介して、TEOSチャンバ18底部の
チャンバベース24に設置されている。ロッド22は、
サーボシリンダ14により駆動され、上下方向に移動す
るものである。サーボシリンダ14の内部には、ロッド
22と接続されるピストンと、ピストンを駆動するモー
タ等の駆動手段が設置されている(図示は省略する)。
ロッド22が上下動すると、ベローズ23は伸縮する。
また、ロッド22の上下動により、TEOSチャンバ1
8の有効容積が変化する。また、定量ポンプ3の図1中
右方には、弁座26と弁体27とを有する吸込弁装置4
が設けられている。吸込弁装置4は、吸込ポート25の
先に設けられている図示しないTEOSタンクから定量
ポンプ3の受液ポート19へのTEOSの供給を、弁座
26と弁体27との離間または当接により、連通または
遮断するものである。
【0017】かかる定量ポンプ3は、以下のように動作
する。まず、TEOSタンクから吸込弁装置4を介して
TEOSの供給を受け、TEOSチャンバ18内がTE
OSにより充填されている状態を考える。もし、TEO
S中に気泡が存在している場合には、泡抜弁21を開い
て泡抜ポート20から気泡を追い出しておく。この状態
において、気化器1への所定量のTEOSの送出は、次
のように行う。まず、吸込弁装置4の弁座26と弁体2
7とを当接し、TEOSタンクとTEOSチャンバ18
との連通を遮断する。ここで、弁体27の駆動手段につ
いては、本発明としての特徴部分でないので、ソレノイ
ド、エア駆動等公知のものでよいとする。
【0018】そして、サーボシリンダ14によりロッド
22を上方向に駆動すると、かかるロッド22の移動に
よりTEOSチャンバ18の有効容積が減少する。この
ときの容積減少にともない、TEOSチャンバ18内の
TEOSはTEOSチャンバ18から流出しようとする
が、定量ポンプ3の受液ポート19側は、吸込弁装置4
が閉じられているので、TEOSは送液ポート17へ流
出せざるをえない。このときの容積変化は、基本的には
ロッド22の断面積とストロークとの積による。したが
ってロッド22の移動量に比例してTEOSが送液され
ることになる。送液ポート17から送出されたTEOS
は、チェック弁2を介して気化器1へ向かうが、このと
きのチェック弁2等の動作については後述する。
【0019】次に、チェック弁2について、図2に基づ
いて説明する。図2は気化器1および後述するチェック
弁2の断面図である。チェック弁2は、内部にシリンダ
28を形成された上ボディ29と、内部に弁室30を形
成された中ボディ9とを接合させてなるものである。中
ボディ9は、後述する気化器1の一部を兼ねている。上
ボディ29のシリンダ28内には、ピストン31が上下
方向に摺動可能に嵌挿されている。ピストン31の下部
には、弁体32が取り付けられている。弁体32は、弁
室30に形成された弁座33に当接または離間するもの
である。なお、中ボディ9の弁座33に対する裏側に
は、ノズル8が形成されている。
【0020】また、シリンダ28の頂面34とピストン
31との間には、バネ35が挟持されており、ピストン
31を下方に付勢することにより、弁体32を弁座33
に当接せしめている。さらに、弁体32は、ダイアフラ
ム36の中心部を嵌持しており、ダイアフラム36の周
辺は中ボディ9により嵌持されている。かかるダイアフ
ラム36により弁室30は画定されている。ここで、図
1に示した断面図のうちチェック弁2および気化器1の
部分は、図2中のX−Y断面に相当するものである。し
たがって弁室30には、図2には表れない受液ポート3
7が形成されている(図1参照)。かかる受液ポート3
7は、定量ポンプ3の送液ポート17と連結されてい
る。これにより弁室30は、定量ポンプ3から送出され
るTEOSにより満たされることになる。
【0021】かかるチェック弁2の動作について説明す
る。まず、定量ポンプ3から送出されるTEOSによ
り、すでに弁室30が満たされている状態で、かつ、定
量ポンプ3が新たなTEOS送出動作を行っていない場
合を考える。このとき、ピストン31は、自重およびバ
ネ35の付勢により下方に移動し、弁体32を弁座33
に当接せしめ、弁を閉じている。したがって、弁室30
内のTEOSはノズル8、すなわち気化器1側へ供給さ
れることはない。
【0022】定量ポンプ3が前述の動作により新たにT
EOS送出を行うと、かかる送圧がダイアフラム36に
印加され、ダイアフラム36を嵌持する弁体32は上方
に移動しようとする。この結果、ピストン31が、自重
およびバネ35の付勢に抗して上方に移動し、弁体32
は弁座33から離間する。これにより弁が開き、弁室3
3内のTEOSが気化器1側へ供給される。定量ポンプ
3がTEOS送出動作を終了すると、ダイアフラム36
に送圧がかからなくなるので、ピストン31は再び自重
およびバネ35の付勢により下方に移動して弁を閉じ、
気化器1側へのTEOSの供給を直ちに停止する。この
ことから、弁室30から気化器1側への1回のTEOS
供給量は、定量ポンプ3からの1回のTEOS送出量に
等しいことがわかる。
【0023】続いて、以上の定量ポンプ3およびチェッ
ク弁2によりTEOSの供給を受ける気化器1につい
て、図2に基づいて説明する。気化器1は、気化室10
が形成され、吸入ポート5と供給ポート6とを穿設され
た下ボディ7と、TEOSを滴下する手段であるノズル
8が形成された中ボディ9とを接合させてなるものであ
る。中ボディ9は、前記したチェック弁2の一部を兼ね
ている。気化室10の底面には平板11が配設されてお
り、平板11の下方には電熱ヒータ12が埋設されてい
る。電熱ヒータ12は、平板11を加熱するとともに、
下ボディ7全体を加熱し、さらにこれを介して中ボディ
9を加熱するものである。これにより、気化室10内壁
が加熱されるものである。ここにおいて、電熱ヒータ1
2を制御することにより、加熱した平板11等を一定温
度に保持することができる。
【0024】以上の構成を有する気化器1においては、
図中上方の前記した弁室30内の液体TEOSがノズル
8を介して気化室10底面の加熱した平板11に滴下さ
れるものである。さらに、吸入ポート5は、気化したT
EOSを搬送する搬送手段であるアシストガス源からア
シストガスの供給を受けている。アシストガスとしては
2 ガスまたはHeガスが一般的であるが、TEOSと
反応せず、かつ気化装置やガス使用装置に悪影響を与え
ないガスであれば他のガスでもよい。かかる気化器1に
おいて、定量ポンプ3からチェック弁2を介して供給さ
れた液体TEOSは、ノズル8から加熱した平板11に
滴下されると、電熱ヒータ12による加熱を受け、蒸発
により気化して気体TEOSとなる。かかる気体TEO
Sは、吸入ポート5から吸入されるアシストガスと混合
して混合ガスとなり、供給ポート6から図示しない気相
成膜装置へ供給される。
【0025】ここにおいて、電熱ヒータ12により、平
板11ばかりでなく気化室10内壁全体が加熱されてい
るので、一旦気化したTEOSが再液化することがな
く、安定した混合ガスを供給することができる。さらに
いえば、供給ポート6と気相成膜装置との間の配管も、
TEOS再液化防止の観点から、加熱される構成にして
おくのが好ましい。また、気化器1に供給されるTEO
Sの量が定量ポンプ3の作用により精度よく制御されて
いることから、気相成膜装置への混合ガスとしてのTE
OS供給量の精度も優れている。以上で、本実施例の気
化装置の構成要件である気化器1、チェック弁2、定量
ポンプ3の構成および動作についての説明を終了する。
【0026】次に、本実施例の各構成要件の利点につい
て説明する。まず、TEOSの気化器1への送出手段で
あり、供給量を制御する制御手段でもある定量ポンプ3
の利点について説明する。定量ポンプ3の利点は、前述
のように、少量の送出量を精度よく制御できることにあ
る。このことを図3のグラフにて説明する。図3のグラ
フは、本実施例の定量ポンプ3における、TEOS吐出
時間(横軸)と吐出量(縦軸)との関係の実測値を示し
ている。ここでは、ポンプの吐出スピードを3cm3
minに設定し、吐出時間を最大1分まで3回繰り返し
測定したものである。
【0027】グラフから、非常に直線性がよく、かつ、
再現性も優れていることが理解できる。このことから、
定量ポンプ3では、0.1cm3 レベルの精度で吐出量
の制御ができることが理解できる。また、液体状態で制
御しているので、TEOS再液化による制御不良が起こ
りえないことはいうまでもない。
【0028】次に、チェック弁2の利点について説明す
る。チェック弁2は、定量ポンプ3から気化器1へのT
EOSの流路を開閉するものである。仮に、チェック弁
2を省略して定量ポンプ3の送液ポート17と気化器1
のノズル8を直接連結したとすれば、以下の弊害が発生
する。
【0029】すなわちこの場合、送液ポート17とノズ
ル8との配管内には、定量ポンプ3のTEOS送出動作
を終了した後も、TEOSが残留することになる。そし
て、かかる残留TEOSの流路を遮断するものはないの
で、ノズル8からは残留TEOSが、さらに数滴滴下す
ることがある。このため、TEOS供給停止時の応答性
が悪く、また、実際に気化器1から混合ガスとして供給
されるTEOS量の精度は、前述の定量ポンプ3の送出
精度ほどよくはないことになる。また、チェック弁2の
替わりに通常の開閉弁を設置した場合は、開弁と同時に
気化室10の負圧によりTEOSチャンバ18内のわず
かな気泡が瞬時に巨大化し、液状TEOSが大量にノズ
ル8から気化室10内に注入されることになる。
【0030】本実施例の気化装置では、チェック弁2
が、定量ポンプ3で制御された送液量に必要なだけの開
度コントロール機能を有しているので、かかる不都合が
排除されている。すなわちチェック弁2は、定量ポンプ
3のTEOS送出動作が終了すると直ちに閉弁して残留
TEOSの流路を遮断する。そして、遮断箇所であるチ
ェック弁2の弁座33からノズル8までは、図に見られ
るように距離が短くかつ垂直に直線状に形成されている
ので、かかる部分に残留したTEOSが滴下し続けるこ
とはほとんどない。したがって、チェック弁2の存在に
より、TEOS供給停止時の応答性がよく、かつ、定量
ポンプ3の優れた送出量精度をそのまま、気相成膜装置
への供給量精度として生かすことができる。
【0031】続いて、気化器1の利点について説明す
る。気化器1は、前述のように電熱ヒータ12の加熱に
より、供給されるTEOSを安定して気化し、アシスト
ガスとの混合ガスとして気相成膜装置に供給することを
特徴とするものである。
【0032】まず、気化器1における必要な加熱温度を
定める。図7は、気化器1の温度を変化させたときのT
EOSガス化圧力上昇値の変化を示すグラフである。こ
こでは、気化器1に1cm3 /分の液体TEOSを供給
した場合を示している。図7によれば、90℃以下の温
度では温度とともに圧力が上がっているが、90℃以上
の温度では一定の圧力となっている。このことは、90
℃以下の温度では供給されたTEOSが完全にはガス化
せず一部が液体として残留するが、90℃以上の温度で
は供給されたTEOSが全部ガス化するためと考えられ
る。したがって気化器1の温度は、90℃以上とするの
がよい。同様に、図8に示す導管の温度の場合も、90
℃以上の温度では一定の圧力となっており、同様の理由
から導管の温度も90℃以上とするのがよい。
【0033】次に、気化器1におけるTEOSの気化が
安定していることを図4のグラフにて説明する。図4
は、気化器1から気相成膜装置への導管における流量
(カーブa)および圧力(カーブb)の経時変化を示す
ものである。ここでは、アシストガスN2 を11.7T
orrの圧力で40sccm流しているところへ、0.
3cm3 /分の液体TEOSを供給する場合を示す。な
おここで、気化器1の温度を110℃、導管の温度を1
30℃としている。グラフから、TEOS供給中の圧力
および流量が安定していることが理解される。
【0034】また、グラフ中カーブaの、TEOS供給
開始前と供給中との差(矢印Aで示す)が、混合ガス全
流量(以下、「TEOSガス化流量」という)中TEO
Sガスの占める成分(以下、「TEOSガス流量」とい
う)である。同様に、グラフ中カーブbの、TEOS供
給開始前と供給中との差(矢印Bで示す)が、混合ガス
全圧(以下、「TEOSガス化圧力」という)中のTE
OS分圧(以下、「TEOSガス化圧力上昇値」とい
う)である。
【0035】さらに、ここにおいてTEOS供給量を変
化させた場合の、TEOSガス化圧力上昇値とTEOS
ガス化流量とを図5および図6のグラフに示す。図5に
は、TEOSガス化圧力上昇値がTEOS供給量の増加
に対して、ほぼリニアに増加していることが示されてい
る。同様に図6には、TEOSガス化流量がTEOS供
給量の増加に対して、ほぼ、リニアに増加していること
が示されている。これらのことから、気化器1において
TEOSが確実に気化されていることが理解できる。
【0036】以上詳細に説明したように、本実施例の気
化器および気化装置では、定量ポンプ3により精密に送
出量を制御された液体TEOSが、流路を適宜開閉する
チェック弁2を介して気化器1へ送出され、気化器1に
おいては電熱ヒータ12により平板11等が加熱され、
TEOSの気化を確実ならしめているので、必要とする
量のTEOSを確実に気化してアシストガスと混合し、
混合ガスとして気相成膜装置へ供給することができる。
これにより、気相成膜装置においては、層間絶縁膜等の
成膜を均一性よくかつ安定して行うことができる。
【0037】なお、前記実施例は本発明を何ら限定する
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内において種
々の変形、改良が可能であることはもちろんである。例
えば、前記実施例ではTEOSを気化して混合ガスとす
る気化器および気化装置を考えたが、常温常圧で液体で
あり加熱により気化しやすい液体であれば何でもよく、
TEOS以外に例えばオキシ塩化リン等への使用が考え
られる。さらに、前記実施例では混合ガスの供給先を気
相成膜装置としたが、混合ガスを使用する装置であれば
何でもよい。
【0038】
【発明の効果】以上説明したことから明かなように、本
発明の気化装置では、液体定量制御手段および送液遮断
手段により必要とされる容量の液体材料を精密に制御し
て加熱した平板に送出することができ、加熱した平板は
こうして供給される液体材料を加熱することにより確実
に気化してアシストガスとの混合ガスとすることができ
る。これにより、混合ガスとしての液体材料の供給量の
制御精度が優れている。このため、常温常圧では液体で
あるが加熱により気化するTEOS等の材料を、確実に
適量気化してアシストガスとの混合ガスとなし、CVD
装置等のガス使用機器に供給することができる。
【0039】また、本発明の気化装置は、従来の装置と
比較してコンパクトでプロセス装置に直付けでき、配管
の引き回しを短縮化して装置全体の省スペース化を図る
ことができる。また、従来の気化装置において必要とさ
れていた気化されなかったミストを捕獲するためのフィ
ルター等の付帯設備を省略できるため、設備価格の低減
化を実現できる。さらに、付帯設備の保守がなくなるの
で、半導体製造設備全体の操業度を高めることができ
る。これにより、半導体製造設備中のCVD装置等にお
ける膜質・膜圧の均一化および安定操業を可能とし、か
つ、高集積LSIを製造する際のプロセス歩留まりの向
上にも貢献でき、その産業上奏する効果はきわめて大き
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる気化装置の構成を示す断面図で
ある。
【図2】本発明にかかる気化装置のチェック弁および気
化器の構成を示す断面図である。
【図3】定量ポンプにおける吐出時間と吐出量の関係を
示すグラフである。
【図4】導管における流量および圧力の経時変化を示す
グラフである。
【図5】気化器におけるTEOS供給量とTEOSガス
化圧力上昇値との関係を示すグラフである。
【図6】気化器におけるTEOS供給量とTEOSガス
化流量との関係を示すグラフである。
【図7】気化器の温度とTEOSガス化圧力上昇値との
関係を示すグラフである。
【図8】導管の温度とTEOSガス化圧力上昇値との関
係を示すグラフである。
【図9】従来技術にかかる気化装置を示す構成図であ
る。
【符号の説明】
1 気化器 2 チェック弁 3 定量ポンプ 11 平板 12 電熱ヒータ 17 送液ポート 18 TEOSチャンバ 19 受液ポート 22 ロッド 23 ベローズ 32 弁体 33 弁座 36 ダイアフラム 39 流量制御弁 40 N2 ガス源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢島 比呂海 神奈川県川崎市幸区堀川町72番地 東芝 堀川工場内 (72)発明者 青木 利一郎 神奈川県川崎市幸区堀川町72番地 東芝 堀川工場内 (72)発明者 須藤 良久 愛知県小牧市大字北外山字早崎3005 シ ーケーディ株式会社内 (72)発明者 伊藤 稔 愛知県小牧市大字北外山字早崎3005 シ ーケーディ株式会社内 (56)参考文献 特開 平3−126872(JP,A) 特開 平5−192501(JP,A) 特開 平2−290325(JP,A) 特開 平2−298336(JP,A) 特開 昭58−143522(JP,A) 特開 平5−156448(JP,A) 特開 平4−143278(JP,A) 特開 平5−132799(JP,A) 特開 昭56−11064(JP,A) 特開 平6−346243(JP,A) 特開 平5−311446(JP,A) 実開 平2−112328(JP,U) 実開 平1−120901(JP,U) 実開 平2−112327(JP,U) 欧州特許出願公開529334(EP,A 1) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B01J 7/02 C23C 16/44 H01L 21/31 B01D 1/00

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 常温常圧で液体である液体材料を気化し
    て、気化された材料を供給する気化装置において、 前記液体材料を加熱して気化させる加熱した平板と、 定量の前記液体材料を流す液体定量送り手段と、 前記液体定量送り手段と前記平板との流路上に設けられ
    たチェック弁とを有すると共に、 前記チェック弁が、 前記平板の中央直上に垂直に配置されたノズルと、 前記ノズルに一直線状に配置され、前記ノズルと連通す
    る弁座と、 前記弁座と当接または離間して、流路を遮断または開放
    するダイヤフラム弁体と、 前記弁体を前記弁座に当接する方向に付勢する付勢手段
    とを有する ことを特徴とする気化装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載する気化装置において、前記液体定量送り供給手段が、 受液ポートと送液ポートとを穿設されるとともに内部に
    前記液体材料を充填される液体チャンバと、 前記液体チャンバの容積を微小量変化させる体積可変手
    段とを有することを特徴とする気化装置。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3928245B2 (ja) * 1998-03-05 2007-06-13 日産自動車株式会社 化学的気相成長装置
JP2004060741A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Motoyama Eng Works Ltd ダイアフラム及びダイアフラム弁並びに成膜装置
JP5342100B2 (ja) * 2006-06-09 2013-11-13 Ckd株式会社 気化装置用ジェットノズル及び気化装置
US8039052B2 (en) * 2007-09-06 2011-10-18 Intermolecular, Inc. Multi-region processing system and heads
US8361231B2 (en) 2009-09-30 2013-01-29 Ckd Corporation Liquid vaporization system
JP5810101B2 (ja) 2011-01-19 2015-11-11 Ckd株式会社 液体気化器
JP5989944B2 (ja) 2011-09-30 2016-09-07 Ckd株式会社 液体制御装置
KR101892758B1 (ko) 2011-09-30 2018-10-04 시케이디 가부시키가이샤 액체 제어 장치
JP5973178B2 (ja) 2012-02-01 2016-08-23 Ckd株式会社 液体制御装置
JP5919089B2 (ja) * 2012-05-15 2016-05-18 Ckd株式会社 液体制御装置
JP5919115B2 (ja) 2012-07-12 2016-05-18 Ckd株式会社 液体制御装置、及び液体制御装置に適用される網状体組立体

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01120901U (ja) * 1988-02-12 1989-08-16
JPH0725225Y2 (ja) * 1989-02-20 1995-06-07 大同ほくさん株式会社 蒸発気体定量取出装置
JPH0612825Y2 (ja) * 1989-02-28 1994-04-06 大同酸素株式会社 蒸発器
JP3047241B2 (ja) * 1989-10-11 2000-05-29 日立電子エンジニアリング株式会社 液状半導体形成材料気化供給装置
US5371828A (en) * 1991-08-28 1994-12-06 Mks Instruments, Inc. System for delivering and vaporizing liquid at a continuous and constant volumetric rate and pressure
JP3200457B2 (ja) * 1992-01-18 2001-08-20 株式会社エステック 液体材料気化供給装置

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