JP2741719B2 - 粒状物の圧縮試験装置 - Google Patents
粒状物の圧縮試験装置Info
- Publication number
- JP2741719B2 JP2741719B2 JP2022597A JP2259790A JP2741719B2 JP 2741719 B2 JP2741719 B2 JP 2741719B2 JP 2022597 A JP2022597 A JP 2022597A JP 2259790 A JP2259790 A JP 2259790A JP 2741719 B2 JP2741719 B2 JP 2741719B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- sample
- displacement
- particle size
- compression
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、粒径が数μｍの粒状物の圧縮度を測定する
に適した粒状物の圧縮試験装置に関する。
に適した粒状物の圧縮試験装置に関する。
［従来技術］ 従来、粒径が数10μｍから100μｍ前後の粒状物の圧
縮強度を測定するには、顕微鏡とマイクロメータヘッド
を用いて拡大した粒状物の粒径を測定するとともに、負
荷装置により加えられる負荷を負荷検出器で測定して、
圧縮荷重が急激に減少する点の単位面積当りの荷重を求
める試験装置が使用されていた。
縮強度を測定するには、顕微鏡とマイクロメータヘッド
を用いて拡大した粒状物の粒径を測定するとともに、負
荷装置により加えられる負荷を負荷検出器で測定して、
圧縮荷重が急激に減少する点の単位面積当りの荷重を求
める試験装置が使用されていた。
［発明が解決しようとする課題］ 上記した従来の圧縮試験装置による試験では、荷重の
急速減少点から圧縮強度を求めるだけで、圧縮変位はま
ったく考慮していなかったので、粒径が異なる粒子間の
強度比較を正確に行なうことができないという問題点が
あった。
急速減少点から圧縮強度を求めるだけで、圧縮変位はま
ったく考慮していなかったので、粒径が異なる粒子間の
強度比較を正確に行なうことができないという問題点が
あった。
［課題を解決するための手段］ 本発明は上記課題を解決させるために、次のように構
成を採用した。
成を採用した。
すなわち、本発明にかかる粒状物の圧縮試験装置は、
テレビカメラとこのテレビカメラによって採取される画
像を表示する表示装置を有して光学的に粒状物試料の粒
径を測定する粒径測定手段と、試料に試験荷重を加える
ことができる可変形負荷手段と、該負荷手段によって試
料表面に押し付けられる加圧平面圧子と、該加圧平面圧
子により圧縮される試料の変位量を検出する変位量検出
手段と、前記負荷手段を制御するとともに前記変位量検
出手段から変位検出信号が入力され、圧縮荷重−圧縮変
位の特性曲線を検出する制御手段とを備えてなることを
特徴としている。
テレビカメラとこのテレビカメラによって採取される画
像を表示する表示装置を有して光学的に粒状物試料の粒
径を測定する粒径測定手段と、試料に試験荷重を加える
ことができる可変形負荷手段と、該負荷手段によって試
料表面に押し付けられる加圧平面圧子と、該加圧平面圧
子により圧縮される試料の変位量を検出する変位量検出
手段と、前記負荷手段を制御するとともに前記変位量検
出手段から変位検出信号が入力され、圧縮荷重−圧縮変
位の特性曲線を検出する制御手段とを備えてなることを
特徴としている。
［作用］ 可変形負荷手段により圧縮荷重が設定荷重値まで連続
的に負荷されるとともに、変位量検出手段によって各階
段における変位が検出されるので、圧縮荷重−圧縮変位
の関係をリアルタイムで連続して測定でき、応力単位で
の圧縮強度を求めることもできる。セラミックス等のぜ
い性材の粒状物の場合には、圧縮強度急増点を検出する
ことにより、崩壊強度を求めることができる等、任意の
粒状物の強度評価が可能となる。
的に負荷されるとともに、変位量検出手段によって各階
段における変位が検出されるので、圧縮荷重−圧縮変位
の関係をリアルタイムで連続して測定でき、応力単位で
の圧縮強度を求めることもできる。セラミックス等のぜ
い性材の粒状物の場合には、圧縮強度急増点を検出する
ことにより、崩壊強度を求めることができる等、任意の
粒状物の強度評価が可能となる。
［実施例］ 第１図は本発明の１実施例の構成を示す図で、この粒
状物の圧縮試験装置１は、枠体２内に光学的粒径測定装
置３と負荷装置４が設けられており、試料台６のステー
ジ７上に載置された粒状物試料８に対して粒径測定およ
び圧縮荷重の負荷が行なわれるようになっている。試料
台６は、ハンドル10により昇降可能な構造を有し、この
上にＸ−Ｙ方向、回転方向での移動が可能で、側長用の
マイクロメータヘッド7a,7bを有するステージ７が着脱
自在に取り付けられている。試料台６を操作して側長位
置および負荷位置である試験位置に試料を任意に移動さ
せることができる。
状物の圧縮試験装置１は、枠体２内に光学的粒径測定装
置３と負荷装置４が設けられており、試料台６のステー
ジ７上に載置された粒状物試料８に対して粒径測定およ
び圧縮荷重の負荷が行なわれるようになっている。試料
台６は、ハンドル10により昇降可能な構造を有し、この
上にＸ−Ｙ方向、回転方向での移動が可能で、側長用の
マイクロメータヘッド7a,7bを有するステージ７が着脱
自在に取り付けられている。試料台６を操作して側長位
置および負荷位置である試験位置に試料を任意に移動さ
せることができる。
光学的粒径測定装置３は、光源12によって照光され、
対物レンズ13により結像される試料８の光学的画像をテ
レビカメラ15によって採取し、試料画像を画像メモリ16
に記憶してCRT18に映し出すように構成されている。粒
径測定は、CRT18に映し出された画像に対して測定用カ
ーソル19を移動し、カーソル19で挟み込むことにより画
像処理によって自動的に行なわれる。カーソル19の移動
は、キーボード35からの指令操作によって行なわれる。
対物レンズ13により結像される試料８の光学的画像をテ
レビカメラ15によって採取し、試料画像を画像メモリ16
に記憶してCRT18に映し出すように構成されている。粒
径測定は、CRT18に映し出された画像に対して測定用カ
ーソル19を移動し、カーソル19で挟み込むことにより画
像処理によって自動的に行なわれる。カーソル19の移動
は、キーボード35からの指令操作によって行なわれる。
負荷装置４は、コイル部4aと永久磁石4bからなり、コ
イル部4aには指示棹21を介して第２図に示す形状の加圧
平面圧子20が取り付けられている。圧子20には略Ｌ字状
の変位検出バー23が取り付けられ、該変位検出バーの先
端部には、差動トランス式変位検出器25が設けられてい
る。
イル部4aには指示棹21を介して第２図に示す形状の加圧
平面圧子20が取り付けられている。圧子20には略Ｌ字状
の変位検出バー23が取り付けられ、該変位検出バーの先
端部には、差動トランス式変位検出器25が設けられてい
る。
負荷装置４のコイル部4aは負荷電流供給装置26も接続
されており、CPU30からの指令によって負荷電流供給装
置26から流す電流の向きと大きさを変え、圧子20を上
昇、下降させることができるとともに、圧子によって試
料に加える荷重の大きさを任意に変えることができる。
また、圧子20の移動量は変位検出器25によって検出さ
れ、変位検出信号は、A/D変換器27を介してCPU30に変位
情報として送られる。
されており、CPU30からの指令によって負荷電流供給装
置26から流す電流の向きと大きさを変え、圧子20を上
昇、下降させることができるとともに、圧子によって試
料に加える荷重の大きさを任意に変えることができる。
また、圧子20の移動量は変位検出器25によって検出さ
れ、変位検出信号は、A/D変換器27を介してCPU30に変位
情報として送られる。
圧子20によって試料に加えられる荷重は、供給する電
流量として把握されており、ある荷重下での圧子の変位
を連続して測定することができる。測定された圧縮荷重
と変位データはRAM31に記憶されるとともに、CPU30で演
算処理され、測定結果がデコーダ36に記録される。上記
CPU30は、前記負荷装置４を制御するとともに、変位量
検出手段である前記変位検出器25から変位検出信号が入
力され、圧縮荷重−圧縮変位の特性曲線を検出する制御
手段となっている。
流量として把握されており、ある荷重下での圧子の変位
を連続して測定することができる。測定された圧縮荷重
と変位データはRAM31に記憶されるとともに、CPU30で演
算処理され、測定結果がデコーダ36に記録される。上記
CPU30は、前記負荷装置４を制御するとともに、変位量
検出手段である前記変位検出器25から変位検出信号が入
力され、圧縮荷重−圧縮変位の特性曲線を検出する制御
手段となっている。
上記のように構成された実施例装置における圧縮試験
は次のようにして行なわれる。
は次のようにして行なわれる。
アルコール等の希釈液に混入した粒状物をステージ７
上に一滴滴下し、希釈液の乾燥を待つ。希釈液が乾燥す
れば試料台６を粒径測定位置側に回転し、試料台６を上
下させながらCRT18による最適観察位置を決定する。ス
テージをＸ−Ｙ方向に移動させてどの粒子を試験するか
選択する。この時の画像データは画像メモリに記憶され
る。CRT18に映し出された試料に対してキーボード35を
操作し、カーソル19を移動させ、試料画像をカーソルで
挟み込む。CPU30はカーソル19の移動指令に応じてカー
ソル間の距離を画像データから演算算出する。カーソル
を試料に対し少なくとも長径、短径の２方向から挟み込
んで粒径を数回測定し、その幾何平均径を求めて演算結
果をRAM31に記憶する。
上に一滴滴下し、希釈液の乾燥を待つ。希釈液が乾燥す
れば試料台６を粒径測定位置側に回転し、試料台６を上
下させながらCRT18による最適観察位置を決定する。ス
テージをＸ−Ｙ方向に移動させてどの粒子を試験するか
選択する。この時の画像データは画像メモリに記憶され
る。CRT18に映し出された試料に対してキーボード35を
操作し、カーソル19を移動させ、試料画像をカーソルで
挟み込む。CPU30はカーソル19の移動指令に応じてカー
ソル間の距離を画像データから演算算出する。カーソル
を試料に対し少なくとも長径、短径の２方向から挟み込
んで粒径を数回測定し、その幾何平均径を求めて演算結
果をRAM31に記憶する。
試料の幾何平均径が求まれば、試料台６を負荷側へ回
転移動させ、試料８を圧子20の真下に位置させる。負荷
装置４に通電し圧子20を降下させ、圧子20が試料８に接
触した時点を検出し、この時の圧子20の移動点を零点と
し、それから圧子20が移動した距離を試料８の変形量と
して検出しながら、試料に圧縮荷重を加えていく。圧子
20が試料に接触した時点の検出は、例えば変位検出器25
の出力信号を微分して検出する。試料に加えられる圧縮
荷重および試料の圧縮変位はデータに基づいてCPU30で
演算処理され、測定結果として得られた圧縮荷重−圧縮
変位の関係が特性曲線としてデコーダ36に記録される。
このようにして得られた特性曲線の例を第３図に示す。
試料がセラミックス等のぜい性材料で圧縮荷重の増加に
よって崩壊した場合は、第４図に示すような特性曲線と
なり、圧縮変位が急激に増加した時点での圧縮荷重が崩
壊荷重として記録されることを示す。
転移動させ、試料８を圧子20の真下に位置させる。負荷
装置４に通電し圧子20を降下させ、圧子20が試料８に接
触した時点を検出し、この時の圧子20の移動点を零点と
し、それから圧子20が移動した距離を試料８の変形量と
して検出しながら、試料に圧縮荷重を加えていく。圧子
20が試料に接触した時点の検出は、例えば変位検出器25
の出力信号を微分して検出する。試料に加えられる圧縮
荷重および試料の圧縮変位はデータに基づいてCPU30で
演算処理され、測定結果として得られた圧縮荷重−圧縮
変位の関係が特性曲線としてデコーダ36に記録される。
このようにして得られた特性曲線の例を第３図に示す。
試料がセラミックス等のぜい性材料で圧縮荷重の増加に
よって崩壊した場合は、第４図に示すような特性曲線と
なり、圧縮変位が急激に増加した時点での圧縮荷重が崩
壊荷重として記録されることを示す。
本発明の実施例は、上記のように構成されているの
で、CRTに映し出される試料画像に対してカーソルを移
動させることにより、自動的に試料の粒径が測定され、
非接触での粒径測定が可能となり、材質の異なる場合
や、粒径が大きく異なる試料間でも高精度に粒径測定を
行なうことができる。また、圧縮荷重と圧縮変位が同時
に連続して検出できるので、種々の粒状物の機械的強度
の評価を行なうことができる。試料がぜい性材料の場合
には、崩壊荷重も検出することができる。
で、CRTに映し出される試料画像に対してカーソルを移
動させることにより、自動的に試料の粒径が測定され、
非接触での粒径測定が可能となり、材質の異なる場合
や、粒径が大きく異なる試料間でも高精度に粒径測定を
行なうことができる。また、圧縮荷重と圧縮変位が同時
に連続して検出できるので、種々の粒状物の機械的強度
の評価を行なうことができる。試料がぜい性材料の場合
には、崩壊荷重も検出することができる。
［発明の効果］ 上記説明から明らかなように、本発明にかかる粒状物
の圧縮試験装置によれば、光学的粒径測定手段により非
接触で粒状物の粒径測定が高精度に行なえるとともに、
圧縮荷重下での圧縮変位量をリアルタイムで連続して測
定でき、圧縮荷重−圧縮変位特性から任意の粒状物の機
械的強度を評価することができるようになった。
の圧縮試験装置によれば、光学的粒径測定手段により非
接触で粒状物の粒径測定が高精度に行なえるとともに、
圧縮荷重下での圧縮変位量をリアルタイムで連続して測
定でき、圧縮荷重−圧縮変位特性から任意の粒状物の機
械的強度を評価することができるようになった。
第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図、第２
図は、圧子の形状を示す拡大図、第３図および第４図
は、圧縮試験によって得られる圧縮荷重−圧縮変位の特
性を示す図である。 ３……光学的粒径測長装置、４……負荷装置、15……テ
レビカメラ、18……CRT、20……加圧平面圧子、25……
変位検出器
図は、圧子の形状を示す拡大図、第３図および第４図
は、圧縮試験によって得られる圧縮荷重−圧縮変位の特
性を示す図である。 ３……光学的粒径測長装置、４……負荷装置、15……テ
レビカメラ、18……CRT、20……加圧平面圧子、25……
変位検出器
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−125340（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−12349（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−231137（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−298024（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−59001（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−2137（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】テレビカメラとこのテレビカメラによって
採取される画像を表示する表示装置を有して光学的に粒
状物試料の粒径を測定する粒径測定手段と、試料に試験
荷重を加えることができる可変形負荷手段と、該負荷手
段によって試料表面に押し付けられる加圧平面圧子と、
該加圧平面圧子により圧縮される試料の変位量を検出す
る変位量検出手段と、前記負荷手段を制御するとともに
前記変位量検出手段から変位検出信号が入力され、圧縮
荷重−圧縮変位の特性曲線を検出する制御手段とを備え
てなることを特徴とする粒状物の圧縮試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022597A JP2741719B2 (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 粒状物の圧縮試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022597A JP2741719B2 (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 粒状物の圧縮試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03226645A JPH03226645A (ja) | 1991-10-07 |
| JP2741719B2 true JP2741719B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=12087251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022597A Expired - Fee Related JP2741719B2 (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 粒状物の圧縮試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2741719B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0555044U (ja) * | 1991-12-24 | 1993-07-23 | 日本電気株式会社 | 硬度計 |
| CN1143104C (zh) * | 1994-08-23 | 2004-03-24 | 株式会社东芝 | 超低温用蓄冷材料及采用该蓄冷材料的超低温用蓄冷器 |
| CN102297803A (zh) * | 2010-06-22 | 2011-12-28 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 材料测试系统及方法 |
| KR102009909B1 (ko) | 2015-10-07 | 2019-08-21 | 주식회사 엘지화학 | 고흡수성 수지 단일 입자의 파쇄강도 측정 방법 |
| JP7236657B2 (ja) * | 2018-04-27 | 2023-03-10 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 非水電解質二次電池 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57125340A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-04 | Toshiba Corp | Method of and apparatus for squeezing test of pelletizing powder |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2022597A patent/JP2741719B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03226645A (ja) | 1991-10-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9366609B2 (en) | Hardness tester and method for hardness test | |
| JP2741719B2 (ja) | 粒状物の圧縮試験装置 | |
| CN102101110A (zh) | 磁体分选装置 | |
| US6370948B2 (en) | Mini-tension tester | |
| US7021155B2 (en) | Universal material testing method and device therefor | |
| US6668231B2 (en) | Sheet parameter measurement | |
| CN106644715B (zh) | 一种便携式划入测试系统 | |
| JP2004037424A (ja) | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 | |
| JP2743978B2 (ja) | 粒状物の圧縮試験方法 | |
| JP3028632B2 (ja) | 微細試料圧縮試験装置 | |
| JP2748946B2 (ja) | 繊維状物の圧縮試験方法 | |
| JPH0943127A (ja) | 粒状体の圧縮試験装置 | |
| JP2002357520A (ja) | 粘弾性測定装置 | |
| JPH0816641B2 (ja) | 微小圧縮試験機 | |
| WO2017221423A1 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用データ処理装置 | |
| JPH0489548A (ja) | 微細試料圧縮試験装置 | |
| CN113533047A (zh) | 一种获取岩石动态拉应力-应变曲线的方法 | |
| JPH0622201Y2 (ja) | 硬度計 | |
| JPS61168235A (ja) | ボンデイング強度試験装置 | |
| JP3372335B2 (ja) | 情報ディスクの形状測定方法及び装置 | |
| JPH11241981A (ja) | 粒子測定装置およびその測定方法 | |
| JPH0750668Y2 (ja) | 指針型メータの調整検査装置 | |
| JPH0456253B2 (ja) | ||
| JPS5820881Y2 (ja) | 寸法測定装置 | |
| JPH0526612A (ja) | 走査型トンネル顕微鏡 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080130 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090130 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |