JP2865822B2 - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
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- JP2865822B2 JP2865822B2 JP2183926A JP18392690A JP2865822B2 JP 2865822 B2 JP2865822 B2 JP 2865822B2 JP 2183926 A JP2183926 A JP 2183926A JP 18392690 A JP18392690 A JP 18392690A JP 2865822 B2 JP2865822 B2 JP 2865822B2
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Description
本発明は光磁気ディスク装置にかかわり、特に波長の
異なる複数の光スポットを形成する光ヘッドに関する。
異なる複数の光スポットを形成する光ヘッドに関する。
従来、光ディスク装置の高速化・高性能化を目指し
て、各所で研究開発が行なわれているが、その中に、２
つの光スポットを用いて記録直後のエラーチェック機能
や記録／再生／消去機能、あるいは複数トラック同時に
記録／再生を行なう並列処理機能を実現する方法が考え
られている。上記機能を実現する手段としては、第32回
応用物理学関連連合講演会予稿集1a−Ｐ−６、p.108（1
985）あるいは第47回応用物理学会学術講演会予稿集27p
−Ｔ−10、p.159（1986）にあるように半導体レーザア
レイを用いる方法、また第47回応用物理学会学術講演会
予稿集30p−ZE−３、p.228（1986）にあるように２個の
別々の半導体レーザを用いる方法などが従来示されてい
る。 また、従来の光磁気ディスク用光ヘッドにおける光磁
気信号検出光学系は、例えば特開昭63−257945号記載の
ように、λ/2板によって光束の偏光方向を回転させた後
にウォラストンプリズムなどの偏光分離手段によって光
束分離を行なっている。
て、各所で研究開発が行なわれているが、その中に、２
つの光スポットを用いて記録直後のエラーチェック機能
や記録／再生／消去機能、あるいは複数トラック同時に
記録／再生を行なう並列処理機能を実現する方法が考え
られている。上記機能を実現する手段としては、第32回
応用物理学関連連合講演会予稿集1a−Ｐ−６、p.108（1
985）あるいは第47回応用物理学会学術講演会予稿集27p
−Ｔ−10、p.159（1986）にあるように半導体レーザア
レイを用いる方法、また第47回応用物理学会学術講演会
予稿集30p−ZE−３、p.228（1986）にあるように２個の
別々の半導体レーザを用いる方法などが従来示されてい
る。 また、従来の光磁気ディスク用光ヘッドにおける光磁
気信号検出光学系は、例えば特開昭63−257945号記載の
ように、λ/2板によって光束の偏光方向を回転させた後
にウォラストンプリズムなどの偏光分離手段によって光
束分離を行なっている。
ところが、従来の光磁気信号検出系においては、使用
する光の波長が複数になった場合についての考慮がなさ
れていなかった。すなわち複数波長を使用する場合にお
けるλ/2板の取り扱いに関しては、具体的な方策が示さ
れていない。例えば波長の異なる２つの光源を使用した
場合、λ/2板の設計波長を一方に設定すると、他方の波
長の光束には、λ/2板を通過することによって楕円偏光
成分が発生する。このため偏光分離手段による光束分離
にアンバランスが生じ、光磁気信号成分の低下、あるい
は雑音成分の増加のために光磁気信号の再生が不安定に
なるという問題が起きてしまう。 λ/2板の設計波長を両者の中間に設定すれば上記のよ
うな影響は約半分にすることができるが、両方の波長の
光束である程度の再生信号劣化が発生してしまうことに
なる。 以上は２波長使用時についての説明であるが、使用す
る波長が増すにつれ上記のような影響は大きくなるとい
える。 本発明の目的は、上記の事項を踏まえ、複数の波長を
使用した場合でも、それぞれの光束から安定に光磁気信
号を検出することのできる光ヘッドを提供することにあ
る。
する光の波長が複数になった場合についての考慮がなさ
れていなかった。すなわち複数波長を使用する場合にお
けるλ/2板の取り扱いに関しては、具体的な方策が示さ
れていない。例えば波長の異なる２つの光源を使用した
場合、λ/2板の設計波長を一方に設定すると、他方の波
長の光束には、λ/2板を通過することによって楕円偏光
成分が発生する。このため偏光分離手段による光束分離
にアンバランスが生じ、光磁気信号成分の低下、あるい
は雑音成分の増加のために光磁気信号の再生が不安定に
なるという問題が起きてしまう。 λ/2板の設計波長を両者の中間に設定すれば上記のよ
うな影響は約半分にすることができるが、両方の波長の
光束である程度の再生信号劣化が発生してしまうことに
なる。 以上は２波長使用時についての説明であるが、使用す
る波長が増すにつれ上記のような影響は大きくなるとい
える。 本発明の目的は、上記の事項を踏まえ、複数の波長を
使用した場合でも、それぞれの光束から安定に光磁気信
号を検出することのできる光ヘッドを提供することにあ
る。
上記の問題点を解決するため、本発明では、光磁気信
号再生光学系にλ/2板を使用しない。偏光分離素子（例
えばウォラストンプリズムなど）自体を入射光軸の周り
に回転させて設定する。
号再生光学系にλ/2板を使用しない。偏光分離素子（例
えばウォラストンプリズムなど）自体を入射光軸の周り
に回転させて設定する。
λ/2板は偏光分離素子の偏光分離面に対して入射光束
のp,s各偏光成分が均等に入射するように、入射光束の
偏光方向を回転させることを目的としている。したがっ
て、偏光分離素子（例えばウォラストンプリズムなど）
自体を入射光軸の周りに回転させて設定することによ
り、同様の結果を得ることができる。λ/2板を使用しな
いので偏光分離素子に入射する光束は直線偏光のままで
あり、偏光分離には影響を与えない。したがって、複数
の波長が使用されていても、それぞれ確実に偏光分離を
行なうことができ、光磁気信号を安定に検出することが
可能となる。
のp,s各偏光成分が均等に入射するように、入射光束の
偏光方向を回転させることを目的としている。したがっ
て、偏光分離素子（例えばウォラストンプリズムなど）
自体を入射光軸の周りに回転させて設定することによ
り、同様の結果を得ることができる。λ/2板を使用しな
いので偏光分離素子に入射する光束は直線偏光のままで
あり、偏光分離には影響を与えない。したがって、複数
の波長が使用されていても、それぞれ確実に偏光分離を
行なうことができ、光磁気信号を安定に検出することが
可能となる。
以下第１図により本発明の一実施例を述べる。 半導体レーザ光源１は２つの発光点LD1およびLD2（後
述）を有する。半導体レーザ光源１の出射光はコリメー
トレンズ２により平行光束となり、ビーム整形プリズム
３によって光強度分布が円形に整形される。さらに偏光
ビームスプリッタ４、ミラー５を通過して絞り込みレン
ズ６によりディスク７上に絞り込みスポット８として絞
り込まれる。本実施例は各絞り込みスポットが一トラッ
ク上にあい前後して配置されている場合であり、各絞り
込みスポットSP1およびSP2の役割は第１表に示すように
様々考えられる。 なお、波長の異なる光束を一つの絞り込みレンズ（す
なわち同一の開口数）で絞り込むため、波長の短い光束
の方が絞り込みスポットがより小さくなる。例えば２つ
のスポットで記録後のエラーチェックを行なう場合、長
波長のスポットで記録を行ない、短波長のスポットでエ
ラーチェックを行なうようにする。これにより、エラー
チェック用のスポットに多少トラックオフセットが生じ
てもエラーチェックの性能が落ちることがなく、信頼性
の高いエラーチェックの行なうことが可能となる。 以上は記録／再生関係に関する絞り込みスポットの機
能であったが、焦点ずれ制御（AF）、トラックずれ制御
（TR）といった光点制御の方法に関しても、以下に示す
ように様々な場合が考えられる。 外部からの磁界は、磁界印加手段12によって記録膜が
印加される。例えば、いわゆる光変調記録方式の場合、
磁界印加手段としては電磁コイルあるいは永久磁石など
を用いる。また、いわゆる磁界変調記録方式の場合は、
磁界印加手段として小型電磁コイルあるいは浮上型磁気
ヘッドなどが使用される。 さて、ディスク７で反射した光は、絞り込みレンズ
６、ミラー５、偏光ビームスプリッタ４、レンズ９を通
過し、ウォラストンプリズム10によってｐ・ｓ両偏光成
分に光束分離される。ウォラストンプリズム10は、入射
する光の偏光方向がプリズムの張り合わせ面に対して略
45度であり、出射する２光束の光量が概略一致するよう
に回転させて設定されている。 本発明では、光磁気信号再生光学系にλ/2板を用いて
いない。これは使用するレーザが２種類以上で２つの絞
り込みスポットの波長が異なる場合に極めて有効であ
る。ウォラストンプリズムを回転設置せずλ/2板を用い
て偏光方向の回転を行なう場合、λ/2板はどちらか一方
あるいは両者の中間波長で設計する必要がある。すると
どちらか一方あるいは両方の光とも完全な直線偏光でな
くなり、ある程度楕円偏光になってしまう。これは光磁
気信号のC/N劣化につながるため好ましくない。したが
って、２つ以上の波長を使用する光磁気ディスク装置に
おいては、光磁気信号再生系にλ/2板を用いず、ウォラ
ストンプリズムあるいは偏光ビームスプリッタを回転し
て設定する方が好ましいといえる。 上記の説明では、光磁気信号検出光学系における光束
分離手段としてウォラストンプリズムを用いているが、
偏光ビームスプリッタ等他の偏光分離光学素子を用いて
もかまわない。 いずれにしても、第２図に示すように、偏光分離光学
素子に入射する光束の偏光方向で決定される平面と、偏
光分離光学素子に入射する光束とその出射光束で決定さ
れる平面とのなす角度が略45度になるように、該偏光分
離光学素子をその入射光束光軸のまわりに回転して設置
すればよい。 光検出器11の上には第３図に示すように受光面Ａ〜Ｇ
が形成されている。焦点ずれ信号AF、トラックずれ信号
TR、光磁気再生信号MO、アドレス情報再生信号ID等は以
下に示す演算式により得られる。ただし、以下の式にお
ける記号Ａ〜Ｇは、Ａ〜Ｇの各受光面で受光する光量の
総和を表わすものとする。 AF＝（Ａ＋Ｃ）−Ｂ TR＝Ｅ−Ｆ MO＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ｅ＋Ｆ） ＝Ｄ−Ｇ ID＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）＋（Ｅ＋Ｆ） ＝Ｄ＋Ｇ 第３図に受光面の一構成例を示す。これらの形状は第
３図に限定されず、いかなるものであっても本発明の本
質に影響を与えるものではない。 ここで、光源について説明する。光源の使用波長につ
いては、例えば830nmと780nm、あるいは780nmと670nm等
が考えられる。本発明における半導体レーザ光源の一例
を第４図に示す。同図（ａ）はレーザチップLD1（例え
ば830nm）101とレーザチップLD2（例えば780nm）102を
同一のサブマウント103上にマウントしたものである。
この構造の場合、両レーザチップの発光点間隔d1は100
〜150μｍ程度に近付けることができる。さらに発光点
間隔を小さくしたい場合は、同図（ｂ）に示したよう
に、両レーザチップを対向させサブマウント103を介し
てブロック104上にマウントする。この場合発光点間隔d
1は20μｍ以下にすることができる。 以上のような構造をとることによって、波長、出力、
雑音特性、発光分布あるいは非点収差等の異なる２個の
半導体レーザを１つのパッケージ内に実装することが可
能となる。なお本実施例では示していないが、２個の別
々の半導体レーザ光源を用意し、ミラーや波長板等を用
いて光束合成を行なってもよい。これにより、本発明の
本質が影響を受けることはない。 以上説明した本発明の実施例においては、第５図
（ａ）のように、複数スポットを同一情報記録トラック
上に、あい前後して配置させたが、同図（ｂ）に示すよ
うに、各スポットを複数の情報記録トラック上に配置さ
せることも可能である。この場合は、複数の情報を同時
に記録（あるいは消去）／再生することができるため、
情報記録あるいは再生の転送速度向上が可能となる。
述）を有する。半導体レーザ光源１の出射光はコリメー
トレンズ２により平行光束となり、ビーム整形プリズム
３によって光強度分布が円形に整形される。さらに偏光
ビームスプリッタ４、ミラー５を通過して絞り込みレン
ズ６によりディスク７上に絞り込みスポット８として絞
り込まれる。本実施例は各絞り込みスポットが一トラッ
ク上にあい前後して配置されている場合であり、各絞り
込みスポットSP1およびSP2の役割は第１表に示すように
様々考えられる。 なお、波長の異なる光束を一つの絞り込みレンズ（す
なわち同一の開口数）で絞り込むため、波長の短い光束
の方が絞り込みスポットがより小さくなる。例えば２つ
のスポットで記録後のエラーチェックを行なう場合、長
波長のスポットで記録を行ない、短波長のスポットでエ
ラーチェックを行なうようにする。これにより、エラー
チェック用のスポットに多少トラックオフセットが生じ
てもエラーチェックの性能が落ちることがなく、信頼性
の高いエラーチェックの行なうことが可能となる。 以上は記録／再生関係に関する絞り込みスポットの機
能であったが、焦点ずれ制御（AF）、トラックずれ制御
（TR）といった光点制御の方法に関しても、以下に示す
ように様々な場合が考えられる。 外部からの磁界は、磁界印加手段12によって記録膜が
印加される。例えば、いわゆる光変調記録方式の場合、
磁界印加手段としては電磁コイルあるいは永久磁石など
を用いる。また、いわゆる磁界変調記録方式の場合は、
磁界印加手段として小型電磁コイルあるいは浮上型磁気
ヘッドなどが使用される。 さて、ディスク７で反射した光は、絞り込みレンズ
６、ミラー５、偏光ビームスプリッタ４、レンズ９を通
過し、ウォラストンプリズム10によってｐ・ｓ両偏光成
分に光束分離される。ウォラストンプリズム10は、入射
する光の偏光方向がプリズムの張り合わせ面に対して略
45度であり、出射する２光束の光量が概略一致するよう
に回転させて設定されている。 本発明では、光磁気信号再生光学系にλ/2板を用いて
いない。これは使用するレーザが２種類以上で２つの絞
り込みスポットの波長が異なる場合に極めて有効であ
る。ウォラストンプリズムを回転設置せずλ/2板を用い
て偏光方向の回転を行なう場合、λ/2板はどちらか一方
あるいは両者の中間波長で設計する必要がある。すると
どちらか一方あるいは両方の光とも完全な直線偏光でな
くなり、ある程度楕円偏光になってしまう。これは光磁
気信号のC/N劣化につながるため好ましくない。したが
って、２つ以上の波長を使用する光磁気ディスク装置に
おいては、光磁気信号再生系にλ/2板を用いず、ウォラ
ストンプリズムあるいは偏光ビームスプリッタを回転し
て設定する方が好ましいといえる。 上記の説明では、光磁気信号検出光学系における光束
分離手段としてウォラストンプリズムを用いているが、
偏光ビームスプリッタ等他の偏光分離光学素子を用いて
もかまわない。 いずれにしても、第２図に示すように、偏光分離光学
素子に入射する光束の偏光方向で決定される平面と、偏
光分離光学素子に入射する光束とその出射光束で決定さ
れる平面とのなす角度が略45度になるように、該偏光分
離光学素子をその入射光束光軸のまわりに回転して設置
すればよい。 光検出器11の上には第３図に示すように受光面Ａ〜Ｇ
が形成されている。焦点ずれ信号AF、トラックずれ信号
TR、光磁気再生信号MO、アドレス情報再生信号ID等は以
下に示す演算式により得られる。ただし、以下の式にお
ける記号Ａ〜Ｇは、Ａ〜Ｇの各受光面で受光する光量の
総和を表わすものとする。 AF＝（Ａ＋Ｃ）−Ｂ TR＝Ｅ−Ｆ MO＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）−（Ｅ＋Ｆ） ＝Ｄ−Ｇ ID＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ）＋（Ｅ＋Ｆ） ＝Ｄ＋Ｇ 第３図に受光面の一構成例を示す。これらの形状は第
３図に限定されず、いかなるものであっても本発明の本
質に影響を与えるものではない。 ここで、光源について説明する。光源の使用波長につ
いては、例えば830nmと780nm、あるいは780nmと670nm等
が考えられる。本発明における半導体レーザ光源の一例
を第４図に示す。同図（ａ）はレーザチップLD1（例え
ば830nm）101とレーザチップLD2（例えば780nm）102を
同一のサブマウント103上にマウントしたものである。
この構造の場合、両レーザチップの発光点間隔d1は100
〜150μｍ程度に近付けることができる。さらに発光点
間隔を小さくしたい場合は、同図（ｂ）に示したよう
に、両レーザチップを対向させサブマウント103を介し
てブロック104上にマウントする。この場合発光点間隔d
1は20μｍ以下にすることができる。 以上のような構造をとることによって、波長、出力、
雑音特性、発光分布あるいは非点収差等の異なる２個の
半導体レーザを１つのパッケージ内に実装することが可
能となる。なお本実施例では示していないが、２個の別
々の半導体レーザ光源を用意し、ミラーや波長板等を用
いて光束合成を行なってもよい。これにより、本発明の
本質が影響を受けることはない。 以上説明した本発明の実施例においては、第５図
（ａ）のように、複数スポットを同一情報記録トラック
上に、あい前後して配置させたが、同図（ｂ）に示すよ
うに、各スポットを複数の情報記録トラック上に配置さ
せることも可能である。この場合は、複数の情報を同時
に記録（あるいは消去）／再生することができるため、
情報記録あるいは再生の転送速度向上が可能となる。
以上説明したように、本発明によれば、光磁気信号再
生光学系においてλ/2板を使用せず、偏光分離素子を入
射光束光軸の回りに回転させて設定している。このた
め、複数の波長が使用されていても偏光分離素子に入射
する光束は直線偏光のままであり、各波長の光束を確実
に偏光分離することができる。これにより光磁気信号を
安定に検出することが可能となる。また、高価なλ/2板
を使用しないため、光ヘッドの低コスト化あるいは小型
化に対する効果もある。
生光学系においてλ/2板を使用せず、偏光分離素子を入
射光束光軸の回りに回転させて設定している。このた
め、複数の波長が使用されていても偏光分離素子に入射
する光束は直線偏光のままであり、各波長の光束を確実
に偏光分離することができる。これにより光磁気信号を
安定に検出することが可能となる。また、高価なλ/2板
を使用しないため、光ヘッドの低コスト化あるいは小型
化に対する効果もある。
第１図は本発明における一実施例の全体構成を示す図、
第２図は偏光分離素子の設置方法を示す図、第３図は光
検出器の構成を示す図、第４図は使用する光源の一例を
示す図、第５図はスポット配置に関する他の実施例を示
す図である。 符号の説明 １……半導体レーザ光源、101・102……レーザチップ、
103……サブマウント、104……ブロック、２……コリメ
ートレンズ、３……ビーズ整形プリズム、４……偏光ビ
ームスプリッタ、５……ミラー、６……絞り込みレン
ズ、７……ディスク、８……絞り込みスポット、９……
レンズ、10……ウォラストンプリズム、11……光検出
器、12……磁界印加手段
第２図は偏光分離素子の設置方法を示す図、第３図は光
検出器の構成を示す図、第４図は使用する光源の一例を
示す図、第５図はスポット配置に関する他の実施例を示
す図である。 符号の説明 １……半導体レーザ光源、101・102……レーザチップ、
103……サブマウント、104……ブロック、２……コリメ
ートレンズ、３……ビーズ整形プリズム、４……偏光ビ
ームスプリッタ、５……ミラー、６……絞り込みレン
ズ、７……ディスク、８……絞り込みスポット、９……
レンズ、10……ウォラストンプリズム、11……光検出
器、12……磁界印加手段
Claims (3)
- 【請求項１】互いに波長の異なる複数の光源を有し、該
光源から出射する光を記録媒体上に絞り込んで複数の光
スポットを形成する光磁気ディスク用光ヘッドであっ
て、光磁気信号検出光学系における光束分離手段として
偏光分離光学素子を用い、該偏光分離光学素子に入射す
る光束の偏光方向で決定される平面と、該偏光分離光学
素子に入射する光束とその出射光束で決定される平面と
のなす角度が所定の角度になるように、該偏光分離光学
素子をその入射光束光軸のまわりに回転して設置し、 該所定の角度が、45度であり、 該複数の絞り込みスポットが、記録媒体上における同一
の情報記録トラック上にあい前後して配置されているこ
とを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項２】互いに波長の異なる複数の光源を有し、該
光源から出射する光を記録媒体上に絞り込んで複数の光
スポットを形成する光磁気ディスク用光ヘッドであっ
て、光磁気信号検出光学系における光束分離手段として
偏光分離光学素子を用い、該偏光分離光学素子に入射す
る光束の偏光方向で決定される平面と、該偏光分離光学
素子に入射する光束とその出射光束で決定される平面と
のなす角度が所定の角度になるように、該偏光分離光学
素子をその入射光束光軸のまわりに回転して設置し、 該所定の角度が、45度であり、 該複数の絞り込みスポットが、記録媒体上における複数
の情報記録トラック上に配置されていることを特徴とす
る光ヘッド。 - 【請求項３】該偏光分離光学素子として、偏光ビームス
プリッタ、ウォラストンプリズム、ロッションプリズム
を用いることを特徴とする請求項第１項または第２項記
載の光ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2183926A JP2865822B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 光ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2183926A JP2865822B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 光ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0478041A JPH0478041A (ja) | 1992-03-12 |
| JP2865822B2 true JP2865822B2 (ja) | 1999-03-08 |
Family
ID=16144229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2183926A Expired - Lifetime JP2865822B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 光ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2865822B2 (ja) |
-
1990
- 1990-07-13 JP JP2183926A patent/JP2865822B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0478041A (ja) | 1992-03-12 |
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