JPH01143968A - ベクトル電流計 - Google Patents

ベクトル電流計

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JPH01143968A JP62302927A JP30292787A JPH01143968A JP H01143968 A JPH01143968 A JP H01143968A JP 62302927 A JP62302927 A JP 62302927A JP 30292787 A JP30292787 A JP 30292787A JP H01143968 A JPH01143968 A JP H01143968A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は広帯域、高感度ベクトル電流計に関する。本発
明のベクトル電流計は、広帯域、高感度の電圧計やイン
ピーダンス計としても応用される。
本明細書におけるベクトル電流計とはある電流を同一周
波数の電流あるいは電圧に対する比とじて出力する測定
器である。
〔従来技術とその問題点〕
広帯域、高感度ベクトル電流計の用途は多岐に渉る。入
力端子に抵抗を接続して電圧・電流f変換すれば、その
抵抗の値を知って入力電圧を測定できる。
また、横河・ヒユーレット・パッカード株式会社から市
販されているHP4274A:マルチ・フリケンシLC
Rメータなどの電子素子測定器の広帯域ハーフ・ブリフ
ジ回路の主要部などとしても用いられている。第5図は
その広帯域ハーフ・ブリッジ回路を用いたインピーダン
ス測定器としてのベクトル電流計である。
第5図において、交流信号源lで発生された交流信号は
、信号源抵抗2を介して、3つの成分に分流される。第
1の分流された成分は第1径路4を介してベクトル電圧
止針17へ導入され、第2の成分は被測定素子3 (D
UT3と呼称する)を介して増幅器7の反転入力端子に
導入され、第3の成分は径路5を介して信号分配回路9
に導入される。
増幅器7と帰還抵抗8は電流・電圧変換回路を構成して
おり、DUT3と基準抵抗6を介して入力される電流を
電圧に変換して位相検波器10.11のそれぞれの一方
の端子に入力する。位相検波器10、11のそれぞれの
他方の入力端子は信号分配器9から出力され互いは90
’位相の異る前記交流信号と同一周波数の駆動信号によ
り励振される。
位相検波器10.11の出力はそれぞれ積分器12゜1
3により平滑増幅され、それぞれ変調器14.15の一
方の端子に導入され、位相検波器10.11に入力され
た互いに90°位相の異る信号を変調して加算器16に
入力せしめる。加算器16の出力は基準抵抗6を介して
増幅器7の反転入力端子に入力される。
DUT3を流れる電流は全て基準抵抗6を通るように構
成されており、増幅器7の反転入力端子は仮想接地点と
なる。ベクトル電圧比針17は、加算器16の出力と径
路4を介してDUT3の駆動交流電圧を人力し、後者に
対する前者のベクトル比を計算する。ベクトル電圧比の
計算は前i274A等で広〈実施されており周知の技術
であるから、説明を省略する。なお、ベクトル比は2人
力の振幅比と位相差によって表わされることは言うまで
もない。
DtJT3の駆動交流電圧を■3.加算器16の出力交
流電圧を■、とすると、DUT、のインピーダンスZは
、基準抵抗6の抵抗値R6をバラメークとして、次のよ
うに求められる。
上記の式において〔〕内がベクトル電圧比を表す。同様
にして、DUT3を流れる電流I、を■3に対するベク
トル比で表せば、 ・・・・・−・−−−−(式2)。
一般に、V3+Vl&は信号分配器9からの第3人力■
、に対するベクトル電圧比としてそれぞれが求められ、
しかる後■3とV16のベクトル電圧比がそれらから求
められる。(式2)の場合は、ベクトル電流はアドミタ
ンスである。
以上のような従来技術には、下記のような欠点がある。
(1)  ベクトル電圧比針が必要であって、コスト。
スペースが必要となる。
(2)第5図のベクトル電圧比針を除くブリ・ノジ部が
安定した後にベクトル電圧比の計算を開始するので、測
定時間が長くなる。
(3)高周波におけるブリフジ部の安定性の確保が困難
である。
〔発明の目的〕
従って本発明の目的は、デジタル信号処理装置(DSP
)を用いることにより、ベクトル電圧比針が不要で、小
型、高速で廉価なベクトル電流計を提供し、上記の欠点
を解消することにある。
〔発明の概要〕
本発明の一実施例によれば、(一般にはIC化された)
デジタル信号処理装置t(DSP)が、ブリ・7ジ部の
順方向増幅路に設けられる。DSPはマイクロプロセッ
サにより制御されており、ブリッジ部の校正係数と動作
の安定化に必要ないくつかのパラメータが与えられてい
る。
DSPはブリフジの平衡時の内部状態変数をマイクロプ
ロセッサに与えることにより、求めるZや1/Zを計算
することができる。マイクロプロセッサ内蔵のDSPで
はその計算もDSP内で行うことができる。
〔発明の実施例〕
第1図と第2図は本発明の第1.第2の一実施例のブロ
ック図であり、第3図はそれらのシステム・モデルであ
り、第4図はより一般的な第3の実施例のシステム・モ
デルである。第1図から第5図を通して、同等の機能と
同等の性能を有する部分には同一の参照番号を付しであ
る。
第1図において、増幅a7の出力はアナログ・デジタル
変換器(ADC)21によりデジタル信号に変換されて
DSP23に入力される。DSP23の内部はデジタル
位相検波器Pl+PZ+アナログ積分器をシミュレート
するデジタル積分器としての累算器S l + 32+
増幅度を与える利得調整器K + 、K zから構成さ
れている。DSP23の利得調整KI+Ktの出力はそ
れぞれ4象限乗算形デジタル・アナログ変換器(MDA
C)24.25にそれぞれ入力される。MDAC25,
24には、DUT3の駆動交流電圧とその90°移相し
た信号電圧も入力されており、M D A C24,2
5の出力は加算器16で加算される。90″移相器26
は入力信号位相を90″′推移させてMDAC24に入
力する。
また、デジタル位相検波器Pt、 Pgには、DSP2
3内部で発生された(あるいは外部より受信した)デジ
タル正弦波(SIN)、デジタル余弦波(CO3)が入
力され、ADC21の出力との乗算が行われる。
本ベクトル電流計に必要なタイミング信号は、タイミン
グ発生器22から駆動電圧V、に同期して出力され、そ
れを必要とするデジタル素子、デジタル・アナログ混在
素子に分配される。
ADC21の変換レートは入力信号のナイキスト・レー
トより十分大きなオーバーサンプリングを行うのが好ま
しい。第2図の回路ではタイミング発生器22と同等な
タイミング発生器32のタイミングに従うDSP33の
内部に復調用のデジタル変調器M、、 M、?”デジタ
ル加算器Aが設けられ、その出力はデジタル・アナログ
変換器(DAC)35において基準直流電圧VRに比例
した交流出力に変換される。DSP33の内部構成はD
SP33が行う処理のアルゴリズムを等価的に示したも
のであり、図示の方法が唯一でないことは勿論である。
また順方向増幅を行う場合に位相調整を行うときは、図
示しないが、St、 S2の出力からに、、 K、の出
力への径路が追加して設けられる。その径路において、
信号には係数が乗ぜられるが、その処理はに、、 K!
におけると同様である。
第1図の第1の実施例と第2図の第2の実施例の長所欠
点は以下の通りである。
第1の実施例では、信号源1の出力レベル変動に抱わら
ずベクトル電流比が求められる。それは、v3が変化す
るとMDAC24,25への入力も比例して変化するた
めである。又M D A C24,25の動作も信号振
幅の調整であり、交流駆動電圧と同じ周波数の信号の瞬
時値に応答する必要はない。しかしながら2個のMDA
Cが必要である。
一方、第2の実施例では、信号源lの出力レベル変動が
直接誤差を与えるので、頻繁に校正を行う必要がある。
また、DAC35も交流の瞬時値に応答する必要があり
高速でなければならないが、DAC351個あればよい
第3図は第1.第2の実施例のシステム・モデルである
。周知のZ変換を用いることにより、下記の方程式群を
得ることができる。第3図の()内の参照番号は第1図
の参照番号と各作要素の対応関係を示している。
入力電流U(i)、累算器出力χ(i)、χ (i+1
)は直交成分を要素とする2行1列のベクトルでありシ
ステムの状態変数となる。各作用素は2×2行列で各行
列が図示されている。
i、i+1はひきつづく離散時刻を表わしている。Z−
1は遅延を示す。時刻t+1におけ累算器出力χ(i+
1)は時刻iのU(i)とχ(i)から次のように与え
られる。
χ N + 1)=A(i)  χ(i)  +B(i
)  U(i)□ (式3) %式% 但し、■は単位行列、Wは2π/nで、nは駆動電圧周
波数1周期内のサンプル数(離散時刻数)で、θ6.θ
、は位相パラメータである。
金側定電流のサンプル値1i(i)はU(i)から次の
ように表わされる。
r、(i) =Uc (i)cosωoi+Us (i
)sinωoiここでは狭帯域電流を考えているので、
U (i)は十分ゆっくり変化するものとします。i=
oにおいてステップ人力U(i)が入力したとき交流−
周期分の漸化式は、U(i)を一定として次のようにな
る。
Z (n) =A(n−1)A(n−2)  −−−−
A(1)A(0) Z (0)+A(n−1)A(n−
2)  −−−−A(1)B(0)U(0)+ 4−A (n−1) B (n−2) U (n−2)
+ B (n−1) U (n−1) 従って、1周朋単位の状態方程式は、 113= (X−1)(Y、FMK)−’。
交流駆動電圧の周期を単位に時間を刻時すれば、周期番
号をkとし、 χ(k+1)=へχ(k) + II U (k) −
(式5)%式% λの固有値を0にできれば有限整定応答がなされる。人
をどのように選ぶかは設計の問題であるが、その理論は
周知である。人を適正に選べば、ステップ応答の最終値
χ(oo、) =χ(k+1)=χ(k)は、 (式4
)、 (式5)から次式のように求められる。
χ(oo)=−(Y、FMK)−’U(oo)従って、 U(”)= −(Y、FMK)Z(00)−(式6)。
オフセットε。(2行1列のベクトル)が(位相検波器
の信号もれ等で)存在するときは、U(oo)=−(Y
、FMK)χ(oo)+ t。
□(式7) (式7)からY、FMKとε。が校正されていれば、χ
(oo)からU(oo)が求められる。
校正はU(”)o=0.U(Oo)= [Uc、O] 
t。
U(oo)2=[0,U3]Tを用イテ行ワレル(Tは
行列の転置を示す。) U(oo)。はDUT3を開放とし、U(oo)、とU
(oo)zは抵抗標準と容量標準で与えられる。
なおりUT3を単に開放するだけでなく、増幅器7の入
力端子部分をシールドする必要があろう。
上記の例では、DSPは位相検波後に単に累算と利得付
加のみ行っているが、ADC入力にアンチエリアシング
・フィルタ挿入時の動的補償や、高周波位相推移の補償
などを行うアルゴリズムのインプリメントも容易に行な
える。又ADCの前にヘテロゲイン回路を設けて、AD
C入力周波数を低下させるなどの変形はアナログ系のば
あいと同様である。
第4図は第2図のDSP33を2次の巡回フィルタアル
ゴリズムで実現したもののモデルである。
第3図の場合と異なり、状態変数χ(i)やU(i)。
W(i)はDUTの駆動交流電圧と同一周波数の信号正
弦波の瞬時値のサンプル値である。第4図においてW(
i)はADC出力がDSP33でサンプルされるときの
遅れを表わすために用いられる。以下にZ変換を用いて
伝達関数を求める。
[o] U(Z)     Z(Z2+otZ+β)+に、Z+
に2内部モデル条件(定常エラー〇となる条件)α=−
2C03((IJ OT) 、β=1を課せば、K+、
Kzはつぎのように求めることができる。まず望ましい
共役複素極λ1.λ2を と選べば、 となり結果として、実極λ3は、 λ3 =2(1−r)cosωoT    −(式13
)ベクトル電流計が安定であるためには1λ31く1で
なければならないから、ω。Tが十分小さい(サンプル
間隔が短い)ときはcosω。Tzlとなり・ 0.5〈γ〈1           (式14)%式
% 定常状態ではU (i) = Y (i)となる。
Gl、G2が1と異なる場合は、 U(i)=Gz−’G、Y(i)   −(式15)%
式%() を求めることが可能である。
U (i) 、 Y (i)は瞬時値であるのでY(i
)の時々刻々の値をある整数周期分記憶しておき、この
データにデジタル位相検波とデジタル積分を行うことに
より、Y(i)の振幅と位相を求めることができる。従
って、(式15)により入力電流U (i)の振幅と位
相が求められる。
校正の方法は第3図のモデルで行ったと同様であるが、
デジタル位相検波が正確に行われるので、電流Oとco
sω。tあるいはsinω。tの一方を入力して校正で
きる。
以上述べた実施例のDSP33の構成は本発明を限定す
るために用いられるべきものではない。実施例と異るア
ルゴリズムによって、実施例とは別の特長をなにがしか
の妥協点を伴って実現される。
またY、やKは一般に2次の伝達マトリクスの非対角要
素が0でない2ボート装置を包合するものである。特に
順方向増幅路の位相調整を行うときは、Kの4つのマト
リクス要素が調整される。
〔発明の効果〕
上述の実施例により明らかなように、本発明の実施によ
り、ベクトル電圧比針が不要であるから、回路部品数の
削減によるコスト低減、測定の高速化が行われる。
さらにDSPは容易に小型に集積化されるので、小型化
の一層の推進と高信頼化が計られる。
また、DSPのアルゴリズムは容易に変更できるから、
ヘクトルミ流計の安定度を向上させるための補償を容易
に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の第1、第2の一実施例のベク
トル電流計のブロック図、第3図は第1、第2の一実施
例のシステム・モデルを表わす図、第4図は第3の一実
施例のシステム・モデルを表わす図、第5図は従来技術
のベクトル電流計のブロック図である。 1:交流信号源;3:被測定素子(DOT)i6:基準
抵抗;7:増幅器;9:信号分配器;to、lt:位相
検波器、12,13:積分器;14.15:変調器;1
6:加算器; 17:ベクトル電圧比針; 21:アナログ・デジタル変換器(ADC)i22.3
2:タイミング発生器; 23.33:デジタル信号処理装置(DSP);24.
25:乗算形デジタル・アナログ変換器(M[1AC)
 ;26 : 90°移相器; 35;デジタル・アナログ変換器(DAC);P、Pz
:デジタル位相検波器; 5xSz:累算器;に、、に、:利得調整器;Ml、M
2  :デジタル変調器;VR:基準直流電圧;A:加
算器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 交流入力電流が印加される増幅器とアナログ・デジタル
    変換器とデジタル信号処理装置とデジタル・アナログ変
    換器とを継続接続して成る順方向増幅部と該順方向増幅
    部の出力と前記増幅器入力間に挿入された帰還回路を有
    し、前記デジタル信号処理装置がその入出力信号から前
    記交流入力電流の直交分解を行うことを特徴とするベク
    トル電流計。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0455156A2 (de) * 1990-05-04 1991-11-06 Siemens Aktiengesellschaft Österreich Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines analogen, um 90 Grad gegenüber einem Eingangssignal phasenverschobenen Ausgangssignals
DE19505652A1 (de) * 1994-02-10 1995-08-17 Mitsubishi Electric Corp Vorrichtung zum Erfassen der Amplitude und Phase eines Wechselsignals
WO2019146281A1 (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 アルプスアルパイン株式会社 センサ装置

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2693555B1 (fr) * 1992-07-09 1994-09-09 Onera (Off Nat Aerospatiale) Dispositif de mesure d'impédance.
KR0175839B1 (ko) * 1992-08-04 1999-05-15 윤종용 전류벡터에 의한 수동소자값의 연산장치
WO1994015222A1 (en) * 1992-12-24 1994-07-07 Elcorp Pty. Ltd. Method and apparatus for determining the charge condition of an electrochemical cell
US5763283A (en) * 1994-10-12 1998-06-09 Sandia Corporation Method and apparatus for phase for and amplitude detection
US5708363A (en) * 1995-10-16 1998-01-13 Signet Scientific Company Liquid conductivity measurement system using a variable-frequency AC voltage
US5818238A (en) * 1996-03-15 1998-10-06 Symetrix Corporation Apparatus for measuring current and other parameters of an electornic device in response to an applied voltage
JP2004317391A (ja) * 2003-04-18 2004-11-11 Agilent Technol Inc 電流電圧変換器およびインピーダンス測定装置
US7064692B1 (en) * 2005-03-18 2006-06-20 Honeywell International Inc. Solid-state synchro/resolver converter
CN107612597B (zh) 2011-02-18 2021-01-05 太阳专利托管公司 信号生成方法及信号生成装置
US9128165B2 (en) * 2011-05-04 2015-09-08 Datang Nxp Semiconductors Co., Ltd. Battery cell impedance measurement method and apparatus
US9651592B2 (en) * 2013-12-03 2017-05-16 Rockwell Automation Technologies, Inc. Impedance detector apparatus and method
LU93211B1 (en) * 2016-09-14 2018-04-05 Iee Sa Method for determining a sense impedance in a guard-sense capacitive sensor
CN106370096B (zh) * 2016-09-23 2019-05-10 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 Lvdt的测量电路及其测量方法
JP6469736B2 (ja) * 2017-01-17 2019-02-13 太陽誘電株式会社 センサ回路およびセンシング方法
RU2760175C1 (ru) * 2020-07-03 2021-11-22 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт геофизики им. Ю.П. Булашевича Уральского отделения Российской академии наук Измерительное устройство для геоэлектроразведки

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5875074A (ja) * 1981-10-30 1983-05-06 Yokogawa Hewlett Packard Ltd 容量あるいは他のパラメ−タの測定装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0455156A2 (de) * 1990-05-04 1991-11-06 Siemens Aktiengesellschaft Österreich Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines analogen, um 90 Grad gegenüber einem Eingangssignal phasenverschobenen Ausgangssignals
DE19505652A1 (de) * 1994-02-10 1995-08-17 Mitsubishi Electric Corp Vorrichtung zum Erfassen der Amplitude und Phase eines Wechselsignals
US5602469A (en) * 1994-02-10 1997-02-11 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for detecting the amplitude and phase of an a.c. signal
US5714877A (en) * 1994-02-10 1998-02-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for detecting the amplitude and phase of an A.C. signal
US5731698A (en) * 1994-02-10 1998-03-24 The Kansai Electric Power Co., Inc. Apparatus for detecting the amplitude and phase of an a.c. signal
US5808462A (en) * 1994-02-10 1998-09-15 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for detecting the amplitude and phase of an a.c. signal
DE19505652C2 (de) * 1994-02-10 1999-05-06 Mitsubishi Electric Corp Vorrichtung zum Erfassen der Amplitude und Phase eines Wechselsignals
WO2019146281A1 (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 アルプスアルパイン株式会社 センサ装置
JPWO2019146281A1 (ja) * 2018-01-25 2020-12-03 アルプスアルパイン株式会社 センサ装置

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Publication number Publication date
US4935692A (en) 1990-06-19
JP2554511B2 (ja) 1996-11-13

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