JP2821829B2 - Ａｐｄ用電気供給回路 - Google Patents
Ａｐｄ用電気供給回路Info
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000000098 azimuthal photoelectron diffraction Methods 0.000 description 15
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/02016—Circuit arrangements of general character for the devices
- H01L31/02019—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02027—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for devices working in avalanche mode
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
- G05F1/567—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for temperature compensation
-
- H—ELECTRICITY
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- H03F3/08—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light
- H03F3/087—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only controlled by light with IC amplifier blocks
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Description
【０００１】本発明は、特に「アバランシェホドダイオ
ード」（ＡＰＤ）を供給するためであるが、又さらに一
般に使用出来る電気供給回路に関する。
ード」（ＡＰＤ）を供給するためであるが、又さらに一
般に使用出来る電気供給回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】「アバランシホトダイオード」（ＡＰ
Ｄ）は、特に光学信号伝送技術における電気光学変換器
として使用されるダイオードである。このタイプのダイ
オードは、もし適用されたダイオード電圧が降伏電圧に
非常に近く接近するならば、光学入力信号の最適な光学
電気変換（「ゲイン」）を与えるに過ぎない。この関係
における一つの問題は、もし適用された電圧が一定に保
たれようとするならば、一方該電圧は降伏電圧に非常に
近く接近しないため、さらにダイオードの出力信号が不
適切であるか、又は一方ダイオードが（外界）温度の全
ての避けることのできない上昇時に降伏するため、温度
に依存することである。
Ｄ）は、特に光学信号伝送技術における電気光学変換器
として使用されるダイオードである。このタイプのダイ
オードは、もし適用されたダイオード電圧が降伏電圧に
非常に近く接近するならば、光学入力信号の最適な光学
電気変換（「ゲイン」）を与えるに過ぎない。この関係
における一つの問題は、もし適用された電圧が一定に保
たれようとするならば、一方該電圧は降伏電圧に非常に
近く接近しないため、さらにダイオードの出力信号が不
適切であるか、又は一方ダイオードが（外界）温度の全
ての避けることのできない上昇時に降伏するため、温度
に依存することである。
【０００３】課せられた問題を排除するために、その出
力電圧が使用されるＡＰＤの温度依存性にできる限りマ
ッチする特定の温度依存性を有するＡＰＤ用の供給回路
は、周知である。従って、特願昭６０−１８０３４７号
は、このような回路を開示している。しかし、該回路
は、出力電圧のレベル及び温度依存性の程度は、互いに
独立してコントロールできないという不利を有するが、
しかし、もし回路が特定のタイプのＡＰＤを供給するこ
とだけを目的にするならば、欠点とはならず、コンポー
ネントの値は、次にそのタイプのＡＰＤについて斟酌す
ることにより調節できる。しかし、同時に、同じタイプ
のＡＰＤ内では試料の変化について斟酌することができ
ない。その結果、ＡＰＤの「ゲイン」は、最適にでき
ず、逆に実際にはこれは、見逃すことのできない損失を
大きくする。
力電圧が使用されるＡＰＤの温度依存性にできる限りマ
ッチする特定の温度依存性を有するＡＰＤ用の供給回路
は、周知である。従って、特願昭６０−１８０３４７号
は、このような回路を開示している。しかし、該回路
は、出力電圧のレベル及び温度依存性の程度は、互いに
独立してコントロールできないという不利を有するが、
しかし、もし回路が特定のタイプのＡＰＤを供給するこ
とだけを目的にするならば、欠点とはならず、コンポー
ネントの値は、次にそのタイプのＡＰＤについて斟酌す
ることにより調節できる。しかし、同時に、同じタイプ
のＡＰＤ内では試料の変化について斟酌することができ
ない。その結果、ＡＰＤの「ゲイン」は、最適にでき
ず、逆に実際にはこれは、見逃すことのできない損失を
大きくする。
【０００４】
【発明の概要】本発明は、特にＡＰＤに供するのに使用
できる供給回路を提供し、それは、周知の同様な回路と
は対象的に、供給電圧の温度独立部分及びその温度依存
部分の両者の特に温度依存性の程度の最適な調節の為の
手段を提供する。即ち、本発明に係る当該ＡＰＤ用電気
供給回路は、上記目的を達成するため、次の様な基本的
な技術構成を採用しているものである。 つまり、温度依
存性を有さず、その出力電圧（Ｕ１）が一定である第１
の温度独立電圧源（ＶＳ１）に接続された、コントロー
ル可能なゲイン（ａ１）を有する第１の電圧増幅器（Ａ
１）、温度依存性を有さず、その出力電圧（Ｕ３）が一
定である第２の温度独立電圧源（ＶＳ３）と温度依存性
を有し、その出力電圧（Ｕ４）が温度に依存して変化す
る第１の温度依存電圧源（ＶＳ４）とよりなり、当該第
２の温度独立電圧源（ＶＳ３）と当該温度依存電圧源
（ＶＳ４）のそれぞれの出力電圧が互いに減算される様
に構成され、その出力電圧は、測定された温度（ｔ）の
みの関数で示される第２の温度依存電圧源（ＶＳ２）に
接続され、且つ当該第１の電圧増幅器（Ａ１）のゲイン
（ａ１）とは独立にコントロール可能なゲイン（ａ２）
を有する第２の電圧増幅器（Ａ２）及び当該第１の電圧
増幅器（Ａ１）の出力と当該第２の電圧増幅器（Ａ２）
の出力とを加算する加算手段とで構成されているＡＰＤ
用電気供給回路である。
できる供給回路を提供し、それは、周知の同様な回路と
は対象的に、供給電圧の温度独立部分及びその温度依存
部分の両者の特に温度依存性の程度の最適な調節の為の
手段を提供する。即ち、本発明に係る当該ＡＰＤ用電気
供給回路は、上記目的を達成するため、次の様な基本的
な技術構成を採用しているものである。 つまり、温度依
存性を有さず、その出力電圧（Ｕ１）が一定である第１
の温度独立電圧源（ＶＳ１）に接続された、コントロー
ル可能なゲイン（ａ１）を有する第１の電圧増幅器（Ａ
１）、温度依存性を有さず、その出力電圧（Ｕ３）が一
定である第２の温度独立電圧源（ＶＳ３）と温度依存性
を有し、その出力電圧（Ｕ４）が温度に依存して変化す
る第１の温度依存電圧源（ＶＳ４）とよりなり、当該第
２の温度独立電圧源（ＶＳ３）と当該温度依存電圧源
（ＶＳ４）のそれぞれの出力電圧が互いに減算される様
に構成され、その出力電圧は、測定された温度（ｔ）の
みの関数で示される第２の温度依存電圧源（ＶＳ２）に
接続され、且つ当該第１の電圧増幅器（Ａ１）のゲイン
（ａ１）とは独立にコントロール可能なゲイン（ａ２）
を有する第２の電圧増幅器（Ａ２）及び当該第１の電圧
増幅器（Ａ１）の出力と当該第２の電圧増幅器（Ａ２）
の出力とを加算する加算手段とで構成されているＡＰＤ
用電気供給回路である。
【０００５】本発明は、その出力電圧（Ｕ１）が一定で
ありしかもコントロール可能なゲイン（ａ１）を有する
第１の電圧電圧増幅器（Ａ１）の入力に接続された第１
の温度独立電圧源（ＶＳ１）、さらにその出力電圧（Ｕ
２）が測定点で測定された温度（ｔ）と定数との数学上
の積に本質的に等しくしかも、第１の電圧電圧増幅器
（Ａ１）に於けるゲインコントロールとは独立してコン
トロール可能なゲイン（ａ２）を有する第２の電圧増幅
器（Ａ２）の入力に接続された第２の温度依存電圧源
（ＶＳ２）よりなり、第１の電圧増幅器の出力電圧及び
該第２の電圧増幅器の出力電圧が互いに加えられること
を特徴とする。本発明によれば、ＡＰＤに適用される供
給電圧（零入力電圧）の温度独立コンポーネント及び温
度依存コンポーネントは、前記の電圧源により互いに独
立して発生し、該電圧源の出力電圧は、さらに前記の２
個の増幅器により互いに独立して調節可能であり、電圧
のレベルは、第１の増幅器により調節され、電圧／温度
の比は、第２の増幅器により調節される。これらの手段
は、どんなＡＰＤも非常に鋭敏に調節が可能であり、従
って供給電圧と降伏電圧との間の差が余りに大きくなる
（低い「ゲイン」をもたらす）か、又は供給電圧が降伏
電圧を超過する（ＡＰＤはその結果操作不能になる）か
の何れかなしに、全ての温度で最適になる。
ありしかもコントロール可能なゲイン（ａ１）を有する
第１の電圧電圧増幅器（Ａ１）の入力に接続された第１
の温度独立電圧源（ＶＳ１）、さらにその出力電圧（Ｕ
２）が測定点で測定された温度（ｔ）と定数との数学上
の積に本質的に等しくしかも、第１の電圧電圧増幅器
（Ａ１）に於けるゲインコントロールとは独立してコン
トロール可能なゲイン（ａ２）を有する第２の電圧増幅
器（Ａ２）の入力に接続された第２の温度依存電圧源
（ＶＳ２）よりなり、第１の電圧増幅器の出力電圧及び
該第２の電圧増幅器の出力電圧が互いに加えられること
を特徴とする。本発明によれば、ＡＰＤに適用される供
給電圧（零入力電圧）の温度独立コンポーネント及び温
度依存コンポーネントは、前記の電圧源により互いに独
立して発生し、該電圧源の出力電圧は、さらに前記の２
個の増幅器により互いに独立して調節可能であり、電圧
のレベルは、第１の増幅器により調節され、電圧／温度
の比は、第２の増幅器により調節される。これらの手段
は、どんなＡＰＤも非常に鋭敏に調節が可能であり、従
って供給電圧と降伏電圧との間の差が余りに大きくなる
（低い「ゲイン」をもたらす）か、又は供給電圧が降伏
電圧を超過する（ＡＰＤはその結果操作不能になる）か
の何れかなしに、全ての温度で最適になる。
【０００６】本発明の好ましい態様は、第二の温度依存
電圧源が、第三の一定出力電圧（Ｕ３）を有する第三の
温度独立電圧源（ＶＳ３）、並びに電流源及び温度依存
インピーダンス（Ｄ）の直列回路により形成され、前記
の第三の出力電圧は、インピーダンス端子間の前記の電
流源（ＣＳ）により発生しそしてそれから減じられる電
圧（Ｕ４）に等しく、該インピーダンスは、好ましくは
順方向に接続された半導体ダイオードにより形成される
ことを特徴とする。
電圧源が、第三の一定出力電圧（Ｕ３）を有する第三の
温度独立電圧源（ＶＳ３）、並びに電流源及び温度依存
インピーダンス（Ｄ）の直列回路により形成され、前記
の第三の出力電圧は、インピーダンス端子間の前記の電
流源（ＣＳ）により発生しそしてそれから減じられる電
圧（Ｕ４）に等しく、該インピーダンスは、好ましくは
順方向に接続された半導体ダイオードにより形成される
ことを特徴とする。
【０００７】参考文献は、特願昭６０−１８０３４７号
である。図は、本発明の例示の態様を示す。前記の温度
独立電圧源ＶＳ１は、市販されているコンポーネント例
えばその（非常に安定な）出力電圧Ｕ１が約７ボルトで
あるタイプμＡ７２３から形成される。この電圧源ＶＳ
１は、その他の入力端子が地表に接続されているコント
ロール可能な電圧増幅器Ａ１の入力端子に接続してい
る。ａ１の７ボルトに等しい電圧は、それ故出力で発
し、ａ１は（可変）ゲインである。
である。図は、本発明の例示の態様を示す。前記の温度
独立電圧源ＶＳ１は、市販されているコンポーネント例
えばその（非常に安定な）出力電圧Ｕ１が約７ボルトで
あるタイプμＡ７２３から形成される。この電圧源ＶＳ
１は、その他の入力端子が地表に接続されているコント
ロール可能な電圧増幅器Ａ１の入力端子に接続してい
る。ａ１の７ボルトに等しい電圧は、それ故出力で発
し、ａ１は（可変）ゲインである。
【０００８】温度依存電圧源ＶＳ２は、電流源ＣＳによ
り供給される電流回路中に組込まれているダイオードＤ
により形成される温度依存電圧源と組合わされて、固定
した分圧器とともに温度独立電圧源ＶＳ３例えばまた前
記のコンポーネントμＡ７２３により形成される。該電
流源は、次に電圧源ＶＳ４及び比較的高い抵抗を有する
抵抗器Ｒにより形成される。温度独立電圧源ＶＳ３に接
続した固定した分圧器は、その出力電圧がダイオードＤ
端子間の電圧例えば０．７ボルトに等しいように調節さ
れる。電圧が供給されるべきＡＰＤ及びダイオードは、
それらが同じ外界温度に曝されるように、例えば同じプ
リント回路板上に設けられるように位置し、固定した分
圧器は、次に又供給されるＡＰＤが操作する通常の操作
温度、通常の室温に等しい温度で調節される。減算（ｓ
ｕｂｔｒａｃｔｉｏｎ）回路「−」において、ダイオー
ドの電圧から、分圧器の出力電圧が減じられ、得られた
電圧の差は、その他の入力が地表でなされる増幅器Ａ２
の入力に提供される。分圧器の出力電圧は、例えば０．
７ボルトである。ダイオード端子間の電圧は又０．７ボ
ルトであり、電流温度と室温との間の差と温度定数との
数学上の積により増大又は減少し、温度定数は、例えば
１℃当たり２ミリボルトである。その場合、増幅器Ａ２
の入力に提供される電圧は、それ故（０．７＋２ｍＶ／
℃）−０．７＝２ｍＶ／℃に等しい。この電圧は、それ
故温度にのみ依存する。それは、ａ２のゲインによって
増幅器Ａ２により増幅でき、その結果、増幅器Ａ２の出
力の電圧は、ａ２×２ｍＶ／℃に等しい。電圧加算器
「＋」では、第１の増幅器Ａ１の出力電圧及び第２の増
幅器Ａ２のそれが互いに加えられて、出力電圧（ａ１×
７＋ａ２×ｍＶ／℃）をもたらし、それは従ってａ１及
びａ２を互いに独立に調節可能にする。
り供給される電流回路中に組込まれているダイオードＤ
により形成される温度依存電圧源と組合わされて、固定
した分圧器とともに温度独立電圧源ＶＳ３例えばまた前
記のコンポーネントμＡ７２３により形成される。該電
流源は、次に電圧源ＶＳ４及び比較的高い抵抗を有する
抵抗器Ｒにより形成される。温度独立電圧源ＶＳ３に接
続した固定した分圧器は、その出力電圧がダイオードＤ
端子間の電圧例えば０．７ボルトに等しいように調節さ
れる。電圧が供給されるべきＡＰＤ及びダイオードは、
それらが同じ外界温度に曝されるように、例えば同じプ
リント回路板上に設けられるように位置し、固定した分
圧器は、次に又供給されるＡＰＤが操作する通常の操作
温度、通常の室温に等しい温度で調節される。減算（ｓ
ｕｂｔｒａｃｔｉｏｎ）回路「−」において、ダイオー
ドの電圧から、分圧器の出力電圧が減じられ、得られた
電圧の差は、その他の入力が地表でなされる増幅器Ａ２
の入力に提供される。分圧器の出力電圧は、例えば０．
７ボルトである。ダイオード端子間の電圧は又０．７ボ
ルトであり、電流温度と室温との間の差と温度定数との
数学上の積により増大又は減少し、温度定数は、例えば
１℃当たり２ミリボルトである。その場合、増幅器Ａ２
の入力に提供される電圧は、それ故（０．７＋２ｍＶ／
℃）−０．７＝２ｍＶ／℃に等しい。この電圧は、それ
故温度にのみ依存する。それは、ａ２のゲインによって
増幅器Ａ２により増幅でき、その結果、増幅器Ａ２の出
力の電圧は、ａ２×２ｍＶ／℃に等しい。電圧加算器
「＋」では、第１の増幅器Ａ１の出力電圧及び第２の増
幅器Ａ２のそれが互いに加えられて、出力電圧（ａ１×
７＋ａ２×ｍＶ／℃）をもたらし、それは従ってａ１及
びａ２を互いに独立に調節可能にする。
【図１】本発明の例示の態様である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−187672（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−9164（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−113640（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−163737（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−257343（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−22873（ＪＰ，Ａ) 特公 平３−14244（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01L 31/10
Claims (3)
- 【請求項１】 温度依存性を有さず、その出力電圧（Ｕ
１）が一定である第１の温度独立電圧源（ＶＳ１）に接
続された、コントロール可能なゲイン（ａ１）を有する
第１の電圧増幅器（Ａ１）、温度依存性を有さず、その
出力電圧（Ｕ３）が一定である第２の温度独立電圧源
（ＶＳ３）と温度依存性を有し、その出力電圧（Ｕ４）
が温度に依存して変化する第１の温度依存電圧源（ＶＳ
４）とよりなり、当該第２の温度独立電圧源（ＶＳ３）
と当該温度依存電圧源（ＶＳ４）のそれぞれの出力電圧
が互いに減算される様に構成され、その出力電圧は、測
定された温度（ｔ）のみの関数で示される第２の温度依
存電圧源（ＶＳ２）に接続され、且つ当該第１の電圧増
幅器（Ａ１）のゲイン（ａ１）とは独立にコントロール
可能なゲイン（ａ２）を有する第２の電圧増幅器（Ａ
２）及び当該第１の電圧増幅器（Ａ１）の出力と当該第
２の電圧増幅器（Ａ２）の出力とを加算する加算手段と
で構成されていることを特徴とするＡＰＤ用電気供給回
路。 - 【請求項２】 当該第１の温度依存電圧源（ＶＳ４）の
出力電圧は、当該第１の温度依存電圧源（ＶＳ４）の出
力と当該出力に直列的に接続された温度依存インピーダ
ンス（Ｄ）との接続部から取り出す様に構成されている
事を特徴とする請求項１記載のＡＰＤ用電気供給回路。 - 【請求項３】 当該該インピーダンス（Ｄ）は、順方向
に接続された半導体ダイオード（Ｄ）により形成されて
いる事を特徴とする請求項２記載のＡＰＤ用電気供給回
路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL9100476A NL9100476A (nl) | 1991-03-18 | 1991-03-18 | Electrische voedingsschakeling, in het bijzonder voor apds. |
| NL9100476 | 1991-03-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07183559A JPH07183559A (ja) | 1995-07-21 |
| JP2821829B2 true JP2821829B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=19859030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4101535A Expired - Lifetime JP2821829B2 (ja) | 1991-03-18 | 1992-03-11 | Ａｐｄ用電気供給回路 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0504974B1 (ja) |
| JP (1) | JP2821829B2 (ja) |
| AT (1) | ATE127619T1 (ja) |
| DE (1) | DE69204508T2 (ja) |
| FI (1) | FI104451B (ja) |
| NL (1) | NL9100476A (ja) |
| NO (1) | NO303609B1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0915407B1 (en) * | 1997-11-05 | 2009-03-04 | STMicroelectronics S.r.l. | Temperature correlated voltage generator circuit and corresponding voltage regulator for a single power memory cell, particularly of the FLASH-type |
| US7405552B2 (en) | 2006-01-04 | 2008-07-29 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor temperature sensor with high sensitivity |
| JP2006303524A (ja) * | 2006-06-08 | 2006-11-02 | Oki Comtec Ltd | アバランシェフォトダイオード用バイアス電圧制御回路およびその調整方法 |
| CN115542229B (zh) * | 2022-11-25 | 2023-03-24 | 中国兵器装备集团自动化研究所有限公司 | 一种复杂温度环境下恒流源校准系统 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61163737A (ja) * | 1985-01-14 | 1986-07-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光伝送装置 |
| JPS639164A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-01-14 | Fujitsu Ltd | Ａｐｄの増倍率制限回路 |
| DE3640242A1 (de) * | 1986-11-25 | 1988-05-26 | Vdo Schindling | Schaltungsanordnung fuer einen sensor |
| JP2733763B2 (ja) * | 1987-01-30 | 1998-03-30 | 日本電信電話株式会社 | Ａｐｄバイアス回路 |
| JPH02113640A (ja) * | 1988-10-21 | 1990-04-25 | Toshiba Corp | 自動利得制御装置 |
| JPH0314244A (ja) * | 1989-06-13 | 1991-01-22 | Toshiba Corp | 電界効果トランジスタ及びその製造方法 |
-
1991
- 1991-03-18 NL NL9100476A patent/NL9100476A/nl not_active Application Discontinuation
-
1992
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