JP2817142B2 - Ｌｓｉ設計用エンジニアリングワークステーション - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はエンジニアリングワークステーション（以降
EWSと言う）に関し、特に、トランジスタの整合性や抵
抗値の相対比等が問題となるバイポーラリニア回路を主
体としたLSI設計用EWSに関する。

〔従来の技術〕 従来この種の情報は、回路図同様にペーパ上に記述さ
れたり、パーソナルコンピュータ上に専用のデータベー
スをリリースしコンピュータによるデータベース管理等
を行っていた。さらに回路図データのEWS化によりEWS上
の回路図データにプロパティーとして表現されているの
が一般的である。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のEWS専用データベースは、回路図のパ
ラメータをプロパティー形式で定義しているのが一般的
である。このため、素子間の相対的なパラメータ（以
降、相対精度と言う）を指定した際に、指定忘れや回路
図の修正時に相対精度が指定されている素子の中の一部
だけを修正する等、チェックミスが多発している。又、
多数の相対精度グループに渡る素子等は、プロパティー
が多くなりプロパティーテーブルをオーバーする場合が
ある。さらに回路図上にプロパティーが重なり合いなが
ら表示されるため、回路図の見てくれが低下するだけで
なく、より一層のチェックミスを誘発している。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のEWSは、従来と同様の回路図専用データベー
スと、素子間の相対的な回路図パラメータ専用データベ
ースと、前記両データ間のチェックツールを有してい
る。

上述した従来のEWSに対し、本発明は、従来の回路図
データベースの他に、素子間の相対的な回路図パラメー
タの為の専用データベースを有していることを特徴とす
る。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照しながら詳細に説明
する。

第１図は、本発明のEWSによる回路図入力の処理フロ
ーの一例を示す。第２図は、従来のEWSによる回路図入
力の処理フローの一例を示す。従来は、初めの回路図入
力工程において、回路図入力はもとより、素子固有のパ
ラメータ（例えば、素子名，素子の種類，抵抗値等）及
び素子間の相対精度もあるプロパティーで定義し、プロ
パティーの入力を行っていた。さらに入力したプロパテ
ィーは人手でチェックを行っていた。

これに対し、本発明によるEWSの回路図入力は、第１
図の如く回路図入力を行う。初めの回路図入力工程で
は、回路図データと素子固有のパラメータだけを入力す
る。入力された回路図データは、専用の回路図データベ
ースに格納される。入力された回路図データの一例を第
３図に示す。次に、本発明による素子間の相対精度を入
力する。入力する際には、前工程で入力した回路図デー
タより、素子固有のパラメータをある形式でEWSのディ
スプレイ上に表示し、その中に相対精度指定欄を設けて
行う。

第４図に、ディスプレイ表示の一例を示す（図中左側
１は固有の素子パラメータ、右側２は相対精度指定欄を
示す）。この時、素子間の相対関係としてR1とR2,R4とR
5がそれぞれある範囲で相対精度が要求されていると仮
定する。第４図の入力画面に対して、相対精度指定欄に
対象素子名を入力する。R1にはR2、R2にはR1、R4にはR
5、R5にはR4がそれぞれ入力される。このように入力さ
れた素子間の相対パラメータは、回路図データベースと
は異る相対精度専用のデータベースに格納される。次
に、回路図データ又は相対精度データのいずれかが修正
された場合、両データベース間でデータが入る場合があ
る。このため両データベース間でチェックを行う。例え
ば、回路図データが改版されR4,R5が無くなった場合、
両データベース間のチェックを行い、R4,R5を回路図デ
ータ側の不足素子又は、相対精度データ側の余分素子と
してワーニングする。このような処理をデータベースチ
ェック工程で行う。

第５図は、本発明によるEWSのシステム構成例を示
す。図中３は、CPUによるシステムコントローラユニッ
ト、４は、キーボード付グラフィックディスプレイユニ
ット、５は、ハードディスクユニット、６は、データの
I/Oユニットとフロッピーディスクの場合を示す。７は
各ユニット間を電気的に結ぶマルチバスを示す。

第６図は、本発明の他の実施例の処理フローである。
EWSに入力された回路図に対してある相対精度グループ
の素子をセレクトし、グラフィック上で対象素子をフリ
ンキングさせて確認する場合を示す。従来とは異り表示
対象となる回路図データから相対精度情報が除かれてい
るため、回路図の表示スピードが向上することは言うま
でもない。このように本発明では回路図入力後のEWS内
でのデータ編集作業が容易となり、TAT短縮が計れる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、従来の回路図データベ
ース以外に相対精度データベースを有することにより、
素子間の相対精度が要求されるLSI用の回路図を容易にE
WS内に入力することが出来る。さらに、２つのデータベ
ースが存在するため、チェックプログラムが容易に実現
出来るため、回路図修正時のケアレスミスが無くなり、
設計品質の高い回路図データをEWS上に実現出来るもの
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるEWSの一実施例を示す回路図入力
処理フロー図、第２図は従来の回路図入力処理フロー
図、第３図は本発明による回路図入力データの一例を示
す図、第４図は本発明による相対精度データ入力時のEW
Sディスプレイ表示の一例を示す図、第５図は本発明に
よるEWSのシステム構成を示す図、第６図は本発明によ
る他の実施例を示す処理フロー図である。 １……相対精度入力画面の中の素子固有のパラメータ欄
を示す、２……相対精度入力画面の中の相対精度指定欄
を示す、３……EWSのシステムコントロールユニット、
４……キーボード付グラフィック端末、５……ハードデ
ィスクユニット、６……I/Oユニット、７……各ユニッ
ト間を結ぶマルチバス。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】回路図データベースと、２素子以上の抵抗
   素子間の抵抗値の相対比パラメータを指定する専用のデ
   ータベースとを有し、且つ前記２つのデータベース内の
   データをおのおの素子名についてサーチを行い、どちら
   か一方のデータにしか存在しない素子名を抽出する検証
   システムを有するLSI設計用エンジニアリングワークス
   テーション。