JP2845238B1 - 平面研磨装置 - Google Patents
平面研磨装置Info
- Publication number
- JP2845238B1 JP2845238B1 JP23451297A JP23451297A JP2845238B1 JP 2845238 B1 JP2845238 B1 JP 2845238B1 JP 23451297 A JP23451297 A JP 23451297A JP 23451297 A JP23451297 A JP 23451297A JP 2845238 B1 JP2845238 B1 JP 2845238B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- polishing liquid
- tool
- dresser
- processing surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B53/00—Devices or means for dressing or conditioning abrasive surfaces
- B24B53/017—Devices or means for dressing, cleaning or otherwise conditioning lapping tools
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B57/00—Devices for feeding, applying, grading or recovering grinding, polishing or lapping agents
- B24B57/02—Devices for feeding, applying, grading or recovering grinding, polishing or lapping agents for feeding of fluid, sprayed, pulverised, or liquefied grinding, polishing or lapping agents
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
【要約】
【課題】 半導体ウェハ、磁気ディスク等を再現性良
く、低ランニングコストで高平滑平面加工できる平面研
磨装置を得る。 【解決手段】 回転駆動される円盤状研磨工具11の加
工面に被加工物12を加圧接触させ、研磨液を加工面に
供給しながら平面研磨する装置において、前記研磨工具
の回転方向に対して被加工物の後方位置に、前記加工面
に研磨液を供給する研磨液供給機構13を配置するとと
もに、被加工物の前方位置に、前記加工面の目立てを行
うドレッサ23を配置し、前記ドレッサの前方位置で前
記研磨液供給機構13の後方位置に、前記加工面の研磨
液を吸引回収する研磨液吸引機構14を設けた。
く、低ランニングコストで高平滑平面加工できる平面研
磨装置を得る。 【解決手段】 回転駆動される円盤状研磨工具11の加
工面に被加工物12を加圧接触させ、研磨液を加工面に
供給しながら平面研磨する装置において、前記研磨工具
の回転方向に対して被加工物の後方位置に、前記加工面
に研磨液を供給する研磨液供給機構13を配置するとと
もに、被加工物の前方位置に、前記加工面の目立てを行
うドレッサ23を配置し、前記ドレッサの前方位置で前
記研磨液供給機構13の後方位置に、前記加工面の研磨
液を吸引回収する研磨液吸引機構14を設けた。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェハ、半
導体回路の絶縁膜付きウェハ、金属配線付きウェハ、磁
気ディスク、ガラス基板、その他の板状の被加工物を、
高平滑に平面研磨加工するための平面研磨装置に関す
る。
導体回路の絶縁膜付きウェハ、金属配線付きウェハ、磁
気ディスク、ガラス基板、その他の板状の被加工物を、
高平滑に平面研磨加工するための平面研磨装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体ウェハ、磁気ディスク等の
研磨のために、特開平4−33336号公報、特開平5
−69310号公報、特開平5−309559号公報等
に記載の平面研磨装置が利用されている。
研磨のために、特開平4−33336号公報、特開平5
−69310号公報、特開平5−309559号公報等
に記載の平面研磨装置が利用されている。
【0003】図8は、上記公報に記載のものと類似の従
来の平面研磨装置の一例を示している。この平面研磨装
置は、回転駆動される円盤状研磨工具131の上向きの
加工面に、被加物132を加圧保持板133によって加
圧接触させ、研磨液134を加工面に供給しながら平面
研磨するものである。
来の平面研磨装置の一例を示している。この平面研磨装
置は、回転駆動される円盤状研磨工具131の上向きの
加工面に、被加物132を加圧保持板133によって加
圧接触させ、研磨液134を加工面に供給しながら平面
研磨するものである。
【0004】ところが、上記従来の平面研磨装置では、
図9に示すように、研磨時間が長くなるにしたがって、
加工面に目づまりが生じることにより、研磨レ一ト(研
磨量/時間)が低下していく欠点があり、被加工物ごと
の研磨加工量が変動するという問題があった。しかも、
研磨液は1回の研磨使用で廃液処理を行っており、ラン
ニングコストが高くなるという問題もあった。
図9に示すように、研磨時間が長くなるにしたがって、
加工面に目づまりが生じることにより、研磨レ一ト(研
磨量/時間)が低下していく欠点があり、被加工物ごと
の研磨加工量が変動するという問題があった。しかも、
研磨液は1回の研磨使用で廃液処理を行っており、ラン
ニングコストが高くなるという問題もあった。
【0005】そこで、本出願人は、特開平8−1923
61公報に記載のような平面研磨装置を開発した。この
平面研磨装置は、回転駆動される円盤状研磨工具の加工
面に被加工物を加圧接触させ、研磨液を加工面に供給し
ながら平面研磨する装置において、前記研磨工具の回転
方向に対して被加工物の後方位置に、前記加工面に研磨
液を供給する研磨液供給機構を配置するとともに、被加
工物の前方位置に、前記加工面の研磨液を吸引回収する
研磨液吸引機構を設けたものである。また、この装置で
は、研磨液吸引機構の吸引効率を向上させるために、研
磨液吸引機構にブラシを設け、加工面の凹部にある研磨
屑等をブラシで浮き上がらせるようにしている。
61公報に記載のような平面研磨装置を開発した。この
平面研磨装置は、回転駆動される円盤状研磨工具の加工
面に被加工物を加圧接触させ、研磨液を加工面に供給し
ながら平面研磨する装置において、前記研磨工具の回転
方向に対して被加工物の後方位置に、前記加工面に研磨
液を供給する研磨液供給機構を配置するとともに、被加
工物の前方位置に、前記加工面の研磨液を吸引回収する
研磨液吸引機構を設けたものである。また、この装置で
は、研磨液吸引機構の吸引効率を向上させるために、研
磨液吸引機構にブラシを設け、加工面の凹部にある研磨
屑等をブラシで浮き上がらせるようにしている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、実際に使用し
てみると、従来品に対して顕著な効果を奏するものの、
依然として加工面の目づまりを十分に解消するまでには
至らないという問題があった。すなわち、被加工物に対
する加工圧力が低い場合にはブラシによる効果が期待で
きるが、加工圧力が高くなるにしたがい、目づまりが多
くなるという問題があった。
てみると、従来品に対して顕著な効果を奏するものの、
依然として加工面の目づまりを十分に解消するまでには
至らないという問題があった。すなわち、被加工物に対
する加工圧力が低い場合にはブラシによる効果が期待で
きるが、加工圧力が高くなるにしたがい、目づまりが多
くなるという問題があった。
【0007】本発明は、上述事情に鑑みてなされたもの
で、加工圧力によらず、加工面の目づまりを顕著に解消
し得て、高研磨レートで被加工物ごとの加工量を一定に
することのできる平面研磨装置を提供することを目的と
している。
で、加工圧力によらず、加工面の目づまりを顕著に解消
し得て、高研磨レートで被加工物ごとの加工量を一定に
することのできる平面研磨装置を提供することを目的と
している。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
回転駆動される円盤状研磨工具の加工面に被加工物を加
圧接触させ、研磨液を加工面に供給しながら平面研磨す
る装置において、前記研磨工具の回転方向に対して被加
工物の後方位置に、前記加工面に研磨液を供給する研磨
液供給機構を配置するとともに、被加工物の前方位置
に、前記加工面の目立てを行うドレッサを配置し、前記
ドレッサの前方位置で前記研磨液供給機構の後方位置
に、前記加工面の研磨液を吸引回収する研磨液吸引機構
を設けたことを特徴としている。
回転駆動される円盤状研磨工具の加工面に被加工物を加
圧接触させ、研磨液を加工面に供給しながら平面研磨す
る装置において、前記研磨工具の回転方向に対して被加
工物の後方位置に、前記加工面に研磨液を供給する研磨
液供給機構を配置するとともに、被加工物の前方位置
に、前記加工面の目立てを行うドレッサを配置し、前記
ドレッサの前方位置で前記研磨液供給機構の後方位置
に、前記加工面の研磨液を吸引回収する研磨液吸引機構
を設けたことを特徴としている。
【0009】本発明では、研磨液供給機構によって加工
面に供給された研磨液は、被加工物の研磨に用いられた
後、加工面の目立てを行うドレッサによって研磨工具の
加工面から掘り起こされた後、直ちに研磨液供給機構で
吸引される。この場合、ブラシと違って、ドレッサによ
る目立てが行われるので、加工圧力が高い場合にも、研
磨屑や研磨工具屑を含んだ使用済み研磨液が、吸引しや
すい状態に掘り起こされて、完全に吸引される。従っ
て、研磨液と共に研磨工具面の研磨屑や研磨工具屑がイ
ンプロセスで除去されることになり、常に加工面がクリ
ーンな状態に保たれる。
面に供給された研磨液は、被加工物の研磨に用いられた
後、加工面の目立てを行うドレッサによって研磨工具の
加工面から掘り起こされた後、直ちに研磨液供給機構で
吸引される。この場合、ブラシと違って、ドレッサによ
る目立てが行われるので、加工圧力が高い場合にも、研
磨屑や研磨工具屑を含んだ使用済み研磨液が、吸引しや
すい状態に掘り起こされて、完全に吸引される。従っ
て、研磨液と共に研磨工具面の研磨屑や研磨工具屑がイ
ンプロセスで除去されることになり、常に加工面がクリ
ーンな状態に保たれる。
【0010】請求項2記載の発明は、請求項1におい
て、前記研磨液供給機構、前記研磨液吸引機構、及び前
記ドレッサが、前記研磨工具の工具半径の全幅を供給対
象領域、吸引対象領域、及び目立て対象領域としている
ことを特徴としている。
て、前記研磨液供給機構、前記研磨液吸引機構、及び前
記ドレッサが、前記研磨工具の工具半径の全幅を供給対
象領域、吸引対象領域、及び目立て対象領域としている
ことを特徴としている。
【0011】本発明では、円盤状研磨工具の加工面の全
幅に研磨液を供給し、加工面の全幅から研磨液、研磨屑
などを掘り起こして吸引回収するので、被加工物の大き
さによらず、同じ条件で研磨加工することができる。
幅に研磨液を供給し、加工面の全幅から研磨液、研磨屑
などを掘り起こして吸引回収するので、被加工物の大き
さによらず、同じ条件で研磨加工することができる。
【0012】請求項3記載の発明は、請求項1又は2に
おいて、前記円盤状研磨工具の内周部及び外周部と対面
する研磨液吸引面に、内外周部間の中央部よりも数多く
の研磨液吸引孔を備えていることを特徴としている。
おいて、前記円盤状研磨工具の内周部及び外周部と対面
する研磨液吸引面に、内外周部間の中央部よりも数多く
の研磨液吸引孔を備えていることを特徴としている。
【0013】本発明では、研磨工具の加工半径の内周部
及び外周部に多く集まる研磨液、研磨屑などを効率良く
吸引回収できる。
及び外周部に多く集まる研磨液、研磨屑などを効率良く
吸引回収できる。
【0014】請求項4記載の発明は、請求項1〜3のい
ずれか1において、前記円盤状研磨工具と対面する研磨
液吸引面の外周縁部に、研磨液を捕捉する浅溝を備えて
いることを特徴としている。
ずれか1において、前記円盤状研磨工具と対面する研磨
液吸引面の外周縁部に、研磨液を捕捉する浅溝を備えて
いることを特徴としている。
【0015】本発明では、遠心力によって研磨工具の外
周部へ流れようとする研磨液を、研磨工具と対面する研
磨液吸引面の外周縁部の浅溝で捕捉するので、研磨液吸
引孔で吸引回収しやすくなる。
周部へ流れようとする研磨液を、研磨工具と対面する研
磨液吸引面の外周縁部の浅溝で捕捉するので、研磨液吸
引孔で吸引回収しやすくなる。
【0016】請求項5記載の発明は、請求項1〜4のい
ずれか1において、前記研磨液吸引機構が、前記円盤状
研磨工具と対面する研磨液吸引面の最外周縁部に、丸み
又は面取を備えていることを特徴としている。
ずれか1において、前記研磨液吸引機構が、前記円盤状
研磨工具と対面する研磨液吸引面の最外周縁部に、丸み
又は面取を備えていることを特徴としている。
【0017】本発明では、研磨工具と対面する研磨液吸
引面の最外周縁部に、丸み又は面取を備えていることに
よって、研磨中に研磨工具と研磨液吸引機構の接触が生
じた場合にも、両者の損傷を防ぐことができる。
引面の最外周縁部に、丸み又は面取を備えていることに
よって、研磨中に研磨工具と研磨液吸引機構の接触が生
じた場合にも、両者の損傷を防ぐことができる。
【0018】請求項6記載の発明は、請求項1〜5のい
ずれか1に記載の平面研磨装置において、前記ドレッサ
が、天然ダイヤモンド粒子と人造ダイヤモンド粒子を混
合したダイヤモンド小砥石を円盤状基板に環状に固着し
た構成をなし、前記ダイヤモンド小砥石を前記円盤状研
磨工具に加圧接触させながら、前記円盤状基板を回転さ
せることにより、研磨工具の加工面を目立てすることを
特徴としている。
ずれか1に記載の平面研磨装置において、前記ドレッサ
が、天然ダイヤモンド粒子と人造ダイヤモンド粒子を混
合したダイヤモンド小砥石を円盤状基板に環状に固着し
た構成をなし、前記ダイヤモンド小砥石を前記円盤状研
磨工具に加圧接触させながら、前記円盤状基板を回転さ
せることにより、研磨工具の加工面を目立てすることを
特徴としている。
【0019】本発明では、天然ダイヤモンド粒子と人造
ダイヤモンド粒子を混合して固着したドレッサによっ
て、研磨工具面の目立て度合いを適正化できる。
ダイヤモンド粒子を混合して固着したドレッサによっ
て、研磨工具面の目立て度合いを適正化できる。
【0020】請求項7記載の発明は、請求項6におい
て、前記ドレッサが、研磨工具の加工面上で回転可能に
支持されており、研磨工具の回転による摩擦力によりド
レッサが定位置で自転させられることを特徴としてい
る。
て、前記ドレッサが、研磨工具の加工面上で回転可能に
支持されており、研磨工具の回転による摩擦力によりド
レッサが定位置で自転させられることを特徴としてい
る。
【0021】本発明では、研磨工具の回転によりドレッ
サを回転させるので、ドレッサ用の駆動機構が要らな
い。
サを回転させるので、ドレッサ用の駆動機構が要らな
い。
【0022】請求項8記載の発明は、請求項6におい
て、前記ドレッサが、研磨工具の加工面上で回転駆動機
構により強制回転させられることを特徴としている。
て、前記ドレッサが、研磨工具の加工面上で回転駆動機
構により強制回転させられることを特徴としている。
【0023】本発明では、ドレッサを加工面上で強制回
転させるので、研磨工具の加工面とドレッシング面との
相対移動速度を変えたり、研磨工具の回転方向と逆方向
にドレッサを回転させたりすることも自由にでき、目立
ての度合いを適正に管理することができる。
転させるので、研磨工具の加工面とドレッシング面との
相対移動速度を変えたり、研磨工具の回転方向と逆方向
にドレッサを回転させたりすることも自由にでき、目立
ての度合いを適正に管理することができる。
【0024】請求項9記載の発明は、請求項1〜5のい
ずれか1において、前記ドレッサが、天然ダイヤモンド
粒子と人造ダイヤモンド粒子を混合した円筒状ダイヤモ
ンド砥石からなり、該円筒状ダイヤモンド砥石をその軸
線を前記円盤状研磨工具の半径方向に略沿わせて配置
し、且つ、研磨工具の加工面に接触させながら、研磨工
具の回転方向と逆行する方向に回転させることにより、
研磨工具の加工面を目立てすることを特徴としている。
ずれか1において、前記ドレッサが、天然ダイヤモンド
粒子と人造ダイヤモンド粒子を混合した円筒状ダイヤモ
ンド砥石からなり、該円筒状ダイヤモンド砥石をその軸
線を前記円盤状研磨工具の半径方向に略沿わせて配置
し、且つ、研磨工具の加工面に接触させながら、研磨工
具の回転方向と逆行する方向に回転させることにより、
研磨工具の加工面を目立てすることを特徴としている。
【0025】本発明では、円筒状ダイヤモンド砥石より
なるドレッサによって、研磨工具の半径方向の全幅を小
スペースで目立てすることができる。
なるドレッサによって、研磨工具の半径方向の全幅を小
スペースで目立てすることができる。
【0026】請求項10記載の発明は、請求項9におい
て、円筒状ダイヤモンド砥石を研磨工具の加工面に加圧
接触させる加圧機構を、円筒状ダイヤモンド砥石の軸方
向両端にそれぞれ設けたことを特徴としている。
て、円筒状ダイヤモンド砥石を研磨工具の加工面に加圧
接触させる加圧機構を、円筒状ダイヤモンド砥石の軸方
向両端にそれぞれ設けたことを特徴としている。
【0027】本発明では、円筒状ダイヤモンド砥石の両
端に加圧機構を配置することによって、研磨工具の半径
方向の接触圧力を適正化させることができる。
端に加圧機構を配置することによって、研磨工具の半径
方向の接触圧力を適正化させることができる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施形態について説明する。 ◇第1実施形態 図1は、本発明の第1実施形態としての平面研磨装置の
構成を示す平面図、図2は同側面図である。図1、図2
において、平面研磨装置の架台1の上部フレーム2に
は、加工面を上向きにして回転自在の円盤状研磨工具1
1が装備されている。この研磨工具11は、モータ20
によって矢印イ方向(上から見て時計回り)に回転駆動
される。
実施形態について説明する。 ◇第1実施形態 図1は、本発明の第1実施形態としての平面研磨装置の
構成を示す平面図、図2は同側面図である。図1、図2
において、平面研磨装置の架台1の上部フレーム2に
は、加工面を上向きにして回転自在の円盤状研磨工具1
1が装備されている。この研磨工具11は、モータ20
によって矢印イ方向(上から見て時計回り)に回転駆動
される。
【0029】研磨工具11の加工面には、加圧保持板2
1によって被加工物12が加圧接触させられている。加
圧保持板21及び被加工物12は、研磨工具11の加工
面に乗っており、研磨工具11の回転方向に対して、被
加工物11の前方に位置する水平フレーム3の一対の支
持ローラ4により、定位置にて自転可能に止められてい
る。
1によって被加工物12が加圧接触させられている。加
圧保持板21及び被加工物12は、研磨工具11の加工
面に乗っており、研磨工具11の回転方向に対して、被
加工物11の前方に位置する水平フレーム3の一対の支
持ローラ4により、定位置にて自転可能に止められてい
る。
【0030】また、研磨工具11の加工面の上方には、
加工面との間に僅かの隙間(1mm以下)を保持して、
直方体状研磨液供給機構13と、直方体状研磨液吸引機
構14とが配設されている。また、加工面の上方には、
加工面の目立てを行うドレッサ23が配設されている。
直方体状研磨液供給機構13は、直方体状の箱の底面の
小径孔から研磨工具11の加工面に対して研磨液を吹き
付けるものであり、直方体状研磨液吸引機構14は、直
方体形の箱の底面の小径孔から研磨工具11の加工面の
研磨液を吸引回収するものである。
加工面との間に僅かの隙間(1mm以下)を保持して、
直方体状研磨液供給機構13と、直方体状研磨液吸引機
構14とが配設されている。また、加工面の上方には、
加工面の目立てを行うドレッサ23が配設されている。
直方体状研磨液供給機構13は、直方体状の箱の底面の
小径孔から研磨工具11の加工面に対して研磨液を吹き
付けるものであり、直方体状研磨液吸引機構14は、直
方体形の箱の底面の小径孔から研磨工具11の加工面の
研磨液を吸引回収するものである。
【0031】直方体状研磨液供給機構13は、研磨工具
11の回転方向に対して被加工物12の後方位置に配設
され、ドレッサ23は研磨工具11の回転方向に対して
被加工物12の前方位置に配設され、ドレッサ23の前
方位置で直方体状研磨液供給機構13の後方位置、つま
りドレッサ23と直方体状研磨液供給機構13との間の
位置に直方体状研磨液吸引機構14が配設されている。
これらは全て、研磨工具11の半径方向の全幅をカバー
するような形態、つまり研磨工具11の工具半径の全幅
を供給対象領域、吸引対象領域、及び目立て対象領域と
する形態で、架台1によって支持されている。
11の回転方向に対して被加工物12の後方位置に配設
され、ドレッサ23は研磨工具11の回転方向に対して
被加工物12の前方位置に配設され、ドレッサ23の前
方位置で直方体状研磨液供給機構13の後方位置、つま
りドレッサ23と直方体状研磨液供給機構13との間の
位置に直方体状研磨液吸引機構14が配設されている。
これらは全て、研磨工具11の半径方向の全幅をカバー
するような形態、つまり研磨工具11の工具半径の全幅
を供給対象領域、吸引対象領域、及び目立て対象領域と
する形態で、架台1によって支持されている。
【0032】直方体状研磨液供給機構13の底面の小径
孔は、直径が1mm、ピッチ3mmで多数配列されてい
る。また、直方体状研磨液吸引機構14は、図3に示す
ように、研磨工具11の内周部及び外周部と対面する研
磨液吸引面31に、中央部よりも3倍多くの研磨液吸引
孔32(直径1mm)を備えている。また、研磨液吸引
機構14は、研磨工具11と対面する研磨液吸引面31
の幅方向の外周縁部に、複数個の深さ1mm以下の浅溝
33を備えている。この浅溝33は、遠心力によって研
磨工具11の外周部に流れていく研磨液を捕捉するため
のもので、適当な間隔で設けられている。さらに、直方
体状研磨液吸引機構14は、図4に示すように、研磨工
具11と対面する研磨液吸引面31の外周縁部に、丸み
34(丸み半径2mm程度)を備えている。これは、研
磨液吸引機構14が加工面と万一接触した場合に、両者
の損傷を防止するためのものであり、丸みの代わりに面
取としても良い。
孔は、直径が1mm、ピッチ3mmで多数配列されてい
る。また、直方体状研磨液吸引機構14は、図3に示す
ように、研磨工具11の内周部及び外周部と対面する研
磨液吸引面31に、中央部よりも3倍多くの研磨液吸引
孔32(直径1mm)を備えている。また、研磨液吸引
機構14は、研磨工具11と対面する研磨液吸引面31
の幅方向の外周縁部に、複数個の深さ1mm以下の浅溝
33を備えている。この浅溝33は、遠心力によって研
磨工具11の外周部に流れていく研磨液を捕捉するため
のもので、適当な間隔で設けられている。さらに、直方
体状研磨液吸引機構14は、図4に示すように、研磨工
具11と対面する研磨液吸引面31の外周縁部に、丸み
34(丸み半径2mm程度)を備えている。これは、研
磨液吸引機構14が加工面と万一接触した場合に、両者
の損傷を防止するためのものであり、丸みの代わりに面
取としても良い。
【0033】また、ドレッサ23は、図1に示すよう
に、天然ダイヤモンド粒子(150ミクロン)と人造ダ
イヤモンド粒子(100ミクロン)を混合した円形小砥
石22を、円盤状基板24の下面に複数個環状に固着し
たもので、被加工物12の支持の仕方と同様に、自重に
より加工面上に加圧接触させられている。ドレッサ23
は、研磨工具11の加工面に乗っており、研磨工具11
の回転方向に対して、被加工物11の前方に位置する水
平フレーム3の一対の支持ローラ4により、定位置にて
自転可能に止められている。
に、天然ダイヤモンド粒子(150ミクロン)と人造ダ
イヤモンド粒子(100ミクロン)を混合した円形小砥
石22を、円盤状基板24の下面に複数個環状に固着し
たもので、被加工物12の支持の仕方と同様に、自重に
より加工面上に加圧接触させられている。ドレッサ23
は、研磨工具11の加工面に乗っており、研磨工具11
の回転方向に対して、被加工物11の前方に位置する水
平フレーム3の一対の支持ローラ4により、定位置にて
自転可能に止められている。
【0034】一方、架台1の上部フレーム2の下方に
は、直方体状研磨液吸引機構14で吸収回収した研磨液
を再生して、直方体状研磨液供給機構13に送給する再
生循環回路5が装備されている。この再生循環回路5
は、研磨液タンク18と研磨液除去用のフィルタ16と
を備えている。研磨液タンク18は、回収した研磨液を
貯留して、沈降濾過作用により異物を除去すると共に、
オーバーフロー分を順次下流側へ流出させる複数段(こ
の例では3段)の沈殿槽18A、18B、18Cを備え
ている。各沈殿槽18A、18B、18Cは、仕切壁の
高さを順次に違えることで、オーバーフロー分を上流段
の沈殿槽から下流段の沈殿槽へ順次流下させるようにな
っている。
は、直方体状研磨液吸引機構14で吸収回収した研磨液
を再生して、直方体状研磨液供給機構13に送給する再
生循環回路5が装備されている。この再生循環回路5
は、研磨液タンク18と研磨液除去用のフィルタ16と
を備えている。研磨液タンク18は、回収した研磨液を
貯留して、沈降濾過作用により異物を除去すると共に、
オーバーフロー分を順次下流側へ流出させる複数段(こ
の例では3段)の沈殿槽18A、18B、18Cを備え
ている。各沈殿槽18A、18B、18Cは、仕切壁の
高さを順次に違えることで、オーバーフロー分を上流段
の沈殿槽から下流段の沈殿槽へ順次流下させるようにな
っている。
【0035】そして、上流側の沈殿槽18Aに直方体状
研磨液吸引機構14がポンプ19を介してパイプ15で
接続され、下流側の沈殿槽18Cに直方体状研磨液供給
機構13がポンプ17とフィルタ16を介してパイプ1
5で接続されている。吸引側のポンプ19は、直方体状
研磨液吸引機構14から空気もろとも研磨液を吸い込め
る強力なものであり、一緒に吸い込んだエアは、図示し
ない機構により、研磨液タンク18内へあまり入り込ま
ない用に処理される。また、供給側のポンプ17は、供
給量100cc/min程度の能力で研磨液を吐出でき
るものである。また、フイルタ16は、研磨液沈殿槽1
8A、18B、18Cで除去できなかった異物を除去す
るためのもので、50μmと10μmの2段のメッシュ
を備えている。
研磨液吸引機構14がポンプ19を介してパイプ15で
接続され、下流側の沈殿槽18Cに直方体状研磨液供給
機構13がポンプ17とフィルタ16を介してパイプ1
5で接続されている。吸引側のポンプ19は、直方体状
研磨液吸引機構14から空気もろとも研磨液を吸い込め
る強力なものであり、一緒に吸い込んだエアは、図示し
ない機構により、研磨液タンク18内へあまり入り込ま
ない用に処理される。また、供給側のポンプ17は、供
給量100cc/min程度の能力で研磨液を吐出でき
るものである。また、フイルタ16は、研磨液沈殿槽1
8A、18B、18Cで除去できなかった異物を除去す
るためのもので、50μmと10μmの2段のメッシュ
を備えている。
【0036】次に作用を説明する。研磨工具11で加工
を開始するのに伴い、直方体状研磨液供給機構13から
研磨液を加工面に供給する。被加工物12の手前で加工
面に供給された研磨液は、研磨工具11の回転により被
加工物12の加工箇所に到達し、研磨工具11の回転と
被加工物12の回転(図1のロ方向の回転)により生じ
る研磨工具11と被加工物12の間の摩擦により、被加
工物12を研磨する。
を開始するのに伴い、直方体状研磨液供給機構13から
研磨液を加工面に供給する。被加工物12の手前で加工
面に供給された研磨液は、研磨工具11の回転により被
加工物12の加工箇所に到達し、研磨工具11の回転と
被加工物12の回転(図1のロ方向の回転)により生じ
る研磨工具11と被加工物12の間の摩擦により、被加
工物12を研磨する。
【0037】被加工物12を通過した後、流れの下流に
位置するドレッサ23による研磨工具11の目立てによ
って、研磨に使用された研磨液は研磨工具11の加工面
から掘り起こされて、直ちに直方体状研磨液吸引機構1
4によって吸引される。
位置するドレッサ23による研磨工具11の目立てによ
って、研磨に使用された研磨液は研磨工具11の加工面
から掘り起こされて、直ちに直方体状研磨液吸引機構1
4によって吸引される。
【0038】この場合、ドレッサ23は、研磨工具11
の回転に伴って、矢印(ハ)方向に自転させられ、ドレ
ッサ23の下面のダイヤモンド小砥石22と加工面間の
摩擦によって、加工面の目立てが行われる。また、ドレ
ッサ23は、天然ダイヤモンド粒子(150ミクロン)
と人造ダイヤモンド粒子(100ミクロン)を混合した
小砥石22を備えるので、天然ダイヤモンド粒子の刃先
のシャープな部分で、目立て効果を積極的に出すことが
できる。また、人造ダイヤモンド粒子との混合によっ
て、ドレッサ23のコストを下げることができる。
の回転に伴って、矢印(ハ)方向に自転させられ、ドレ
ッサ23の下面のダイヤモンド小砥石22と加工面間の
摩擦によって、加工面の目立てが行われる。また、ドレ
ッサ23は、天然ダイヤモンド粒子(150ミクロン)
と人造ダイヤモンド粒子(100ミクロン)を混合した
小砥石22を備えるので、天然ダイヤモンド粒子の刃先
のシャープな部分で、目立て効果を積極的に出すことが
できる。また、人造ダイヤモンド粒子との混合によっ
て、ドレッサ23のコストを下げることができる。
【0039】このようにドレッサ23によって研磨工具
11の加工面の目立てを行うので、被加工物12の加工
圧力が高い場合でも、研磨液とともに研磨工具11面の
研磨屑や研磨工具屑等が確実に掘り起こされて、インプ
ロセスで除去され、常に加工面がクリーンな状態に保た
れる。
11の加工面の目立てを行うので、被加工物12の加工
圧力が高い場合でも、研磨液とともに研磨工具11面の
研磨屑や研磨工具屑等が確実に掘り起こされて、インプ
ロセスで除去され、常に加工面がクリーンな状態に保た
れる。
【0040】また、本実施形態の平面研磨装置の場合、
直方体状研磨液吸引機構14が、研磨工具11の内周部
及び外周部と対面する研磨液吸引面31に、中央部より
も3倍多くの研磨液吸引孔32を備えているので、研磨
工具11の内周部及び外周部に多く集まる研磨液を効率
良く吸引することができる。
直方体状研磨液吸引機構14が、研磨工具11の内周部
及び外周部と対面する研磨液吸引面31に、中央部より
も3倍多くの研磨液吸引孔32を備えているので、研磨
工具11の内周部及び外周部に多く集まる研磨液を効率
良く吸引することができる。
【0041】また、直方体状研磨液吸引機構14が、研
磨工具11と対面する研磨液吸引面31の外周縁部に複
数個の深さ1mm以下の浅溝33を備えているので、遠
心力により研磨工具11の外周部へ流れようとする研磨
液を、研磨液吸引面31の外周縁部の浅溝33で捕捉し
て効率良く吸引することができる。
磨工具11と対面する研磨液吸引面31の外周縁部に複
数個の深さ1mm以下の浅溝33を備えているので、遠
心力により研磨工具11の外周部へ流れようとする研磨
液を、研磨液吸引面31の外周縁部の浅溝33で捕捉し
て効率良く吸引することができる。
【0042】さらに、直方体状研磨液吸引機構14が、
研磨工具11と対面する研磨液吸引面31の外周縁部に
丸み34を備えているので、万が一に直方体状研磨液吸
引機構14が研磨工具11に接触した場合でも、研磨工
具11や直方体状研磨液吸引機構14の損傷を防ぐこと
ができる。
研磨工具11と対面する研磨液吸引面31の外周縁部に
丸み34を備えているので、万が一に直方体状研磨液吸
引機構14が研磨工具11に接触した場合でも、研磨工
具11や直方体状研磨液吸引機構14の損傷を防ぐこと
ができる。
【0043】よって、研磨レートの低下を来さずに、長
時間にわたって、効率良く研磨することができる。この
場合、研磨工具11の加工面の全幅に研磨液が供給さ
れ、加工面の全幅から研磨液が回収されるので、被加工
物12の大きさによらず、同じ条件で研磨加工すること
ができる。
時間にわたって、効率良く研磨することができる。この
場合、研磨工具11の加工面の全幅に研磨液が供給さ
れ、加工面の全幅から研磨液が回収されるので、被加工
物12の大きさによらず、同じ条件で研磨加工すること
ができる。
【0044】次に具体的なテスト結果について述べる。
このテストでは、円盤状の研磨工具11としてポリウレ
タン(直径25インチ)製のものを用い、研磨液として
コロイダルシリカ(粒径100オングストローム)を用
い、二酸化シリコン膜付きウェハ(被加工物)を研磨し
た。
このテストでは、円盤状の研磨工具11としてポリウレ
タン(直径25インチ)製のものを用い、研磨液として
コロイダルシリカ(粒径100オングストローム)を用
い、二酸化シリコン膜付きウェハ(被加工物)を研磨し
た。
【0045】研磨工具回転数は24rpm、加工圧力6
00g/平方センチメートルでテストしたところ、研磨
レートは、研磨時間20時間以内で2200±50オン
グストローム/minとなり、従来の加工圧力が高い場
合に、研磨時間が長くなると研磨レートが低下するとい
う問題点が解消された。
00g/平方センチメートルでテストしたところ、研磨
レートは、研磨時間20時間以内で2200±50オン
グストローム/minとなり、従来の加工圧力が高い場
合に、研磨時間が長くなると研磨レートが低下するとい
う問題点が解消された。
【0046】これは、直方体状研磨液供給機構13、ド
レッサ23及び直方体状研磨液吸引機構14を備えるこ
とによって、研磨加工中、研磨工具11の加工面に供給
された研磨液が、被加工物12の研磨に用いられた後、
ドレッサ23による研磨工具11の目立てによって加工
面から掘り起こされて、直ちに直方体状研磨液吸引機構
14によって吸引され、研磨液とともに研磨工具11の
加工面の研磨屑、研磨工具屑などがインプロセスで除去
され、且つフィルタ16を通過したクリーンな研磨液が
加工面に供給されるためと考えられる。
レッサ23及び直方体状研磨液吸引機構14を備えるこ
とによって、研磨加工中、研磨工具11の加工面に供給
された研磨液が、被加工物12の研磨に用いられた後、
ドレッサ23による研磨工具11の目立てによって加工
面から掘り起こされて、直ちに直方体状研磨液吸引機構
14によって吸引され、研磨液とともに研磨工具11の
加工面の研磨屑、研磨工具屑などがインプロセスで除去
され、且つフィルタ16を通過したクリーンな研磨液が
加工面に供給されるためと考えられる。
【0047】なお、上記実施形態では、ドレッサ23を
研磨工具11の回転に伴って自転するようにしたが、回
転駆動機構を別に設けて、積極的にドレッサ23を強制
回転させるようにしても良い。そうすると、回転駆動機
構は増えるが、研磨工具11の加工面とドレッシング面
との相対移動速度を変えたり、研磨工具11の回転方向
と逆方向にドレッサ23を回転させたりすることも自由
にでき、目立ての度合いを適正に管理することが容易に
できるようにようになる。
研磨工具11の回転に伴って自転するようにしたが、回
転駆動機構を別に設けて、積極的にドレッサ23を強制
回転させるようにしても良い。そうすると、回転駆動機
構は増えるが、研磨工具11の加工面とドレッシング面
との相対移動速度を変えたり、研磨工具11の回転方向
と逆方向にドレッサ23を回転させたりすることも自由
にでき、目立ての度合いを適正に管理することが容易に
できるようにようになる。
【0048】◇第2実施形態 次に、本発明の第2実施形態を説明する。図5は本発明
の第2実施形態としての平面研磨装置の構成を示す平面
図、図6は同側面図である。この第2実施形態の平面研
磨装置では、研磨工具11の回転中心を中心にした対称
2箇所で、被加工物12を研磨するようにしている。
の第2実施形態としての平面研磨装置の構成を示す平面
図、図6は同側面図である。この第2実施形態の平面研
磨装置では、研磨工具11の回転中心を中心にした対称
2箇所で、被加工物12を研磨するようにしている。
【0049】そのため、各被加工物12の回転方向の後
方位置にそれぞれ直方体状研磨液供給機構13を配置
し、前方位置にそれぞれ直方体研磨液吸引機構14を配
置している。また、直方体状研磨液吸引機構14と被加
工物12との間に、それぞれドレッサ27を配置してい
る。そして、特にドレッサ27として、小スペース化が
可能な円筒状ダイヤモンド砥石(ローラ状砥石)を用い
ている。それ以外の構成は第1実施形態と同様である。
方位置にそれぞれ直方体状研磨液供給機構13を配置
し、前方位置にそれぞれ直方体研磨液吸引機構14を配
置している。また、直方体状研磨液吸引機構14と被加
工物12との間に、それぞれドレッサ27を配置してい
る。そして、特にドレッサ27として、小スペース化が
可能な円筒状ダイヤモンド砥石(ローラ状砥石)を用い
ている。それ以外の構成は第1実施形態と同様である。
【0050】ドレッサ27は、天然ダイヤモンド粒子
(150ミクロン)と人造ダイヤモンド粒子(100ミ
クロン)を混合した円筒状の砥石を用いており、天然ダ
イヤそンド粒子の刃先のシャープな部分で目立て効果を
出し、人造ダイヤモンド粒子との混合によってドレッサ
コストを下げている。円筒状ダイヤモンド砥石製のドレ
ッサ27は、その軸線を研磨工具11の半径方向に略沿
わせて配されており、研磨工具11の工具半径の全幅を
カバーできるようになっている。また、この円筒状のド
レッサ27は、軸方向両端に配した加圧シリンダ(加圧
機構)25によって、研磨工具11の加工面に対して圧
力可変に加圧接触させられており、モータ−26によっ
て、研磨工具11の回転方向と逆方向に回転させられる
ようになっている。
(150ミクロン)と人造ダイヤモンド粒子(100ミ
クロン)を混合した円筒状の砥石を用いており、天然ダ
イヤそンド粒子の刃先のシャープな部分で目立て効果を
出し、人造ダイヤモンド粒子との混合によってドレッサ
コストを下げている。円筒状ダイヤモンド砥石製のドレ
ッサ27は、その軸線を研磨工具11の半径方向に略沿
わせて配されており、研磨工具11の工具半径の全幅を
カバーできるようになっている。また、この円筒状のド
レッサ27は、軸方向両端に配した加圧シリンダ(加圧
機構)25によって、研磨工具11の加工面に対して圧
力可変に加圧接触させられており、モータ−26によっ
て、研磨工具11の回転方向と逆方向に回転させられる
ようになっている。
【0051】次に作用を説明する。研磨工具11で加工
を開始するのに伴い、直方体状研磨液供給機構13から
研磨液を加工面に供給する。被加工物12の手前で加工
面に供給された研磨液は、研磨工具11の回転により被
加工物12の加工箇所に到達し、研磨工具11の回転と
被加工物12の回転(図1のロ方向の回転)により生じ
る研磨工具11と被加工物12の間の摩擦により、被加
工物12を研磨する。
を開始するのに伴い、直方体状研磨液供給機構13から
研磨液を加工面に供給する。被加工物12の手前で加工
面に供給された研磨液は、研磨工具11の回転により被
加工物12の加工箇所に到達し、研磨工具11の回転と
被加工物12の回転(図1のロ方向の回転)により生じ
る研磨工具11と被加工物12の間の摩擦により、被加
工物12を研磨する。
【0052】また、研磨に使用された研磨液は、被加工
物12を通過した後、流れの下流に位置する円筒状ダイ
ヤモンド砥石製のドレッサ27(接触圧力10g/平方
センチメートル)による研磨工具11の目立てによっ
て、研磨工具11の加工面から掘り起こされて、直ちに
直方体状研磨液吸引機構14によって吸引される。した
がって、被加工物12の加工圧力が高い場合でも、研磨
液とともに研磨工具11の加工面の研磨屑や研磨工具屑
等が掘り起こされて、インプロセスで除去され、常に加
工面がクリーンな状態に保たれる。
物12を通過した後、流れの下流に位置する円筒状ダイ
ヤモンド砥石製のドレッサ27(接触圧力10g/平方
センチメートル)による研磨工具11の目立てによっ
て、研磨工具11の加工面から掘り起こされて、直ちに
直方体状研磨液吸引機構14によって吸引される。した
がって、被加工物12の加工圧力が高い場合でも、研磨
液とともに研磨工具11の加工面の研磨屑や研磨工具屑
等が掘り起こされて、インプロセスで除去され、常に加
工面がクリーンな状態に保たれる。
【0053】よって、被加工物12を複数枚(本実施形
態では2枚)同時に、研磨レートの低下を来さずに、長
時間にわたって、効率良く研磨することができる。ま
た、この場合、研磨工具11の加工面の全幅に研磨液が
供給され、加工面の全幅から研磨工具面が目立てされて
研磨液が回収されるので、被加工物12の大きさによら
ず、同じ条件で複数枚の被加工物を同時に研磨加工する
ことができる。
態では2枚)同時に、研磨レートの低下を来さずに、長
時間にわたって、効率良く研磨することができる。ま
た、この場合、研磨工具11の加工面の全幅に研磨液が
供給され、加工面の全幅から研磨工具面が目立てされて
研磨液が回収されるので、被加工物12の大きさによら
ず、同じ条件で複数枚の被加工物を同時に研磨加工する
ことができる。
【0054】次に具体的なテスト結果について述べる。
このテストも上記の第1実施形態の場合と同じ条件で行
った。その結果、研磨累積時間20時間以内で2200
±60オングストローム/minとなり、従来の加工圧
力が高い場合に、研磨時間が長くなると研磨レートが低
下するという問題点が解消された。さらに、時間当たり
の被加工物の研磨枚数を倍増できることから、スループ
ットが向上した。
このテストも上記の第1実施形態の場合と同じ条件で行
った。その結果、研磨累積時間20時間以内で2200
±60オングストローム/minとなり、従来の加工圧
力が高い場合に、研磨時間が長くなると研磨レートが低
下するという問題点が解消された。さらに、時間当たり
の被加工物の研磨枚数を倍増できることから、スループ
ットが向上した。
【0055】以上、本発明の実施形態を図面により詳述
してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更などがあっても、本発明に含まれる。例えば、図7に
示すように、研磨工具11の加工面の周縁部に、研磨液
の流出を防ぐ起立壁11aを設ければ、加工面に供給さ
れる研磨液が加工面外に流出しなくなるので、より一層
研磨液の回収効率が良くなり、ランニングコスト低減に
寄与する。また、被加工物は、二酸化シリコン膜付きウ
ェハに限定されるものではなく、例えば、金属配線付き
ウェハ、磁気ディスク、ガラス基板、その他の板状のも
のも含まれる。
してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更などがあっても、本発明に含まれる。例えば、図7に
示すように、研磨工具11の加工面の周縁部に、研磨液
の流出を防ぐ起立壁11aを設ければ、加工面に供給さ
れる研磨液が加工面外に流出しなくなるので、より一層
研磨液の回収効率が良くなり、ランニングコスト低減に
寄与する。また、被加工物は、二酸化シリコン膜付きウ
ェハに限定されるものではなく、例えば、金属配線付き
ウェハ、磁気ディスク、ガラス基板、その他の板状のも
のも含まれる。
【0056】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、研磨工具面を目立てして、使用済みの研磨
液を直ちに加工面から除去し、同時に研磨屑や研磨工具
屑などを加工面から取り除くので、研磨工具面の目詰ま
りを防止して、常に加工面をクリーンな状態に保つこと
ができる。よって、被加工物の加工圧力が高い場合で
も、研磨時間が長くなっても、研磨レートが低下するこ
となく、被加工物ごとの研磨加工量の変動をなくすこと
ができる。
明によれば、研磨工具面を目立てして、使用済みの研磨
液を直ちに加工面から除去し、同時に研磨屑や研磨工具
屑などを加工面から取り除くので、研磨工具面の目詰ま
りを防止して、常に加工面をクリーンな状態に保つこと
ができる。よって、被加工物の加工圧力が高い場合で
も、研磨時間が長くなっても、研磨レートが低下するこ
となく、被加工物ごとの研磨加工量の変動をなくすこと
ができる。
【0057】また、請求項2記載の発明によれば、被加
工物の大きさによらず、同じ条件で加工精度、加工効率
を向上させることができる。
工物の大きさによらず、同じ条件で加工精度、加工効率
を向上させることができる。
【0058】また、請求項3記載の発明によれば、研磨
工具の内周部及び外周部に多く集まる研磨液を効率良く
吸引できる。
工具の内周部及び外周部に多く集まる研磨液を効率良く
吸引できる。
【0059】また、請求項4記載の発明によれば、遠心
力により研磨工具の外周部へ流れようとする研磨液を、
研磨液吸引面の外周縁部の浅溝が捕獲するので、効率良
く吸引できる。
力により研磨工具の外周部へ流れようとする研磨液を、
研磨液吸引面の外周縁部の浅溝が捕獲するので、効率良
く吸引できる。
【0060】また、請求項5記載の発明によれば、万が
ーに研磨液吸引機構が研磨工具に接触した場合でも、研
磨工具や研磨液吸引機構の損傷を防ぐことができる。
ーに研磨液吸引機構が研磨工具に接触した場合でも、研
磨工具や研磨液吸引機構の損傷を防ぐことができる。
【0061】また、請求項6記載の発明によれば、研磨
工具面の目立て効果を出し、ドレッサコストを下げるこ
とができる。
工具面の目立て効果を出し、ドレッサコストを下げるこ
とができる。
【0062】また、請求項7記載の発明によれば、ドレ
ッサの回転駆動機構を省略することができる。
ッサの回転駆動機構を省略することができる。
【0063】また、請求項8記載の発明によれば、ドレ
ッサによる目立て度合いを自由にコントロールすること
ができる。
ッサによる目立て度合いを自由にコントロールすること
ができる。
【0064】また、請求項9記載の発明によれば、ドレ
ッサの占有スペースを小さくすることができるので、研
磨工具の加工面上に複数の被加工物を配置し、複数の被
加工物を同時に、研磨レートの低下を来さずに、長時間
にわたって、効率良く研磨することができる。
ッサの占有スペースを小さくすることができるので、研
磨工具の加工面上に複数の被加工物を配置し、複数の被
加工物を同時に、研磨レートの低下を来さずに、長時間
にわたって、効率良く研磨することができる。
【0065】また、請求項10記載の発明によれば、ド
レッサと研磨工具の半径方向の接触圧力を適正化するこ
とができ、研磨工具の目立て効果を一段と向上させるこ
とができる。
レッサと研磨工具の半径方向の接触圧力を適正化するこ
とができ、研磨工具の目立て効果を一段と向上させるこ
とができる。
【図1】本発明の第1実施形態としての平面研磨装置の
構成を示す平面図である。
構成を示す平面図である。
【図2】同平面研磨装置の構成を示す側面図である。
【図3】同平面研磨装置の研磨液吸引機構の下面図であ
る。
る。
【図4】図3のIV−IV矢視断面図である。
【図5】本発明の第2実施形態としての平面研磨装置の
構成を示す平面図である。
構成を示す平面図である。
【図6】同平面研磨装置の構成を示す側面図である。
【図7】本発明の各実施形態に用いる研磨工具の他の例
を示す側断面図である。
を示す側断面図である。
【図8】従来の平面研磨装置の側面図である。
【図9】従来の平面研磨装置における研磨レートを説明
するための図である。
するための図である。
11 研磨工具 12 被加工物 13 直方体状研磨液供給機構 14 直方体状研磨液吸引機構 22 小砥石 23 ドレッサ 25 加圧シリンダ(加圧機構) 26 モータ 27 円筒状ドレッサ 31 研磨液吸引面 32 研磨液吸引孔 33 浅溝 34 丸み
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B24B 37/00
Claims (10)
- 【請求項1】 回転駆動される円盤状研磨工具の加工面
に被加工物を加圧接触させ、研磨液を加工面に供給しな
がら平面研磨する装置において、 前記研磨工具の回転方向に対して被加工物の後方位置
に、前記加工面に研磨液を供給する研磨液供給機構を配
置するとともに、被加工物の前方位置に、前記加工面の
目立てを行うドレッサを配置し、前記ドレッサの前方位
置で前記研磨液供給機構の後方位置に、前記加工面の研
磨液を吸引回収する研磨液吸引機構を設けたことを特徴
とする平面研磨装置。 - 【請求項2】 前記研磨液供給機構、前記研磨液吸引機
構、及び前記ドレッサが、前記研磨工具の工具半径の全
幅を供給対象領域、吸引対象領域、及び目立て対象領域
としていることを特徴とする請求項1記載の平面研磨装
置。 - 【請求項3】 前記研磨液吸引機構が、前記円盤状研磨
工具の内周部及び外周部と対面する研磨液吸引面に、内
外周部間の中央部よりも数多くの研磨液吸引孔を備えて
いることを特徴とする請求項1又は2記載の平面研磨装
置。 - 【請求項4】 前記研磨液吸引機構が、前記円盤状研磨
工具と対面する研磨液吸引面の外周縁部に、研磨液を捕
捉する浅溝を備えていることを特徴とする請求項1〜3
のいずれか1に記載の平面研磨装置。 - 【請求項5】 前記研磨液吸引機構が、前記円盤状研磨
工具と対面する研磨液吸引面の最外周縁部に、丸み又は
面取を備えていることを特徴とする請求項1〜4のいず
れか1に記載の平面研磨装置。 - 【請求項6】 前記ドレッサが、天然ダイヤモンド粒子
と人造ダイヤモンド粒子を混合したダイヤモンド小砥石
を円盤状基板に環状に固着した構成をなしており、前記
ダイヤモンド小砥石を前記円盤状研磨工具に加圧接触さ
せながら、前記円盤状基板を回転させることにより、研
磨工具の加工面を目立てすることを特徴とする請求項1
〜5のいずれか1に記載の平面研磨装置。 - 【請求項7】 前記ドレッサが、研磨工具の加工面上で
回転可能に支持されており、研磨工具の回転による摩擦
力によりドレッサが定位置で自転させられることを特徴
とする請求項6記載の平面研磨装置。 - 【請求項8】 前記ドレッサが、研磨工具の加工面上で
回転駆動機構により強制回転させられることを特徴とす
る請求項6記載の平面研磨装置。 - 【請求項9】 前記ドレッサが、天然ダイヤモンド粒子
と人造ダイヤモンド粒子を混合した円筒状ダイヤモンド
砥石からなり、該円筒状ダイヤモンド砥石をその軸線を
前記円盤状研磨工具の半径方向に略沿わせて配置し、且
つ、研磨工具の加工面に接触させながら、研磨工具の回
転方向と逆行する方向に回転させることにより、研磨工
具の加工面を目立てすることを特徴とする請求項1〜5
のいずれか1に記載の平面研磨装置。 - 【請求項10】 前記円筒状ダイヤモンド砥石を研磨工
具の加工面に加圧接触させる加圧機構を、円筒状ダイヤ
モンド砥石の軸方向両端にそれぞれ設けたことを特徴と
する請求項9記載の平面研磨装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23451297A JP2845238B1 (ja) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | 平面研磨装置 |
US09/141,421 US6039635A (en) | 1997-08-29 | 1998-08-27 | Surface polishing apparatus including a dresser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23451297A JP2845238B1 (ja) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | 平面研磨装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2845238B1 true JP2845238B1 (ja) | 1999-01-13 |
JPH1170459A JPH1170459A (ja) | 1999-03-16 |
Family
ID=16972194
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23451297A Expired - Fee Related JP2845238B1 (ja) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | 平面研磨装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6039635A (ja) |
JP (1) | JP2845238B1 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3770752B2 (ja) | 1998-08-11 | 2006-04-26 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置の製造方法及び加工装置 |
JP2000198062A (ja) * | 1998-11-04 | 2000-07-18 | Canon Inc | 研磨装置及び研磨方法 |
US6273796B1 (en) | 1999-09-01 | 2001-08-14 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for planarizing a microelectronic substrate with a tilted planarizing surface |
US6340327B1 (en) * | 1999-10-15 | 2002-01-22 | Agere Systems Guardian Corp. | Wafer polishing apparatus and process |
JP2001191246A (ja) * | 2000-01-06 | 2001-07-17 | Nec Corp | 平面研磨装置および平面研磨方法 |
KR100423905B1 (ko) * | 2001-03-20 | 2004-03-24 | 삼성전자주식회사 | 기계화학적 평탄화 장비의 패드 콘디셔너 해드 측정장치 |
US7052371B2 (en) * | 2003-05-29 | 2006-05-30 | Tbw Industries Inc. | Vacuum-assisted pad conditioning system and method utilizing an apertured conditioning disk |
JP2005271151A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Toshiba Corp | 研磨装置及び研磨方法 |
JP2008279539A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Nomura Micro Sci Co Ltd | 研磨液の回収方法、及び研磨液の回収装置 |
US20100062693A1 (en) * | 2008-09-05 | 2010-03-11 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Two step method and apparatus for polishing metal and other films in semiconductor manufacturing |
JP2012056081A (ja) * | 2011-12-20 | 2012-03-22 | Ntn Corp | ラッピング加工方法および加工装置 |
WO2014149676A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Applied Materials, Inc. | Polishing pad cleaning with vacuum apparatus |
CN103273414A (zh) * | 2013-04-09 | 2013-09-04 | 上海华力微电子有限公司 | 化学机械研磨装置及其方法 |
KR102559647B1 (ko) * | 2016-08-12 | 2023-07-25 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판 연마 시스템 및 기판 연마 방법 |
JP7161418B2 (ja) * | 2019-01-30 | 2022-10-26 | 株式会社荏原製作所 | 基板洗浄装置、基板処理装置、洗浄部材のセルフクリーニング方法 |
JP7505910B2 (ja) * | 2020-04-28 | 2024-06-25 | 株式会社ディスコ | ウェットエッチング方法、及び、ウェットエッチング装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07105369B2 (ja) * | 1990-05-29 | 1995-11-13 | 松下電器産業株式会社 | ウェハーの研磨方法及び研磨装置 |
JPH0569310A (ja) * | 1991-04-23 | 1993-03-23 | Mitsubishi Materials Corp | ウエーハの鏡面研磨装置 |
JPH05309559A (ja) * | 1992-05-12 | 1993-11-22 | Speedfam Co Ltd | 平面研磨方法及び装置 |
JP2581478B2 (ja) * | 1995-01-13 | 1997-02-12 | 日本電気株式会社 | 平面研磨装置 |
JP3594357B2 (ja) * | 1995-04-10 | 2004-11-24 | 株式会社荏原製作所 | ポリッシング方法及び装置 |
-
1997
- 1997-08-29 JP JP23451297A patent/JP2845238B1/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-08-27 US US09/141,421 patent/US6039635A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1170459A (ja) | 1999-03-16 |
US6039635A (en) | 2000-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2581478B2 (ja) | 平面研磨装置 | |
JP2845238B1 (ja) | 平面研磨装置 | |
US6093088A (en) | Surface polishing machine | |
JP2001191246A (ja) | 平面研磨装置および平面研磨方法 | |
JP3111892B2 (ja) | 研磨装置 | |
JP3778594B2 (ja) | ドレッシング方法 | |
JP3594357B2 (ja) | ポリッシング方法及び装置 | |
US6179693B1 (en) | In-situ/self-propelled polishing pad conditioner and cleaner | |
JP2005271151A (ja) | 研磨装置及び研磨方法 | |
JP3058274B1 (ja) | 平面研磨装置 | |
US5897425A (en) | Vertical polishing tool and method | |
JP2001121407A (ja) | 研磨装置 | |
JP4715880B2 (ja) | 平面研磨装置 | |
JP3159177B2 (ja) | 平面研磨装置 | |
JP2008028232A (ja) | 半導体基板研磨装置および半導体基板研磨方法、半導体装置の製造方法 | |
JP2001277095A (ja) | パッドコンディショニング装置及びパッドコンディショニング方法 | |
CN214559978U (zh) | 一种晶片的研磨装置 | |
JP3011168B2 (ja) | 半導体基板研磨装置 | |
JP2000326209A (ja) | 平面研磨装置 | |
JPS63283862A (ja) | 研摩方法及び研摩装置 | |
TW559582B (en) | Device and method for polishing, and method and device for manufacturing semiconductor device | |
JP2004296970A (ja) | 半導体基板の研磨装置およびこれを用いた半導体基板の研磨方法 | |
JPH11188369A (ja) | Cmp装置の研磨廃液の処理方法 | |
JP2002144227A (ja) | パッドコンディショナおよびコンディショニング方法 | |
JP2003001556A (ja) | 研磨装置及び研磨方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071030 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081030 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |