JPS58134420A - 電解コンデンサのエ−ジング装置 - Google Patents
電解コンデンサのエ−ジング装置Info
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- JPS58134420A JPS58134420A JP57017230A JP1723082A JPS58134420A JP S58134420 A JPS58134420 A JP S58134420A JP 57017230 A JP57017230 A JP 57017230A JP 1723082 A JP1723082 A JP 1723082A JP S58134420 A JPS58134420 A JP S58134420A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電解コンデンサのエージング装置に係り、特に
外観上判別不能なバンク品をエージング中に取り除くた
めの電解コンデンサのエージング装置に関する。
外観上判別不能なバンク品をエージング中に取り除くた
めの電解コンデンサのエージング装置に関する。
一般に、電解コンデンサは第１図に示すようにアルミニ
ウム又はタンタル等による陽極材１と、電解液又は酸化
マンガン（Ｍ）等の半導体層による陰極材２と、これら
の陽極及び陰極材間に形成される酸化アルミニウム又は
酸化タンタル等の酸化皮膜３から成り、且つ上記陰極材
２には陰極導出体４が接続されている。そして、陽極材
の形状には箔状、ペレット状、棒状、板状のものがあり
、又陽極及び陰極材の組み合せとしてはアルミ箔、電解
液の組とタンタル・ペレット、ＭｎＯ，の組が最も多く
用いられる。
ウム又はタンタル等による陽極材１と、電解液又は酸化
マンガン（Ｍ）等の半導体層による陰極材２と、これら
の陽極及び陰極材間に形成される酸化アルミニウム又は
酸化タンタル等の酸化皮膜３から成り、且つ上記陰極材
２には陰極導出体４が接続されている。そして、陽極材
の形状には箔状、ペレット状、棒状、板状のものがあり
、又陽極及び陰極材の組み合せとしてはアルミ箔、電解
液の組とタンタル・ペレット、ＭｎＯ，の組が最も多く
用いられる。
従来、電解コンデンサのエージングは第２図に示すよう
にコンデンサＣの夫々に又はコンデンサＣの数個に１個
の抵抗Ｒを通じて直流電源し１ ５より直流電圧を印加し、：、？行われる。このエージ
ング操作は電解コンデンサ素子製造中に生じる酸化皮膜
の一部破損を修復するためになされている。電解コンデ
ンサの酸化皮膜破損量には差があるので、直接コンデン
サに直流電圧を印加すると皮膜破損量の大きなコンデン
サには大きな電流が、破損量の小さなコンデンサには小
さな電流が流れることになる。又、第２図に示すように
抵抗Ｒを介して直流電圧を印加すると破損量の大きなコ
ンデンサには抵抗Ｒによる電圧降下のためにコンデンサ
に印加される電圧が小さくなる。換言すれば、抵抗Ｒが
ある場合、破損量の大きなコンデンサはその端子電圧が
ゆっくり上昇し、破損量の小さなコンデンサは速く上昇
することになる。
にコンデンサＣの夫々に又はコンデンサＣの数個に１個
の抵抗Ｒを通じて直流電源し１ ５より直流電圧を印加し、：、？行われる。このエージ
ング操作は電解コンデンサ素子製造中に生じる酸化皮膜
の一部破損を修復するためになされている。電解コンデ
ンサの酸化皮膜破損量には差があるので、直接コンデン
サに直流電圧を印加すると皮膜破損量の大きなコンデン
サには大きな電流が、破損量の小さなコンデンサには小
さな電流が流れることになる。又、第２図に示すように
抵抗Ｒを介して直流電圧を印加すると破損量の大きなコ
ンデンサには抵抗Ｒによる電圧降下のためにコンデンサ
に印加される電圧が小さくなる。換言すれば、抵抗Ｒが
ある場合、破損量の大きなコンデンサはその端子電圧が
ゆっくり上昇し、破損量の小さなコンデンサは速く上昇
することになる。
酸化皮膜破損部はアルミ等の金属が露出しているので誘
電体及び絶縁物の働きがない。この場合、アルミ又はタ
ンタルをプラス、電解液等をマイナスにして直流電圧を
印加してエージングするとこの一損部分に酸化物層が形
成され、１１１１ 誘電体及び絶−物の働きをするようになる・従って、電
流を流してゆくにつれてその破損度合いに応じてコンデ
ンサの端子電圧は上昇する。
電体及び絶縁物の働きがない。この場合、アルミ又はタ
ンタルをプラス、電解液等をマイナスにして直流電圧を
印加してエージングするとこの一損部分に酸化物層が形
成され、１１１１ 誘電体及び絶−物の働きをするようになる・従って、電
流を流してゆくにつれてその破損度合いに応じてコンデ
ンサの端子電圧は上昇する。
第３図は定電流エージングの場合におけるコンデンサ端
子電圧の上昇を示す特性図である。
子電圧の上昇を示す特性図である。
第３図において、縦軸は横軸（時間）に対するコンデン
サ端子電圧を示し、コンデンサはある時間経過後に直流
電源より印加されるエージング電圧Ａに達９、この電圧
において所定時間保持することによってエージングがな
される。
サ端子電圧を示し、コンデンサはある時間経過後に直流
電源より印加されるエージング電圧Ａに達９、この電圧
において所定時間保持することによってエージングがな
される。
今、コンデンサに一定電流を流す場合には、小破損品で
は実ｌ１ｉ１６に示すようにその端子電圧が上昇し、大
破損品では破＠７に示すように端子電圧が上昇する。そ
して、大破損品の場合は小破損品に比べその端子電圧の
上昇速度が遅いことがわかる。
は実ｌ１ｉ１６に示すようにその端子電圧が上昇し、大
破損品では破＠７に示すように端子電圧が上昇する。そ
して、大破損品の場合は小破損品に比べその端子電圧の
上昇速度が遅いことがわかる。
第２図で示した電解コンデンサＣに抵抗Ｒを入れること
にトつてエージングを行う方法では、破損量にばらつき
があっても破損量大のものが抵抗Ｒによる電圧降下で自
動的に印加電圧の軽減がされるため、コンデンサの発熱
をある程度防止できるという効果があり、この方法は慣
用技術となっている。
にトつてエージングを行う方法では、破損量にばらつき
があっても破損量大のものが抵抗Ｒによる電圧降下で自
動的に印加電圧の軽減がされるため、コンデンサの発熱
をある程度防止できるという効果があり、この方法は慣
用技術となっている。
第４図は従来回路の一例を示す回路図である。
第４図において、印加される直流電圧を１００Ｖ。
抵抗ＲをｌｋΩ、電流を１０ｍＡとすると、コンデンサ
の端子電圧は１０００Ｘ０．０１＝１０（Ｖ）の軽減、
即ち９０Ｖとなる。又、電流が１ｍＡのときはコンデン
サの端子電圧は９９Ｖとなる。このようにして抵抗を用
いることによってコンデンサにかかる端子電圧を軽減し
破損量大のものの発熱ひいてはコンデンサの内部破壊を
防ぐ一方策となる。
の端子電圧は１０００Ｘ０．０１＝１０（Ｖ）の軽減、
即ち９０Ｖとなる。又、電流が１ｍＡのときはコンデン
サの端子電圧は９９Ｖとなる。このようにして抵抗を用
いることによってコンデンサにかかる端子電圧を軽減し
破損量大のものの発熱ひいてはコンデンサの内部破壊を
防ぐ一方策となる。
しかし、このような抵抗を入れる方法によっても破損量
の大きなコンデンサについては発熱し或は導電性微粒子
等に基因してエージング中にバンク等の内部破壊が起こ
る。バンク等の内部破壊がコンデンサの外観に大きな変
化となって現われればよいが、実際には内部破壊が起っ
ていることが外観上判別不能のものがある。更に、悪い
ことに小さなバンクは一時的に修復されてしまい、後に
なってショートを起したりすることである。酸化皮膜が
破損したものの内エージング中にバンクしなかったもの
は後の検査工程で漏れ電流不良として全て取り除くこと
ができる。しかし、問題なのは外観に異常のないパンク
品で且つ一時的に修復したものである。
の大きなコンデンサについては発熱し或は導電性微粒子
等に基因してエージング中にバンク等の内部破壊が起こ
る。バンク等の内部破壊がコンデンサの外観に大きな変
化となって現われればよいが、実際には内部破壊が起っ
ていることが外観上判別不能のものがある。更に、悪い
ことに小さなバンクは一時的に修復されてしまい、後に
なってショートを起したりすることである。酸化皮膜が
破損したものの内エージング中にバンクしなかったもの
は後の検査工程で漏れ電流不良として全て取り除くこと
ができる。しかし、問題なのは外観に異常のないパンク
品で且つ一時的に修復したものである。
そこで、このような外観に異常りないものも含めて内部
破壊したコンデンサをエージング中に取り除くためには
第５図に示すように夫々のコンデンサＣにブレーカ８を
直列に入れることが考えられる（＃！５図では、直流電
源５にコンデンサＣ及び抵抗Ｒとブレーカ８とを直列接
続したものを複数個設けてエージング装置を構成してい
る）。
破壊したコンデンサをエージング中に取り除くためには
第５図に示すように夫々のコンデンサＣにブレーカ８を
直列に入れることが考えられる（＃！５図では、直流電
源５にコンデンサＣ及び抵抗Ｒとブレーカ８とを直列接
続したものを複数個設けてエージング装置を構成してい
る）。
しかしながら、第５図の回路に用いられるブレーカとし
てはコスト的な面から考えて５０ｍＡ以上で作動するも
のしか得られないのが現状であり、しかもコンデンサＣ
がパンクすると瞬間的に抵抗Ｒにおける端子間の電圧降
下が増大するが、その値はせいぜい数１０■である。例
えば、３００Ｖのエージング電圧の場竺でも、仮に抵抗
Ｒにおける電圧降下が５０Ｖと設定すると、１にΩの抵
抗を使用した場合、電流は５０ｎｍＡとなるのでやつと
ブレーカが作動することになる。ところが、抵抗Ｒは■
Ωよりももつと大きな値、ｌΩとか１０にΩとかが前述
した皮膜破損量の大小のばらつきからしても必要である
。すると、５０Ｖ程度の抵抗端子間の電圧降下では夫々
１−９５ｍＡｌ、か得られず、実際にはブレーカが作動
しないという問題がある。
てはコスト的な面から考えて５０ｍＡ以上で作動するも
のしか得られないのが現状であり、しかもコンデンサＣ
がパンクすると瞬間的に抵抗Ｒにおける端子間の電圧降
下が増大するが、その値はせいぜい数１０■である。例
えば、３００Ｖのエージング電圧の場竺でも、仮に抵抗
Ｒにおける電圧降下が５０Ｖと設定すると、１にΩの抵
抗を使用した場合、電流は５０ｎｍＡとなるのでやつと
ブレーカが作動することになる。ところが、抵抗Ｒは■
Ωよりももつと大きな値、ｌΩとか１０にΩとかが前述
した皮膜破損量の大小のばらつきからしても必要である
。すると、５０Ｖ程度の抵抗端子間の電圧降下では夫々
１−９５ｍＡｌ、か得られず、実際にはブレーカが作動
しないという問題がある。
本発明は上述した点に鑑みてなされたものであり、複数
の電解コンデンサの夫々に１個の抵抗を通じて又はこの
電解コンデンサの数個毎に１個の抵抗を通じて直流ｉよ
り直流電圧を印加することによってエージングを行う電
解コンデンサのエージング装置において、前記電解コン
デンサの夫々に直列にブレーカを挿入接続し、且つこの
電解コンデンサとブレーカの直列回路に、前記直流電圧
源にて前記電解コンデンサに印加される電圧と、、同等
もしくはそれより低い値に設定される直流′！圧を供給
する直流電圧の供′１ 給手段を設けることにより、電解コンデンサにバンク勢
の内部破壊が生じた場合、コンデンサ端子電圧が下がっ
て、上記直流電圧の供給手段からブレーカへ作動に必要
な電流を流すことができ、外観上判別不可能なようなバ
ンク品を発見し且つ取り除くことができるようにした電
解コンデンサのエージング装置を提供することを目的と
している。
の電解コンデンサの夫々に１個の抵抗を通じて又はこの
電解コンデンサの数個毎に１個の抵抗を通じて直流ｉよ
り直流電圧を印加することによってエージングを行う電
解コンデンサのエージング装置において、前記電解コン
デンサの夫々に直列にブレーカを挿入接続し、且つこの
電解コンデンサとブレーカの直列回路に、前記直流電圧
源にて前記電解コンデンサに印加される電圧と、、同等
もしくはそれより低い値に設定される直流′！圧を供給
する直流電圧の供′１ 給手段を設けることにより、電解コンデンサにバンク勢
の内部破壊が生じた場合、コンデンサ端子電圧が下がっ
て、上記直流電圧の供給手段からブレーカへ作動に必要
な電流を流すことができ、外観上判別不可能なようなバ
ンク品を発見し且つ取り除くことができるようにした電
解コンデンサのエージング装置を提供することを目的と
している。
以下、図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
第６図は本発明に係る電解コンデンサのエージング装置
の第１実施例を示す回路図である。
の第１実施例を示す回路図である。
第６図において、第１直流電源５に少なくとも１つ以上
の電解コンデンサＣを抵抗Ｒを通して接続し、且つコン
デンサＣに直列にブレーカ８を挿入し、第１直流電源５
から電解コンデンサＣへ直流電圧を印加するように構成
する。更に、第２直流電源９を設け、この第２直流電源
９からダイオード１０を介して上記のコンデンサＣとブ
レーカ８の直列回−に夫々接続し、第２直流電源９の直
流電圧を前記第１直流電源にて前記電解コンデンサに印
加される電圧値よりもやや低い値に設定するようにして
いる。ここで、第１直流電源５の直流電圧と第２直流電
源９の直流電圧との差は、第１直流電源５による抵抗Ｒ
の電圧降下値よりもやや大きい値となるようにする。例
えば、第１電源電圧が３００■とし、抵抗Ｒによる電圧
降下が３〜１８Ｖのばらつきとなった場合、第２電源電
圧は２８０■に設定するのが良い。但し、この場合、抵
抗Ｒは５哨としている。ダイオードｌＯはコンデンサＣ
の端子電圧の方が第２電源電圧より幾分高めに調整しで
あるので第２直流電源９に逆方向電流を流さぬように入
れである。
の電解コンデンサＣを抵抗Ｒを通して接続し、且つコン
デンサＣに直列にブレーカ８を挿入し、第１直流電源５
から電解コンデンサＣへ直流電圧を印加するように構成
する。更に、第２直流電源９を設け、この第２直流電源
９からダイオード１０を介して上記のコンデンサＣとブ
レーカ８の直列回−に夫々接続し、第２直流電源９の直
流電圧を前記第１直流電源にて前記電解コンデンサに印
加される電圧値よりもやや低い値に設定するようにして
いる。ここで、第１直流電源５の直流電圧と第２直流電
源９の直流電圧との差は、第１直流電源５による抵抗Ｒ
の電圧降下値よりもやや大きい値となるようにする。例
えば、第１電源電圧が３００■とし、抵抗Ｒによる電圧
降下が３〜１８Ｖのばらつきとなった場合、第２電源電
圧は２８０■に設定するのが良い。但し、この場合、抵
抗Ｒは５哨としている。ダイオードｌＯはコンデンサＣ
の端子電圧の方が第２電源電圧より幾分高めに調整しで
あるので第２直流電源９に逆方向電流を流さぬように入
れである。
このような回路構成において、電解コンデンサＣにバン
クが起れば、第２直流電源９よりコンデンサ端子電圧が
下がるめで、第２直流電源９→ダイオード１０→ブレー
カ８→電解コンデンサＣ→第２直流電源９という回路に
電流が流れる。そして、ブレーカ８が作動する。第２直
流電源９は５０ｍＡ以上に流れるように調整しておく。
クが起れば、第２直流電源９よりコンデンサ端子電圧が
下がるめで、第２直流電源９→ダイオード１０→ブレー
カ８→電解コンデンサＣ→第２直流電源９という回路に
電流が流れる。そして、ブレーカ８が作動する。第２直
流電源９は５０ｍＡ以上に流れるように調整しておく。
この場合、ダイオード１０と電源のインピーダンスが回
路の主要な抵抗であるので、ブビーカ８が作動するに十
分な電流が小さな電源を用いた場合でも十分に得られる
。
路の主要な抵抗であるので、ブビーカ８が作動するに十
分な電流が小さな電源を用いた場合でも十分に得られる
。
−例として、抵抗Ｒを５０にΩとし、ブレーカ９に５９
ｍＡ作動のものを使用し、第１直流電源５として３６０
ｖを印加した場合で、定格電圧３００Ｖ、容量１０００
．ｇＦのコンデンサ１，０２０個について実験を行った
結果を説明する。この実験では、１時間後にコンデンサ
の端子電圧が３４８〜３５７■の範囲にばらついたので
、第２直流電源９を３４５■に設定した。この時、３個
のブレーカが作動し、これらのブレーカに接続された電
解コンデンサは調査の結果３個ともバンクしていた。残
りの全数につき調査した結果バンクしたものは皆無と判
明した。
ｍＡ作動のものを使用し、第１直流電源５として３６０
ｖを印加した場合で、定格電圧３００Ｖ、容量１０００
．ｇＦのコンデンサ１，０２０個について実験を行った
結果を説明する。この実験では、１時間後にコンデンサ
の端子電圧が３４８〜３５７■の範囲にばらついたので
、第２直流電源９を３４５■に設定した。この時、３個
のブレーカが作動し、これらのブレーカに接続された電
解コンデンサは調査の結果３個ともバンクしていた。残
りの全数につき調査した結果バンクしたものは皆無と判
明した。
ところで、ブレーカ８を作動するには瞬間的な電流で足
りるから第２直流電源９の代りにコンデンサを用いた回
路構成、、とじ、このコンデン・、１：。
りるから第２直流電源９の代りにコンデンサを用いた回
路構成、、とじ、このコンデン・、１：。
すに充電された電圧による放電電流によって作動させて
も良い。
も良い。
第７図は本発明の第２実施例を示す回路図である。
第７図は、第５図で示した回路のブレーカ８と電解コン
デンサＣによる直列回路の両端に夫々既にエージングを
済んだ完成した電解コンデンサｃＤ、ｔｃＤｔｇｃＤｓ
・・・を接続し、この電解コンデンサＣＤ！、ＣＤ！、
ＣＤｓ・・・に直流電源５から充電される電圧によって
、エージング用電解コンデンサＣのバンク等の内部破壊
時にブレーカ８を作動させる回路である。上記その電解
コンデンサＣＤＩｇＣＤＩ＊ＣＤ”・・・には、エージ
ングの最大電圧に耐えられる耐圧をもち、かつブレーカ
を作動させるのに十分な容量をもったコンデンサが使用
される。この回路は、夫々のエージングをすべき電解コ
ンデンサＣと同じ電圧が電解コンデンサＣＤ１ｅＣＤＩ
ｅＣＤｓ’・・に夫々印加されることになる。電解コン
デンサＣＤｉｐＣＤＩ＊ＣＤｓ・・・は、実ｉの結果、
約ｌＯμＦ以上の容量が□、・。
デンサＣによる直列回路の両端に夫々既にエージングを
済んだ完成した電解コンデンサｃＤ、ｔｃＤｔｇｃＤｓ
・・・を接続し、この電解コンデンサＣＤ！、ＣＤ！、
ＣＤｓ・・・に直流電源５から充電される電圧によって
、エージング用電解コンデンサＣのバンク等の内部破壊
時にブレーカ８を作動させる回路である。上記その電解
コンデンサＣＤＩｇＣＤＩ＊ＣＤ”・・・には、エージ
ングの最大電圧に耐えられる耐圧をもち、かつブレーカ
を作動させるのに十分な容量をもったコンデンサが使用
される。この回路は、夫々のエージングをすべき電解コ
ンデンサＣと同じ電圧が電解コンデンサＣＤ１ｅＣＤＩ
ｅＣＤｓ’・・に夫々印加されることになる。電解コン
デンサＣＤｉｐＣＤＩ＊ＣＤｓ・・・は、実ｉの結果、
約ｌＯμＦ以上の容量が□、・。
あれば十分である。
第８図は本発明の第３実施例を示す回路図である。
第８図は、第６図に示した回路の第２直流電源９の代り
に既にエージングを済んだ完成した電解コンデンサＣＤ
を用いた回路であり、第１直流電源５の直流電圧を抵抗
Ｒ＊、Ｒｘで分？ｊ１１〜しその分割電圧を電解コンデ
ンサＣＤに印加するように構成されている。この電解コ
ンデンサｃＤに印加されるべき電圧は第１直流電源５に
てエージングすべき電解コンデンサＣに印加される＼ 電圧よりも低い値に設定されるように回路を設計する。
に既にエージングを済んだ完成した電解コンデンサＣＤ
を用いた回路であり、第１直流電源５の直流電圧を抵抗
Ｒ＊、Ｒｘで分？ｊ１１〜しその分割電圧を電解コンデ
ンサＣＤに印加するように構成されている。この電解コ
ンデンサｃＤに印加されるべき電圧は第１直流電源５に
てエージングすべき電解コンデンサＣに印加される＼ 電圧よりも低い値に設定されるように回路を設計する。
例えば、抵抗Ｒ１が１Ω、Ｒ，がｌΩというように抵抗
値を設定する。
値を設定する。
尚、第６図〜第８図では、複数の電解コンデンサＣの夫
々に１個の抵抗Ｒを通じてエージングを行うように構成
したが、本発明はこれに限定されず電解コンデンサＣの
数個毎に１個の抵抗を通じてエージングを行うように構
成してもよい。
々に１個の抵抗Ｒを通じてエージングを行うように構成
したが、本発明はこれに限定されず電解コンデンサＣの
数個毎に１個の抵抗を通じてエージングを行うように構
成してもよい。
以上述べたように本発明によれば、従来の直流電源に抵
抗を介して電解コンデンサをエージングする装置に、電
解コンデンサと直列にブレーカを挿入するとともに、上
記電解コンデンサとブレーカの直列回路に別の直流電圧
供給手段を接続しその電圧を前記直流電源に基づいたコ
ンデンサの端子電圧の値以下に設定するようにしたので
、エージング中に外観上異常のないバンク品でも発見す
ることが可能となり、これらの内部破壊された不良品を
除くことができるという効果がある。
抗を介して電解コンデンサをエージングする装置に、電
解コンデンサと直列にブレーカを挿入するとともに、上
記電解コンデンサとブレーカの直列回路に別の直流電圧
供給手段を接続しその電圧を前記直流電源に基づいたコ
ンデンサの端子電圧の値以下に設定するようにしたので
、エージング中に外観上異常のないバンク品でも発見す
ることが可能となり、これらの内部破壊された不良品を
除くことができるという効果がある。
第１図は電解コンデンサの構造図、第２図は従来の電解
コンデンサのエージング装置を示す回路図、第３図は定
電流エージングを行った場合の酸化皮膜破損量によるコ
ンデンサ端子電圧の特性図、第４図は第２図のエージン
グ方法による実験例を示す回路図、第５図は第２図回路
にブレーカを挿入した装置を示す回路図、第６図は本発
明の電解コンデンサのエージング装置の第１夾施例を示
す回路図、第７図は本発明の第２実施例を示す回路図、
第８図は本発明の第３実施例を示す回路図である。 Ｒ・・・抵抗、 Ｃ・・・エージング用電解コンデンサ、５・・・第１直
流電源、 ８・・・ブレーカ、 ９・・・第２直流電源、 １０・・・ダイオード、 ＣＤｐｃＤ１＊ＣＤ意ｔＣＤ”””直流電圧供給用電解
コンデンサ。 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 第８Ｉ５？Ｊ
コンデンサのエージング装置を示す回路図、第３図は定
電流エージングを行った場合の酸化皮膜破損量によるコ
ンデンサ端子電圧の特性図、第４図は第２図のエージン
グ方法による実験例を示す回路図、第５図は第２図回路
にブレーカを挿入した装置を示す回路図、第６図は本発
明の電解コンデンサのエージング装置の第１夾施例を示
す回路図、第７図は本発明の第２実施例を示す回路図、
第８図は本発明の第３実施例を示す回路図である。 Ｒ・・・抵抗、 Ｃ・・・エージング用電解コンデンサ、５・・・第１直
流電源、 ８・・・ブレーカ、 ９・・・第２直流電源、 １０・・・ダイオード、 ＣＤｐｃＤ１＊ＣＤ意ｔＣＤ”””直流電圧供給用電解
コンデンサ。 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 第８Ｉ５？Ｊ
Claims (3)
- （１）複数の電解コンデンサの夫々に１−の抵抗を通じ
て又は前記電解コンデンサの数個毎に１個の抵抗を通じ
て直流電圧源より直流電圧を印加することによってエー
ジングを行う電解コンデンサのエージング装置において
、前記電解コンデンサの夫々に直列に接−されるブレー
カを設ける一方、このブレーカと電解コンデンサの直列
回路に、前記直流電圧源にて前記電解コンデンサに印加
される電圧以下の直流電圧を供給する直流電圧供給手段
を設ける旦とを特徴とする電解コンデンサのエージング
装置。 - （２）前記直流電圧供給手段は、前記ブレーカと電解コ
ンデンサの直列回路にダイオードを介しにて前記電解コ
ンデンサｉ印加される電圧よりも低い所定値に設定する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電解コン
デンサのエージング装置。 - （３）前記直流電圧供給手段は、前記ブレーカと電解コ
ンデンサの直列回路に並列接続される電解コンデンサで
構成され、この電解コンデンサを請う直流−一。直流電
圧Ｅ−Ｃ充、１６よう。 したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の電解
コンデンサのエージング装置。 Ｃ）前記直流電圧供給手段は、前記ブレーカと電解コン
デンサの直列回路にダイオードを介して接続される電解
コンデンサで構成され、この電解コンデンサを、前記直
流電圧源の直流電圧を分圧した所定電圧にて、充電する
ようにしたことを特徴とする特許請求の範Ｓ第１項記載
の電解コンデンサのエージング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57017230A JPS58134420A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | 電解コンデンサのエ−ジング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57017230A JPS58134420A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | 電解コンデンサのエ−ジング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58134420A true JPS58134420A (ja) | 1983-08-10 |
| JPS6211772B2 JPS6211772B2 (ja) | 1987-03-14 |
Family
ID=11938143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57017230A Granted JPS58134420A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | 電解コンデンサのエ−ジング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58134420A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0722299A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-24 | Ckd Corp | 電解コンデンサのエージング処理回路 |
-
1982
- 1982-02-05 JP JP57017230A patent/JPS58134420A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0722299A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-24 | Ckd Corp | 電解コンデンサのエージング処理回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6211772B2 (ja) | 1987-03-14 |
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