JP2884881B2 - 衛星搭載用基準光源校正装置 - Google Patents
衛星搭載用基準光源校正装置Info
- Publication number
- JP2884881B2 JP2884881B2 JP4032683A JP3268392A JP2884881B2 JP 2884881 B2 JP2884881 B2 JP 2884881B2 JP 4032683 A JP4032683 A JP 4032683A JP 3268392 A JP3268392 A JP 3268392A JP 2884881 B2 JP2884881 B2 JP 2884881B2
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- Japan
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- light source
- light
- optical
- satellite
- photodetector
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は衛星搭載用基準光源校正
装置に関する。
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の衛星搭載用基準光源校正装置は、
光源の光量をモニタすることのみを目的として光源付近
にフォトディテクタを有している。また、校正光は衛星
搭載用光学機器の光学系の特定部分のみ通過するように
なっている。
光源の光量をモニタすることのみを目的として光源付近
にフォトディテクタを有している。また、校正光は衛星
搭載用光学機器の光学系の特定部分のみ通過するように
なっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】衛星搭載用光学機器
は、宇宙空間において宇宙塵、放射線、接着剤のアウト
ガス等により汚染され、これらによる光学系の劣化を予
測することが困難である。
は、宇宙空間において宇宙塵、放射線、接着剤のアウト
ガス等により汚染され、これらによる光学系の劣化を予
測することが困難である。
【０００４】また、上述した従来の衛星搭載用基準光源
校正装置は、光源付近にのみ設置されたフォトディテク
タだけで校正を行なっているので、校正装置と衛星搭載
用光学機器の光学系とのいずれの汚染による劣化である
かの判別が困難である。
校正装置は、光源付近にのみ設置されたフォトディテク
タだけで校正を行なっているので、校正装置と衛星搭載
用光学機器の光学系とのいずれの汚染による劣化である
かの判別が困難である。
【０００５】さらに、校正光は常に光学系の同一点のみ
通過するので、光学系の平均的な汚染による劣化を検出
できないという問題がある。
通過するので、光学系の平均的な汚染による劣化を検出
できないという問題がある。
【０００６】本発明は上述した事情にかんがみてなされ
たもので、校正装置と衛星搭載用光学機器光学系とのい
ずれの汚染による劣化であるか判別が可能であるととも
に、光学系の平均的な汚染による劣化を検出できる衛星
搭載用基準光源校正装置の提供を目的とする。
たもので、校正装置と衛星搭載用光学機器光学系とのい
ずれの汚染による劣化であるか判別が可能であるととも
に、光学系の平均的な汚染による劣化を検出できる衛星
搭載用基準光源校正装置の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の衛星搭載用基準光源校正装置は、衛星搭載用
の光学機器の校正を実施するために必要な基準光を発生
する光源と、この光源の光量を検出する第一フォトディ
テクタと、前記光学機器のフードと、このフードの外周
方向に移動可能に取り付けられた可動射出部と、前記光
源からの基準光を前記可動射出部に伝達する光りファイ
バと、前記可動射出部に内蔵され、前記光ファイバから
の光を校正光として出力するレンズ系と、前記可動射出
部に内蔵され、前記レンズ系からの光量を検出する第二
フォトディテクタと、前記第一及び第二フォトディテク
タで検出した光量を比較する光量モニタと、前記レンズ
系から出力され前記光学機器の光学系に入射された校正
光の光量を検出する検出器とを具備した構成としてあ
り、好ましくは光源，第一フォトディテクタ，光ファイ
バ，レンズ系，第二フォトディテクタ及び光量モニタを
複数組設けるとともに、このうちレンズ系及び第二フォ
トディテクタを一つの可動射出部に内蔵した構成として
ある。
に本発明の衛星搭載用基準光源校正装置は、衛星搭載用
の光学機器の校正を実施するために必要な基準光を発生
する光源と、この光源の光量を検出する第一フォトディ
テクタと、前記光学機器のフードと、このフードの外周
方向に移動可能に取り付けられた可動射出部と、前記光
源からの基準光を前記可動射出部に伝達する光りファイ
バと、前記可動射出部に内蔵され、前記光ファイバから
の光を校正光として出力するレンズ系と、前記可動射出
部に内蔵され、前記レンズ系からの光量を検出する第二
フォトディテクタと、前記第一及び第二フォトディテク
タで検出した光量を比較する光量モニタと、前記レンズ
系から出力され前記光学機器の光学系に入射された校正
光の光量を検出する検出器とを具備した構成としてあ
り、好ましくは光源，第一フォトディテクタ，光ファイ
バ，レンズ系，第二フォトディテクタ及び光量モニタを
複数組設けるとともに、このうちレンズ系及び第二フォ
トディテクタを一つの可動射出部に内蔵した構成として
ある。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図１は本発明の一実施例に係る衛星搭載
用基準光源校正装置の構成を示すブロック図である。
して説明する。図１は本発明の一実施例に係る衛星搭載
用基準光源校正装置の構成を示すブロック図である。
【０００９】本発明の衛星搭載用基準光源校正装置は、
光源の光量および射出口の光量をそれぞれモニタする第
一及び第二フォトディテクタ２ａ及び２ｂを備えてい
る。また、本発明の衛星搭載用基準光源校正装置は、ハ
ロゲンランプ（光源）１、第一及び第二フォトディテク
タ２ａ，２ｂ、光ファイバ４およびレンズ系１２を一つ
の構成として冗長構成としている。さらに、異なった二
ケ所以上から校正光１８が射出し、また衛星搭載用光学
機器の光軸を中心として鏡筒に沿って射出口が移動可能
な構成としてある。
光源の光量および射出口の光量をそれぞれモニタする第
一及び第二フォトディテクタ２ａ及び２ｂを備えてい
る。また、本発明の衛星搭載用基準光源校正装置は、ハ
ロゲンランプ（光源）１、第一及び第二フォトディテク
タ２ａ，２ｂ、光ファイバ４およびレンズ系１２を一つ
の構成として冗長構成としている。さらに、異なった二
ケ所以上から校正光１８が射出し、また衛星搭載用光学
機器の光軸を中心として鏡筒に沿って射出口が移動可能
な構成としてある。
【００１０】次に上記構成からなる本発明の衛星搭載用
基準光源校正装置の作用について説明する。図１に示す
ように、校正装置の光源であるハロゲンランプ１から発
せられる基準校正光は、光ファイバ４を通してフード５
に取り付けた可動射出部６を通過し、折返しミラー７で
曲げられて光学機器光学系８に入射される。入射された
校正光は検出器９により光電変換されて電気信号である
検出器出力１０となる。
基準光源校正装置の作用について説明する。図１に示す
ように、校正装置の光源であるハロゲンランプ１から発
せられる基準校正光は、光ファイバ４を通してフード５
に取り付けた可動射出部６を通過し、折返しミラー７で
曲げられて光学機器光学系８に入射される。入射された
校正光は検出器９により光電変換されて電気信号である
検出器出力１０となる。
【００１１】図２は衛星搭載用光学機器に本発明の基準
光源校正装置を取り付けた状態を示す正面図である。ハ
ロゲンランプ１および光量モニタ３を内蔵した、独立し
た二系統の光量モニタユニット１１から光ファイバ４を
通じて校正光は可動射出部６へ導かれる。可動射出部６
はフード５に取り付けられており、外周方向に移動可能
である。折返しミラー７はミラー支持柱１４により可動
射出部６と連動しており、これの移動と共に光学機器光
学系８への入射位置が変えられるようになっている。
光源校正装置を取り付けた状態を示す正面図である。ハ
ロゲンランプ１および光量モニタ３を内蔵した、独立し
た二系統の光量モニタユニット１１から光ファイバ４を
通じて校正光は可動射出部６へ導かれる。可動射出部６
はフード５に取り付けられており、外周方向に移動可能
である。折返しミラー７はミラー支持柱１４により可動
射出部６と連動しており、これの移動と共に光学機器光
学系８への入射位置が変えられるようになっている。
【００１２】図３は可動射出部の拡大断面図である。光
ファイバ４で伝搬された校正光１８はレンズ系１２を通
過し、ハーフミラー１３により第二フォトディテクタ２
ｂと折返しミラー７のそれぞれに分けられる。折返しミ
ラー７は、高さの異なるミラー支持柱１４で固定されて
いるので、ハーフミラー１３から伝搬してくる校正光１
８は光学機器光学系８へ完全独立に入射される。ミラー
支持柱１４は可動射出部６のカバー１７に固定され、タ
イヤ１６を介して駆動部１５によりフード５の外周方向
に移動する。
ファイバ４で伝搬された校正光１８はレンズ系１２を通
過し、ハーフミラー１３により第二フォトディテクタ２
ｂと折返しミラー７のそれぞれに分けられる。折返しミ
ラー７は、高さの異なるミラー支持柱１４で固定されて
いるので、ハーフミラー１３から伝搬してくる校正光１
８は光学機器光学系８へ完全独立に入射される。ミラー
支持柱１４は可動射出部６のカバー１７に固定され、タ
イヤ１６を介して駆動部１５によりフード５の外周方向
に移動する。
【００１３】なお、光量モニタユニット１１からの校正
光を伝搬させる光ファイバ４を複数化し、それに応じて
レンズ系、折返しミラー等を配設することにより、射出
口の開口を広げることができ、光学機器光学系８の全開
口校正も可能となる。
光を伝搬させる光ファイバ４を複数化し、それに応じて
レンズ系、折返しミラー等を配設することにより、射出
口の開口を広げることができ、光学機器光学系８の全開
口校正も可能となる。
【００１４】校正光量は、ハロゲンランプ付近と射出口
付近に設置された第一及び第二フォトディテクタ２ａ，
２ｂにより二ケ所で検出され、光量モニタ３により信号
が増幅されてモニタされる。両者の信号を比較して差が
生じている場合は、光ファイバ４あるいはレンズ系１２
において汚染による劣化が起きていることを検出可能で
ある。
付近に設置された第一及び第二フォトディテクタ２ａ，
２ｂにより二ケ所で検出され、光量モニタ３により信号
が増幅されてモニタされる。両者の信号を比較して差が
生じている場合は、光ファイバ４あるいはレンズ系１２
において汚染による劣化が起きていることを検出可能で
ある。
【００１５】また、任意の校正実行時の検出器出力およ
び前述の異なる二ケ所に設置された第一及び第二フォト
ディテクタ２ａ，２ｂの出力を比較することにより、こ
れらフォトディテクタ２ａ，２ｂの信号に差が生じてい
ない状態で検出器９の出力のみが変化している場合に
は、光学機器光学系８が汚染で劣化していることが検出
可能である。
び前述の異なる二ケ所に設置された第一及び第二フォト
ディテクタ２ａ，２ｂの出力を比較することにより、こ
れらフォトディテクタ２ａ，２ｂの信号に差が生じてい
ない状態で検出器９の出力のみが変化している場合に
は、光学機器光学系８が汚染で劣化していることが検出
可能である。
【００１６】さらに、光源、フォトディテクタ、光ファ
イバおよびレンズ系を一つの校正としてこれらを冗長に
することにより、校正装置の信頼性を高めることができ
る。
イバおよびレンズ系を一つの校正としてこれらを冗長に
することにより、校正装置の信頼性を高めることができ
る。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明の衛星搭載用
基準光源校正装置によれば、光源の光量および射出口の
光量をモニタするフォトディテクタを備えているので、
校正装置と衛星搭載用光学機器光学系との汚染による劣
化の判別が可能である。また、光源、フォトディテク
タ、光ファイバおよびレンズ系を一つの構成としてこれ
らを冗長にすることにより、片系が故障しても基準光源
校正装置としての機能を果たすことが可能であるととも
に、校正装置の汚染による劣化の検出精度が高められ
る。さらに、校正光のパスが複数であり、なおかつ、射
出口が移動可能であるため、校正光が光学系の特定部分
だけではなく複数箇所に入射され、平均的な汚染の劣化
を検出できる。
基準光源校正装置によれば、光源の光量および射出口の
光量をモニタするフォトディテクタを備えているので、
校正装置と衛星搭載用光学機器光学系との汚染による劣
化の判別が可能である。また、光源、フォトディテク
タ、光ファイバおよびレンズ系を一つの構成としてこれ
らを冗長にすることにより、片系が故障しても基準光源
校正装置としての機能を果たすことが可能であるととも
に、校正装置の汚染による劣化の検出精度が高められ
る。さらに、校正光のパスが複数であり、なおかつ、射
出口が移動可能であるため、校正光が光学系の特定部分
だけではなく複数箇所に入射され、平均的な汚染の劣化
を検出できる。
【図１】本発明の一実施例に係る衛星搭載用基準光源校
正装置の構成を示したブロック図である。
正装置の構成を示したブロック図である。
【図２】本発明装置の一実施例を示す正面図である。
【図３】本発明装置における可動射出部を示す拡大断面
図である。
図である。
１…ハロゲンランプ ２…フォトディテクタ ３…光量モニタ ４…光ファイバ ５…フード ６…可動射出部 ７…折返しミラー ８…光学機器光学系 ９…検出器 １０…検出器出力 １１…光量モニタユニット １２…レンズ系 １３…ハーフミラー １４…ミラー支持柱 １５…駆動部 １６…タイヤ １７…カバー １８…校正光
Claims (2)
- 【請求項１】 衛星搭載用の光学機器の校正を実施する
ために必要な基準光を発生する光源と、 この光源の光量を検出する第一フォトディテクタと、 前記光学機器のフードと、 このフードの外周方向に移動可能に取り付けられた可動
射出部と、 前記光源からの基準光を前記可動射出部に伝達する光フ
ァイバと、 前記可動射出部に内蔵され、前記光ファイバからの光を
校正光として出力するレンズ系と、 前記可動射出部に内蔵され、前記レンズ系からの光量を
検出する第二フォトディテクタと、 前記第一及び第二フォトディテクタで検出した光量を比
較する光量モニタと、 前記レンズ系から出力され前記光学機器の光学系に入射
された校正光の光量を検出する検出器とを 具備したこと
を特徴とする衛星搭載用基準光源校正装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の衛星搭載用基準光源校正
装置において、 光源，第一フォトディテクタ，光ファイバ，レンズ系，
第二フォトディテクタ及び光量モニタを複数組設けると
ともに、このうちレンズ系及び第二フォトディテクタを
一つの可動射出部に内蔵したことを特徴とする衛星搭載
用基準光源校正装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4032683A JP2884881B2 (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | 衛星搭載用基準光源校正装置 |
| EP92308526A EP0533490B1 (en) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | Systems for calibration of optical instrument on satellite with reference light source |
| DE69202539T DE69202539T2 (de) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | System zum Kalibrieren eines optischen Instruments in einem Satellit mittels einer Referenz-Lichtquelle. |
| US07/946,641 US5325171A (en) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | System for calibration of optical instrument on satellite with reference light source |
| CA002078637A CA2078637A1 (en) | 1991-09-20 | 1992-09-18 | System for calibration of optical instrument on satellite with reference light source |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4032683A JP2884881B2 (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | 衛星搭載用基準光源校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05193600A JPH05193600A (ja) | 1993-08-03 |
| JP2884881B2 true JP2884881B2 (ja) | 1999-04-19 |
Family
ID=12365679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4032683A Expired - Lifetime JP2884881B2 (ja) | 1991-09-20 | 1992-01-23 | 衛星搭載用基準光源校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2884881B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5660375A (en) * | 1979-10-22 | 1981-05-25 | Toshiba Corp | Radiation dose measuring device |
| JP2707621B2 (ja) * | 1987-11-30 | 1998-02-04 | ソニー株式会社 | 光ディスクの検査方法及び検査装置 |
-
1992
- 1992-01-23 JP JP4032683A patent/JP2884881B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05193600A (ja) | 1993-08-03 |
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