JP2853612B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JP2853612B2
JP2853612B2 JP7221880A JP22188095A JP2853612B2 JP 2853612 B2 JP2853612 B2 JP 2853612B2 JP 7221880 A JP7221880 A JP 7221880A JP 22188095 A JP22188095 A JP 22188095A JP 2853612 B2 JP2853612 B2 JP 2853612B2
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flip
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一樹 大野
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    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体記憶装置に関
し、特に同期式の半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の同期式の半導体記憶装置に含まれ
るブロック書込み回路の1例が、図5のブロック図に示
される。図5に示されるように、本従来例におけるブロ
ック書込み回路は、行アドレス選択信号101、列アド
レス選択信号102、………、特別機能選択信号103
の入力を受けて、ブロック書込み判定信号104を出力
するコマンドデコード回路1と、このブロック書込み判
定信号104およびクロック信号106を入力してブロ
ック書込み禁止信号119を出力するフリップフロップ
20と、クロック信号106およびアドレス信号110
を入力してラッチ回路として機能し、内部アドレス信号
120を出力するフリップフロップ21と、クロック信
号106およびバンク選択信号112を入力してラッチ
回路として機能し、内部バンクアドレス信号121を出
力するフリップフロップ22と、インバータ23と、ブ
ロック書込み禁止信号119と内部バンクアドレス信号
121の反転信号の論理積を出力するAND回路24
と、ブロック書込み禁止信号119と内部バンクアドレ
ス信号121の論理積を出力するAND回路25とを備
えて構成される。
【0003】図5において、コマンドデコード回路1に
おいては、行アドレス選択信号101、列アドレス選択
信号102、………、および特別機能選択信号103を
入力して、これらの信号がデコードされて、所望の信号
の組合わせ時において“H”レベルの信号が抽出され、
ブロック書込み判定信号104として出力されてフリッ
プフロップ20に入力される。フリップフロップ20に
おいては、クロック信号106の入力を介して、当該ク
ロック信号106の立ち上がりにおいて、コマンドデコ
ード回路20より出力されるブロック書込み判定信号1
04がラッチされ、その出力は、ブロック書込み禁止信
号119として出力される。
【0004】一方、フリップフロップ21においては、
アドレス信号110およびクロック信号106の入力を
受けて、当該アドレス信号110がクロック信号106
の立ち上りにおいてラッチされ、その出力は内部アドレ
ス信号120として、当該半導体記憶装置の内部回路に
出力される。また、フリップフロップ22においては、
バンク選択信号112およびクロック信号106の入力
を受けて、当該バンク選択信号112がクロック信号1
06の立ち上りにおいてラッチされ、その出力は内部バ
ンク選択信号121としてインバータ23およびAND
回路25に入力され、インバータ23において反転され
たバンク選択信号はAND回路24に入力される。AN
D回路24においては、フリップフロップ20より出力
されるブロック書込み禁止信号119と、インバータ2
3より出力される反転されたバンク選択信号との論理積
がとられて、ブロック書込み禁止信号“0”107とし
て出力され、当該半導体記憶装置の内部回路に入力され
る。また、AND回路25においては、フリップフロッ
プ20より出力されるブロック書込み禁止信号119
と、フリップフロップ22より出力される内部バンク選
択信号121との論理積がとられて、ブロック書込み禁
止信号“1”109として出力され、同様に当該半導体
記憶装置の内部回路に入力される。
【0005】一般に、ブロック書込み動作は通常の書込
み動作とは異なり、複数のカラムアドレスに対して同時
に書込みを行う必要があるために、通常の書込み動作に
対して書込みにはより多くの時間を必要とする。そのた
めに、クロック信号の周波数をより高くすることによ
り、書込み時間に関係するバック書込み禁止信号が短縮
される場合には、通常の書込み動作を行うことは可能で
はあるものの、処理時間が不足するために、ブロック書
込み動作を行うことができなくなるという危惧がある。
また、図5には記載されてはいないが、ブロック書込み
動作時において、クロック周波数を高くする代りに複数
のクロック信号にまたがって書込み処理を行うことも可
能ではあるが、当該ブロック書込み動作時においては、
パフォ−マンス・アップした分をmとし、k(k=2,
3,……)クロック処理に入るものとすると、m/k倍
のパフォ−マンス・アップとなり、場合によっては、ブ
ロック書込みの利点がなくなるということも予想され
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
記憶装置に含まれるブロック書込み回路においては、ブ
ロック書込み時の制御信号として機能するブロック書込
み禁止信号が、当該半導体記憶装置のクロック信号の動
作周波数により影響を受けるために、ブロック書込み回
路におけるブロック書込み時間に制約が生じ、他のコマ
ンド信号による動作機能に対しては影響が無い状態にお
いても、ブロック書込み動作に対しては、クロック信号
の動作周波数の上限値に制約を受け、当該クロック信号
の動作周波数を高くとることができないという欠点があ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
は、複数のバンクを有し、当該バンクに対応して、ブロ
ック書込禁止信号をラッチするブロック書込み回路を備
える同期式の半導体記憶装置において、行アドレス選択
信号、列アドレス選択信号および特別機能選択信号を入
力して、ブロック書込み判定信号を出力するコマンドデ
コード回路と、第i(i=1,2,………,N)のバン
ク選択信号およびクロック信号を介して、前記コマンド
デコード回路より出力されるブロック書込み判定信号の
内より、第iのバンクに対応するブロック書込み判定信
号をラッチし、第iのバンクに対応する第iのブロック
書込み禁止信号を出力する第iのブロック回路と、所定
のアドレス信号、前記第iのブロック書込み禁止信号、
前記第iのバンク選択信号およびクロック信号を入力し
て、第iのバンク用アドレス信号を出力する第iの論理
回路と、を少くとも含むブロック書込み回路を部分回路
として備えることを特徴としている。
【0008】なお、前記本発明の半導体記憶装置におい
て、前記第iのブロック回路は、前記第iのバンク選択
信号、前記クロック信号および当該第iのブロック回路
より出力される前記第iのブロック書込み禁止信号を入
力して、これらの信号の論理和を出力するOR回路と、
前記OR回路より出力される論理信号を介して、前記コ
マンドデコード回路より出力されるブロック書込み判定
信号を入力してラッチする第1のフリップフロップと、
前記第1のフリップフロップより出力される論理信号お
よび前記クロック信号を入力して、これらの信号の論理
積を出力するNAND回路と、縦続接続されてシフトレ
ジスタを形成し、前記NAND回路より出力される論理
信号をそれぞれのセット端子に入力して、当該シフトレ
ジスタより前記第iのブロック書込み禁止信号を出力す
る第2および第3のフリップフロップとを備えて構成
し、前記論理回路は、前記第iのブロック書込み禁止信
号、前記第iのバンク選択信号および前記クロック信号
を入力して、これらの信号の論理和を出力するOR回路
と、前記OR回路より出力される論理信号を介して、所
定のアドレス信号をラッチし、第iのバンク用アドレス
信号を出力する第iのフリップフロップとを備えて構成
してもよい。
【0009】或はまた、前記本発明の半導体記憶装置に
おいて、前記第iのブロック回路としては、前記第iの
バンク選択信号、前記クロック信号および当該第iのブ
ロック回路より出力される前記第iのブロック書込み禁
止信号を入力して、これらの信号の論理和を出力するO
R回路と、前記OR回路より出力される論理信号を介し
て、前記コマンドデコード回路より出力されるブロック
書込み判定信号を入力してラッチする第1のフリップフ
ロップと、前記第1のフリップフロップより出力される
論理信号を入力して、当該論理信号を所定時間遅延させ
て出力する遅延回路と、前記第1のフリップフロップよ
り出力される論理信号および前記遅延回路より出力され
る論理信号を入力して、前記第iのブロック書込み禁止
信号を出力するセットリセット・フリップフロップとを
備えて構成し、前記論理回路は、前記第iのブロック書
込み禁止信号、前記第iのバンク選択信号および前記ク
ロック信号を入力して、これらの信号の論理和を出力す
るOR回路と、前記OR回路より出力される論理信号を
介して、所定のアドレス信号をラッチし、第iのバンク
用アドレス信号を出力する第iのフリップフロップとを
備えて構成してもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
【0011】図1は本発明の半導体記憶装置に含まれる
ブロック書込み回路の第1の実施形態の構成を示すブロ
ック図である。図1に示されるように、本実施形態のブ
ロック書込み回路は、行アドレス選択信号101、列ア
ドレス選択信号102、………、特別機能選択信号10
3の入力を受けて、ブロック書込み判定信号104を出
力するコマンドデコード回路1と、OR回路3、フリッ
プフロップ4、6および7、NAND回路5を含み、ブ
ロック書込み判定信号104、バンク選択信号105お
よびクロック信号106を入力して、ブロック書込み禁
止信号「0」107を出力するバンク「0」に対応する
ブロック2と、当該ブロック2と同一の回路構成より成
り、ブロック書込み判定信号104、クロック信号10
6およびバンク選択信号105の反転信号108を入力
してブロック書込み禁止信号「1」109を出力するバ
ンク「1」に対応するブロック8と、ブロック書込み禁
止信号「0」107、クロック信号106およびバンク
選択信号105を入力して、これらの論理和を出力する
OR回路9と、このOR回路9の出力とアドレス信号1
10を入力して、バンク「0」に対応するアドレス信号
「0」11を出力するフリップフロップ10と、ブロ
ック書込み禁止信号「1」109、クロック信号106
およびバンク選択信号105の反転信号108を入力し
て、これらの論理和を出力するOR回路11と、このO
R回路11の出力とアドレス信号110を入力して、バ
ンク「1」に対応するアドレス信号「1」11を出力
するフリップフロップ12とを備えて構成される。な
お、図1においては、ブロック8の内部構成がブロック
2の内部構成と全く同一であるため、当該内部構成の記
載が省略されている。
【0012】また、図3(a)、(b)、(c)、
(d)、(e)、(f)、(g)および(h)に示され
るのは、本実施形態における動作タイミング図である。
以下、図1および図3を参照して、当該ブロック書込み
回路の第1の実施形態の動作について説明する。
【0013】図1において、コマンドデコード回路1に
おいては、前述の従来例の場合と同様に、行アドレス選
択信号101、列アドレス選択信号102、………、お
よび特別機能選択信号103を入力して、これらの信号
がデコードされて、所望の信号の組合わせに一致が生じ
た時点において“H”レベルの信号が抽出され、ブロッ
ク書込み判定信号104(図3(d)参照)として出力
されて、ブロック2に含まれるフリップフロップ4のD
端子と、ブロック8内のフリップフロップのD端子に入
力される。また、ブロック2に含まれるOR回路3に対
しては、当該ブロック2より出力されるブロック書込み
禁止信号「0」107(図3(e)参照)と、バンク選
択信号105(図3(b)参照)とクロック信号106
(図3(a)参照)が入力されて、これらの信号の論理
和がとられて、その論理和出力はフリップフロップ4の
CLK端子に入力される。フリップフロップ4において
は、クロック信号106の入力を介して、当該クロック
信号106の立ち上がりに同期して、コマンドデコード
回路1より出力されるブロック書込み判定信号104が
ラッチされる。そして、その際には、OR回路3に入力
されるバンク選択信号105(図3(b)参照)が
“L”レベルであり、且つブロック2より出力されてO
R回路3に入力されるブロック書込み禁止信号「0」1
07も“L”レベルであることが必要条件である。この
バンク選択信号105が“L”レベルという条件によ
り、所望の特定のバンクに対してのみブロック書込み判
定信号104が、フリップフロップ4においてラッチさ
れる。フリップフロップ4においてラッチされたブロッ
ク書込み判定信号104は、NAND回路5に出力さ
れ、NAND回路5においては、当該ブロック書込み判
定信号104とクロック信号106との論理積がとら
れ、その出力は、フリップフロップ6および7のS端子
に入力される。フリップフロップ6および7において
は、クロック信号106の立ち上りに同期して、前記の
特定のバンクに対してブロック書込み判定信号104が
入力されると、当該セット信号により、フリップフロッ
プ7のQ端子からはブロック書込み禁止信号「0」10
7が“H”レベルにて出力される。
【0014】同様に、ブロック8に対しては、ブロック
書込み判定信号104(図3(d)参照)と、バンク選
択信号105(図3(b)参照)の反転信号108(図
3(c)参照)と、クロック信号106(図3(a)参
照)が入力されており、バンク選択信号105の反転信
号が“H”レベルであり、且つブロック8より出力され
るブロック書込み禁止信号「1」109(図3(g)参
照)も“L”レベルであるという条件において、所望の
特定のバンクに対してのみ、ブロック書込み判定信号1
04がブロック8内においてラッチされ、当該ブロック
8からは、ブロック書込み禁止信号「1」109が
“H”レベルにて出力される。
【0015】このブロック書込み回路の第1の実施形態
においては、ブロック2におけるフリップフロップ6と
7において、ブロック書込み禁止信号「0」107のレ
ベルが“H”レベルにセットされた後の2クロック後ま
では、当該“H”レベルがそのままのレベルで保持され
ており、これにより、フリップフロップ4に対するクロ
ック信号106の入力が制限される状態となり、この間
においては、次のブロック書込み判定信号104がフリ
ップフロップ4に取込まれないように考慮されている。
このことはブロック8においてお同様であり、ブロック
書込み禁止信号「1」109のレベルが“H”レベルに
セットされた後の2クロック後までは、当該“H”レベ
ルがそのままのレベルで保持されており、この間におい
ては、次のブロック書込み判定信号104がブロック8
内のフリップフロップに取込まれないようになってい
る。
【0016】また、ブロック書込み禁止信号「0」10
7は、OR回路9およびフリップフロップ10を含む論
理回路に入力され、ブロック書込み禁止信号「1」10
9は、OR回路11およびフリップフロップ12を含む
論理回路に入力される。OR回路9においては、ブロッ
ク書込み禁止信号「0」107と、クロック信号106
と、バンク選択信号105の論理和がとられ、当該論理
和がフリップフロップ10のCLK端子に入力される。
フリッフフロップ10のD端子にはアドレス信号110
が入力されており、クロック信号106の立ち上がりに
同期してアドレス信号110がラッチされて、前述のフ
リップフロップ4の場合と同様に、所望のクロック数の
間だけアドレス信号110の入力が無視されており、ブ
ロック書込み動作中においては、フリップフロップ10
より出力されるアドレス信号「0」111(図3(f)
参照)が変化することなく、有効アドレスとして出力さ
れる。同様に、OR回路9においては、ブロック書込み
禁止信号「1」109と、クロック信号106と、バン
ク選択信号105の反転信号108の論理和がとられ、
当該論理和出力がフリップフロップ12のCLK端子に
入力される。フリッフフロップ12のD端子にはアドレ
ス信号110が入力されており、クロック信号106の
立ち上がりに同期してアドレス信号110がラッチされ
て、所望のクロック数の間だけアドレス信号110の入
力が無視され、ブロック書込み動作中においては、フリ
ップフロップ12より出力されるアドレス信号「1」1
12(図3(h)参照)は変化することなく、有効アド
レスとして出力される。
【0017】上記の説明により明らかなように、通常に
おいては、1クロックごとに有効なアドレス信号が存在
するのに対比して、本実施形態においては、それぞれの
バンクに対応して3クロック分のアドレス信号の有効期
間が存在している。このことは、図3の本実施形態にお
ける動作タイミング図に示されており、図3(a)のク
ロック信号106のタイミングT1 、T2 、T3 および
T4 の間においては、図3(f)に示されるように、ア
ドレス信号「0」111における有効アドレス1が存在
しており、図3(a)のクロック信号106のタイミン
グT2 、T3 、T4 およびT5 の間においては、図3
(h)に示されるように、アドレス信号「0」112に
おける有効アドレス3が存在している。
【0018】次に、本発明の半導体記憶装置におけるブ
ロック書込み回路の第2の実施形態について説明する。
図2は当該第2の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。図2に示されるように、本実施形態のブロック書込
み回路は、行アドレス選択信号101、列アドレス選択
信号102、………、特別機能選択信号103の入力を
受けて、ブロック書込み判定信号104を出力するコマ
ンドデコード回路1と、OR回路3、フリップフロップ
4と、遅延素子15と、NOR回路17および18を含
むセットリセット・フリッププフロップ16を含み、ブ
ロック書込み判定信号104、バンク選択信号105お
よびクロック信号106を入力して、ブロック書込み禁
止信号“0”107を出力するブロック14と、当該ブ
ロック14と同一の回路構成より成り、ブロック書込み
判定信号104、クロック信号106およびバンク選択
信号105の反転信号108を入力してブロック書込み
禁止信号“1”109を出力するブロック19と、ブロ
ック書込み禁止信号「0」107、クロック信号106
およびバンク選択信号105を入力して、これらの論理
和を出力するOR回路9と、このOR回路9の出力とア
ドレス信号110を入力して、アドレス信号「0」11
1を出力するフリップフロップ10と、ブロック書込み
禁止信号「1」109、クロック信号106およびバン
ク選択信号105の反転信号108を入力して、これら
の論理和を出力するOR回路11と、このOR回路11
の出力とアドレス信号110を入力して、アドレス信号
「1」112を出力するフリップフロップ12と、バン
ク選択信号105を反転して出力するインバータ13と
を備えて構成される。図2においては、ブロック19の
内部構成がブロック14の内部構成と全く同一であるた
め、当該内部構成の記載が省略されている。図1との対
比により明らかなように、本実施形態の第1の実施形態
との相違点は、ブロック14の内部におけるフリップフ
ロップ4以降の回路構成の差異にある。
【0019】また、図4(a)、(b)、(c)、
(d)、(e)、(f)、(g)および(h)に示され
るのは、本実施形態における動作タイミング図である。
以下、図2および図4を参照して、当該ブロック書込み
回路の第2の実施形態の動作について説明する。
【0020】図2において、コマンドデコード回路1に
おいては、前述の従来例の場合と同様に、行アドレス選
択信号101、列アドレス選択信号102、………、お
よび特別機能選択信号103を入力して、これらの信号
がデコードされて、所望の信号の組合わせに一致が生じ
た時点において“H”レベルの信号が抽出され、ブロッ
ク書込み判定信号104(図4(d)参照)として出力
されて、ブロック14に含まれるフリップフロップ4の
D端子と、ブロック19内のフリップフロップのD端子
に入力される。また、ブロック14に含まれるOR回路
3に対しては、当該ブロック14より出力されるブロッ
ク書込み禁止信号「0」107(図4(e)参照)と、
バンク選択信号105(図4(b)参照)とクロック信
号106(図4(a)参照)が入力されて、これらの信
号の論理和がとられて、その論理和出力はフリップフロ
ップ4のCLK端子に入力される。フリップフロップ4
においては、クロック信号106の入力を介して、当該
クロック信号106の立ち上がりに同期して、コマンド
デコード回路1より出力されるブロック書込み判定信号
104がラッチされる。そして、その際には、OR回路
3に入力されるバンク選択信号105(図4(b)参
照)が“L”レベルであり、且つブロック14より出力
されてOR回路3に入力されるブロック書込み禁止信号
「0」107も“L”レベルであることが必要条件であ
る。このバンク選択信号105が“L”レベルという条
件により、所望の特定のバンクに対してのみブロック書
込み判定信号104が、フリップフロップ4においてラ
ッチされる。フリップフロップ4においてラッチされた
ブロック書込み判定信号104は、遅延素子15と、セ
ットリセット・フリップフロップ16に含まれるNOR
回路17の一方の入力端に入力され、当該遅延素子15
の出力は、セットリセット・フリップフロップ16に含
まれるNOR回路18の一方の入力端に入力される。こ
れにより、セットリセット・フリップフロップ16より
出力されるブロック書込み禁止信号「0」107は、ク
ロック信号106に同期して立ち上がりが設定され、ま
た遅延素子15による遅延作用により、当該ブロック書
込み禁止信号「0」107の立ち下がりは、セットリセ
ット・フリップフロップ16におけるセット作用に対応
して設定される。
【0021】この第2の実施形態による利点は、ブロッ
ク回路14に対してブロック書込み判定信号104が入
力された後に、次のブロック書込み判定信号104が入
力されるまでの時間が、遅延素子15による遅延時間に
より決定されるために、クロック信号106の周期が長
くなった場合に、所要の判定信号と判定信号との間に挿
入されるクロックの数を少なくすることができるという
ことである。このことを具体的な数値を用いて説明する
と、例えば、クロック周期を10nsとし、ブロック書
込み処理に要する時間が30nsであるものと想定する
と、クロック周期が20nsの場合には、第1の実施形
態においては、3クロックに対応するブロック書込み処
理時間が60nsであるのに対して、本実施形態におい
ては、飽くまでも、前記ブロック書込み処理に要する時
間の30nsそのものであり、対応するクロック信号の
周期としては、2クロック分に相当する40nsでよい
ことになり、1クロック分に相当する処理時間が短縮さ
れ、第1の実施形態に比較して、より高速のブロック書
込み処理が実現される。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、複数の
バンクの各バンクごとに、ブロック書込み判定信号に対
するラッチ回路、およびアドレス信号に対するラッチ回
路を設け、当該ブロック書込み判定信号の処理を各バン
クごとに並列処理することにより、ブロック書込み処理
速度の高お速化を図ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態におけるブロック書込
み回路の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施形態におけるブロック書込
み回路の構成を示すブロック図である。
【図3】前記第1の実施形態におけるブロック書込み回
路の動作タイミング図である。
【図4】前記第2の実施形態におけるブロック書込み回
路の動作タイミング図である。
【図5】従来例におけるブロック書込み回路の構成を示
すブロック図である。
【符号の説明】
1 コマンドデコード回路 2、8、14、19 ブロック 3、9、11 OR回路 4、6、7、10、12 フリップフロップ 5 NAND回路 13 インバータ 15 遅延回路 16 セットリセット・フリップフロップ 17、18 NOR回路

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のバンクを有し、当該バンクに対応
    して、ブロック書込禁止信号をラッチするブロック書込
    み回路を備える同期式の半導体記憶装置において、 行アドレス選択信号、列アドレス選択信号および特別機
    能選択信号を入力して、ブロック書込み判定信号を出力
    するコマンドデコード回路と、 第i(i=1,2,………,N)のバンク選択信号およ
    びクロック信号を介して、前記コマンドデコード回路よ
    り出力されるブロック書込み判定信号の内より、第iの
    バンクに対応するブロック書込み判定信号をラッチし、
    第iのバンクに対応する第iのブロック書込み禁止信号
    を出力する第iのブロック回路と、 所定のアドレス信号、前記第iのブロック書込み禁止信
    号、前記第iのバンク選択信号およびクロック信号を入
    力して、第iのバンク用アドレス信号を出力する第iの
    論理回路と、 を少くとも含むブロック書込み回路を部分回路として備
    えることを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記第iのブロック回路が、前記第iの
    バンク選択信号、前記クロック信号および当該第iのブ
    ロック回路より出力される前記第iのブロック書込み禁
    止信号を入力して、これらの信号の論理和を出力するO
    R回路と、 前記OR回路より出力される論理信号を介して、前記コ
    マンドデコード回路より出力されるブロック書込み判定
    信号を入力してラッチする第1のフリップフロップと、 前記第1のフリップフロップより出力される論理信号お
    よび前記クロック信号を入力して、これらの信号の論理
    積を出力するNAND回路と、 縦続接続されてシフトレジスタを形成し、前記NAND
    回路より出力される論理信号をそれぞれのセット端子に
    入力して、当該シフトレジスタより前記第iのブロック
    書込み禁止信号を出力する第2および第3のフリップフ
    ロップと、 を備えて構成され、 前記論理回路が、前記第iのブロック書込み禁止信号、
    前記第iのバンク選択信号および前記クロック信号を入
    力して、これらの信号の論理和を出力するOR回路と、 前記OR回路より出力される論理信号を介して、所定の
    アドレス信号をラッチし、第iのバンク用アドレス信号
    を出力する第iのフリップフロップと、 を備えて構成されることを特徴とする請求項1記載の半
    導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記第iのブロック回路が、前記第iの
    バンク選択信号、前記クロック信号および当該第iのブ
    ロック回路より出力される前記第iのブロック書込み禁
    止信号を入力して、これらの信号の論理和を出力するO
    R回路と、 前記OR回路より出力される論理信号を介して、前記コ
    マンドデコード回路より出力されるブロック書込み判定
    信号を入力してラッチする第1のフリップフロップと、 前記第1のフリップフロップより出力される論理信号を
    入力して、当該論理信号を所定時間遅延させて出力する
    遅延回路と、 前記第1のフリップフロップより出力される論理信号お
    よび前記遅延回路より出力される論理信号を入力して、
    前記第iのブロック書込み禁止信号を出力するセットリ
    セット・フリップフロップと、 を備えて構成され、 前記論理回路が、前記第iのブロック書込み禁止信号、
    前記第iのバンク選択信号および前記クロック信号を入
    力して、これらの信号の論理和を出力するOR回路と、 前記OR回路より出力される論理信号を介して、所定の
    アドレス信号をラッチし、第iのバンク用アドレス信号
    を出力する第iのフリップフロップと、 を備えて構成されることを特徴とする請求項1記載の半
    導体記憶装置。
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