JP2803458B2 - 自動半導体基板浸漬処理装置 - Google Patents

自動半導体基板浸漬処理装置

Info

Publication number
JP2803458B2
JP2803458B2 JP11542492A JP11542492A JP2803458B2 JP 2803458 B2 JP2803458 B2 JP 2803458B2 JP 11542492 A JP11542492 A JP 11542492A JP 11542492 A JP11542492 A JP 11542492A JP 2803458 B2 JP2803458 B2 JP 2803458B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor substrate
tank
chemical solution
controller
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP11542492A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05291236A (ja
Inventor
祐史 瀬尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP11542492A priority Critical patent/JP2803458B2/ja
Publication of JPH05291236A publication Critical patent/JPH05291236A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2803458B2 publication Critical patent/JP2803458B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置に関
し、特に薬液浸漬処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の自動半導体基板浸漬処理装置は、
図5に示すように半導体基板をセットするローダ25
と、薬液処理する薬液槽1と、水洗する水洗槽26と、
乾燥する乾燥機27と、乾燥後の半導体基板を貯えるア
ンローダ28と、半導体基板を搬送する搬送ロボット3
と、各部の動きを制御するコントローラ4と、装置の状
態を表示するディスプレイ5と、装置が異常な時に点灯
するアラームランプ7及び鳴動するアラームブザー9と
を有している。
【0003】次に薬液槽1の構成について本発明に係る
図4を用いて説明する。従来の薬液槽1は、内槽29
と、内槽29に薬液を供給する給液バルブ30及び超純
水を供給する給水バルブ20と、内槽29からオーバー
フローした薬液を貯える外槽31と、外槽31の薬液を
濾過しながら内槽29へ送液するポンプ32及びフィル
ター33と、内槽29の液を排液する内槽排液バルブ1
2と、外槽31の液を排液する外槽排液バルブ14と、
外槽31の液があふれ出る前に排液するオーバーフロー
排液管34と、内槽29の液無しを検出する内槽空検知
センサー16と、外槽31の液無しを検知する外槽空検
知センサー18とを有している。
【0004】次に動作について説明する。ローダ25に
セットされた半導体基板は、搬送ロボット3により薬液
槽1に運ばれ、所定時間処理された後、水洗槽26へ搬
送され、水洗処理後、乾燥機27へ運ばれて乾燥処理
後、アンローダ28に運ばれる。
【0005】薬液槽1は、給液バルブ30を開けること
により、内槽29及び外槽31が薬液に満たされ、ポン
プ32及びフィルター33により外槽31の薬液を濾過
して内槽29に供給することにより、内槽29の薬液の
清浄度を向上させながら、半導体基板2を内槽29内で
処理するものである。
【0006】従来の自動半導体基板浸漬処理装置におい
て、搬送ロボット3が故障して動作できなくなったとき
のコントローラ34の制御について、図3を用いて説明
する。
【0007】搬送ロボット3が故障して動けなくなると
(ステップ22)、コントローラ4は、ディスプレイ5
に故障状態を表示し(ステップ6)、アラームランプ7
を点灯させ(ステップ8)、アラームブザー9を鳴動さ
せて(ステップ10)、作業者を呼び、後の処置は作業
者に依存するものであった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】この従来の自動半導体
基板浸漬処理装置では、薬液槽で半導体基板を処理して
いるときに、搬送ロボットが故障して動けなくなると、
所定時間経過後も薬液槽から取り出せないため、オーバ
ーエッチングによる半導体基板の良否が作業者の処置に
依存されるものであった。
【0009】昨今、半導体工場のFA化が進み、作業者
の数が激減しており、益々この種の不良発生率が増加す
る傾向にあるという問題点があった。
【0010】本発明の目的は、搬送ロボットが故障して
動作しなくなったことによる半導体基板のオーバーエッ
チング等の不良を防止した自動半導体基板浸漬処理装置
を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る自動半導体基板浸漬処理装置は、コン
トローラを有し、半導体基板を搬送ロボットにより連続
して薬液浸漬処理,水洗処理,乾燥処理する自動半導体
基板浸漬処理装置であって、コントローラは、半導体基
板を薬液処理する薬液槽に備えられ、処理中の半導体基
板が存在する状態で、半導体基板を搬送する搬送ロボッ
トが故障して動作しなくなった信号を受信し、前記処理
中の半導体基板の処理時間が所定時間経過したことを認
識した後に、薬液槽の薬液を超純水に置換する機能を有
するものである。
【0012】
【作用】搬送ロボットの故障発生の信号を受けて、ディ
スプレイに故障状態を表示させ、アラームランプを点灯
させ、アラームブサーを鳴動させると同時に、薬液槽で
の半導体基板処理時間が所定時間経過すると、内槽及び
外槽の液を全て超純水に置換する。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図により説明す
る。図4は、本発明に係る薬液槽を示す構成図である。
【0014】図4において、本発明に係る薬液槽は、内
槽29と、内槽29に薬液を供給する給液バルブ30及
び超純水を供給する給水バルブ20と、内槽29からオ
ーバーフローした薬液を貯える外槽31と、外槽31の
薬液を濾過しながら内槽29へ送液するポンプ32及び
フィルター33と、内槽29の液を排液する内槽排液バ
ルブ12と、外槽31の液を排液する外槽排液バルブ1
4と、外槽31の液があふれ出る前に排液するオーバー
フロー排液管34と、内槽29の液無しを検出する内槽
空検知センサー16と、外槽31の液無しを検知する外
槽空検知センサー18と、コントローラ35とを有して
いる。
【0015】コントローラ35は、半導体基板を薬液処
理する薬液槽に備えられ、処理中の半導体基板が存在す
る状態で、半導体基板を搬送する搬送ロボットが故障し
て動作しなくなった信号を受信し、前記処理中の半導体
基板の処理時間が所定時間経過したことを認識した後
に、薬液槽の薬液を超純水に置換する機能を有するもの
である。
【0016】その他の構成は図5のものと同じである。
【0017】図1は、本発明の一実施例における搬送ロ
ボット故障時のフローチャートである。
【0018】薬液槽1内で半導体基板2を処理している
ときに、搬送ロボット3が何らかの故障により動作でき
なくなると(ステップ22)、コントローラ4及び35
は、以下のような制御を行う。
【0019】まず、コントローラ4は、ディスプレイ5
に故障状態を表示し(ステップ6)、アラームランプ7
を点灯させ(ステップ8)、アラームブザー9を鳴動さ
せる(ステップ10)。
【0020】また、コントローラ35は、処理途中の半
導体基板が存在する状態で、搬送ロボット3が故障して
動作しなくなった信号を受信した場合に、薬液槽1での
設定処理時間と実行処理時間とを比較し、一致すると
(ステップ11)、図4の内槽排液バルブ12を開け
(ステップ13)、図4の外槽排液バルブ14を開ける
(ステップ15)。
【0021】そこで、コントローラ35は、内槽空検知
センサー16が空検知すると(ステップ17)、その信
号に基づいて内槽排液バルブ12を閉じ(ステップ2
3)、外槽空検知センサー18が空検知すると(ステッ
プ19)、外槽排液バルブ14を閉じる(ステップ2
4)。
【0022】次に、コントローラ35は給水バルブ20
を開け(ステップ21)、作業者が到着してリセット動
作するまでこの状態を保持するものである。
【0023】次に、図2を用いて本発明の実施例2につ
いて説明する。図2は、本発明の実施例2における搬送
ロボット故障時のフローチャートである。搬送ロボット
故障発生時のコントローラ4は、ディスプレイ5に故障
状態を表示し(ステップ6)、アラームランプ7を点灯
させ(ステップ8)、アラームブザー9を鳴動させる
(ステップ10)。
【0024】一方、コントローラ35は、薬液槽1での
設定処理時間と実行処理時間を比較して一致すれば(ス
テップ11)、給水バルブ20を開け(ステップ2
1)、作業者が到着してリセット動作するまで、この状
態を保持する。
【0025】本実施例では、外槽オーバーフロー排液管
より薬液が排液され、液濃度が徐々に低下し、最後は水
に置換される。
【0026】したがって、半導体基板を空気に触させる
ことなく、水に置換されるため、パーティクルの付着が
防止できるという利点がある。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体基
板の薬液処理中に、搬送ロボットが故障して動作できな
くなったとき、コントローラが搬送ロボット故障発生の
信号を受けて、薬液槽の薬液を純水に置換するため、作
業者が処置しなくても薬液による半導体基板のオーバー
エッチング及び膜減りが生ぜず、搬送ロボット動作不可
による半導体基板の不良発生を防止できるという効果を
有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の動作を示すフローチャート
である。
【図2】本発明の実施例2の動作を示すフローチャート
である。
【図3】従来の動作を示すフローチャートである。
【図4】本発明に係る薬液槽を示す構成図である。
【図5】自動半導体基板浸漬処理装置を示す斜視図であ
る。
【符号の説明】
1 薬液槽 2 半導体基板 3 搬送ロボット 4 コントローラ 5 ディスプレイ 7 アラームランプ 9 アラームブザー 12 内槽排液バルブ 14 外槽排液バルブ 16 内槽空検知センサー 18 外槽空検知センサー 20 給水バルブ 25 ローダ 26 水洗槽 27 乾燥機 28 アンローダ 29 内槽 30 給液バルブ 31 外槽 32 ポンプ 33 フィルター 34 オーバーフロー排液管 35 コントローラ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コントローラを有し、半導体基板を搬送
    ロボットにより連続して薬液浸漬処理,水洗処理,乾燥
    処理する自動半導体基板浸漬処理装置であって、 コントローラは、半導体基板を薬液処理する薬液槽に備
    えられ、処理中の半導体基板が存在する状態で、半導体
    基板を搬送する搬送ロボットが故障して動作しなくなっ
    た信号を受信し、前記処理中の半導体基板の処理時間が
    所定時間経過したことを認識した後に、薬液槽の薬液を
    超純水に置換する機能を有するものであることを特徴と
    する自動半導体基板浸漬処理装置。
JP11542492A 1992-04-08 1992-04-08 自動半導体基板浸漬処理装置 Expired - Fee Related JP2803458B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11542492A JP2803458B2 (ja) 1992-04-08 1992-04-08 自動半導体基板浸漬処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11542492A JP2803458B2 (ja) 1992-04-08 1992-04-08 自動半導体基板浸漬処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05291236A JPH05291236A (ja) 1993-11-05
JP2803458B2 true JP2803458B2 (ja) 1998-09-24

Family

ID=14662232

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11542492A Expired - Fee Related JP2803458B2 (ja) 1992-04-08 1992-04-08 自動半導体基板浸漬処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2803458B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5426301B2 (ja) * 2008-10-03 2014-02-26 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
CN111489959B (zh) * 2020-05-22 2023-11-14 北京北方华创微电子装备有限公司 半导体清洗设备

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05291236A (ja) 1993-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2803458B2 (ja) 自動半導体基板浸漬処理装置
JP3254520B2 (ja) 洗浄処理方法及び洗浄処理システム
JP3494765B2 (ja) 洗浄処理装置およびその制御方法
JPS61247034A (ja) 半導体スライスの洗浄方法
US6514355B1 (en) Method and apparatus for recovery of semiconductor wafers from a chemical tank
JP4037573B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP4160651B2 (ja) 基板処理装置
JP2000183024A (ja) 基板処理装置
JPS62259442A (ja) 半導体集積回路装置の製造装置
JPS6178124A (ja) 半導体ウエハの自動洗浄装置
JPH0277752A (ja) 現像装置
JPH06310487A (ja) ウェットエッチング装置及びフィルタ再生方法
US7002134B2 (en) Dryer lid/robot collision prevention system
JP7454467B2 (ja) 基板処理システム、基板処理システムの制御装置及び基板処理システムの運転方法
KR100483753B1 (ko) 세정장치
JP3441322B2 (ja) 基板処理装置及び方法
JP2725106B2 (ja) 基板表面処理方法及び基板表面処理装置
JPH11302875A (ja) 基板処理装置
JPH06280054A (ja) エッチング装置
KR100632044B1 (ko) 웨이퍼의 세정장치 및 방법
JPH04336429A (ja) 処理装置
JPH03240977A (ja) 薬液処理装置
JPH10150011A (ja) 基板処理装置
JP3557581B2 (ja) 液処理装置
JPH10177983A (ja) 基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 9

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070717

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080717

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090717

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees