JP2731699B2 - 電解コンデンサのエージング処理回路 - Google Patents
電解コンデンサのエージング処理回路Info
- Publication number
- JP2731699B2 JP2731699B2 JP5158892A JP15889293A JP2731699B2 JP 2731699 B2 JP2731699 B2 JP 2731699B2 JP 5158892 A JP5158892 A JP 5158892A JP 15889293 A JP15889293 A JP 15889293A JP 2731699 B2 JP2731699 B2 JP 2731699B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aging
- electrolytic capacitor
- processing circuit
- contact
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電解コンデンサのエージ
ング処理回路に関し、特に電解コンデンサをエージング
処理する際に、当該コンデンサに流す励磁電流を最適な
状態に制御できる電解コンデンサのエージング処理回路
に関する。
ング処理回路に関し、特に電解コンデンサをエージング
処理する際に、当該コンデンサに流す励磁電流を最適な
状態に制御できる電解コンデンサのエージング処理回路
に関する。
【０００２】
【従来の技術】薄形電解コンデンサは、周知のとおり、
例えばアルミニューム薄を陽極とし、その陽極箔と陰極
箔との間に電解物質を含浸させ、両電極箔に直流電圧を
印加し電解物質を電解酸化させて両電極箔の間に極めて
薄い酸化皮膜からなる誘電体を生成させることにより製
造される素子である。
例えばアルミニューム薄を陽極とし、その陽極箔と陰極
箔との間に電解物質を含浸させ、両電極箔に直流電圧を
印加し電解物質を電解酸化させて両電極箔の間に極めて
薄い酸化皮膜からなる誘電体を生成させることにより製
造される素子である。
【０００３】したがって、上記電解コンデンサを製造す
る工程においては、当該コンデンサの検査前に、当該コ
ンデンサに電圧を印加して前記コンデンサを化成化する
エージング処理を必要としている。このため、従前よ
り、エージング処理を行うエージング処理回路が提案さ
れている。
る工程においては、当該コンデンサの検査前に、当該コ
ンデンサに電圧を印加して前記コンデンサを化成化する
エージング処理を必要としている。このため、従前よ
り、エージング処理を行うエージング処理回路が提案さ
れている。
【０００４】従来のエージング処理回路としては、大別
して、定電流回路を用いるもの、充電抵抗のみを用いる
ものがあった。
して、定電流回路を用いるもの、充電抵抗のみを用いる
ものがあった。
【０００５】この定電流回路を用いるエージング処理回
路は、当該コンデンサと定電流回路とを直列接続し、当
該コンデンサに一定電流を流すようにしたものであり、
充電電流を流すことにより当該コンデンサの化成化がで
きることになる。
路は、当該コンデンサと定電流回路とを直列接続し、当
該コンデンサに一定電流を流すようにしたものであり、
充電電流を流すことにより当該コンデンサの化成化がで
きることになる。
【０００６】また、充電抵抗のみを用いるエージング処
理回路は、当該コンデンサと充電抵抗とを直列接続し、
この直列回路に直流電圧を印加するようにしたものであ
り、充電電流を流すことにより当該コンデンサの化成化
ができることになる。
理回路は、当該コンデンサと充電抵抗とを直列接続し、
この直列回路に直流電圧を印加するようにしたものであ
り、充電電流を流すことにより当該コンデンサの化成化
ができることになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記定電流、または、
充電抵抗を介したエージング方法では、多数個のコンデ
ンサの中でエージング工程中で、箔欠陥により熱破壊に
至るコンデンサがエージング中破壊し、付近の良品コン
デンサを機械的に破壊する欠点があつた。
充電抵抗を介したエージング方法では、多数個のコンデ
ンサの中でエージング工程中で、箔欠陥により熱破壊に
至るコンデンサがエージング中破壊し、付近の良品コン
デンサを機械的に破壊する欠点があつた。
【０００８】本発明はこのように、熱破壊に至るコンデ
ンサの破壊前にこれを検知し、周囲への影響を防止する
ことを目的とする。
ンサの破壊前にこれを検知し、周囲への影響を防止する
ことを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の電解コンデンサのエージング処理回路は、
複数個の電解コンデンサを並列に接続してエージング
電圧を各々の電解コンデンサに与え、エージング処理を
行う電解コンデンサのエージング処理回路において、前
記各々の電解コンデンサの一端にプロテクタリレーの常
閉接点とリレーコイルとを直列に接続し、該プロテクタ
リレーは自己保持電源回路に接続された開接点を更に備
え、前記電解コンデンサに所定の電流以上の電流が流れ
たときに、前記リレーコイルの作動によって前記常閉リ
レースイッチが前記開接点側に開放され、該開放状態が
を保持されることを特徴とする。
に、本発明の電解コンデンサのエージング処理回路は、
複数個の電解コンデンサを並列に接続してエージング
電圧を各々の電解コンデンサに与え、エージング処理を
行う電解コンデンサのエージング処理回路において、前
記各々の電解コンデンサの一端にプロテクタリレーの常
閉接点とリレーコイルとを直列に接続し、該プロテクタ
リレーは自己保持電源回路に接続された開接点を更に備
え、前記電解コンデンサに所定の電流以上の電流が流れ
たときに、前記リレーコイルの作動によって前記常閉リ
レースイッチが前記開接点側に開放され、該開放状態が
を保持されることを特徴とする。
【００１０】
【作用】上述したような構成とし本た発明では、エージ
ング電源に対して、電解コンデンサ、スイッチ手段、開
放する手段からなる直列回路を接続し、当該電解コンデ
ンサに所定の一定電流以上の電流が流れると、開放する
手段が動作してスイッチ手段を開放することにより当該
電解コンデンサに流れる電流を切り、かつスイッチ手段
が開放されると保持手段が働くことによりスイッチ手段
を開放したままにする。これにより、電解コンデンサに
は、以後、励磁電流が流れなくなる。
ング電源に対して、電解コンデンサ、スイッチ手段、開
放する手段からなる直列回路を接続し、当該電解コンデ
ンサに所定の一定電流以上の電流が流れると、開放する
手段が動作してスイッチ手段を開放することにより当該
電解コンデンサに流れる電流を切り、かつスイッチ手段
が開放されると保持手段が働くことによりスイッチ手段
を開放したままにする。これにより、電解コンデンサに
は、以後、励磁電流が流れなくなる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図に基づいて説明
する。
する。
【００１２】図１は、本発明に係る電解コンデンサのエ
ージング処理回路の一実施例を示す要部回路構成図であ
る。
ージング処理回路の一実施例を示す要部回路構成図であ
る。
【００１３】図１において、エージング処理回路１は、
大別して、エージング用治具３と、エージング電源５
と、保持用電源７とを備えている。
大別して、エージング用治具３と、エージング電源５
と、保持用電源７とを備えている。
【００１４】前記エージング用治具３は、複数の電解コ
ンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxn（ｎは任意の整数）を着
脱できるようになっており、複数個の電解コンデンサＣ
x1，Ｃx2，…，Ｃxnを並列に装着接続し、エージング電
源５からエージング電圧を各々の電解コンデンサＣx1，
Ｃx2，…，Ｃxnに与え、エージング処理を行うことがで
きるようになっている。前記エージング用治具３におい
て、各充電抵抗Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの一端は共通にされ
てエージング電源５の陽極に接続されている。
ンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxn（ｎは任意の整数）を着
脱できるようになっており、複数個の電解コンデンサＣ
x1，Ｃx2，…，Ｃxnを並列に装着接続し、エージング電
源５からエージング電圧を各々の電解コンデンサＣx1，
Ｃx2，…，Ｃxnに与え、エージング処理を行うことがで
きるようになっている。前記エージング用治具３におい
て、各充電抵抗Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの一端は共通にされ
てエージング電源５の陽極に接続されている。
【００１５】また、各充電抵抗Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの他
端は、それぞれ電解コンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxnの
一端に接続されている。各電解コンデンサＣx1，Ｃx2，
…，Ｃxnの他端は、プロテクタリレーＣＲ1，ＣＲ2，
…，ＣＲnの各常時閉接点ｃｒb1，ｃｒb2，…，ｃｒbn
に接続されている。また、各プロテクタリレーＣＲ1，
ＣＲ2，…，ＣＲnの共通接点ｃｒc1，ｃｒc2，…，ｃｒ
cnは、各プロテクタリレーＣＲ1，ＣＲ2，…，ＣＲnの
励磁コイル（開放する手段）Ｌ1，Ｌ2，…，Ｌnの一端
にそれぞれ接続されている。各励磁コイル（開放する手
段）Ｌ1，Ｌ2，…，Ｌnの他端は共通接続されて、エー
ジング電源５及び保持用電源７の陰極にそれぞれ接続さ
れている。また、保持用電源７の陽極は、ダイオードＤ
のアノードに接続されている。ダイオードＤのカソード
は、プロテクタリレーＣＲ1，ＣＲ2，…，ＣＲnの各常
時開接点ｃｒa1，ｃｒa2，…，ｃｒanにそれぞれ接続さ
れている。前記保持用電源７、ダイオードＤ、接点ｃｒ
a1，ｃｒa2，…，ｃｒan、及びそれらの接続により保持
手段が構成されている。
端は、それぞれ電解コンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxnの
一端に接続されている。各電解コンデンサＣx1，Ｃx2，
…，Ｃxnの他端は、プロテクタリレーＣＲ1，ＣＲ2，
…，ＣＲnの各常時閉接点ｃｒb1，ｃｒb2，…，ｃｒbn
に接続されている。また、各プロテクタリレーＣＲ1，
ＣＲ2，…，ＣＲnの共通接点ｃｒc1，ｃｒc2，…，ｃｒ
cnは、各プロテクタリレーＣＲ1，ＣＲ2，…，ＣＲnの
励磁コイル（開放する手段）Ｌ1，Ｌ2，…，Ｌnの一端
にそれぞれ接続されている。各励磁コイル（開放する手
段）Ｌ1，Ｌ2，…，Ｌnの他端は共通接続されて、エー
ジング電源５及び保持用電源７の陰極にそれぞれ接続さ
れている。また、保持用電源７の陽極は、ダイオードＤ
のアノードに接続されている。ダイオードＤのカソード
は、プロテクタリレーＣＲ1，ＣＲ2，…，ＣＲnの各常
時開接点ｃｒa1，ｃｒa2，…，ｃｒanにそれぞれ接続さ
れている。前記保持用電源７、ダイオードＤ、接点ｃｒ
a1，ｃｒa2，…，ｃｒan、及びそれらの接続により保持
手段が構成されている。
【００１６】なお、エージング電源５は、例えば１００
〔Ｖ〕〜５５０〔Ｖ〕までユーザが任意に設定できるよ
うに構成される。また、各プロテクタリレーＣＲ1，Ｃ
Ｒ2，…，ＣＲnの励磁コイルＬ1，Ｌ2，…，Ｌnは、例
えば２０〔ｍＡ〕の電流が流れると励磁されて、共通接
点ｃｒc1，ｃｒc2，…，ｃｒcnを接点ｃｒa1，ｃｒa2，
…，ｃｒan側に接続する。
〔Ｖ〕〜５５０〔Ｖ〕までユーザが任意に設定できるよ
うに構成される。また、各プロテクタリレーＣＲ1，Ｃ
Ｒ2，…，ＣＲnの励磁コイルＬ1，Ｌ2，…，Ｌnは、例
えば２０〔ｍＡ〕の電流が流れると励磁されて、共通接
点ｃｒc1，ｃｒc2，…，ｃｒcnを接点ｃｒa1，ｃｒa2，
…，ｃｒan側に接続する。
【００１７】このように構成された実施例の特徴ある動
作を説明する。
作を説明する。
【００１８】まず、エージング用治具３の所定の接続端
子に、複数個の電解コンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxnを
装着接続する。ついで、エージング電源５から所定のエ
ージング電圧（電圧値は、ユーザが選定する）を各々の
電解コンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxnに与えて、エージ
ング処理を行う。
子に、複数個の電解コンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxnを
装着接続する。ついで、エージング電源５から所定のエ
ージング電圧（電圧値は、ユーザが選定する）を各々の
電解コンデンサＣx1，Ｃx2，…，Ｃxnに与えて、エージ
ング処理を行う。
【００１９】正常にエージング処理が終了しているとき
には、エージング処理を終了した電解コンデンサを接続
端子から外し、処理の終了していない電解コンデンサを
接続端子に装着してエージング処理を行い、この作業を
繰り返えす。
には、エージング処理を終了した電解コンデンサを接続
端子から外し、処理の終了していない電解コンデンサを
接続端子に装着してエージング処理を行い、この作業を
繰り返えす。
【００２０】ところで、電解コンデンサの品質が劣悪で
ある場合には電圧・電流特性が悪くなる場合があり、例
えば電解コンデンサＣx2の品質が悪く、その電圧・電流
特性が悪い場合には、電解コンデンサＣx2で疑似ショー
トが発生する。すると、エージング電源５の正極→充電
抵抗Ｒ2→電解コンデンサＣx2→プロテクタリレーＣＲ2
の接点ｃｒb2→共通接点ｃｒc2→励磁コイルＬ2 →エー
ジング電源５の陰極という回路を通して例えば２０〔ｍ
Ａ〕以上の電流が流れることになる。これによって、プ
ロテクタリレーＣＲ2の励磁コイルＬ2が励磁されること
になり、共通接点ｃｒc2は、接点ｃｒb2から離れて接点
ｃｒa2に接続されることになる。この結果、保持用電源
７の陽極→ダイオードＤ→接点ｃｒa2→共通接点ｃｒc2
→励磁コイルＬ2 →保持用電源７の陰極という閉回路が
形成され、その閉回路に保持電流が流れることにより励
磁コイルＬ2 は励磁状態を保つ。したがって、接点ｃｒ
b2と共通接点ｃｒc2（スイッチ手段）が一度開放状態に
なると、その開放状態が保持されることになる。これに
より、電解コンデンサＣx2には電流が流れない。
ある場合には電圧・電流特性が悪くなる場合があり、例
えば電解コンデンサＣx2の品質が悪く、その電圧・電流
特性が悪い場合には、電解コンデンサＣx2で疑似ショー
トが発生する。すると、エージング電源５の正極→充電
抵抗Ｒ2→電解コンデンサＣx2→プロテクタリレーＣＲ2
の接点ｃｒb2→共通接点ｃｒc2→励磁コイルＬ2 →エー
ジング電源５の陰極という回路を通して例えば２０〔ｍ
Ａ〕以上の電流が流れることになる。これによって、プ
ロテクタリレーＣＲ2の励磁コイルＬ2が励磁されること
になり、共通接点ｃｒc2は、接点ｃｒb2から離れて接点
ｃｒa2に接続されることになる。この結果、保持用電源
７の陽極→ダイオードＤ→接点ｃｒa2→共通接点ｃｒc2
→励磁コイルＬ2 →保持用電源７の陰極という閉回路が
形成され、その閉回路に保持電流が流れることにより励
磁コイルＬ2 は励磁状態を保つ。したがって、接点ｃｒ
b2と共通接点ｃｒc2（スイッチ手段）が一度開放状態に
なると、その開放状態が保持されることになる。これに
より、電解コンデンサＣx2には電流が流れない。
【００２１】上述したように本実施例によれば、電解コ
ンデンサＣ、接点ｃｒb と共通接点ｃｒc からなるスイ
ッチ手段、励磁コイルＬからなる開放手段を直列接続し
てエージング電源５の陽極・陰極間に接続し、当該電解
コンデンサＣに一定電流が流れると、励磁コイルＬが励
磁されてスイッチ手段（常時閉接点ｃｒb と共通接点ｃ
ｒc ）を開放する。これにより当該電解コンデンサＣに
流れる電流が遮断される。また、スイッチ手段（接点ｃ
ｒb と共通接点ｃｒc ）が開放されることにより、接点
ｃｒa（常時開接点） ・共通接点ｃｒc ・保持用電源７
からなる保持手段が作動し、これにより前記スイッチ手
段の開放状態が維持されて、電解コンデンサＣには、以
後電流が流れなくなる。
ンデンサＣ、接点ｃｒb と共通接点ｃｒc からなるスイ
ッチ手段、励磁コイルＬからなる開放手段を直列接続し
てエージング電源５の陽極・陰極間に接続し、当該電解
コンデンサＣに一定電流が流れると、励磁コイルＬが励
磁されてスイッチ手段（常時閉接点ｃｒb と共通接点ｃ
ｒc ）を開放する。これにより当該電解コンデンサＣに
流れる電流が遮断される。また、スイッチ手段（接点ｃ
ｒb と共通接点ｃｒc ）が開放されることにより、接点
ｃｒa（常時開接点） ・共通接点ｃｒc ・保持用電源７
からなる保持手段が作動し、これにより前記スイッチ手
段の開放状態が維持されて、電解コンデンサＣには、以
後電流が流れなくなる。
【００２２】この結果、本実施例によれば、一定の値の
電流が流れると以後電解コンデンサに電流が流れないた
め、過大電流が流れることによる熱破損を防止できると
共に、励磁電流を制限する充電抵抗を各電解コンデンサ
毎に選定する必要がなくなり一定抵抗値の充電抵抗を使
用することができる。
電流が流れると以後電解コンデンサに電流が流れないた
め、過大電流が流れることによる熱破損を防止できると
共に、励磁電流を制限する充電抵抗を各電解コンデンサ
毎に選定する必要がなくなり一定抵抗値の充電抵抗を使
用することができる。
【００２３】また、本実施例では、完全なショート状態
を未然に防止できるため、従来のようにショートによる
スパーク及び破裂を防げることにより、他の良品コンデ
ンサへの悪影響を防止することができる。
を未然に防止できるため、従来のようにショートによる
スパーク及び破裂を防げることにより、他の良品コンデ
ンサへの悪影響を防止することができる。
【００２４】さらに、本実施例では、共通接点ｃｒc が
接点ｃｒa に接続していることを表示できるようにすれ
ば、疑似ショート状態になった電解コンデンサを検出で
き、不良品等を容易に判別することができる。
接点ｃｒa に接続していることを表示できるようにすれ
ば、疑似ショート状態になった電解コンデンサを検出で
き、不良品等を容易に判別することができる。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、所
定の一定電流以上の励磁電流が流れると以後電解コンデ
ンサに電流が流れないように構成した。
定の一定電流以上の励磁電流が流れると以後電解コンデ
ンサに電流が流れないように構成した。
【００２６】したがって、(1) 過大電流が流れることに
よる熱破損を防止でき、(2) 充電抵抗を各電解コンデン
サ毎に選定する必要がなくなり一定抵抗値の充電抵抗を
使用することができ、(3) 完全なショート状態を未然に
防止できる等の優れた効果を有する。
よる熱破損を防止でき、(2) 充電抵抗を各電解コンデン
サ毎に選定する必要がなくなり一定抵抗値の充電抵抗を
使用することができ、(3) 完全なショート状態を未然に
防止できる等の優れた効果を有する。
【図１】本発明に係る電解コンデンサのエージング処理
回路の一実施例を示す要部回路構成図である。
回路の一実施例を示す要部回路構成図である。
１ エージング処理回路 ３ エージング用治具 ５ エージング電源 ７ 保持用電源 Ｃx1，Ｃx2，…，Ｃxn 電解コンデンサ Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒn 充電抵抗 ＣＲ1，ＣＲ2，…，ＣＲn プロテクタリレー ｃｒa1，ｃｒa2，…，ｃｒan 常時開接点 ｃｒb1，ｃｒb2，…，ｃｒbn 常時閉接点 ｃｒc1，ｃｒc2，…，ｃｒcn 共通接点 Ｌ1，Ｌ2，…，Ｌn 励磁コイル（開放する手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−71616（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−134420（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−134738（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】 複数個の電解コンデンサを並列に接続し
てエージング電圧を各々の電解コンデンサに与え、エー
ジング処理を行う電解コンデンサのエージング処理回路
において、 前記各々の電解コンデンサの一端にプロテクタリレーの
常閉接点とリレーコイルとを直列に接続し、 該プロテクタリレーは自己保持電源回路に接続された開
接点を更に備え、 前記電解コンデンサに所定の電流以上の電流が流れたと
きに、前記リレーコイルの作動によって前記常閉リレー
スイッチが前記開接点側に開放され、該開放状態が保持
されることを特徴とする電解コンデンサのエージング処
理回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5158892A JP2731699B2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 電解コンデンサのエージング処理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5158892A JP2731699B2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 電解コンデンサのエージング処理回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0722299A JPH0722299A (ja) | 1995-01-24 |
| JP2731699B2 true JP2731699B2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=15681664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5158892A Expired - Lifetime JP2731699B2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 電解コンデンサのエージング処理回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2731699B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56134738U (ja) * | 1980-03-12 | 1981-10-13 | ||
| JPS58134420A (ja) * | 1982-02-05 | 1983-08-10 | 信英通信工業株式会社 | 電解コンデンサのエ−ジング装置 |
| JPS6171616A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-12 | 日立エーアイシー株式会社 | コンデンサのエ−ジング装置 |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP5158892A patent/JP2731699B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0722299A (ja) | 1995-01-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS60117518A (ja) | リレ−装置 | |
| JP2731699B2 (ja) | 電解コンデンサのエージング処理回路 | |
| JPH1097327A (ja) | スイッチング電源回路 | |
| JPS60121641A (ja) | コンタクタの直流作動用回路装置 | |
| JP3487487B2 (ja) | 電源切替回路 | |
| JPH0411716A (ja) | 電解コンデンサのエージング方法 | |
| JPS6264256A (ja) | リレ−駆動回路 | |
| JP2674824B2 (ja) | 自動開閉器の即断回路 | |
| JP4391603B2 (ja) | 電解コンデンサのエージング装置 | |
| JP3162105B2 (ja) | 無極性電解コンデンサのエージング方法 | |
| JPH10206477A (ja) | 耐久試験システム及び耐久試験方法 | |
| JP2571014B2 (ja) | 固定２電圧直流電源装置 | |
| JPH0345190Y2 (ja) | ||
| JPH10261551A (ja) | 電解コンデンサのエージング装置 | |
| JP2741661B2 (ja) | サージ吸収器 | |
| JPH04354114A (ja) | 有極性コンデンサ回路 | |
| JPH118168A (ja) | 電解コンデンサのエージング装置 | |
| JPH07182948A (ja) | リレー駆動装置 | |
| KR100247708B1 (ko) | 알루미늄전해콘덴서의개별에이징용지그장치 | |
| JPS5923090B2 (ja) | タツプ切替え式自動電圧調整器 | |
| JP2956650B2 (ja) | 無極コンデンサ | |
| JPH09219924A (ja) | 漏電遮断器の遠隔テスト装置 | |
| JP3357714B2 (ja) | 配電線用区分開閉器 | |
| JP2000331583A (ja) | リレースイッチ回路 | |
| SU1638743A1 (ru) | Устройство дл включени электромагнитного реле |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081219 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091219 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091219 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101219 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111219 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111219 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121219 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121219 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131219 Year of fee payment: 16 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |