JPH0489548A - 微細試料圧縮試験装置 - Google Patents

微細試料圧縮試験装置

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JPH0489548A
JPH0489548A JP20426390A JP20426390A JPH0489548A JP H0489548 A JPH0489548 A JP H0489548A JP 20426390 A JP20426390 A JP 20426390A JP 20426390 A JP20426390 A JP 20426390A JP H0489548 A JPH0489548 A JP H0489548A
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JP
Japan
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indenter
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displacement
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Pending
Application number
JP20426390A
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English (en)
Inventor
Yasutoku Konaka
泰徳 湖中
Yasunori Yamamoto
山本 靖則
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野コ 本発明は、微細試料の寸法測定と圧縮強度の測定を所定
の温度下で測定することかできる微細試料圧縮試験装置
に関する。
[従来の技術] 寸法か数μmから数十μmの微細試料の圧縮強度の測定
は、従来常温下で行なわれており、高温で測定すること
がてきる装置はなかった。
[発明が解決しようとする課題] 例えば、トナー等の粒子を従来装置で試験する場合でも
、上記したように常温状態で試験が行なわれていたが、
これらの微細試料は高温下で使用されるものであり、常
温で測定された圧縮強度は、実際の使用時の強度とは異
なり実用性に欠けるという問題点があった。
そこで本発明は、試料となる粒状物等の使用環境に応じ
た温度下で圧縮強度の測定を行なうことかてきる微細試
料圧縮試験装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記課梗を解決するために、次のような構成を
採用した。
すなわち、本発明にかかる微細試料圧縮試験装置は、試
料台に載置された微細試料に試験荷重を加えることがで
きる可変形負荷手段と、該負荷手段によって試料表面に
押し付けられる加圧平面圧子と、該加圧平面圧子により
圧縮される試料の変位置を検出する変位検出手段と、圧
縮荷重と圧縮変位を記録する記録手段と、試料を載置す
る試料台側に設けられ試料を設定温度まで加熱する加熱
手段とを具備することを特徴とする。
[作用] 微細試料の圧縮荷重と圧縮変位を測定して圧縮強度を求
める際に、加熱手段により微細試料を加熱し、設定温度
に達した状態で圧縮試験を行なうことができるので、ト
ナー等の微細試料の圧縮強度を実際の使用温度条件下に
応じて測定することができる。
[実施例] 第1図は本発明の実施例である微細試料圧縮試験装置の
構成を示す図で、この微細試料圧縮試験装置1は、枠体
2内に光学的寸法測定装置3と負荷装置4が設けられて
おり、試料台6のステージ7に設置された下部加圧圧子
9上に載置された微細試料8に対して寸法測定および圧
縮荷重の負荷が行なわれるようになっている。強度計算
のために、粒径を何らかの方法で知ることが必要である
が、粒径測定は別の装置を用いて行なってもよい。試料
台6は、ハンドル12により昇降可能な構造を有し、こ
の上にX−Y方向、回転方向での移動が可能で、測長用
のマイクロメータヘッド7a、7bを有するステージ7
が着脱自在に取り付けられている。また、下部加圧圧子
9内には、ヒータ10および温度検出器11が埋設され
ている。ヒータ10には、後述のように微細試料8を加
熱する際に加熱電流供給装置28から加熱電流が供給さ
れる。温度検出器11からの温度検出信号はA/D変換
器29を介してCPU30に送られる。CPU30は、
加熱電流供給装[2Bへ制御信号を出力し、試料を設定
温度まで加熱するように制御する。このように構成され
た試料台6を操作して測長位置および負荷位置である試
験位置に試料を任意に移動させることができる。
光学的寸法測定装置3は、光源14によって照光され、
対物レンズ15により結像される試料8の光学的画像を
テレビカメラ16によって採取し、試料画像を画像メモ
リ17に記憶してCRTlBに映し出すように構成され
ている。寸法測定は、CRTlBに映し出された画像に
対して測定用カーソル19を移動し、カーソル19で挟
み込むことにより画像処理Cよって自動的に行なわれる
。カーソル19の移動は、キーボード35からの指令操
作によって行なわれる。
負荷装置4は、コイル部4aと永久磁石4bからなり、
コイル部4aには支持棹21を介して第2図に示す形状
の加圧平面圧子20が取り付けられている。圧子20に
は略り字状の変位検出バー23が取り付けられ、該変位
検出バーの先端部には、差動トランス式変位検出器25
が設けられている。
負荷装置4のコイル部4aは負荷電流供給装置26に接
続されており、CPU30からの指令によって負荷電流
供給装置26から流す電流の向きと大きさを変え、圧子
20を上昇、下部させることができるとともに、圧子に
よって試料に加える荷重の大きさを任意に変えることが
できる。また、圧子20の移動量は変位検出器25によ
って検出され、変位検出信号は、A/D変換器27を介
シてCPU30に変位情報として送られる。
圧子20によって試料に加えられる荷重は、供給する電
流量として把握されており、ある荷重下での圧子の変位
を連続して測定することができる。測定された圧縮荷重
と変位データはRAM31に記憶されるとともに、CP
U30で演算処理され、測定結果がレコーダ36に記録
される。
上記のように構成された実施例装置によって粒状物を圧
縮試験する場合は次のようにして行なわれる。
アルコール等の希釈液に混入した粒状物をステージ7上
に設置された下部加圧圧子9上に一滴滴下し、希釈液の
乾燥を持つ。希釈液が乾燥すれば試料台6を粒径測定位
置側に移動し、試料台6を上下させながらCRTlBに
よる最適観察位置を決定する。ステージをX−Y方向に
移動させてどの粒子を試験するか選択する。この時の画
像データは画像メモリに記憶される。CRT18に映し
出された試料に対してキーボード35を操作し、カーソ
ル19を移動させ、試料画像をカーソルで挟み込む。C
PU30はカーソル19の移動指令に応じてカーソル間
の距離を画像データから演算算出する。カーソルを試料
に対し少なくとも長径、短径の2方向から挟み込んで、
寸法を例えば0.1mmの読取り単位で種々の方向から
数回測定し、その幾何平均径dを求めて演算結果をRA
M31に記憶する。
試料の幾何平均径が求まれば、試料台6を負荷側へスラ
イドさせ、試料8を圧子20の真下に位置させる。下部
加圧圧子9内のヒータ10に通電し、試料8を設定温度
にまで加熱する。試料8が設定温度に達すれば、負荷装
置4に通電し圧子20を降下させ、圧子20が試料8に
接触した時点を検出し、この時の圧子20の移動点を零
点とし、それから圧子20が移動した距離を試料8の変
形量として検出しながら、試料に圧縮荷重を加えていく
。圧子20が試料に接触した時点の検出は、例えば変位
検出器25の出力信号を微分して検出する。試料に加え
られる圧縮荷重および試料の圧縮変位データがCPU3
0で演算処理され、測定結果として得られた圧縮荷重−
圧縮変位の関係がある設定温度下の特性曲線として連続
的にレコーダ36に記録される。
CPU30は変位検出器25によって検出される圧縮変
位データを読み込みながら、圧縮荷重を検出し、当該圧
縮荷重と寸法の値から設定温度下における試料の圧縮強
度を算出する。
CPU30における上記データ処理は、ROM32に書
き込まれた処理プログラムによって行なわれる。
上記のように本発明の実施例装置によれば、従来常温て
しか測定されなかった1μm〜数十μmオーダーの微細
試料の圧縮強度を測定することが可能となり、実際に使
用される温度下ての微細試料の機械的評価か可能となる
なお、上記実施例では粒状物を圧縮試験する場合につい
て説明したか、必ずしも粒状物に限ることなく、繊維状
試料等の微細試料について光学的に寸法測定を行ない試
料の圧縮強度を算出することも可能である。また、上記
実施例では光学的測長手段により試料寸法を測定したが
、必ずしもこれに限ることなく、別の装置を用いて測定
したり、キーホード等から手動て設定することもてきる
[発明の効果] 上記説明から明らかなように、本発明にかかる微細試料
圧縮試験装置によれば、トナー等の微細試料の圧縮強度
が、実際に使用される温度条件に応して測定できるよう
になフだ。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例装置の構成を示す図、第2図は
発明の要部の構成を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料台に載置された微細試料に試験荷重を加える
    ことができる可変形負荷手段と、該負荷手段によって試
    料表面に押し付けられる加圧平面圧子と、該加圧平面圧
    子により圧縮される試料の変位置を検出する変位検出手
    段と、圧縮荷重と圧縮変位を記録する記録手段と、試料
    を載置する試料台側に設けられ試料を設定温度まで加熱
    する加熱手段とを具備することを特徴とする微細試料圧
    縮試験装置。
JP20426390A 1990-07-31 1990-07-31 微細試料圧縮試験装置 Pending JPH0489548A (ja)

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JP20426390A JPH0489548A (ja) 1990-07-31 1990-07-31 微細試料圧縮試験装置

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JP20426390A JPH0489548A (ja) 1990-07-31 1990-07-31 微細試料圧縮試験装置

Publications (1)

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JPH0489548A true JPH0489548A (ja) 1992-03-23

Family

ID=16487569

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JP20426390A Pending JPH0489548A (ja) 1990-07-31 1990-07-31 微細試料圧縮試験装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57125340A (en) * 1981-01-28 1982-08-04 Toshiba Corp Method of and apparatus for squeezing test of pelletizing powder

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57125340A (en) * 1981-01-28 1982-08-04 Toshiba Corp Method of and apparatus for squeezing test of pelletizing powder

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