JP2819980B2 - Ccdカメラ信号処理回路テスト用の信号発生器 - Google Patents

Ccdカメラ信号処理回路テスト用の信号発生器

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JP2819980B2
JP2819980B2 JP5019794A JP1979493A JP2819980B2 JP 2819980 B2 JP2819980 B2 JP 2819980B2 JP 5019794 A JP5019794 A JP 5019794A JP 1979493 A JP1979493 A JP 1979493A JP 2819980 B2 JP2819980 B2 JP 2819980B2
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  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は撮像素子にCCDを用い
たビデオカメラ(CCDカメラ)の信号処理回路を評価
・調整するためのCCDカメラ信号処理回路テスト用の
信号発生器に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、CCDカメラ信号処理回路の評価
・調整は、CCD撮像素子からの出力信号をそのまま用
いるか、テスト用信号発生回路からの疑似信号を用いる
かによって行われていた。
【0003】図3は疑似信号による評価手法に用いられ
るテスト用信号発生器の一例のブロック図である。図3
に示されるとおり、この信号発生器は、システムクロッ
クパルスに所定の時間シフトを与える位相調整器(P
S)16と、このPS16の出力に所定の電圧値のバイ
アスをかけるバイアス回路(BIAS)17と、このB
IAS17の出力の水平ブランキング期間に含まれる不
要信号を取り除くブランキング回路(BLK)18と、
このBLK18の出力のレベル調整を行う増幅器(AM
P)19とを備える。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この信号発生器は、シ
ステムクロックのパルス波形の整形により疑似信号を発
生しているので、この疑似信号を用いて評価できる項目
は回路動作チェックやダイナミックレンジのチェック等
に限定される。
【0005】一方CCD撮像素子の出力信号そのものを
使用する上述のもう一つの手法は、信号処理回路への供
給信号が実際の動作モードとほぼ同一になる点において
すぐれているものの、まったく異なる面における困難を
伴う。すなわち、信号処理回路の開発はCCDカメラの
開発と並行して進められるのが一般的であるので、信号
処理回路の試作品に試験用信号を供給すべきCCD撮像
素子そのものがまだ試作品の段階にあることもまれでは
ない。そのような段階にある撮像素子からの出力信号は
欠陥を含むことがあり得る。
【0006】したがって本発明の目的は、評価項目の種
類・数に制約を与えることなく、しかもCCD撮像素子
出力との近似性の高い疑似信号を発生できるCCDカメ
ラ信号処理回路テスト用の信号を発生する信号発生器を
提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のCCDカメラ信
号処理回路テスト用の信号発生器は、フィードスルーレ
ベルを表す第1のデータと信号出力レベルを表す第2の
データとによって各画素の画像データを構成したディジ
タル画像信号を水平走査の1ライン分ずつそれぞれ格納
した複数のラインメモリと、前記複数のラインメモリか
らの読出し出力を前記水平走査の1ライン分単位で選択
する選択手段と、この選択手段の出力をアナログ画像信
号に変換するディジタル・アナログ変換手段と、このデ
ィジタル・アナログ変換手段の出力の振幅レベルおよび
直流レベルを調整するレベル調整手段とを備えている。
【0008】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0009】図1にブロック図を示した本発明の一実施
例であるCCDカメラ信号処理回路テスト用の信号発生
器は、各各が水平走査1ライン分対応の多数のCCD素
子から成る2個のCCDアレイを備えた(いわゆるデュ
アルチャネル構成)CCD撮像素子からの出力信号と同
等のテスト用信号を発生する。
【0010】図1に示すとおり、この信号発生器は、デ
ィジタル部(DGT)1と、DGT1からのディジタル
画像データをアナログ画像信号に変換するディジタル・
アナログ(D/A)変換部(CNV)2と、CNV2か
らのアナログ画像信号の振幅レベル調整および直流レベ
ル調整を行うアナログ部(ANL)3と、DGT1,C
NV2およびANL3に信号バス4を通じて同期信号を
それぞれ供給する同期信号発生器(SYN)5およびク
ロックパルス発生器(CKG)6とから構成されてい
る。
【0011】DGT1は上記CCDアレイの複数個分の
メモリ容量を有するラインメモリ群(LMG)11と、
ラインセレクタ(LSL)12とを備える。LMG11
はフィードスルーレベルを表す第1のデータと信号出力
レベルを表す第2のデータとを含む画像データの上記水
平走査1ライン分を各各が格納できる8個のラインメモ
リ(MEM)111a,111b、112a,…114
bと、これらMEMの各各への読出しアドレス信号を発
生するアドレス部(ADR)115とから構成される。
LSL12はLMG11からのデータを上記水平走査1
ライン分単位で選択するデータセレクタ(DTS)12
1と、DTS121の選択動作を制御するラインセレク
ト信号を発生するセレクト信号発生器(DEC)122
とから構成される。
【0012】CNV2はLSL12からのディジタル画
像データをアナログ信号に変換する2個のD/A変換器
21aおよび21bから構成される。ANL3はこれら
D/A変換器21aおよび21bからのアナログ画像信
号の振幅レベルをそれぞれ調整する2個の増幅器(AM
P)41aおよび41bと、これらAMP21aおよび
41bの出力の直流レベルをそれぞれ設定する2個のク
ランプ回路(CP)42aおよび42bとから構成され
る。
【0013】続いて本実施例の動作について説明する。
【0014】CKG6から信号バス4を通じて供給され
たクロックパルスCLKに応答してSYN5が駆動さ
れ、このSYN5が発生した水平同期信号HSYNによ
りADR115がカウントを開始する。ADR115か
らの読出しアドレス信号に応答してMEM111aおよ
び111bは水平走査1ライン分の画像データを出力す
る。LMG11内のMEM112a/112b、113
a/113bおよび114a/114bには上記1ライ
ン分の画像データに引き続く3ライン分の画像データが
格納されている。
【0015】これらMEM111a,111b、…およ
び114bからの水平走査4ライン分の画像データは上
記ラインセレクト信号に応答してDTS21で1ライン
分ごとに選択され画像データDTとしてCNV2に供給
される。
【0016】この画像データDTは一対のD/A変換器
21a/21bにより一対の1ライン分のアナログ画像
信号に変換される。D/A変換器21a/21bからの
アナログ画像信号はAMP31a/31b、CP32a
/32bにより振幅レベルおよび直流レベルの調整を受
ける。
【0017】CNV2およびANL3においてD/A変
換器(21a/21b)、AMP(31a/31b)お
よびCP(32a/32b)がそれぞれ一対ずつ配置し
てあるのは、前述のデュアルチャネル構成、すなわち水
平走査1ラインあたり2本のCCDアレイを割り当てた
構造のCCD撮像素子と同等の出力信号を発生するため
である。
【0018】MEM111a,111b、…および11
4bの一つにおける動作のタイミング図を示す図2を併
せて参照すると、クロックパルスCLKはこれらMEM
の各各への読出しクロックパルスを構成する。データA
は例えばMEM111aへの格納データ、データBはM
EM111bへの格納データをそれぞれ示し、データA
とデータBとで水平走査1ライン分の画像データを構成
している。
【0019】データAはメモリデータaの連鎖であり、
そのメモリデータaの各各はフィードスルーレベルを表
すフィールドスルーデータ(FTデータ)と、信号出力
レベルを表す信号出力レベルデータ(信号レベルデー
タ)とから成る。これらFTデータおよび信号レベルデ
ータはクロックパルスCLKの1サイクルにそれぞれ対
応し、図示のFTデータ1と信号レベルデータ1とから
成るメモリデータaがCCD撮像素子による画像信号の
1画素分に対応する。同様に、メモリデータbはFTデ
ータ2と信号レベルデータ2とから成り1画素分を表し
ている。メモリデータaおよびbをクロックパルスCL
Kの1サイクルごとに交互に一対のMEM111a/1
11bから読み出すことによって、上記デュアルチャネ
ル構成のCCD撮像素子の出力と同等の画像データ出力
を得ている。
【0020】本実施例におけるデュアルチャネル構成の
CCD撮像素子は通常の単一アレイCCD撮像素子に置
換できる。その場合は、CNV2におけるD/A変換
器、ANL3におけるAMPおよびCPはいずれも1個
で差支えない。
【0021】このテスト信号発生器の発生する疑似画像
信号の水平走査1ラインあたりの画素数を変更する場合
は変更後の画素数に対応してクロックパルスCLKの繰
返し周波数を設定し、そのクロックパルス対応のSYN
およびADRカウント数を用いる。また、MEM111
a,111b、…および114bをROMで構成した場
合はROMの差替えにより画像データを変更する構成と
することもでき、RAMで構成した場合はホストコンピ
ュータ側での書込みにより画像データを変更する構成に
することもできる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明のCCDカメ
ラ信号処理回路テスト用の信号発生器は、信号処理回路
の評価・調整に必要な画像信号をラインメモリに格納
し、各画素を定義するフィードスルーデータおよび信号
出力レベルデータの連鎖の形で水平走査1ライン分の画
像データを構成するので、安定度の高いテスト用信号す
なわち疑似CCD撮像素子出力信号を発生できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】図1におけるラインメモリの動作のタイミング
図である。
【図3】CCDカメラ信号処理回路の従来技術による評
価手法に用いられる疑似信号発生器のブロック図であ
る。
【符号の説明】
1 ディジタル部(DGT) 2 ディジタル・アナログ変換部(CNV) 3 アナログ部(ANL) 4 信号バス 5 同期信号発生器(SYN) 6 クロックパルス発生器(CKG) 11 ラインメモリ群(LMG) 12 ラインセレクタ(LSL) 16 位相調整器(PS) 17 バイアス回路(BIAS) 18 ブランキング回路(BLK) 19,31a,31b 増幅器(AMP) 21a,21b ディジタル・アナログ変換器(D/
A変換器) 32a,32b クランプ回路(CP) 111a,111b,112a,112b,113a,
113b,114a, 114b ラインメモリ(MEM) 115 アドレス部(ADR) 121 データセレクタ(DTS) 122 セレクト信号発生器(DEC) CLK クロックパルス DT 画像データ HSYN 水平同期信号

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CCD撮像素子からの画像信号を処理す
    る信号処理回路を評価・調整するためのテスト信号を発
    生する信号発生器において、フィードスルーレベルを表
    す第1のデータと信号出力レベルを表す第2のデータと
    によって各画素の画像データを構成したディジタル画像
    信号を水平走査の1ライン分ずつそれぞれ格納した複数
    のラインメモリと、前記複数のラインメモリからの読出
    し出力を前記水平走査の1ライン分単位で選択する選択
    手段と、この選択手段の出力をアナログ画像信号に変換
    するディジタル・アナログ変換手段と、このディジタル
    ・アナログ変換手段の出力の振幅レベルおよび直流レベ
    ルを調整するレベル調整手段とを備えることを特徴とす
    る信号発生器。
  2. 【請求項2】 前記レベル調整手段が、前記アナログ画
    像信号を増幅する増幅器と、この増幅器の出力の直流レ
    ベルを制御するクランプ回路とから成ることを特徴とす
    る請求項1記載の信号発生器。
  3. 【請求項3】 前記ラインメモリをROMで構成したこ
    とを特徴とする請求項1記載の信号発生器。
  4. 【請求項4】 前記ラインメモリをRAMで構成したこ
    とを特徴とする請求項1記載の信号発生器。
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