JP2774566B2 - 半導体装置のリードフレーム - Google Patents
半導体装置のリードフレームInfo
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- JP2774566B2 JP2774566B2 JP1092537A JP9253789A JP2774566B2 JP 2774566 B2 JP2774566 B2 JP 2774566B2 JP 1092537 A JP1092537 A JP 1092537A JP 9253789 A JP9253789 A JP 9253789A JP 2774566 B2 JP2774566 B2 JP 2774566B2
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- semiconductor device
- lead frame
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
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- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体装置のリードフレームにおいて、
基板への実装の際の半田付け性能の改良に関するもので
ある。
基板への実装の際の半田付け性能の改良に関するもので
ある。
従来の半導体装置のリードフレームには第５図、第６
図に示すものがあった。第５図は樹脂封止直後の半導体
装置のリードフレームを示す平面図であり、第６図はそ
の斜視図である。
図に示すものがあった。第５図は樹脂封止直後の半導体
装置のリードフレームを示す平面図であり、第６図はそ
の斜視図である。
図において、１は樹脂封止された半導体装置本体、２
は外部機器と電気的コンタクトを図るためのリード、３
はリードフレーム枠、４はタイバである。
は外部機器と電気的コンタクトを図るためのリード、３
はリードフレーム枠、４はタイバである。
次に半導体装置のリード成形について説明する。第５
図、第６図に示した半導体装置のリードフレームに対し
て、まず外装半田めっきを施した後、リードフレーム枠
３、リード２の先端及びタイバ４を切断してリード２の
成形を行う。
図、第６図に示した半導体装置のリードフレームに対し
て、まず外装半田めっきを施した後、リードフレーム枠
３、リード２の先端及びタイバ４を切断してリード２の
成形を行う。
このようにして完成した半導体装置のリード先端面６
には、前述のようにめっき作業後切断を行っているの
で、半田めっき層９が付着していない（第７図参照）。
には、前述のようにめっき作業後切断を行っているの
で、半田めっき層９が付着していない（第７図参照）。
また、リード２の先端部切断時には切断時のだれ７及
び切断時のかえり８が発生し、さらに半田めっき層９を
剥し取るため、リードの実装面10とリードの反実装面12
のリード先端面６に近い部分には半田めっきが付着して
いないことが多い。このため、半導体装置のリード２を
実装基板13に半田付けして使用する際には、第８図に示
すようにリード先端面６は半田の濡れが悪くて実装半田
層11が付着しない。
び切断時のかえり８が発生し、さらに半田めっき層９を
剥し取るため、リードの実装面10とリードの反実装面12
のリード先端面６に近い部分には半田めっきが付着して
いないことが多い。このため、半導体装置のリード２を
実装基板13に半田付けして使用する際には、第８図に示
すようにリード先端面６は半田の濡れが悪くて実装半田
層11が付着しない。
従来の半導体装置のリードフレームは以上のように構
成されているので、基板へ実装する際にリード先端面６
に実装半田層11が盛り上がらないため、半導体装置の半
田付強度が劣るという問題点があった。
成されているので、基板へ実装する際にリード先端面６
に実装半田層11が盛り上がらないため、半導体装置の半
田付強度が劣るという問題点があった。
また、リード先端面６側から目視検査により半田付確
認を行う作業があるが、その際にリード先端面６の下部
の実装半田層11が奥まっているため、一見リード先端面
６の下部に隙間が見えて半田付不良と誤診される問題点
があった。
認を行う作業があるが、その際にリード先端面６の下部
の実装半田層11が奥まっているため、一見リード先端面
６の下部に隙間が見えて半田付不良と誤診される問題点
があった。
この発明は上記の様な問題点を解消するためになされ
たもので、リードの先端面及びリードの実装面の先端部
の半田付け性を改善した半導体装置のリードフレームを
得ることを目的とする。
たもので、リードの先端面及びリードの実装面の先端部
の半田付け性を改善した半導体装置のリードフレームを
得ることを目的とする。
この発明に係る半導体装置のリードフレームは、半導
体装置本体と、この半導体装置と外部機器との電気的接
続を図るためのリードを有したリードフレームとを備
え、前記リードの先端部の半田による実装面側から反実
装面側に向けて切欠き部を設けたものである。
体装置本体と、この半導体装置と外部機器との電気的接
続を図るためのリードを有したリードフレームとを備
え、前記リードの先端部の半田による実装面側から反実
装面側に向けて切欠き部を設けたものである。
この発明における半導体装置のリードフレームでは、
リードフレームの状態でリード先端に切欠き部を設けて
いるので、外装めっきを行った後、リードの先端を切断
しても、リード先端面の切欠部分には半田めっき層が付
着する。そのため半導体装置を基板に実装した場合、リ
ード先端面の下部は半田の濡れが良く、半田付け性は良
くなる。また、半田付けの強度も十分となる。
リードフレームの状態でリード先端に切欠き部を設けて
いるので、外装めっきを行った後、リードの先端を切断
しても、リード先端面の切欠部分には半田めっき層が付
着する。そのため半導体装置を基板に実装した場合、リ
ード先端面の下部は半田の濡れが良く、半田付け性は良
くなる。また、半田付けの強度も十分となる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第
１図及び第２図は樹脂封止後のリードフレーム状態の半
導体装置を示す平面図と斜視図である。第３図は半田め
っき後、リード切断及びリード成形した半導体装置のリ
ード先端部の断面図、第４図は半導体装置を基板へ実装
した状態を示す断面図である。
１図及び第２図は樹脂封止後のリードフレーム状態の半
導体装置を示す平面図と斜視図である。第３図は半田め
っき後、リード切断及びリード成形した半導体装置のリ
ード先端部の断面図、第４図は半導体装置を基板へ実装
した状態を示す断面図である。
図において、１は半導体装置本体、２はリード、３は
リードフレーム枠、４はタイバ、５は切欠き部、６はリ
ード先端面、７は切断時のだれ、８は切断時のかえり、
９は半田めっき層、10はリードの実装面、11は実装半田
層、12はリードの反実装面を示す。
リードフレーム枠、４はタイバ、５は切欠き部、６はリ
ード先端面、７は切断時のだれ、８は切断時のかえり、
９は半田めっき層、10はリードの実装面、11は実装半田
層、12はリードの反実装面を示す。
次に動作について説明する。第１図及び第２図に示さ
れたリードフレームでは、リード２の先端のリード実装
面10側に切欠き部５を設けているので、リードフレーム
の外装半田めっき時には、この切欠き部５には半田めっ
き層９が付着する。そしてこの切欠き部５は、リード先
端部を切断してリード成形した後には、リード先端面６
の下部を占める。すなわち、リード先端面６の下部は切
欠き部５となり半田めっきが付着しており、リード先端
面６の上部は切断部となり、半田めっきが付着していな
い状態となる。このような半導体装置のリード２を基板
13に半田付けした場合、第４図のようにリード先端面６
は切欠き部５にまで半田が濡れるので、基板13の実装半
田層11は切欠き部５を覆う。すなわち、リード２の先端
部での半田付け性は非常に良好で、半田付け強度も大き
くなる。
れたリードフレームでは、リード２の先端のリード実装
面10側に切欠き部５を設けているので、リードフレーム
の外装半田めっき時には、この切欠き部５には半田めっ
き層９が付着する。そしてこの切欠き部５は、リード先
端部を切断してリード成形した後には、リード先端面６
の下部を占める。すなわち、リード先端面６の下部は切
欠き部５となり半田めっきが付着しており、リード先端
面６の上部は切断部となり、半田めっきが付着していな
い状態となる。このような半導体装置のリード２を基板
13に半田付けした場合、第４図のようにリード先端面６
は切欠き部５にまで半田が濡れるので、基板13の実装半
田層11は切欠き部５を覆う。すなわち、リード２の先端
部での半田付け性は非常に良好で、半田付け強度も大き
くなる。
また、基板13への半田付け後、側面からの目視検査に
おいて、リード先端面６の下部にも実装半田層11の盛り
上がりが見えて、リード２の下部の隙間は発生しないた
め、容易に半田付けの良、不良が検査できる。
おいて、リード先端面６の下部にも実装半田層11の盛り
上がりが見えて、リード２の下部の隙間は発生しないた
め、容易に半田付けの良、不良が検査できる。
なお、上記実施例においては、リード２の先端にほぼ
垂直方向の切欠き部５を設けたものを示したが、例えば
リード２の実装面側から反実装面側に貫通した長穴状の
切欠き部を設けても同様の効果を奏する。
垂直方向の切欠き部５を設けたものを示したが、例えば
リード２の実装面側から反実装面側に貫通した長穴状の
切欠き部を設けても同様の効果を奏する。
以上のようにこの発明によれば、半導体装置のリード
フレームにおいて、リード先端の半田による実装面側か
ら反実装面側へ向けて切欠き部を設けたので、リード先
端の実装面側およびリード先端面の下部にも半田濡れ性
が向上し、半田付け性の良い、しかも半田付け後の目視
検査が容易な半導体装置のリードフレームを提供できる
効果がある。
フレームにおいて、リード先端の半田による実装面側か
ら反実装面側へ向けて切欠き部を設けたので、リード先
端の実装面側およびリード先端面の下部にも半田濡れ性
が向上し、半田付け性の良い、しかも半田付け後の目視
検査が容易な半導体装置のリードフレームを提供できる
効果がある。
第１図，第２図はこの発明の一実施例による樹脂封止後
の半導体装置のリードフレームを示す平面図と斜視図、
第３図はこの半導体装置の半田めっき後のリード先端を
示す断面図、第４図はこの半導体装置を基板に実装後の
リード先端を示す断面図、第５図、第６図は従来の半導
体装置のリードフレームを示す平面図と斜視図、第７図
は従来の半導体装置の半田めっき後のリード先端を示す
断面図、第８図は従来の半導体装置の実装後のリード先
端を示す断面図である。 図中、１は半導体装置本体、２はリード、３はリードフ
レーム枠、４はタイバ、５は切欠き部、６はリード先端
面、７は切断時のだれ、８は切断時のかえり、９は半田
めっき層、10はリードの実装面、11は実装半田層、12は
リードの反実装面、13は基板を示す。 なお、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
の半導体装置のリードフレームを示す平面図と斜視図、
第３図はこの半導体装置の半田めっき後のリード先端を
示す断面図、第４図はこの半導体装置を基板に実装後の
リード先端を示す断面図、第５図、第６図は従来の半導
体装置のリードフレームを示す平面図と斜視図、第７図
は従来の半導体装置の半田めっき後のリード先端を示す
断面図、第８図は従来の半導体装置の実装後のリード先
端を示す断面図である。 図中、１は半導体装置本体、２はリード、３はリードフ
レーム枠、４はタイバ、５は切欠き部、６はリード先端
面、７は切断時のだれ、８は切断時のかえり、９は半田
めっき層、10はリードの実装面、11は実装半田層、12は
リードの反実装面、13は基板を示す。 なお、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−124255（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−113652（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−99751（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−208258（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−42855（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01L 23/50 H05K 1/18
Claims (1)
- 【請求項１】半導体装置本体と、この半導体装置と外部
機器との電気的接続を図るためのリードを有するリード
フレームとを備え、前記リードの先端部の半田による実
装面側から反実装面側に向けて切欠き部を設けた半導体
装置のリードフレーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1092537A JP2774566B2 (ja) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | 半導体装置のリードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1092537A JP2774566B2 (ja) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | 半導体装置のリードフレーム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02270360A JPH02270360A (ja) | 1990-11-05 |
| JP2774566B2 true JP2774566B2 (ja) | 1998-07-09 |
Family
ID=14057120
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1092537A Expired - Lifetime JP2774566B2 (ja) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | 半導体装置のリードフレーム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2774566B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04170056A (ja) * | 1990-11-02 | 1992-06-17 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
| JPH0617225U (ja) * | 1992-07-30 | 1994-03-04 | 日本航空電子工業株式会社 | 電子部品の端子 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58124255A (ja) * | 1982-01-21 | 1983-07-23 | Toshiba Corp | 半導体装置のリ−ドフレ−ム |
| JPS59113652A (ja) * | 1982-12-20 | 1984-06-30 | Toshiba Corp | フラツトパツケ−ジｉｃ |
-
1989
- 1989-04-11 JP JP1092537A patent/JP2774566B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02270360A (ja) | 1990-11-05 |
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