JP2744711B2 - 量子細線構造及びその作製方法 - Google Patents

量子細線構造及びその作製方法

Info

Publication number
JP2744711B2
JP2744711B2 JP6432291A JP6432291A JP2744711B2 JP 2744711 B2 JP2744711 B2 JP 2744711B2 JP 6432291 A JP6432291 A JP 6432291A JP 6432291 A JP6432291 A JP 6432291A JP 2744711 B2 JP2744711 B2 JP 2744711B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
quantum wire
quantum
flat
width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP6432291A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04299880A (ja
Inventor
元隆 種谷
裕章 工藤
聰 菅原
治久 瀧口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP6432291A priority Critical patent/JP2744711B2/ja
Priority to DE69216453T priority patent/DE69216453T2/de
Priority to EP92302706A priority patent/EP0506453B1/en
Publication of JPH04299880A publication Critical patent/JPH04299880A/ja
Priority to US08/249,051 priority patent/US5654557A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2744711B2 publication Critical patent/JP2744711B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/341Structures having reduced dimensionality, e.g. quantum wires
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/12Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/122Single quantum well structures
    • H01L29/125Quantum wire structures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Recrystallisation Techniques (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は量子細線構造に関し、特
に量子井戸の曲がりによって電子波を閉じ込める湾曲電
子導波路構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】量子効果は量子井戸構造において、発光
効率の増大や、電子走行速度の増大,電気光学非線形効
果の増大等の望ましい特質が実証されている。このよう
な効果がより大きく期待できる構造として量子細線構造
が挙げられる。この量子細線構造は量子井戸構造により
2次元方向に制限された電子の運動を、さらにもう一次
元方向規制し一次元電子ガス状態を実現するものであ
る。
【0003】これまでに、量子細線構造を実現すべく種
々の方法が提案されている。この中には、有機金属化学
析出(MOCVD)法や分子線エピタキシアル(MB
E)法での原子層ステップから結晶成長しやすい性質を
利用したオフ基板上成長の方法や、イオン注入を利用し
た方法などがある。しかし、これらの方法は実際に顕著
な量子細線効果が観測されるまでには至っていないのが
現状である。
【0004】このため、より制御性の高い方法としてパ
ターン化基板上への量子井戸成長によるアプローチが検
討されている(特公平2−237110号参照)。この
技術ではストライプ状凹凸を有する基板上への量子井戸
層を成長させることにより、凹凸部にできるポテンシャ
ルの低い細線状の部分に電子を閉じ込めている。この方
式の利点は、量子細線自体のサイズである10nmオー
ダでの加工技術を開発する必要は特に無いこと、及び一
回の結晶成長で量子細線構造の作製が可能であるため結
晶欠陥の導入を最低限に抑えることが可能であること、
などが挙げられる。
【0005】しかしながら、本方式では凹凸部における
結晶成長の速度が平坦部分とは異なる上に、凹凸部の形
状によりその成長速度が変化するため、設計した通りの
量子細線を制御性・面内均一性・再現性よく作製するこ
とはほとんど不可能である。このことは、結晶成長での
曲がりを利用した光導波路の再現性・制御性がないこと
のアナロジーとしても予想できる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来は制
御性・再現性よく量子細線構造を作製することが困難で
あり、各種デバイスに理論的に期待される種々の特性向
上を現実のものとすることができなかった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述する問題
を解決するためになされたもので、厚さが20nmより
小さい第1層と、該第1層の上下に位置し、該第1層よ
り禁制帯幅の大きい第2層、及び第3層と、からなり、
前記第1層は、その断面において複数の平坦部により電
子の閉じ込めを行うような周期的凹凸構造を有してお
り、前記平坦部の幅が全て50nm以下であることを特
徴とする量子細線構造を提供するものである。
【0008】また、前記周期的凹凸構造の斜面部に前記
平坦部を有することを特徴とした請求項1に記載の量子
細線構造を提供するものである。
【0009】また、前記平坦部は、同一平面上に位置
し、かつ隣接する平坦部の間には湾曲部を有することを
特徴とする請求項1に記載の量子細線構造を提供する。
また、幅が全て50nm以下である複数の平坦部を有す
る電子の閉じ込めを行うような周期的凹凸構造を形成す
る工程と、前記周期的凹凸構造上に厚さが20nmより
小さい第1層と、該第1層の上下に位置し、該第1層よ
り禁制帯幅の大きい第2層、及び第3層とからなる積層
構造を形成する工程を含むことを特徴とする量子細線構
造の作製方法を提供する。
【0010】
【0011】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を詳細に説明す
る。図1は本発明の1実施例による量子細線構造を細線
方向に直行する面から観察した断面構造図を示す。ま
ず、GaAs基板100上にAlGaAsバッファ層1
01を厚さ1μmだけ成長させる。次に、このAlGa
Asバッファ層101表面に電子ビームリソグラフィ技
術とエッチング技術を用いて高さ15nm,幅20n
m,周期70nmの複数メサストライプ状(グレーティ
ング状)の凹凸102を形成する。引き続き、MOCV
D法によりAlGaAs下部バリア層103を厚さ10
0nm,GaAs量子細線層104を厚さ6nm,Al
GaAs上部バリア層105を1μm,連続的に成長さ
せる。
【0012】このようにして作製されたウェハーでは周
期的凹凸構造102に対応した形状にそって量子細線層
104が成長されている。この素子での量子細線層10
4の厚さは6nmであり、約20nmより十分薄くなっ
ているため、電子波の裾は量子細線層104から十分に
染み出した状態になっている。(このような状態を実現
するためには量子細線層の厚さは10nm未満が望まし
い。)このような状況下での電子波は半導体レーザでの
活性層に閉じ込められた光波と同様に扱える。すなわ
ち、電子に対するポテンシアル分布は光波における等価
屈折率分布のアナロジーとして理解することが可能とな
る。
【0013】本実施例での量子細線層104の形状は図
示したように約20nmの幅の平坦部分106とその間
に存在する屈曲部分107からなっている。量子細線層
104の厚さは約20nmより小さいために、電子は層
厚方向にはAlGaAsバリア層103,105とGa
As量子細線層104の禁制帯幅の差により閉じ込めら
れている。また、図の横方向には量子細線層104の湾
曲部107により平坦部106に電子は閉じ込められ
る。これは、電子波のモードが急峻な湾曲部107には
追随できず直線的にバリア層103,105に染み出
し、禁制帯幅の大きいバリア層103,105の影響を
より強く受けるためである。このように、湾曲部107
で電子波がバリア層103,105により大きく染み出
すためには、湾曲部107周辺の量子細線層104のデ
ィメンションが十分に小さい必要がある。このため、本
発明を適用する場合の量子細線層104の厚さはド・ブ
ロイ波長より十分に薄い(10nm以下)ことが必要で
あり、かつ湾曲部107の曲率半径が50nm以下であ
ることが望ましい。本実施例では量子細線層104
が6nm,湾曲部107の曲率半径が約30nmとな
っている。
【0014】このようにして作製された量子細線(平坦
部106に相当)に閉じ込められた電子の感じるポテン
シャルは、量子細線層104及びバリア層103,10
5を構成する材料、量子細線層104の厚さと、平坦部
106の幅により決定される。これらのパラメータは結
晶成長と微細加工の両プロセスにおいて制御性・再現性
よくコントロールすることが可能であり、面内均一性に
ついてもプロセス条件の最適化により十分実用的なレベ
ルまで向上させることができる。従って、本発明により
作製された量子細線構造では設計通りのエネルギーレベ
ルを有する電子を制御性・再現性・面内均一性よく得る
ことができた。
【0015】図2に第2の実施例における量子細線構造
の断面図を示す。この例では、本発明による量子細線構
造を半導体レーザ素子の活性層として適用した場合を提
示している。構成としては、n−GaAs基板200と
1.5μm厚のn−AlGaAsクラッド層201,7
0nm厚の下部AlGaAs−GRIN層203,7n
m厚のGaAs量子細線層204,70nm厚の上部A
lGaAsGRIN(Graded Index)層2
05,1.5nm厚のp−AlGaAsクラッド層20
6,0.7μm厚のp−コンタクト層207からなって
おり、n−AlGaAsクラッド層201表面は鋸波状
の周期的凹凸構造が加工・形成されている。この凹凸構
造の周期は60nm,深さは30nmであり、加工に際
しては電子ビームリソグラフィー技術と塩酸系の溶液を
用いたエッチング技術を適用した。GRIN層203,
205はクラッド層201,206から量子細線層20
4にかけてAl0・7Ga0・3AsからAl0・3Ga0・7As
までの組成を連続的に変化させた。また、この場合の結
晶成長方法としては凹凸構造202を忠実に量子細線層
204に反映させるためにガスソースMBE法を適用し
た。
【0016】前実施例と同様に、量子細線層204の厚
さは電子波のド・ブロイ波長より十分に薄く、且つ量子
細線層204の湾曲部の曲率半径は約20nmとなって
いる。このため、電子波208は量子細線層204の平
坦部分に閉じ込められることとなる。
【0017】第2の実施例においても量子細線構造の特
性を決定するパラメータは量子細線層204とGRIN
層203,205の材料、及び量子細線層204の平坦
部の幅(この場合は周期凹凸構造が結晶面方位で規定さ
れる形状を取るため周期の約0.7倍となり、周期自体
がパラメータとなる)の3つである。これらのパラメー
タは結晶成長における湾曲部の層厚や形状に比べて容易
に制御できるため、作製された量子細線構造の特性も設
計通りのものを得ることができる。従って、量子細線内
に閉じ込められた電子のエネルギー準位の制御性・再現
性も良好であった。
【0018】上述のように本発明を適用することによ
り、制御性・再現性の高い、生産性に富んだ量子細線構
造を実現することが可能となった。次に、本発明を適用
し平坦な面上に量子細線を配列させた場合について説明
を加える。図3にその一例である第3の実施例の断面構
造図を示す。
【0019】周期凹凸構造302を有するウエハー30
1上に結晶成長された両バリア層303,305及び厚
さ7nmの量子細線層304から構成されている。ま
た、周期凹凸構造302は70nm間隔で高さ20n
m,底辺20nmの三角柱状のストライプから成ってお
り、量子細線層304自身も同様の形状を呈している。
すなわち、量子細線層304の平坦部306の幅は50
nm,湾曲部の曲率半径は15nmであり、電子波が平
坦部306に閉じ込まる条件(第1の実施例中のアンダ
ーライン部参照)を満たしていることとなる。このよう
に、本実施例においても平坦な面上に量子細線306が
配列した構造を実現できた。
【0020】このような量子細線構造は図4に示す第4
の実施例のように、複数の周期的溝構造上に同様に作製
された量子細線層でも実現することが可能である。第3
及び第4の実施例構造においても電子の挙動を決定する
パラメータは微細加工された周期構造における平坦部の
幅と湾曲部に対応する凹凸構造のサイズ・形状,及びそ
の上に結晶成長させる材料の組成である。これらのパラ
メータは前2つの実施例と同様、比較的制御し易く、設
計通りの量子細線構造を作製することが可能となった。
【0021】ここまでに説明した量子細線構造では電子
波が閉じ込められる部分は完全に平坦であったが、量子
細線を構成する上ではまったく平坦である必要はない。
例えば、図5に示す第5の実施例のように曲率の小さい
部分501と曲率の大きい部分502が交互に存在する
形態でも同様の効果が現れる。ただし、曲率の大きい部
分502に対する条件は上述の場合と同様であるが、曲
率の小さな部分501(この部分に電子が閉じ込められ
る)は電子波の横モードが変形可能な程度の曲率に留め
ておく必要があり、具体的には電子波のド・ブロイ波長
より十分大きな曲率半径を有する必要がある。すなわ
ち、量子細線部501の曲率半径は200nm以上であ
り、かつ、この部分の幅が50nm以下であることが必
要である。
【0022】本発明は上記実施例に捕われるものではな
く、以下のような場合にも適用が可能であり、同様の効
果が期待できる。
【0023】 量子細線構造を構成する材料がGaA
s/AlGaAs以外の場合(InGaAsP/InP
系,InGaAs/AlGaAs/GaAs歪系,In
GaAlP/GaAs系など) 量子細線を構成する半導体層の形状が異なる場合
(平坦部の幅や湾曲部の曲率などが異なる場合や、各層
の層厚が前述の条件を満たす範囲内で異なる場合) 結晶成長の方法が実施例と異なる場合
【0024】
【発明の効果】上述の実施例から分かるように、本発明
を適用することにより制御性・再現性・面内均一性よく
量子細線構造を作製することが可能となり、設計通りの
量子細線構造が実現できるようになった。この量子細線
構造を各種デバイスに適用することにより、現在の素子
の特性を飛躍的に改善できる半導体レーザ素子や電子走
行素子を実現することが可能となると期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例による断面構造図であ
る。
【図2】本発明の第2の実施例による断面構造図であ
る。
【図3】本発明の第3の実施例による断面構造図であ
る。
【図4】本発明の第4の実施例による断面構造図であ
る。
【図5】本発明の第5の実施例による断面構造図であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 瀧口 治久 奈良市青山七丁目98番地 (56)参考文献 特開 平3−173187(JP,A) 特開 平2−237110(JP,A) 特開 昭62−144385(JP,A) 特開 平2−101785(JP,A)

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 厚さが20nmより小さい第1層と、該
    第1層の上下に位置し、該第1層より禁制帯幅の大きい
    第2層、及び第3層と、からなり、 前記第1層は、その断面において、複数の平坦部により
    電子の閉じ込めを行うような周期的凹凸構造を有してお
    り、前記平坦部の幅が全て50nm以下であることを特
    徴とする量子細線構造。
  2. 【請求項2】 前記周期的凹凸構造の斜面部に前記平坦
    部を有することを特徴とした請求項1に記載の量子細線
    構造。
  3. 【請求項3】 前記平坦部は、同一平面上に位置し、か
    つ隣接する平坦部の間には湾曲部を有することを特徴と
    する請求項1に記載の量子細線構造。
  4. 【請求項4】 幅が全て50nm以下である複数の平坦
    部を有する電子の閉じ込めを行うような周期的凹凸構造
    を形成する工程と、 前記周期的凹凸構造上に厚さが20nmより小さい第
    層と、該第1層の上下に位置し、該第1層より禁制帯幅
    の大きい第2層、及び第3層とからなる積層構造を形成
    する工程を含むことを特徴とする量子細線構造の作製方
    法。
JP6432291A 1991-03-28 1991-03-28 量子細線構造及びその作製方法 Expired - Fee Related JP2744711B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6432291A JP2744711B2 (ja) 1991-03-28 1991-03-28 量子細線構造及びその作製方法
DE69216453T DE69216453T2 (de) 1991-03-28 1992-03-27 Quanten-Faden-Struktur und Methode zu deren Herstellung
EP92302706A EP0506453B1 (en) 1991-03-28 1992-03-27 A quantum wire structure and a method for producing the same
US08/249,051 US5654557A (en) 1991-03-28 1994-05-25 Quantum wire structure and a method for producing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6432291A JP2744711B2 (ja) 1991-03-28 1991-03-28 量子細線構造及びその作製方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04299880A JPH04299880A (ja) 1992-10-23
JP2744711B2 true JP2744711B2 (ja) 1998-04-28

Family

ID=13254889

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6432291A Expired - Fee Related JP2744711B2 (ja) 1991-03-28 1991-03-28 量子細線構造及びその作製方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5654557A (ja)
EP (1) EP0506453B1 (ja)
JP (1) JP2744711B2 (ja)
DE (1) DE69216453T2 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1065145A (ja) * 1996-08-22 1998-03-06 Hitachi Ltd 電導性原子サイズ細線および原子サイズスイッチ
US7658772B2 (en) * 1997-09-08 2010-02-09 Borealis Technical Limited Process for making electrode pairs
US6281514B1 (en) * 1998-02-09 2001-08-28 Borealis Technical Limited Method for increasing of tunneling through a potential barrier
US7651875B2 (en) * 1998-06-08 2010-01-26 Borealis Technical Limited Catalysts
US7074498B2 (en) * 2002-03-22 2006-07-11 Borealis Technical Limited Influence of surface geometry on metal properties
US6680214B1 (en) 1998-06-08 2004-01-20 Borealis Technical Limited Artificial band gap
US8574663B2 (en) * 2002-03-22 2013-11-05 Borealis Technical Limited Surface pairs
EP1667705A1 (en) * 2003-10-03 2006-06-14 Allergan, Inc. Compositions and methods comprising prostaglandin-related compounds and trefoil factor family peptides for the treatment of glaucoma with reduced hyperemia
GB0415426D0 (en) * 2004-07-09 2004-08-11 Borealis Tech Ltd Thermionic vacuum diode device with adjustable electrodes
US20060028685A1 (en) * 2004-08-04 2006-02-09 Nicole Proulx Method for allowing users to specify multiple quality settings on mixed printouts
GB0501413D0 (en) * 2005-01-24 2005-03-02 Tavkhelidze Avto Method for modification of built in potential of diodes
GB0515635D0 (en) * 2005-07-29 2005-09-07 Harbron Stuart Transistor
GB0518132D0 (en) * 2005-09-06 2005-10-12 Cox Isaiah W Cooling device using direct deposition of diode heat pump
US7427786B1 (en) 2006-01-24 2008-09-23 Borealis Technical Limited Diode device utilizing bellows
US8227885B2 (en) 2006-07-05 2012-07-24 Borealis Technical Limited Selective light absorbing semiconductor surface
GB0617879D0 (en) * 2006-09-12 2006-10-18 Borealis Tech Ltd Transistor
GB0617934D0 (en) * 2006-09-12 2006-10-18 Borealis Tech Ltd Transistor
GB0618268D0 (en) * 2006-09-18 2006-10-25 Tavkhelidze Avto High efficiency solar cell with selective light absorbing surface
GB0700071D0 (en) * 2007-01-04 2007-02-07 Borealis Tech Ltd Multijunction solar cell
US8816192B1 (en) 2007-02-09 2014-08-26 Borealis Technical Limited Thin film solar cell
US8933526B2 (en) * 2009-07-15 2015-01-13 First Solar, Inc. Nanostructured functional coatings and devices
GB2480265B (en) * 2010-05-10 2013-10-02 Toshiba Res Europ Ltd A semiconductor device and a method of fabricating a semiconductor device
US11496072B2 (en) * 2020-05-06 2022-11-08 Koucheng Wu Device and method for work function reduction and thermionic energy conversion

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1315865C (en) * 1988-02-09 1993-04-06 Elyahou Kapon Semiconductor super lattice heterostructure fabrication methods, structures and devices
US4974036A (en) * 1988-02-09 1990-11-27 Bell Communications Research, Inc. Semiconductor superlattice heterostructures on nonplanar substrates
JPH02237110A (ja) * 1989-03-10 1990-09-19 Mitsubishi Electric Corp 量子細線の製造方法
JPH03173187A (ja) * 1989-12-01 1991-07-26 Canon Inc 2次元量子井戸構造または3次元量子井戸構造の作製方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE69216453T2 (de) 1997-06-26
EP0506453B1 (en) 1997-01-08
US5654557A (en) 1997-08-05
EP0506453A1 (en) 1992-09-30
DE69216453D1 (de) 1997-02-20
JPH04299880A (ja) 1992-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2744711B2 (ja) 量子細線構造及びその作製方法
US7941024B2 (en) Buried heterostructure device having integrated waveguide grating fabricated by single step MOCVD
JPH07221392A (ja) 量子細線の作製方法、量子細線、量子細線レーザ、及び量子細線レーザの作製方法、回折格子の作製方法、及び分布帰還型半導体レーザ
JP3710524B2 (ja) リッジ導波路型分布帰還半導体レーザ装置及びその製造方法
JP3191784B2 (ja) 回折格子の製造方法及び半導体レーザの製造方法
EP0614254B1 (en) Gain-coupling distributed feedback semiconductor laser and method of producing the same
JP2018078290A (ja) 半導体レーザ素子
US6205165B1 (en) Gain-coupling type distributed feedback semiconductor laser and method for producing the same
JP2894186B2 (ja) 光半導体装置
JPH02162717A (ja) 量子細線の形成方法
JPH01248585A (ja) 分布帰還形半導体レーザ
JP3382309B2 (ja) 半導体装置
JP2630273B2 (ja) 分布帰還型半導体レーザ
JPH1140885A (ja) 半導体レーザ装置
JP3082444B2 (ja) 半導体レーザの製造方法
JPS63152194A (ja) 半導体レ−ザ
JPH02122682A (ja) 超格子素子の製造方法
JPH06151881A (ja) 量子効果デバイスの製造方法
JPH03156989A (ja) 半導体レーザとその製造方法
JP3082494B2 (ja) 光導波構造の形成方法
JPH0745907A (ja) 分布帰還型半導体レーザ
JPS63240090A (ja) 半導体超格子
JPH02201991A (ja) 回折格子および半導体レーザ
JP3353802B2 (ja) 半導体レーザ
JP2004221106A (ja) 半導体レーザおよび半導体レーザの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080206

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees