JP2763255B2 - 電流ベクトルによる受動素子値測定装置 - Google Patents
電流ベクトルによる受動素子値測定装置Info
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- JP2763255B2 JP2763255B2 JP5193752A JP19375293A JP2763255B2 JP 2763255 B2 JP2763255 B2 JP 2763255B2 JP 5193752 A JP5193752 A JP 5193752A JP 19375293 A JP19375293 A JP 19375293A JP 2763255 B2 JP2763255 B2 JP 2763255B2
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G—PHYSICS
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- G06F15/00—Digital computers in general; Data processing equipment in general
- G06F15/02—Digital computers in general; Data processing equipment in general manually operated with input through keyboard and computation using a built-in program, e.g. pocket calculators
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、正弦波を印加する
際、受動素子の両端に強化される電圧のベクトルと受動
素子を通して流れる電流のベクトルを検出して、素子値
を測定する電流ベクトルによる受動素子値の測定装置に
関する。
際、受動素子の両端に強化される電圧のベクトルと受動
素子を通して流れる電流のベクトルを検出して、素子値
を測定する電流ベクトルによる受動素子値の測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、抵抗やインダクタ、又はキャパシ
タなどの受動素子値は、これらの受動素子値により、変
化するゲインを測定するか、その他これらの特性が変わ
るのを検出する方法によって測定された。ところで、こ
のような従来の測定方式は、抵抗やインダクタ又はキャ
パシタ中、一つの素子だけを測定する場合には、かなり
精密に測定することができたが、上記受動素子が少なく
とも２種以上構成された直、並列回路では電流と電圧と
の位相差が生じ、電圧と電流中いずれか１つのパラメー
タを用いて素子値を測定する場合、測定誤差が大きく生
じて、インダクタ素子値が大なる場合、逆起電力などが
生じて測定そのものが不可能であった。
タなどの受動素子値は、これらの受動素子値により、変
化するゲインを測定するか、その他これらの特性が変わ
るのを検出する方法によって測定された。ところで、こ
のような従来の測定方式は、抵抗やインダクタ又はキャ
パシタ中、一つの素子だけを測定する場合には、かなり
精密に測定することができたが、上記受動素子が少なく
とも２種以上構成された直、並列回路では電流と電圧と
の位相差が生じ、電圧と電流中いずれか１つのパラメー
タを用いて素子値を測定する場合、測定誤差が大きく生
じて、インダクタ素子値が大なる場合、逆起電力などが
生じて測定そのものが不可能であった。
【０００３】また、２種以上の素子が直列又は並列構造
により接続されている場合、上記理由によって２種以上
の素子を同時に測定できず、これらの素子中いずれか１
つの素子値を測定したのち、再び他素子値を順次測定す
る方法を用いなければならなかった。
により接続されている場合、上記理由によって２種以上
の素子を同時に測定できず、これらの素子中いずれか１
つの素子値を測定したのち、再び他素子値を順次測定す
る方法を用いなければならなかった。
【０００４】つまり、抵抗とキャパシタ、抵抗とインダ
クタ又はキャパシタとインダクタなど２つの素子が並列
に接続された回路をインピダンス測定方式で測定する場
合、２つの素子に対する合成インピダンスが測定される
ため、夫々の素子値を区別しがたいため、２つの素子か
らなる並列回路では素子を個別に測定しなければならな
かった。
クタ又はキャパシタとインダクタなど２つの素子が並列
に接続された回路をインピダンス測定方式で測定する場
合、２つの素子に対する合成インピダンスが測定される
ため、夫々の素子値を区別しがたいため、２つの素子か
らなる並列回路では素子を個別に測定しなければならな
かった。
【０００５】例えば、抵抗とキャパシタとからなる並列
回路がある場合、測定装置を通して、上記並列回路に定
電流を印加しキャパシタを充電したのち、抵抗に対する
キャパシタの影響を最少化させて、抵抗からドロップさ
れる電圧を検出し抵抗値、つまり、レジスタンスを測定
した。また、上記抵抗とは別にキャパシタが充電される
時定数を利用してキャパシタ値つまり、キャパシタンス
を測定した。
回路がある場合、測定装置を通して、上記並列回路に定
電流を印加しキャパシタを充電したのち、抵抗に対する
キャパシタの影響を最少化させて、抵抗からドロップさ
れる電圧を検出し抵抗値、つまり、レジスタンスを測定
した。また、上記抵抗とは別にキャパシタが充電される
時定数を利用してキャパシタ値つまり、キャパシタンス
を測定した。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】このように、レジスタ
ンスとキャパシタンスは夫々別の方式で夫々測定するよ
うになる。とりわけ、キャパシタの容量が大きい場合に
は、充電時間が多く要されるため、測定に要する時間が
多く要される問題点があった。また、すべての素子には
素子固有の基本特性のほかに、他の特性を共に含んでい
る。つまり、抵抗には基本としてレジスタンスで表わさ
れる抵抗成分を有しているが、厳密に言えば、抵抗成分
の他にインダクタやキャパシタ成分を共に含んでいる。
この点はインダクタやキャパシタの場合も同様である。
この点で従来の測定方式は、基本成分の他に他の成分は
無視して測定するため、測定が正確に行われないという
問題点があった。
ンスとキャパシタンスは夫々別の方式で夫々測定するよ
うになる。とりわけ、キャパシタの容量が大きい場合に
は、充電時間が多く要されるため、測定に要する時間が
多く要される問題点があった。また、すべての素子には
素子固有の基本特性のほかに、他の特性を共に含んでい
る。つまり、抵抗には基本としてレジスタンスで表わさ
れる抵抗成分を有しているが、厳密に言えば、抵抗成分
の他にインダクタやキャパシタ成分を共に含んでいる。
この点はインダクタやキャパシタの場合も同様である。
この点で従来の測定方式は、基本成分の他に他の成分は
無視して測定するため、測定が正確に行われないという
問題点があった。
【０００７】
【発明の目的】従って、この発明は、従来の問題点の解
決のためなされたもので、被測定素子に正弦波を印加す
る際、出力される電流ベクトルを検出し、被測定素子で
構成された夫々の素子値を測定するようにされた、電流
ベクトルによる受動素子値の測定装置を提供し、また、
２種以上の受動素子から成る直列又は並列回路でこれら
の構成素子値を同時に測定できるようにされた、受動素
子値の測定装置を提供することにその目的がある。
決のためなされたもので、被測定素子に正弦波を印加す
る際、出力される電流ベクトルを検出し、被測定素子で
構成された夫々の素子値を測定するようにされた、電流
ベクトルによる受動素子値の測定装置を提供し、また、
２種以上の受動素子から成る直列又は並列回路でこれら
の構成素子値を同時に測定できるようにされた、受動素
子値の測定装置を提供することにその目的がある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
のこの発明は、最大値と周波数の一定な正弦波を被測定
素子に供給する正弦波発振器と、上記正弦波が印加され
るとき、被測定素子でドロップされる電圧のベクトルを
検出する電圧検出部と、上記正弦波が印加されるとき上
記被測定素子を通して流れる電流のベクトルを検出する
電流検出部と、上記電圧検出部から出力される電圧の位
相を移動させる位相シフタと、電圧と電流の位相差を算
出するための上記電流検出部と上記位相シフタの出力を
掛算する掛算回路部と、上記位相シフタから出力される
電圧の平均値を算出する第１平均値計算部と、上記電流
検出部から出力される電圧の平均値を算出する第２平均
値計算部と、上記掛算回路部出力の直流成分を得るた
め、これをフィルタするフィルタ部と、上記１，２平均
値計算部の夫々の出力とフィルタ部の出力をデジタルに
変換するアナログ／デジタル変換部と、上記変換部から
出力されるデジタル信号を演算処理するマイクロコンピ
ュータと、上記マイクロコンピュータで演算処理された
結果を表示する表示部とからなることを特徴とする。
のこの発明は、最大値と周波数の一定な正弦波を被測定
素子に供給する正弦波発振器と、上記正弦波が印加され
るとき、被測定素子でドロップされる電圧のベクトルを
検出する電圧検出部と、上記正弦波が印加されるとき上
記被測定素子を通して流れる電流のベクトルを検出する
電流検出部と、上記電圧検出部から出力される電圧の位
相を移動させる位相シフタと、電圧と電流の位相差を算
出するための上記電流検出部と上記位相シフタの出力を
掛算する掛算回路部と、上記位相シフタから出力される
電圧の平均値を算出する第１平均値計算部と、上記電流
検出部から出力される電圧の平均値を算出する第２平均
値計算部と、上記掛算回路部出力の直流成分を得るた
め、これをフィルタするフィルタ部と、上記１，２平均
値計算部の夫々の出力とフィルタ部の出力をデジタルに
変換するアナログ／デジタル変換部と、上記変換部から
出力されるデジタル信号を演算処理するマイクロコンピ
ュータと、上記マイクロコンピュータで演算処理された
結果を表示する表示部とからなることを特徴とする。
【０００９】
【実施例】以下、この発明の実施例を添付図に沿って詳
述する。図１において、符号１０は測定対象の被測定素
子１００を通して流れる電流のベクトルを検出するため
に、最大値と周波数の一定な正弦波信号Ａを生ずる正弦
波発振器であり、上記正弦波信号Ａは次のごとしであ
る。
述する。図１において、符号１０は測定対象の被測定素
子１００を通して流れる電流のベクトルを検出するため
に、最大値と周波数の一定な正弦波信号Ａを生ずる正弦
波発振器であり、上記正弦波信号Ａは次のごとしであ
る。
【００１０】
【数２】
【００１１】上記出力Ａにおいて、Ｅｍは電圧の最大値
を表す。ωは角速度を表す。被測定素子１００には、こ
の素子１００の両端Ｐ１，Ｐ２で強化される電圧を検出
する差動増幅器ＯＰＡ１から構成された電圧検出部２０
が並列接続される。つまり電圧検出部２０で差動増幅器
ＯＰＡ１は、非反転端＋が正弦波信号を印加されるター
ミナルＰ１に接続され、反転端一はターミナルＰ２に接
続される。差動増幅器ＯＰＡ１は、ターミナルＰ１に印
加される出力ＡとターミナルＰ２における電圧差を増幅
して出力Ｂを出力するもので、出力Ｂは次のごとしであ
る。
を表す。ωは角速度を表す。被測定素子１００には、こ
の素子１００の両端Ｐ１，Ｐ２で強化される電圧を検出
する差動増幅器ＯＰＡ１から構成された電圧検出部２０
が並列接続される。つまり電圧検出部２０で差動増幅器
ＯＰＡ１は、非反転端＋が正弦波信号を印加されるター
ミナルＰ１に接続され、反転端一はターミナルＰ２に接
続される。差動増幅器ＯＰＡ１は、ターミナルＰ１に印
加される出力ＡとターミナルＰ２における電圧差を増幅
して出力Ｂを出力するもので、出力Ｂは次のごとしであ
る。
【００１２】
【数３】
【００１３】上記出力Ｂにおいて、Ｖｍは非測定素子で
ドロップされる電圧の最大値を表わす。
ドロップされる電圧の最大値を表わす。
【００１４】上記正弦波発振器１０の出力端は被測定素
子１００を通して差動増幅器ＯＰＡ２から構成された電
流検出部３０に直列接続される。つまり、電流検出部３
０で差動増幅器ＯＰＡ２は、反転端一が被測定素子１０
０に接続され、その非反転端＋はアース端に接続され、
出力端と反転端一間には抵抗Ｒを介して負帰還ループが
構成される。差動増幅器ＯＰＡ１は被測定素子１００の
両端でドロップされる電圧と被測定素子１００を通して
流れる電流との位相差を検出し、帰還ループに構成され
た抵抗Ｒと位相差を持つ検出された、電流との２倍の次
の出力Ｃを出力する。
子１００を通して差動増幅器ＯＰＡ２から構成された電
流検出部３０に直列接続される。つまり、電流検出部３
０で差動増幅器ＯＰＡ２は、反転端一が被測定素子１０
０に接続され、その非反転端＋はアース端に接続され、
出力端と反転端一間には抵抗Ｒを介して負帰還ループが
構成される。差動増幅器ＯＰＡ１は被測定素子１００の
両端でドロップされる電圧と被測定素子１００を通して
流れる電流との位相差を検出し、帰還ループに構成され
た抵抗Ｒと位相差を持つ検出された、電流との２倍の次
の出力Ｃを出力する。
【００１５】
【数４】
【００１６】出力Ｃにおいて、θは位相差を表し、ネガ
チブーは電流Ｉｍが帰還方向と反対に流れていることを
表す。
チブーは電流Ｉｍが帰還方向と反対に流れていることを
表す。
【００１７】電圧検出部２０の出力端は、位相シフタ４
０に接続され、位相シフタ４０は、第１平均値計算部５
０と掛算回路の第１入力端に接続される。位相シフタ４
０は、電流検出部３０から出力される正弦波と他の励弦
波を構成するべく電圧検出部２０から出力される出力Ｂ
の位相を９０°移動させ、出力Ｂの正弦波形が余弦波形
に変換された出力Ｄを第１平均値計算部５０に印加す
る。出力Ｄは次のごとくである。
０に接続され、位相シフタ４０は、第１平均値計算部５
０と掛算回路の第１入力端に接続される。位相シフタ４
０は、電流検出部３０から出力される正弦波と他の励弦
波を構成するべく電圧検出部２０から出力される出力Ｂ
の位相を９０°移動させ、出力Ｂの正弦波形が余弦波形
に変換された出力Ｄを第１平均値計算部５０に印加す
る。出力Ｄは次のごとくである。
【００１８】
【数５】
【００１９】上記出力Ｄを入力された第１平均値計算部
５０は、出力Ｄの平均値を算出し、算出された平均値は
後述するマイクロコンピュータ９０に変数として使われ
る。励弦波の平均値は、最大値の２／π倍であるため、
第１計算部５０の出力は次のごとくである。
５０は、出力Ｄの平均値を算出し、算出された平均値は
後述するマイクロコンピュータ９０に変数として使われ
る。励弦波の平均値は、最大値の２／π倍であるため、
第１計算部５０の出力は次のごとくである。
【００２０】
【数６】
【００２１】上記出力Ｅは、アナログ信号であって、マ
イクロコンピュータ９０に変数値で入力されるために、
Ａ／Ｄ変換器８０でデジタル信号に変換される。
イクロコンピュータ９０に変数値で入力されるために、
Ａ／Ｄ変換器８０でデジタル信号に変換される。
【００２２】一方、電流検出部３０の出力端は、第２平
均値計算部５０と掛算回路部６０の第２入力端子に接続
される。第２平均値計算部５１は、電流検出部３０から
出力される出力Ｃの平均値を算出し、算出された平均値
は、後述するマイクロコンピュータ９０の変数として使
われる。
均値計算部５０と掛算回路部６０の第２入力端子に接続
される。第２平均値計算部５１は、電流検出部３０から
出力される出力Ｃの平均値を算出し、算出された平均値
は、後述するマイクロコンピュータ９０の変数として使
われる。
【００２３】正弦波の平均値は、最大値の２／π倍にな
るため、第２計算部５１の出力Ｆは次のごとしである。
るため、第２計算部５１の出力Ｆは次のごとしである。
【００２４】
【数７】
【００２５】出力Ｆは、マイクロコンピュータ９０に変
数値として入力されるために、変換器８０でデジタル信
号に変換される。一方、掛算回路部６０は、第１，２入
力端を通して入力された出力ＣとＤとを掛算して次の出
力Ｇを低減フィルタ部７０に出力することによって、電
圧と電流との位相差θを求める。出力Ｇは、次のごとし
である。
数値として入力されるために、変換器８０でデジタル信
号に変換される。一方、掛算回路部６０は、第１，２入
力端を通して入力された出力ＣとＤとを掛算して次の出
力Ｇを低減フィルタ部７０に出力することによって、電
圧と電流との位相差θを求める。出力Ｇは、次のごとし
である。
【００２６】
【数８】
【００２７】掛算回路部出力Ｇは、フィルタ部７０に入
力され、フィルタ部７０は出力Ｇの成分中交流成分を除
去し、直流成分だけを変換器８０に出力する。つまり出
力Ｇから相数成分に該当する出力Ｈだけが変換器８０に
出力される。出力Ｈは次のごとしである。
力され、フィルタ部７０は出力Ｇの成分中交流成分を除
去し、直流成分だけを変換器８０に出力する。つまり出
力Ｇから相数成分に該当する出力Ｈだけが変換器８０に
出力される。出力Ｈは次のごとしである。
【００２８】
【数９】
【００２９】上記のごとく、第１，２計算部５０，５１
から夫々出力される、出力される出力ＥとＦと低域フィ
ルタ７０から出力される出力Ｈは、アナログ信号であっ
て、これらの変数がマイクロコンピュータ９０の演算器
に入力できるように、Ａ／Ｄ変換器８０によりデジタル
値に変換される。
から夫々出力される、出力される出力ＥとＦと低域フィ
ルタ７０から出力される出力Ｈは、アナログ信号であっ
て、これらの変数がマイクロコンピュータ９０の演算器
に入力できるように、Ａ／Ｄ変換器８０によりデジタル
値に変換される。
【００３０】デジタル化された変数値は、マイクロコン
ピュータ８０で次の過程を経ながら、被測定素子１００
において計算される。マイクロコンピュータ９０は、第
１計算部５０から出力された出力Ｆから次の電圧Ｖｍを
演算する。
ピュータ８０で次の過程を経ながら、被測定素子１００
において計算される。マイクロコンピュータ９０は、第
１計算部５０から出力された出力Ｆから次の電圧Ｖｍを
演算する。
【００３１】
【数１０】
【００３２】マイクロコンピュータ９０は、また、第２
計算部５１から出力された出力Ｆから次の電流Ｉｍを演
算する。
計算部５１から出力された出力Ｆから次の電流Ｉｍを演
算する。
【００３３】
【数１１】
【００３４】低域フィルタ部７０から出力される出力Ｈ
から位相差θを求めると、次のごとしである。
から位相差θを求めると、次のごとしである。
【００３５】
【数１２】
【００３６】一般に、電圧と電流、さらにインピダンス
をベクトルで表すと次のごとしである。
をベクトルで表すと次のごとしである。
【００３７】
【数１３】
【００３８】上記式（１）でＺｒは次のごとしである。
【００３９】
【数１４】
【００４０】上記式（１）でＺｉは次のごとしである。
【００４１】
【数１５】
【００４２】被測定素子１００が抵抗とコイルの並列の
場合は次のごとしである。
場合は次のごとしである。
【００４３】
【数１６】
【００４４】ＲとωＬをＺｒ及びＺｉにまとめると、
【００４５】
【数１７】
【００４６】上記（３）でのＺｒは、式（１）における
ごとく−Ｅ／（Ｆ・ｃｏｓＱ）をＺｉは式（２）におけ
るごとく−Ｅ（Ｆ・ｓｉｎθ）を代入することにより、
抵抗とコイル値を求めることができる。
ごとく−Ｅ／（Ｆ・ｃｏｓＱ）をＺｉは式（２）におけ
るごとく−Ｅ（Ｆ・ｓｉｎθ）を代入することにより、
抵抗とコイル値を求めることができる。
【００４７】図１に、被測定素子１００が純粋抵抗で構
成された場合には、次のごとしである。
成された場合には、次のごとしである。
【００４８】
【数１８】
【００４９】上式（４）において、変数Ｅ，Ｆは上記第
１，２計算部５０，５１の出力値に該当する。被測定素
子１００が純粋コイルで構成された場合には、次のごと
しである。
１，２計算部５０，５１の出力値に該当する。被測定素
子１００が純粋コイルで構成された場合には、次のごと
しである。
【００５０】
【数１９】
【００５１】上式５において、周波数ｆは正弦波発振器
１０から出力される正弦波形の周波数に該当される。被
測定素子１００が純粋コンデンサで構成された場合には
次のごとしである。
１０から出力される正弦波形の周波数に該当される。被
測定素子１００が純粋コンデンサで構成された場合には
次のごとしである。
【００５２】
【数２０】
【００５３】上式（６）において、周波数ｆは正弦波発
振器１０から出力される正弦波形の周波数に該当され
る。被測定素子１００が純粋コンデンサで構成された場
合には、次のごとしである。
振器１０から出力される正弦波形の周波数に該当され
る。被測定素子１００が純粋コンデンサで構成された場
合には、次のごとしである。
【００５４】
【数２１】
【００５５】被測定素子１００が抵抗とコンデンサの並
列の場合は次のごとしである。
列の場合は次のごとしである。
【００５６】
【数２２】
【００５７】Ｒと１／（ωＣ）をＺｒとＺｉにまとめる
と、
と、
【００５８】
【数２３】
【００５９】上式（３）と同様に上式（７）にＺｒ＝−
Ｅ／（Ｆ・ｃｏｓθ） Ｚｉ＝−Ｅ／（Ｆ・ｓｉｎθ）を代入することにより抵
抗とコンデンサの値を求めることができる。
Ｅ／（Ｆ・ｃｏｓθ） Ｚｉ＝−Ｅ／（Ｆ・ｓｉｎθ）を代入することにより抵
抗とコンデンサの値を求めることができる。
【００６０】上記マイクロコンピュータ９０は、被測定
素子１００を構成する受動素子値、つまり、レジスタン
スやインダクタンス又はキャパシタンスを算出し、算出
された値は表示部９１へ出力する。表示部９１は、ユー
ザーが目測で確かめ得るようにマイクロコンピュータ９
０で演算した値を表示するようになる。
素子１００を構成する受動素子値、つまり、レジスタン
スやインダクタンス又はキャパシタンスを算出し、算出
された値は表示部９１へ出力する。表示部９１は、ユー
ザーが目測で確かめ得るようにマイクロコンピュータ９
０で演算した値を表示するようになる。
【００６１】
【発明の効果】上述のように、この発明によれば、測定
しようとする抵抗、インダクタ及びキャパシタに正弦波
信号を印加して、電流ベクトルを測定し、電流ベクトル
から電圧との位相差を算出することにより、被測定素子
の抵抗はもとより、インダクタとキャパシタ値を正確に
測定でき、また、２種以上の受動素子により構成された
直列、並列回路においても夫々の素子値を同時に測定で
きる効果を有する。
しようとする抵抗、インダクタ及びキャパシタに正弦波
信号を印加して、電流ベクトルを測定し、電流ベクトル
から電圧との位相差を算出することにより、被測定素子
の抵抗はもとより、インダクタとキャパシタ値を正確に
測定でき、また、２種以上の受動素子により構成された
直列、並列回路においても夫々の素子値を同時に測定で
きる効果を有する。
【図１】この発明の電流ベクトルによる受動素子値測定
装置の全体構成図である。
装置の全体構成図である。
１０ 正弦波発振器 ２０ 電圧検出部 ３０ 電流検出部 ４０ 位相シフタ ５０，５１ 第１，２平均値計算部 ６０ 掛算回路部 ７０ フィルタ部 ８０ Ａ／Ｄ変換器 ９０ マイクロコンピュータ ９１ 表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 27/00 G01R 27/02 G01R 27/26
Claims (5)
- 【請求項１】 最大値と周波数の一定な正弦波を被測定
素子に供給する正弦波発振器と、上記正弦波が印加され
るとき、被測定素子でドロップされる電圧のベクトルを
検出する電圧検出部と、上記正弦波が印加されるとき上
記被測定素子を通して流れる電流のベクトルを検出する
電流検出部と、上記電圧検出部から出力される電圧の位
相を移動させる位相シフタと、電圧と電流の位相差を算
出するための上記電流検出部と上記位相シフタの出力を
掛算する掛算回路部と、上記位相シフタから出力される
電圧の平均値を算出する第１平均値計算部と、上記電流
検出部から出力される電圧の平均値を算出する第２平均
値計算部と上記掛算回路部出力の直流成分を得るため、
これをフィルタするフィルタ部と、上記１，２平均値計
算部の夫々の出力とフィルタ部の出力をデジタルに変換
するアナログ／デジタル変換部と、上記変換部から出力
されるデジタル信号を演算処理するマイクロコンピュー
タと、上記マイクロコンピュータで演算処理された結果
を表示する表示部とからなることを特徴とする受動素子
値の測定装置。 - 【請求項２】 上記電圧検出部は、測定される被測定素
子の両端に夫々ドロップされる電圧を比較してその差を
増幅させる差動増幅器からなることを特徴とする請求項
１に記載の電流ベクトルによる受動素子値の測定装置。 - 【請求項３】 上記電流検出部は、上記被測定素子に流
れる電流を反転ターミナルから入力される演算増幅器
と、上記演算増幅器から出力される電流信号をフィード
バックさせる抵抗とからなることを特徴とする請求項１
に記載の電流ベクトルによる受動素子値の測定装置。 - 【請求項４】 上記位相シフタは、上記電圧検出部から
入力される増幅された信号の正弦波を９０°移動させ励
弦波に変換することを特徴とする請求項１に記載の電流
ベクトルによる受動素子値の測定装置。 - 【請求項５】 上記掛算回路部は、上記位相シフタから
出力される位相が９０°移動された信号と、上記電流検
出部から出力される電圧信号を掛算して上記２信号間の
位相に関係される成分の次の信号 【数１】 を出力する請求項１に記載の電流ベクトルによる受動素
子値の測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019920014011A KR0175839B1 (ko) | 1992-08-04 | 1992-08-04 | 전류벡터에 의한 수동소자값의 연산장치 |
| KR199214011 | 1992-08-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160448A JPH06160448A (ja) | 1994-06-07 |
| JP2763255B2 true JP2763255B2 (ja) | 1998-06-11 |
Family
ID=19337505
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5193752A Expired - Fee Related JP2763255B2 (ja) | 1992-08-04 | 1993-08-04 | 電流ベクトルによる受動素子値測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5519325A (ja) |
| JP (1) | JP2763255B2 (ja) |
| KR (1) | KR0175839B1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0545647B1 (en) * | 1991-12-02 | 2001-10-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Measuring apparatus |
| US6366074B1 (en) * | 2000-03-24 | 2002-04-02 | Agere Systems Guardian Corp | Unidirectionality in electronic circuits through feedback |
| KR100496859B1 (ko) * | 2002-08-13 | 2005-06-22 | 삼성전자주식회사 | 동작모드 설정기능을 가진 반도체 집적회로 |
| WO2007091419A1 (ja) | 2006-02-07 | 2007-08-16 | Pioneer Corporation | 静電容量検出装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56126769A (en) * | 1980-03-11 | 1981-10-05 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Impedance meter |
| JPS5875074A (ja) * | 1981-10-30 | 1983-05-06 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 容量あるいは他のパラメ−タの測定装置 |
| JP2554511B2 (ja) * | 1987-11-30 | 1996-11-13 | 日本ヒューレット・パッカード株式会社 | ベクトル電流計 |
| US4947130A (en) * | 1987-12-23 | 1990-08-07 | Advantest Corporation | Impedance measuring apparatus |
| JP2720970B2 (ja) * | 1988-01-29 | 1998-03-04 | 日本ヒューレット・パッカード株式会社 | 測定器 |
-
1992
- 1992-08-04 KR KR1019920014011A patent/KR0175839B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1993
- 1993-07-30 US US08/099,442 patent/US5519325A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-08-04 JP JP5193752A patent/JP2763255B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR0175839B1 (ko) | 1999-05-15 |
| US5519325A (en) | 1996-05-21 |
| KR940004455A (ko) | 1994-03-15 |
| JPH06160448A (ja) | 1994-06-07 |
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