JP2800860B2 - 衛星搭載用基準光源校正装置 - Google Patents
衛星搭載用基準光源校正装置Info
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- JP2800860B2 JP2800860B2 JP3269988A JP26998891A JP2800860B2 JP 2800860 B2 JP2800860 B2 JP 2800860B2 JP 3269988 A JP3269988 A JP 3269988A JP 26998891 A JP26998891 A JP 26998891A JP 2800860 B2 JP2800860 B2 JP 2800860B2
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- Japan
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- reference light
- satellite
- optical
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は衛星に搭載された光学機
器の校正に使用される衛星搭載用基準光源校正装置に関
する。
器の校正に使用される衛星搭載用基準光源校正装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、衛星搭載用基準光源校正装置は、
基準光を出力する光源と、この光源の近傍に配設されて
光源の光量を検出するフォトディテクタとにより構成さ
れている。
基準光を出力する光源と、この光源の近傍に配設されて
光源の光量を検出するフォトディテクタとにより構成さ
れている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の衛星搭載用基準光源校正装置においては、以下
に示す問題点がある。即ち、衛星に搭載された光学機器
は、宇宙空間において、宇宙塵、放射線及び接着剤から
放出されるガス等により汚染される。そして、これらの
汚染物による光学系の劣化を予測することは困難であ
る。上述した従来の衛星搭載用基準光源校正装置におい
ては、光源の近傍にフォトディテクタが設置されている
だけであるので、校正装置の光学系が汚染された場合
に、衛星搭載光学機器の光学系が汚染されているのか、
又は校正装置の光学系が汚染されているのかを判別する
ことが困難である。従って、校正装置を使用した光学機
器の校正を常に適正に実施できるとは限らない。
た従来の衛星搭載用基準光源校正装置においては、以下
に示す問題点がある。即ち、衛星に搭載された光学機器
は、宇宙空間において、宇宙塵、放射線及び接着剤から
放出されるガス等により汚染される。そして、これらの
汚染物による光学系の劣化を予測することは困難であ
る。上述した従来の衛星搭載用基準光源校正装置におい
ては、光源の近傍にフォトディテクタが設置されている
だけであるので、校正装置の光学系が汚染された場合
に、衛星搭載光学機器の光学系が汚染されているのか、
又は校正装置の光学系が汚染されているのかを判別する
ことが困難である。従って、校正装置を使用した光学機
器の校正を常に適正に実施できるとは限らない。
【０００４】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、衛星に搭載された光学機器の光学系の汚染
と校正装置の光学系の汚染とを判別することができて、
衛星に搭載された光学機器を常に適正に校正することが
できる衛星搭載用基準光源校正装置を提供することを目
的とする。
のであって、衛星に搭載された光学機器の光学系の汚染
と校正装置の光学系の汚染とを判別することができて、
衛星に搭載された光学機器を常に適正に校正することが
できる衛星搭載用基準光源校正装置を提供することを目
的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る衛星搭載用
基準光源校正装置は、衛星に搭載された光学機器の校正
に使用される衛星搭載用基準光源校正装置において、基
準光を発生する光源、この光源の光量を検出する第１の
フォトディテクタ、前記光源から出力された光を前記光
学機器の光学系に伝達するレンズ系及びこのレンズ系か
ら出力される光の光量を検出する第２のフォトディテク
タにより構成された基準光出力部と、前記光学機器の光
学系に入射した基準光の光量を検出する検出器とを有す
ることを特徴とする。
基準光源校正装置は、衛星に搭載された光学機器の校正
に使用される衛星搭載用基準光源校正装置において、基
準光を発生する光源、この光源の光量を検出する第１の
フォトディテクタ、前記光源から出力された光を前記光
学機器の光学系に伝達するレンズ系及びこのレンズ系か
ら出力される光の光量を検出する第２のフォトディテク
タにより構成された基準光出力部と、前記光学機器の光
学系に入射した基準光の光量を検出する検出器とを有す
ることを特徴とする。
【０００６】
【作用】本発明においては、光源、第１及び第２のフォ
トディテクタ並びにレンズ系により構成された基準光出
力部を備えており、前記第１のフォトディテクタにより
前記光源の光量を検出し、前記第２のフォトディテクタ
により前記レンズ系から出力される光の光量を検出す
る。従って、予め第１及び第２のフォトディテクタの出
力を調べておけば、校正装置のレンズ系の汚染を検出す
ることができる。
トディテクタ並びにレンズ系により構成された基準光出
力部を備えており、前記第１のフォトディテクタにより
前記光源の光量を検出し、前記第２のフォトディテクタ
により前記レンズ系から出力される光の光量を検出す
る。従って、予め第１及び第２のフォトディテクタの出
力を調べておけば、校正装置のレンズ系の汚染を検出す
ることができる。
【０００７】この場合に、前記基準光出力部を複数組設
けておくことにより、光学機器の光学系の汚染状態をよ
り高精度で検出することができると共に、一方が故障し
ても校正装置としての機能を果たすことができる。
けておくことにより、光学機器の光学系の汚染状態をよ
り高精度で検出することができると共に、一方が故障し
ても校正装置としての機能を果たすことができる。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【０００９】図１は本発明の実施例に係る衛星搭載用基
準光源校正装置を示すブロック図である。
準光源校正装置を示すブロック図である。
【００１０】ハロゲンランプ１ａ，１ｂはいずれも校正
装置の光源であり、ハロゲンランプ１ａ，１ｂから出力
された基準光は、夫々レンズ系４ａ，４ｂを介して、光
学機器の光学系５に入射する。この光学系５に入射した
基準光は、検出器６により光電変換され、この検出器６
からは検出器出力７が出力される。
装置の光源であり、ハロゲンランプ１ａ，１ｂから出力
された基準光は、夫々レンズ系４ａ，４ｂを介して、光
学機器の光学系５に入射する。この光学系５に入射した
基準光は、検出器６により光電変換され、この検出器６
からは検出器出力７が出力される。
【００１１】ハロゲンランプ１ａ，１ｂの近傍には夫々
第１のフォトディテクタ２ｃ，２ｄが配設されている。
また、レンズ系４ａ，４ｂの基準光出射口の近傍には、
夫々第２のフォトディテクタ２ａ，２ｂが配設されてい
る。そして、フォトディテクタ２ａ，２ｃから出力され
た信号は光量モニタ３ａにおいて増幅され、フォトディ
テクタ２ｂ，２ｄから出力された信号は光量モニタ３ｂ
において増幅される。
第１のフォトディテクタ２ｃ，２ｄが配設されている。
また、レンズ系４ａ，４ｂの基準光出射口の近傍には、
夫々第２のフォトディテクタ２ａ，２ｂが配設されてい
る。そして、フォトディテクタ２ａ，２ｃから出力され
た信号は光量モニタ３ａにおいて増幅され、フォトディ
テクタ２ｂ，２ｄから出力された信号は光量モニタ３ｂ
において増幅される。
【００１２】このように、本実施例においては、ハロゲ
ンランプ１ａ、フォトディテクタ２ａ，２ｃ及びレンズ
系４ａにより第１の基準光出力部が構成されており、ハ
ロゲンランプ１ｂ、フォトディテクタ２ｂ，２ｄ及びレ
ンズ系４ｂにより第２の基準光出力部が構成されてい
る。
ンランプ１ａ、フォトディテクタ２ａ，２ｃ及びレンズ
系４ａにより第１の基準光出力部が構成されており、ハ
ロゲンランプ１ｂ、フォトディテクタ２ｂ，２ｄ及びレ
ンズ系４ｂにより第２の基準光出力部が構成されてい
る。
【００１３】本実施例において、例えば、フォトディテ
クタ２ａ，２ｃの出力の差、フォトディテクタ２ｂ，２
ｄの出力の差及び検出器６の出力を予め調べておく。レ
ンズ系４ａが汚染されると、フォトディテクタ２ａ，２
ｃの出力の差が変化するため、この出力の差に基づいて
レンズ系４ａの汚染の状態を検出することができる。こ
れと同様に、レンズ系４ｂが汚染されると、フォトディ
テクタ２ｂ，２ｄの出力の差が変化するため、この出力
の差に基づいてレンズ系４ｂの汚染の状態を検出するこ
とができる。
クタ２ａ，２ｃの出力の差、フォトディテクタ２ｂ，２
ｄの出力の差及び検出器６の出力を予め調べておく。レ
ンズ系４ａが汚染されると、フォトディテクタ２ａ，２
ｃの出力の差が変化するため、この出力の差に基づいて
レンズ系４ａの汚染の状態を検出することができる。こ
れと同様に、レンズ系４ｂが汚染されると、フォトディ
テクタ２ｂ，２ｄの出力の差が変化するため、この出力
の差に基づいてレンズ系４ｂの汚染の状態を検出するこ
とができる。
【００１４】また、例えば、フォトディテクタ２ａ，２
ｃの出力の差及びフォトディテクタ２ｂ，２ｄの出力の
差が変化していない状態で光学機器の校正を実行した場
合に、光学機器の光学系５が汚染されていると、検出器
６の出力が予め調べたものと異なるため、光学系５の汚
染の状態を検出することができる。
ｃの出力の差及びフォトディテクタ２ｂ，２ｄの出力の
差が変化していない状態で光学機器の校正を実行した場
合に、光学機器の光学系５が汚染されていると、検出器
６の出力が予め調べたものと異なるため、光学系５の汚
染の状態を検出することができる。
【００１５】更に、本実施例においては、ハロゲンラン
プ１ａ、フォトディテクタ２ａ，２ｃ及びレンズ系４ａ
により構成された第１の基準光出力部と、ハロゲンラン
プ１ｂ，フォトディテクタ２ｂ，２ｄ及びレンズ系４ｂ
により構成された第２の基準光出力部とを個別的に動作
させることがことが可能である。従って、一方が故障し
ても他方により基準光源校正装置としての機能を果たす
ことができると共に、光学系５の汚染状態を検出する場
合の検出精度を高めることができる。
プ１ａ、フォトディテクタ２ａ，２ｃ及びレンズ系４ａ
により構成された第１の基準光出力部と、ハロゲンラン
プ１ｂ，フォトディテクタ２ｂ，２ｄ及びレンズ系４ｂ
により構成された第２の基準光出力部とを個別的に動作
させることがことが可能である。従って、一方が故障し
ても他方により基準光源校正装置としての機能を果たす
ことができると共に、光学系５の汚染状態を検出する場
合の検出精度を高めることができる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
光源の光量を検出する第１のフォトディテクタと、レン
ズ系から出力される光の光量を検出する第２のフォトデ
ィテクタと、光学機器の光学系に入射した基準光の光量
を検出する検出器とを備えてるから、校正装置のレンズ
系の汚染と衛星に搭載された光学機器の光学系の汚染と
を判別することができて、光学機器を常に適正に校正す
ることができる。
光源の光量を検出する第１のフォトディテクタと、レン
ズ系から出力される光の光量を検出する第２のフォトデ
ィテクタと、光学機器の光学系に入射した基準光の光量
を検出する検出器とを備えてるから、校正装置のレンズ
系の汚染と衛星に搭載された光学機器の光学系の汚染と
を判別することができて、光学機器を常に適正に校正す
ることができる。
【図１】本発明の実施例に係る衛星搭載用基準光源校正
装置を示すブロック図である。
装置を示すブロック図である。
【符号の説明】 １ａ，１ｂ；ハロゲンランプ ２ａ〜２ｄ；フォトディテクタ ３ａ，３ｂ；光量モニタ ４ａ，４ｂ；レンズ系 ５；光学系 ６；検出器
Claims (2)
- 【請求項１】 衛星に搭載された光学機器の校正に使用
される衛星搭載用基準光源校正装置において、基準光を
発生する光源、この光源の光量を検出する第１のフォト
ディテクタ、前記光源から出力された光を前記光学機器
の光学系に伝達するレンズ系及びこのレンズ系から出力
される光の光量を検出する第２のフォトディテクタによ
り構成された基準光出力部と、前記光学機器の光学系に
入射した基準光の光量を検出する検出器とを有すること
を特徴とする衛星搭載用基準光源校正装置。 - 【請求項２】 前記基準光出力部を複数組有することを
特徴とする請求項１に記載の衛星搭載用基準光源校正装
置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3269988A JP2800860B2 (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 衛星搭載用基準光源校正装置 |
| EP92308526A EP0533490B1 (en) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | Systems for calibration of optical instrument on satellite with reference light source |
| CA002078637A CA2078637A1 (en) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | System for calibration of optical instrument on satellite with reference light source |
| US07/946,641 US5325171A (en) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | System for calibration of optical instrument on satellite with reference light source |
| DE69202539T DE69202539T2 (de) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | System zum Kalibrieren eines optischen Instruments in einem Satellit mittels einer Referenz-Lichtquelle. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3269988A JP2800860B2 (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 衛星搭載用基準光源校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0577800A JPH0577800A (ja) | 1993-03-30 |
| JP2800860B2 true JP2800860B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=17480005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3269988A Expired - Lifetime JP2800860B2 (ja) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | 衛星搭載用基準光源校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2800860B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2323206B1 (es) * | 2006-10-16 | 2010-04-21 | Universidad De Cordoba | Procedimiento de calibracion absoluta en intensidad de un dispositivo optico. |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5660375A (en) * | 1979-10-22 | 1981-05-25 | Toshiba Corp | Radiation dose measuring device |
| JP2707621B2 (ja) * | 1987-11-30 | 1998-02-04 | ソニー株式会社 | 光ディスクの検査方法及び検査装置 |
-
1991
- 1991-09-20 JP JP3269988A patent/JP2800860B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0577800A (ja) | 1993-03-30 |
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