JP2857648B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はダイオード、トランジス
タ、IC等の樹脂封止型電子部品の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】半導体
素子をこの支持板と共に樹脂封止体で封止した樹脂封止
型半導体装置は周知である。この種の半導体装置におい
て、樹脂封止体と支持板の界面を通じて半導体素子の載
置された領域に水分等の不純物(異物)が侵入すると、
半導体装置の特性が低下する。そこで、本願発明者は、
半導体素子の載置された領域を囲む溝を支持板に設ける
試みをした。これにより、不純物の侵入を溝によって抑
制することができ、半導体装置の特性低下をそれなりに
防止することができた。しかしながら、今日、半導体装
置の高機能化等のためにチップ(半導体素子)の大型化
が進んでいる。このため、チップを支持板に固着する半
田が溝に流れ込むことがあり、溝の不純物侵入防止効果
が低減することがあった。
【0003】そこで、本発明はろう材の不要な流れを防
ぐことができる電子部品の製造方法を提供することを目
的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、第1の環状溝と該第1の環状溝を包囲する
第2の環状溝とを有し、前記第1の環状溝で包囲された
領域には電子素子をスクラブしてろう接するためのスク
ラブ領域を有し、前記第1の環状溝で包囲された領域は
前記スクラブ領域よりも大きい面積を有している導電性
支持板を用意する工程と、前記スクラブ領域にろう材を
供給し、前記ろう材の上に前記電子素子を載置し、前記
スクラブ領域内において前記電子素子を前記ろう材を介
してスクラブすることによって前記電子素子を前記スク
ラブ領域内にろう付けする工程と、前記電子素子と前記
第1の環状溝と前記第2の環状溝を含むように前記支持
板を被覆する樹脂封止体を設ける工程とを有することを
特徴とする樹脂封止型電子部品の製造方法に係わるもの
である。
【0005】
【作用】本発明によれば、電子素子が支持板の第1の環
状溝の内側に配設されたスクラブ領域内にろう付けされ
る。スクラブ領域は第1の環状溝で包囲された領域より
も小さく設定されており、電子素子はこのスクラブ領域
内でスクラブ運動を伴なってろう付けされる。したがっ
て、ろう材が第1の環状溝よりも外側に流れ出すことが
有効に抑制される。このため、第1の環状溝の外側に配
設された第2の環状溝が異物侵入防止用の溝として有効
に作用する。
【0006】
【実施例】次に、図1〜図4を参照して本発明の一実施
例に係わる樹脂封止型半導体装置の製造方法を説明す
る。
【0007】まず、図2に示すリードフレーム11を用
意する。このリードフレーム11は放熱板を兼ねる比較
的厚い金属製支持板12と、この支持板12の一方の端
部側に配置された比較的薄い板状外部リード13と、支
持板12の他方の端部側に配置された比較的薄い板状支
持リード14と、外部リード13及び支持リード14を
連結する比較的薄い細条15、16、17から構成され
ている。実際のリードフレームでは、細条15、16、
17の延びる方向(横方向)に複数の支持板12が並設
されて全体として梯子形状となっている。しかしなが
ら、図2では図面を簡略化して支持板12を1個のみ示
す。
【0008】支持板12の一方の主面の中央側には、内
側から順番に第1の環状溝18と第2の環状溝19と第
3の環状溝20が互いに離間して配設されている。第1
の環状溝18の内側にはチップをスクラブ(こすりつ
け)運動を伴なって固着するためのスクラブ領域(チッ
プ載置予定領域)21が第1の環状溝18から離間した
位置に配設されている。第1の環状溝18で包囲された
領域の面積はスクラブ領域21の面積よりも大きい。即
ち第1の環状溝18の一辺の長さはチップのスクラブ領
域21の一辺の長さよりも大きく設計されている。第
1、第2及び第3の環状溝18、19、20はリードフ
レーム11を形成するための一連のプレス加工において
同時に形成したものである。
【0009】次に、支持板12にチップを半田付けする
ために、支持板12のスクラブ領域21にろう材として
の半田22を加熱溶融状態且つ膜状に広げる。続いて、
図1に示すチップ吸着保持体(以下、コレットと称す
る)23を用意して、固着すべき電子素子としての半導
体チップ24をコレット23の空間に対応する壁面25
に吸着させる。続いて、図示のようにスクラブ領域21
のほぼ中央位置において半田22の上にチップ24を押
し付けた後、矢印26で示す左右方向にチップ24をコ
レット23と共に直線往復運動(スクラブ運動)させて
チップ24を半田22で固着する。チップ24をスクラ
ブ領域21の幅即ちコレット23を第1の環状溝18の
一方の辺側に移動させたときのチップ24の他方の側縁
の位置Aとコレット23を第1の環状溝18の他方の辺
側に移動させたときのチップ24の他方の側縁の位置B
との間隔L1は、第1の環状溝18の一辺の長さL2 よ
りも小さくなっている。スクラブ領域21の外側に流れ
た半田22は第1の環状溝18に収容され、半田22が
第1の環状溝18よりも外側に広がることが阻止され
る。
【0010】図3のように、チップ24が半田22を介
してスクラブ領域21内のチップ載置領域(中央領域)
に固着されたら、周知のワイヤボンディング法によって
チップ24と外部リード13との間にリード細線27を
図2に示すように接続する。続いて、シリコン樹脂等か
ら成る保護樹脂28をチップ24の上面に滴下して、図
3のようにチップ24とリード細線27のチップ24へ
の接続部分側を被覆する。保護樹脂28の一部は第1の
環状溝18よりも外側まで広がるが、第2の環状溝19
が保護樹脂28の流れ留めとして機能するから、保護樹
脂28は第2の環状溝19よりも外側には広がらない。
【0011】次に、リードフレーム11とチップ24と
リード細線27から成る組立体を成形用型(図示せず)
に配置して、周知のトランスファモールド法によって、
図2で破線で示すように支持板12の全面と外部リード
13及び支持リード14の一部を被覆する樹脂封止体2
9を形成する。最後に、細条15、16、17と支持リ
ード14を除去することによって、図4に示す樹脂封止
型半導体装置を完成させる。なお、支持リード14の引
抜き破断によって、樹脂封止体29に孔30が生じる
が、極めて小さいのでほとんど問題にならない。この孔
30は必要に応じて樹脂で埋められる。
【0012】本実施例では、チップ24が第1の環状溝
18の内側に半田付けされ且つスクラブ領域の幅L1 が
第1の環状溝18の一辺の長さL2 よりも小さく設定さ
れている。したがって、チップ24を支持板12に固着
するための半田22の流れ出しが有効に防止される。
【0013】また、保護樹脂28の外側への流れ出しも
第2の環状溝19によって留められている。結果とし
て、異物侵入防止用の第3の環状溝20に半田22や保
護樹脂28が入り込むことが防止され、第3の環状溝2
0による異物侵入防止効果が強力に得られる。したがっ
て、樹脂封止型半導体装置の長期使用による特性低下を
許容レベル以下に収めることができる。
【0014】
【変形例】本発明は上述の実施例に限定されるものでは
なく、例えば次の変形が可能なものである。
【0015】スクラブの運動方向は実施例に限られな
い。例えば、チップ24の中心点を軸として円運動させ
てもよい。この場合、第1の環状溝18で包囲された面
積は、この円運動によってチップ24の端部で描かれる
円の面積よりも大きくし、且つスクラブ領域21を第1
の環状溝18から離間させた中央側に配設する。
【0016】第1の環状溝18及び第2の環状溝20の
断面形状はV字形状でなくても良い。例えば、第1の環
状溝18を図5のように2段階の凹部で形成し、この境
界に突出部を設け、半田の流れ留め効果を増大させても
よい。
【0017】第1、第2及び第3の環状溝18、19、
20を完全に閉じた環状溝にせずに、仮想環状線に沿っ
て断続的に形成しても異物侵入防止の効果はそれなりに
得られる。したがって、第1、第2及び第3の環状溝1
8、19、20は実質的に環状であればよい。また、第
2及び第3の環状溝19、20のいずれか一方を省くこ
とができる。
【0018】
【発明の効果】本発明によって水分等の異物の侵入を防
止でき、長期間にわたって特性変動の生じない信頼性の
高い電子部品を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係わる樹脂封止型半導体装置
の製造方法を図2のA−A線に対応する部分で示す断面
図である。
【図2】実施例のリードフレームを示す平面図である。
【図3】支持板上にチップを半田付けし、保護樹脂を設
けた状態を示す断面図である。
【図4】完成した半導体装置を示す断面図である。
【図5】変形例の支持板を示す平面図である。
【符号の説明】
11 リードフレーム 12 支持板 13 外部リード 18 第1の環状溝 19 第2の環状溝 20 第3の環状溝 24 チップ 22 半田

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の環状溝と該第1の環状溝を包囲す
    る第2の環状溝とを有し、前記第1の環状溝で包囲され
    た領域には電子素子をスクラブしてろう接するためのス
    クラブ領域を有し、前記第1の環状溝で包囲された領域
    は前記スクラブ領域よりも大きい面積を有している導電
    性支持板を用意する工程と、 前記スクラブ領域にろう材を供給し、前記ろう材の上に
    前記電子素子を載置し、前記スクラブ領域内において前
    記電子素子を前記ろう材を介してスクラブすることによ
    って前記電子素子を前記スクラブ領域内にろう付けする
    工程と、 前記電子素子と前記第1の環状溝と前記第2の環状溝を
    含むように前記支持板を被覆する樹脂封止体を設ける工
    程とを有することを特徴とする樹脂封止型電子部品の製
    造方法。
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JPH06163773A (ja) * 1992-11-19 1994-06-10 Goto Seisakusho:Kk 半導体装置用リードフレーム及びその製造方法
JP3748849B2 (ja) * 2002-12-06 2006-02-22 三菱電機株式会社 樹脂封止型半導体装置
DE102004046699A1 (de) * 2004-09-24 2006-04-13 Infineon Technologies Ag Anordnung zum Verbinden von Kontaktflächen durch eine sich verfestigende Flüssigkeit
JP2007165714A (ja) * 2005-12-15 2007-06-28 Renesas Technology Corp 半導体装置
JP5224665B2 (ja) * 2006-08-25 2013-07-03 パナソニック株式会社 リードフレームおよびパッケージ部品および半導体装置およびパッケージ部品の製造方法
JP5401242B2 (ja) * 2009-09-30 2014-01-29 新電元工業株式会社 半導体パッケージ及びその製造方法
JP6228490B2 (ja) 2014-03-04 2017-11-08 ローム株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
DE102014104819A1 (de) * 2014-03-26 2015-10-01 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Träger und/oder Clip für Halbleiterelemente, Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung
JP6758151B2 (ja) * 2016-10-19 2020-09-23 三菱電機株式会社 ダイパッド、半導体装置、および、半導体装置の製造方法
DE102017123278A1 (de) * 2017-10-06 2019-04-11 Schott Ag Grundkörper mit angelötetem Massestift, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendungen
JP2018029201A (ja) * 2017-10-13 2018-02-22 ローム株式会社 半導体装置
JP6698186B2 (ja) * 2019-01-29 2020-05-27 ローム株式会社 半導体装置

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