JP2828326B2 - 多層リードフレームおよびその製造方法 - Google Patents
多層リードフレームおよびその製造方法Info
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Insulating Bodies (AREA)
Description
する。
やゲート・アレイなどの半導体素子を搭載するパッケー
ジは従来セラミック製のピン・グリッド・アレイ(PG
A)タイプのものしか使えなかったが、近年これに代わ
り得る樹脂封止型パッケージが出現した。
層リードフレーム10を用いる。この多層リードフレーム
10は、ダイパッドのないリードフレーム12(信号層)
と、この信号層12の窓より少し小さめの窓があいた枠状
の電源プレーン14と、接地プレーン16の3層からなり、
各層を枠状の絶縁シート18a、18bを介して積層してい
る。絶縁シート18a、18bは、ポリイミドフィルムの両面
に接着剤を塗布したものを用いている。
に信号層12と別に面積の大きな電源プレーン14と接地プ
レーン16をもっているため、信号層に対してはマイクロ
ストリップ・ラインとしてクロストークを抑えられるう
え、電源系に対してはインダクタンスが低くなるため、
また電源プレーン14と接地プレーン16との間に絶縁シー
トを介してデカップリング・コンデンサが形成されるた
め、バウンスとよばれる一種の電源雑音を小さくでき
る。半導体素子のスイッチングに伴って生ずる電源系、
接地系の電位変動を小さくできる。また、接地プレーン
16を銅系の合金で形成することにより、放熱性を高めら
れ、熱抵抗を小さくすることができる。さらにはセラミ
ックパッケージに比べて大幅なコストダウンが実現でき
るなどの多大なメリットを有する。
り、入出力バッファの同時スイッチングによる電源系、
接地系に生ずる電圧降下が大きくなっており、誤動作す
るおそれが高くなっている。
による急激な立ち上がりによる時間当りの電流変化分di
/dtが大きくなってきていることから、自己インダクタ
ンスを低下させただけでは電圧降下を低く抑えられなく
なっているのである。この電圧降下を低減するために
は、電源ラインと接地ライン間にコンデンサを介装すれ
ばよいが、従来はこのコンデンサはパッケージ外に設け
ていたので、パッケージ内のリードフレームパターンに
よる電圧降下分は避けることができなかった。パッケー
ジ内の前記電源プレーン14と接地プレーン16との間に絶
縁シートを介して形成されるデカップリング・コンデン
サも容量が100pF程度の小容量のものであるので、高速
化による電圧降下は避けられない事情にある。
であり、その目的とするところは、より高速化に対応し
うる多層リードフレーム、その製造方法を提供するにあ
る。
レーン、接地プレーンが絶縁シートを介して積層された
多層リードフレームにおいて、前記電源プレーンと接地
プレーンとの間の絶縁シートが、絶縁性樹脂層中に酸化
タンタル粉末またはチタン酸バリウム粉末が分散された
絶縁シートであることを特徴としている。
ートを介して積層された多層リードフレームにおいて、
前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁シート
が、耐熱性フィルムの両面に絶縁性樹脂層が形成され、
該絶縁性樹脂層の少なくとも一方に酸化タンタル粉末ま
たはチタン酸バリウム粉末が分散された絶縁シートであ
ることを特徴としている。
は、信号層、電源プレーン、接地プレーンを絶縁シート
を介して積層する多層リードフレームの製造方法におい
て、前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁シー
トに、Bステージ化された絶縁性樹脂層中に酸化タンタ
ル粉末またはチタン酸バリウム粉末が分散された絶縁シ
ートを用い、この絶縁シートを電源プレーンと接地プレ
ーンとの間に介在させてキュアーすることにより両者を
接着することを特徴としている。
ートを介して積層する多層リードフレームの製造方法に
おいて、前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁
シートに、耐熱フィルムの両面にBステージ化された絶
縁性樹脂層が形成され、該絶縁性樹脂層の少なくとも一
方に酸化タンタル粉末またはチタン酸バリウム粉末が分
散された絶縁シートを用い、この絶縁シートを電源プレ
ーンと接地プレーンとの間に介在させてキュアーするこ
とにより両者を接着することを特徴としている。
た誘電体であり、この酸化タンタル粉末またはチタン酸
バリウム粉末を絶縁性樹脂層中に分散した絶縁シートは
高誘電率のものとなる。
ムの電源プレーンと接地プレーンとを接着する絶縁シー
トとして用いることにより、電源プレーンと接地プレー
ンとの間、すなわち樹脂封止型半導体装置に形成した
際、パッケージ内となる部位に高容量のデカップリング
・コンデンサを形成することができ、リードフレームの
パッケージ内パターンによる電圧降下を低減することが
でき、より高速化に対応できるパッケージを提供でき
る。
電源プレーンと接地プレーンとを接着する際の接着剤を
も兼用できるので好都合である。
詳細に説明する。
単一層からなり、該絶縁性樹脂層23は絶縁性樹脂21を主
成分とし、酸化タンタル粉末またはチタン酸バリウム粉
末22が分散されてなる。
着剤、ポリイミド系接着剤、エポキシ系接着剤に用いる
ことができる。接着剤が硬化型の場合にはBステージの
半硬化状態になるまで乾燥すればよい。
タル粉末またはチタン酸バリウム粉末を分散させた分散
物を離型性シート上に溶融混練して押し出し、または塗
布乾燥して絶縁性樹脂層を形成させ、しかるのち該離型
性シートから絶縁性樹脂層を剥離して該絶縁性樹脂層の
単一層からなる絶縁シートを得る。
ム31の両面に絶縁性樹脂層32a、32bを設けてなり、該絶
縁性樹脂層は絶縁性樹脂33を主成分とし、両面の絶縁性
樹脂層の少なくとも一方に酸化タンタル粉末またはチタ
ン酸バリウム粉末34が分散されてなる。
は12.5〜150μmの例えば、ポリイミド、ポリエーテル
イミド、ポリフェニレンサルファイド、ポリエーテルエ
ーテルケトン、ポリパラバン酸、ポリエチレンテレフタ
レート等の耐熱性フィルムや、エポキシ樹脂−ガラスク
ロス、エポキシ樹脂−ポリイミド−ガラスクロス等の複
合耐熱フィルムを使用できる。
着剤、ポリイミド系接着剤、エポキシ系接着剤を用いる
ことができる。接着剤が硬化型の場合には、耐熱性フィ
ルム31上に塗布した後、Bステージの半硬化状態になる
まで乾燥すればよい。絶縁性樹脂層は、膜厚1〜150μ
m、好ましくは5〜50μmになるよう形成する。
シート18a、18bのうち、電源プレーン14と接地プレーン
16の間の絶縁シート18bに上記の絶縁シートを用いるこ
とを特徴とする。
系接着剤テイサンレジンSA−70Lを用い、これに対して
平均粒径3μmの酸化タンタル粉末を約15wt%分散させ
た、厚さ約30μmの絶縁シートを用いた。
散させた絶縁シートの誘電率は全体として約15.0と高い
誘電率のものとなった。従来のポリイミドフィルムを主
体とする絶縁シートの誘電率は3.5程度と低いものでし
かなかった。
で行った。
の絶縁シート18bに用いたところ、電源プレーン14と接
地プレーン16との間に高容易のデカップリッグ・コンデ
ンサが形成され、これによりパッケージ内のリードフレ
ームパターンによる電圧降下分を上記のコンデンサによ
り補充でき、デバイスの高速化に対処できるようになっ
た。
ト18aは外部信号線とのインピーダンスのマッチングが
図れればよいので、従来のポリイミドフィルムの両面に
接着剤を塗布した絶縁シートをそのまま用いることがで
きる。
ンSG−70L」(帝国化学産業株式会社製)を用い、これ
に溶剤としてメチルエチルケトン(MEK)を添加し、固
形分率20%となるようにした。
タル粉末を用意し、上記で調整した接着剤溶液100重
量部に対し、上記フィラーを3重量部添加し、サンドミ
ルにて十分に分散させ、絶縁性樹脂層用塗液を作成し
た。
レフタレート(PET)フィルム上に、乾燥後の絶縁性樹
脂層の厚さが約30μmとなるように上記で調整したフィ
ラー入り絶縁性樹脂層用塗液を塗布し、熱風循環型オー
ブン中で150℃にて5分間乾燥して絶縁性樹脂層をBス
テージ化した。
う。ここではMEKが完全には飛散せず、絶縁性樹脂層の
粘度の高い半溶液状態をいう。なお、バインダーとして
熱硬化性樹脂、例えばポリイミド系樹脂を用いた場合に
は、熱硬化反応が完全には完結しない段階をいう。した
がって再加熱すると一旦溶融して接着性を示し、次いで
硬化する。
性樹脂層の単一層からなる本発明の絶縁シートを得た。
して得た絶縁シートを電源プレーン14と接地プレーン16
との間に介在させて加熱、加圧して、該絶縁シートを溶
融させ、バインダーが熱可塑性樹脂の場合には冷却する
ことにより、またバインダーが熱硬化性樹脂の場合には
熱硬化させることにより両者を接着する。次いで、絶縁
シート18aにより、信号層12を電源プレーン14上に積層
することによって多層リードフレームを得る。
縁シートを共にBステージ化した熱硬化性樹脂製のもの
を用いることによって、絶縁シート18a、上記のように
して得た絶縁シートを各々介在させて、信号層12、電源
プレーン14、接地プレーン16を同時に一工程で熱圧着す
ることもできる。
が、本発明は上述の実施例に限定されるのではなく、発
明の精神を逸脱しない範囲で多くの改変を施し得るのは
もちろんである。
た誘電体であり、この酸化タンタル粉末またはチタン酸
バリウム粉末を絶縁性樹脂中に分散した絶縁シートは高
誘電率のものとなる。
ームの電源プレーンと接地プレーンとを接着する絶縁シ
ートとして用いることにより、電源プレーンと接地プレ
ーンとの間、すなわち樹脂封止型半導体装置に形成した
際、パッケージ内となる部位に高容量のデカップリング
・コンデンサを形成することができ、リードフレームの
パッケージ内パターンでの電圧降下を低減することがで
き、より高速化に対応できるパッケージを提供できる。
電源プレーンと接地プレーンとを接着する際の接着剤を
も兼用できるので好都合である。
よび第3図は絶縁シートの実施例を示す断面説明図を示
す。 10……多層リードフレーム、 12……信号層、14……電源プレーン、 16……接地プレーン、 18a、18b……絶縁シート、 21……絶縁性樹脂、22……酸化タンタル粉末またはチタ
ン酸バリウム粉末、 23……絶縁性樹脂層(単一層)、 31……耐熱性フィルム、 32a、32b……絶縁性樹脂層(積層)、 33……絶縁性樹脂、34……酸化タンタル粉末またはチタ
ン酸バリウム粉末。
Claims (4)
- 【請求項1】信号層、電源プレーン、接地プレーンが絶
縁シートを介して積層された多層リードフレームにおい
て、 前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁シート
が、絶縁性樹脂層中に酸化タンタル粉末またはチタン酸
バリウム粉末が分散された絶縁シートであることを特徴
とする多層リードフレーム。 - 【請求項2】信号層、電源プレーン、接地プレーンが絶
縁シートを介して積層された多層リードフレームにおい
て、 前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁シート
が、耐熱性フィルムの両面に絶縁性樹脂層が形成され、
該絶縁性樹脂層の少なくとも一方に酸化タンタル粉末ま
たはチタン酸バリウム粉末が分散された絶縁シートであ
ることを特徴とする多層リードフレーム。 - 【請求項3】信号層、電源プレーン、接地プレーンを絶
縁シートを介して積層する多層リードフレームの製造方
法において、 前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁シート
に、Bステージ化された絶縁性樹脂層中に酸化タンタル
粉末またはチタン酸バリウム粉末が分散された絶縁シー
トを用い、この絶縁シートを電源プレーンと接地プレー
ンとの間に介在させてキュアーすることにより両者を接
着することを特徴とする多層リードフレームの製造方
法。 - 【請求項4】信号層、電源プレーン、接地プレーンを絶
縁シートを介して積層する多層リードフレームの製造方
法において、 前記電源プレーンと接地プレーンとの間の絶縁シート
に、耐熱性フィルムの両面にBステージ化された絶縁性
樹脂層が形成され、該絶縁性樹脂層の少なくとも一方に
酸化タンタル粉末またはチタン酸バリウム粉末が分散さ
れた絶縁シートを用い、この絶縁シートを電源プレーン
と接地プレーンとの間に介在させてキュアーすることに
より両者を接着することを特徴とする多層リードフレー
ムの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2184993A JP2828326B2 (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | 多層リードフレームおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2184993A JP2828326B2 (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | 多層リードフレームおよびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0473825A JPH0473825A (ja) | 1992-03-09 |
JP2828326B2 true JP2828326B2 (ja) | 1998-11-25 |
Family
ID=16162913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2184993A Expired - Lifetime JP2828326B2 (ja) | 1990-07-12 | 1990-07-12 | 多層リードフレームおよびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2828326B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2806729B2 (ja) * | 1993-03-26 | 1998-09-30 | 京セラ株式会社 | 半導体素子収納用パッケージ |
KR950702068A (ko) * | 1993-04-06 | 1995-05-17 | 쓰지 가오루 | 반도체 소자용 패키지(package for semiconductor chip) |
JPH06334105A (ja) * | 1993-05-24 | 1994-12-02 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 多層リードフレーム |
JP5035580B2 (ja) * | 2001-06-28 | 2012-09-26 | ナガセケムテックス株式会社 | 弾性表面波デバイスおよびその製法 |
-
1990
- 1990-07-12 JP JP2184993A patent/JP2828326B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0473825A (ja) | 1992-03-09 |
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