JPH10177983A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH10177983A
JPH10177983A JP33803596A JP33803596A JPH10177983A JP H10177983 A JPH10177983 A JP H10177983A JP 33803596 A JP33803596 A JP 33803596A JP 33803596 A JP33803596 A JP 33803596A JP H10177983 A JPH10177983 A JP H10177983A
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JP
Japan
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pure water
tank
substrate
supply
substrate processing
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JP33803596A
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English (en)
Inventor
Kuniaki Adachi
訓章 足立
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 停電が発生した場合にも処理中の基板が不良
品となるのを防止することができる基板処理装置を提供
する。 【解決手段】 薬液槽CB1は、内槽60と外槽65と
を備えている。定常的な処理が行われているときには、
内槽60に貯留されたHF中に基板Wが浸漬されるとと
もに、その内槽60から溢れ出たHFは外槽65に回収
された後、循環ポンプ70によって再び内槽60に循環
供給される。このときに、工場の主電源に停電が発生し
た場合には、予備電源から予備電力の供給を受け、エア
ー弁72、73を開けて、内槽60および外槽65から
一旦HFを排液した後、エアー弁72、73を閉じ、純
水供給手段51から内槽60に純水を供給し、内槽60
内を純水で満たす。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板、液
晶ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板および光ディ
スク用基板などの薄板状基板(以下、単に「基板」と称
する)を処理液に浸漬してこの表面に洗浄などの諸処理
を施す基板処理技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、上記のような基板処理装置
は、薬液を貯留する薬液槽と純水を貯留する水洗槽とを
備えている。そして、予め定められた手順に従って、各
処理槽に一組の複数の基板(以下、「ロット」と称す
る)を循環搬送し、搬送先のそれぞれの処理槽において
所定の処理時間ロットを浸漬する複数工程により、基板
表面の汚染物質を除去したり、基板表面の酸化膜をエッ
チングしたり、レジスト膜を剥離したりする一連の基板
処理を達成している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に、上
記のような基板処理装置は、半導体製造工場などの工場
に設置され、その工場の主電源から電力の供給を受ける
ことにより、所定の基板処理を行っている。しかしなが
ら、工場においても、種々の原因から主電源に停電が発
生することがあり、そのような場合、基板処理装置への
電力の供給も停止することとなる。
【0004】基板処理装置への電力の供給が停止する
と、処理中のロットは、停電発生時の状態で放置される
こととなる。この場合、水洗槽の純水中に浸漬されてい
るロットについては、あまり問題とならないが、薬液槽
の薬液中に浸漬されているロットには必要以上に表面処
理が行われることとなる。特に、HF系の薬液への浸漬
処理は、処理時間に対して敏感であり、必要以上にロッ
トを浸漬させておくと、過度にエッチングされた状態
(いわゆるオーバーエッチング)となり、そのロットは
以後使用不能(以下、「ロットアウト」と称する)とな
ってしまう。
【0005】そこで、上記課題に鑑み、本発明は、停電
が発生した場合にも処理中の基板が不良品(ロットの場
合はロットアウト)となるのを防止することができる基
板処理装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に対して浸漬処理を行う基
板処理装置において、(a) 薬液を貯留し、前記薬液中に
おいて基板に浸漬処理を行う薬液槽と、(b) 前記薬液槽
に純水を供給する純水供給手段と、(c) 所定の予備電源
から予備電力の供給を受ける予備電力受給手段とを備
え、前記浸漬処理中に、主電源に停電が発生した場合に
は、前記予備電力の供給により、前記純水供給手段から
前記薬液槽に純水供給を開始している。
【0007】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る基板処理装置において、(d)前記薬液槽から前記
薬液を排液する薬液排液手段をさらに備え、前記停電が
発生した場合には、前記予備電力の供給により、一旦前
記薬液槽から薬液を排液した後、前記純水供給手段から
前記薬液槽に純水供給を開始している。
【0008】また、請求項3の発明は、請求項1または
請求項2の発明に係る基板処理装置において、前記純水
供給によって前記薬液槽が純水で満たされた後、前記停
電が復旧するまでの期間内においては、前記予備電力が
供給され続ける限り、前記純水供給手段から前記薬液槽
への純水供給を続けている。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明するが、それに先立っ
て、本発明に係る基板処理装置が設置されるべき半導体
製造工場などの工場内の予備電源について説明する。
【0010】通常、このような工場内の装置および機器
類は、工場の主電源から電力の供給を受けており、当該
主電源は、工場内の装置および機器類の全てを継続して
動作させるのに十分な能力を有している。そして、一般
に、上記工場には、主電源に停電が発生した場合にも、
装置が急激に停止することの無いように、予備電源が設
けられている。しかしながら、工場内には、上記基板処
理装置のみならず、様々な機器や装置が複数設置されて
おり、その全てを通常通り動作させるような予備電源
は、大型化するとともに、著しいコストアップにつなが
る。従って、通常設置されている予備電源では、工場内
の機器や装置のうちの最低限必要な機能を動作させるだ
けの電力しか供給できず、また、その電力供給可能時間
も例えば10分程度である。
【0011】なお、予備電源としては、上記のような工
場内予備電源に限らず、基板処理装置にバッテリーなど
を組み込む場合もあるが、かかる場合にも装置全体を通
常通り動作させることは困難であり、以下に説明する本
発明に係る基板処理装置が適用できる。
【0012】A.基板処理装置の全体概略構成:まず、
本発明に係る基板処理装置の全体構成について説明す
る。図1は、本発明に係る基板処理装置の一例を示す正
面概略図である。この基板処理装置100は、薬液槽C
B1、CB2と、水洗槽WB1、WB2、FRと、乾燥
部SDと、基板を搬送する基板搬送ロボットTRとを備
えている。また、基板処理装置100は、その両端に、
未処理基板Wを収納したカセット20を載置するローダ
ー部LDと処理済みの基板Wが格納されるカセット20
を載置するアンローダー部ULDとを備えている。さら
に、基板処理装置100は、工場内の予備電源から予備
電力の供給を受ける接続端子(予備電力受給手段)5を
備えている。
【0013】薬液槽CB1、CB2は硫酸、アンモニ
ア、塩酸、フッ酸、過酸化水素水またはそれらの混合液
などの薬液を収容可能な槽であるが、ここで考えている
例では、フッ酸(HF)を貯留し、基板に対してエッチ
ング処理を行うための処理槽である。また、水洗槽WB
1、WB2は純水を収容し、基板Wに付着したHFを洗
浄する処理槽である。また、水洗槽FRも純水を収容す
る洗浄処理槽であるが、主として仕上げの洗浄として用
いられる。さらに、乾燥部SDは基板Wを回転させつつ
当該基板Wに付着した水滴を除去、乾燥させる処理部で
ある。
【0014】基板搬送ロボットTRは、水平方向および
上下方向に移動可能であり、ローダー部LDから未処理
ロットを払い出し、予め定められた処理手順に従って上
記各処理槽間でロットを循環搬送するとともに、処理済
みのロットをアンローダー部ULDに渡すロボットであ
る。基板搬送ロボットTRは、開閉自在の一対のハンド
11を備えており、当該ハンド11には、その内側に基
板Wを保持するための複数の溝が一定のピッチで平行に
設けられており(図示省略)、当該複数の溝によってロ
ットが保持されることとなる。この基板搬送ロボットT
Rがローダー部LDからロットを受け取る際には、カセ
ット20の下方に設けられた図示を省略するホルダによ
ってカセット20から上昇されたロットを基板搬送ロボ
ットTRの一対のハンド11が把持することによって行
われる。また、アンローダー部ULDにロットを渡す場
合には、上記とは逆に、ハンド11から図示を省略する
ホルダにロットが渡され、そのホルダが下降することに
よって、ロットがカセット20内部に格納される。な
お、ここに示している例は、カセット20からロットを
取り出して、そのロットを直接基板搬送ロボットTRが
把持、搬送する方式の装置であるが、カセット20ごと
基板搬送ロボットTRが保持してロットを搬送する、い
わゆるカセット搬送方式の装置であってもかまわない。
【0015】B.基板処理装置の制御機構:次に、基板
処理装置100の制御機構について説明する。図2は、
基板処理装置100の制御機構を説明するための機能ブ
ロック図である。この基板処理装置100には、卓上型
コンピュータ30が組み込まれており、オペレータは当
該卓上型コンピュータ30を介して装置に指令を与えた
り、処理パターンや処理条件の設定を行ったりできる。
【0016】卓上型コンピュータ30は、その本体部で
あるCPU31と、読み出し専用メモリーであるROM
32と、読み書き自在のメモリーであるRAM33と、
制御用ソフトウェアやデータなどを記憶しておく磁気デ
ィスク34と、付随する入出力機器とのインターフェイ
スである入出力ポート35と、基板処理装置100を直
接制御する装置とのインターフェイスであるネットワー
クポート36と、基板処理装置100外部に設けられて
いるホストコンピュータなどと通信を行う通信ポート3
7とを備えている。また、卓上型コンピュータ30に
は、入出力ポート35を介してディスプレイ38とキー
ボード39とが付随して設けられており、オペレータは
ディスプレイ38の表示を確認しつつ、キーボード39
からコマンドやパラメータを入力することができる。
【0017】卓上型コンピュータ30に入力された指令
は、処理用のソフトウェアに基づいて処理され、必要に
応じて当該卓上型コンピュータ30からネットワークポ
ート36を介してマスターコントローラ40および槽コ
ントローラ50などに伝達される。マスターコントロー
ラ40は、基板搬送ロボットTR(図1参照)の動作を
制御する。また、槽コントローラ50は、後述する純水
供給手段51および薬液供給手段53などに指令を伝達
して、各処理槽への注排液などを制御するとともに、停
電検出手段55の動作を管理する。停電検出手段55
は、停電発生時に、その停電を検出し、停電検出信号を
槽コントローラ50に伝達する。
【0018】C.薬液槽の構成:次に、基板処理装置1
00に備えられた薬液槽CB1の構成について説明す
る。なお、以下の説明は、薬液槽CB1についてのもの
であるが、薬液槽CB2についても同じである。
【0019】図3は、基板処理装置100の薬液槽CB
1の構成を説明する概念図である。薬液槽CB1は、内
槽60、外槽65、バット68およびそれらに付随する
注排液機構により構成されている。
【0020】内槽60は、HFを貯留し、浸漬された基
板Wに対しHFによるエッチング処理を行う槽である。
また、外槽65は、内槽60から溢れ出たHFを回収す
るための槽である。外槽65に溢れ出たHFは、循環ポ
ンプ70によって内槽60に循環され、その経路中にお
いて循環フィルター71によって浄化される。
【0021】また、内槽60には、純水供給手段51か
ら純水を供給することができる。純水供給は、内槽60
内に配置されたノズル(図示省略)から供給されること
により行われるが、これに限定されるものではなく、例
えば、内槽60の上方にシャワーを設けるなどの公知の
手段が適用可能である。さらに、内槽60には、薬液供
給手段53からHFを供給することができる。
【0022】バット68は、内槽60および外槽65か
らさらに溢れ出たHFを回収するためのものである。
【0023】上記の内槽60、外槽65およびバット6
8に貯留しているHFは、それぞれドレイン用のエアー
弁(薬液排液手段)73、72、74によって排液する
ことができる。なお、図3に示す純水供給手段51、薬
液供給手段53、循環ポンプ70およびエアー弁72、
73、74はすべて槽コントローラ50(図2参照)に
より、その動作を制御されている。
【0024】図3に示す薬液槽CB1において処理が行
われるときには、まず、薬液供給手段53からHFが供
給され、内槽60および外槽65に浸漬処理に必要な所
定の液量が貯留されて、HFの供給が中止された後、内
槽60内のHF中にロットが浸漬され、基板Wに対する
エッチング処理が開始される。基板Wに対する浸漬処理
が行われている最中は、エアー弁72、73、74は、
閉鎖され、循環ポンプ70によるHFの循環利用がなさ
れている。すなわち、浸漬処理の定常状態にあっては、
内槽60内の処理用HFのうち溢れ出たHFが、外槽6
5に回収され、循環ポンプ70を経て、循環フィルター
71により浄化された後、再び内槽60に供給される動
作が繰り返されることとなる。
【0025】D.停電時における基板処理装置の動作:
次に、主電源に停電が発生したときの、基板処理装置1
00の動作について説明する。
【0026】図4は、停電発生時における、基板処理装
置100の動作を説明するためのフローチャートであ
る。既述したように、通常は、工場の主電源から電力の
供給を受けて所定の基板処理(例えば、上述した薬液浸
漬処理など)が行われているが、その主電源に停電(な
お、以降において単に「停電」というときは「主電源の
停電」を示す)が発生したときには、停電検出手段55
がその停電を検出し、停電検出信号を槽コントローラ5
0に伝達する(ステップS1)。そして、この時点で、
工場内の予備電源から予備電力の供給を受けることとな
る。予備電力は、基板処理装置100内の全体に通常通
り供給されるわけではなく、例えば、処理液の温調用ヒ
ーターなど電力消費量の多いものには供給されない。こ
こで考えている例では、少なくとも、槽コントローラ5
0、卓上型コンピュータ30、純水供給手段51および
エアー弁72、73、74を駆動させるための電磁弁
(図示省略)には予備電力が供給される。
【0027】次に、ステップS2に進み、カウント値n
の初期値としてその最大値を設定する。ここで、カウン
ト値nとは、基板処理装置100に設けられている複数
の処理部(各処理槽、乾燥部SD、ローダー部LDおよ
びアンローダー部ULD)のそれぞれに対応して付与さ
れている数値であり、その対応関係を以下の表に示す。
【0028】
【表1】
【0029】この表において、POS(n)は、カウン
ト値nに対応する各処理部を意味している。表1に示す
如く、基板処理装置100は、ローダー部LDからアン
ローダー部ULDまで、8つの処理部を備えており、そ
れぞれにカウント値nとして「0」〜「7」までの値が
付与されている。従って、上記のステップS2において
は、カウント値nの初期値としてその最大値である
「7」が設定される。
【0030】次に、ステップS3に進み、POS(n)
の処理部が薬液槽であるか否かが判断される。なお、後
述するように、カウント値nの値は1ずつ減算され、そ
の都度ステップS3〜S5の判断、処理が行われる。こ
こでは、「n=1」または「n=3」のとき、それぞれ
POS(n)の処理部が薬液槽CB1、CB2であるた
め、ステップS4に進むこととなる。そして、ステップ
S4では、POS(n)の薬液槽にロットが存在してい
るか否かが判断される。ここで、POS(n)の薬液槽
にロットが存在していた場合には、ステップS5に進
み、当該薬液槽内のHFが純水に置換される。
【0031】例えば、「n=1」のとき、POS(1)
の処理部である薬液槽CB1にロットが存在していた場
合には、ステップS5における純水置換が開始される
が、このときの具体的手法としては、まず、エアー弁7
2、73(図3参照)を開けて、内槽60および外槽6
5から一旦HFを排液した後、エアー弁72、73を閉
じ、純水供給手段51から内槽60に純水を供給し、内
槽60内を純水で満たす。このようにすれば、内槽60
内のHFが純水に置換されるため、ロットを構成する基
板Wが過度にエッチングされることがなくなり、その結
果、そのロットがロットアウトとなるのを防止すること
ができる。
【0032】また、純水置換のその他の手法としては、
上記のようにエアー弁72、73を開けることなく、純
水供給手段51から内槽60への純水供給を開始し、内
槽60内のHFを徐々に純水に置換するようにしてもよ
い。この場合、上記の如く一旦HFを排液する場合に比
べて、純水置換に要する時間は多くなるが、基板Wを空
気中にさらすことが全くないため、基板Wの表面を自然
酸化させたくない場合には有効である。なお、純水供給
のみを行うことによって、内槽60および外槽65から
溢れ出たHFはバット68に回収させ、エアー弁74を
開けて、排液すればよい。
【0033】図4に戻り、ステップS3でPOS(n)
の処理部が薬液槽でないと判断された場合、ステップS
4でPOS(n)の薬液槽にロットが存在しないと判断
された場合またはステップS5の純水置換処理が開始さ
れたときには、カウント値nの値が1だけ減算され、減
算後のカウント値nが「0」となったか否かが判断され
る(ステップS7)。ここで、カウント値nが「0」と
なっていない場合には、再びステップS3に戻ることと
なる。すなわち、基板処理装置100の8つの処理部の
全てについてステップS3〜S5の判断、処理が繰り返
し行われることとなる。
【0034】ところで、上述したように、一般に工場の
予備電源は、10分程度、予備電力を供給可能であるこ
とが多い。この例における基板処理装置100は、停電
発生時にHFから純水への置換が終了した薬液槽に対し
て、停電が復旧するまでの期間内においては、予備電力
の供給が続く限り、新たな純水を供給し続けている(ス
テップS8)。例えば、薬液槽CB1において純水置換
処理が実行され、終了したとすると、停電が復旧するま
での期間で予備電力の供給が続く限り、純水供給手段5
1を用いて薬液槽CB1に新たな純水を供給し続けてい
る。なお、予備電力の供給が続いていても、停電が復旧
すれば、主電源からの供給に切り換えられて元の定常処
理に戻る。
【0035】このようにすれば、薬液槽CB1に浸漬さ
れていたロットを構成する基板Wの表面に付着したHF
を新たに供給された純水により洗浄することができるた
め、当該ロットがロットアウトとなるのをより確実に防
止することができる。
【0036】
【変形例】以上、この発明の実施形態について説明した
が、この発明は上記の例に限定されるものではなく、例
えば、上記実施形態における基板処理装置100は、薬
液槽および水洗槽を複数備えた装置であったが、本発明
に係る基板処理装置は、1つの槽に薬液および純水を順
次貯留するタイプの、いわゆるワン・バス型の基板処理
装置であってもかまわない。この場合は、槽中の薬液を
純水に置換した後、再び薬液に置換することなく、その
まま純水を供給し続けることとなる。
【0037】また、上記の例においては、HFが薬液と
して使用されていたが、これに限らず、処理時間に対し
て敏感な薬液(例えば、NH4OH/H22/H2O混合
液など)を使用する場合であってもかまわない。
【0038】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、浸漬処理中に、主電源に停電が発生した場合
には、予備電力の供給により、純水供給手段から薬液槽
に純水供給を開始しているため、当該薬液槽内の薬液が
純水に置換され、基板が過度に表面処理されることがな
くなり、その結果、処理中の基板が不良品(ロットの場
合はロットアウト)となるのを防止することができる。
また、基板を空気中にさらすことが全くないため、基板
表面が自然酸化されることもない。
【0039】また、請求項2の発明によれば、主電源に
停電が発生した場合には、予備電力の供給により、一旦
薬液槽から薬液を排液した後、純水供給手段から薬液槽
に純水供給を開始しているため、当該薬液槽内の薬液が
純水に速やかに置換され、基板が過度に表面処理される
ことがなくなり、その結果、処理中の基板が不良品(ロ
ットの場合はロットアウト)となるのを防止することが
できる。
【0040】さらに、請求項3の発明によれば、純水供
給によって薬液槽が純水で満たされた後、主電源の停電
が復旧するまでの期間内においては、予備電力が供給さ
れ続ける限り、純水供給手段から薬液槽への純水供給を
続けているため、基板の表面に付着した薬液を新たに供
給された純水により洗浄できることとなり、基板が不良
品(ロットの場合は、ロットアウト)となるのをより確
実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の一例を示す正面概
略図である。
【図2】図1の基板処理装置の制御機構を説明するため
の機能ブロック図である。
【図3】図1の基板処理装置の薬液槽の構成を説明する
概念図である。
【図4】停電発生時における、図1の基板処理装置の動
作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
5 接続端子 50 槽コントローラ 51 純水供給手段 60 内槽 65 外槽 72、73、74 エアー弁 100 基板処理装置 CB1、CB2 薬液槽

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に対して浸漬処理を行う基板処理装
    置であって、 (a) 薬液を貯留し、前記薬液中において基板に浸漬処理
    を行う薬液槽と、 (b) 前記薬液槽に純水を供給する純水供給手段と、 (c) 所定の予備電源から予備電力の供給を受ける予備電
    力受給手段と、を備え、前記浸漬処理中に、主電源に停
    電が発生した場合には、前記予備電力の供給により、前
    記純水供給手段から前記薬液槽に純水供給を開始するこ
    とを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、 (d) 前記薬液槽から前記薬液を排液する薬液排液手段を
    さらに備え、 前記停電が発生した場合には、前記予備電力の供給によ
    り、一旦前記薬液槽から薬液を排液した後、前記純水供
    給手段から前記薬液槽に純水供給を開始することを特徴
    とする基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の基板処理
    装置において、 前記純水供給によって前記薬液槽が純水で満たされた
    後、前記停電が復旧するまでの期間内においては、前記
    予備電力が供給され続ける限り、前記純水供給手段から
    前記薬液槽への純水供給を続けることを特徴とする基板
    処理装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000017108A1 (fr) * 1997-03-31 2000-03-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Appareil de production d'eau ultrapure a haute temperature et appareil de preparation d'un medicament liquide equipe de l'appareil de production
US6562205B1 (en) * 1997-03-31 2003-05-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha High-temperature ultrapure water production apparatus and liquid medicine preparation apparatus equipped with the production apparatus

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WO2000017108A1 (fr) * 1997-03-31 2000-03-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Appareil de production d'eau ultrapure a haute temperature et appareil de preparation d'un medicament liquide equipe de l'appareil de production
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