JP2731080B2

JP2731080B2 - ガス制御装置

Info

Publication number: JP2731080B2
Application number: JP4135266A
Authority: JP
Inventors: 洋一菅野; 内澤　　修; 忠弘大見
Original assignee: Motoyama Eng Works Ltd
Current assignee: Motoyama Eng Works Ltd
Priority date: 1991-05-31
Filing date: 1992-05-27
Publication date: 1998-03-25
Anticipated expiration: 2013-03-25
Also published as: JPH05172265A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体デバイス
製造工程等において使用されるガス制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】高集積化が急ピッチで進められている半
導体デバイス製造工程、特にウエハ処理工程において
は、デバイス特性に悪影響を及ぼす因子の排除が従来よ
りも一層強く要求されており、供給されるガスの不純分
も限り無く少ないことが要求されるようになっている。
そのため、ガス流通系における個々の構成要素はもとよ
り、例えば不純ガスの吸蔵・放出を極小にするため、全
流路内面に電解研磨や化学研磨等の特殊表面研磨を施す
など、全般的に種々の改善が行われている。

【０００３】また、半導体製造装置の価格は益々上昇傾
向にあり、かつ半導体の集積化とともにウエハ処理の工
程が増加するため、設備投資額も増大の一途を辿りつつ
あり、半導体産業発展のためには、製造装置の高性能化
とともにコストの一層の節減が必須要件となっている。

【０００４】ところで、半導体製造装置におけるガス制
御装置のうち、各種反応炉等の直前に共通的に設けられ
る流量制御部は、各種多数あるなかの代表例の系統図を
図１５に、また、これに対応する配置図（以下、第１の
従来例という）を図１６に夫々示すように、流入口Ａ，
Ｂ，Ｃからフィルタａを経て流入される３種類のプロセ
スガスを夫々遮断弁ｂによって切替えるとともに、マス
フローコントローラｃによってプロセスガスの流量を制
御し、流出口Ｄから反応炉に供給するようになってい
る。

【０００５】また、パージガス（通常はＮ₂ ）の流通系
は、流入口Ｅから上述と同様の単機能部材ａ，ｂ，ｃを
経て流出口Ｄに導かれる流路と、他の各マスフローコン
トローラｃを経て排気口Ｆに導かれる流路とを備え、か
つ流入側には圧力検出部材ｄが設けられている。

【０００６】この第１の従来例においては、一部に２連
式複合弁（図１５において破線で区画して示す）が用い
られているが、その他のマスフローコントローラｃのよ
うな単機能部材は、配管および継手を介して接続されて
いるので、図１６に示すように、流量制御部の外形寸法
は、長さＬが６１cm、幅Ｗが２３cm、高さＨが１４cm程
度となっている。

【０００７】また、半導体製造装置における代表的なシ
リンダキャビネットは、その系統図を図１７に、また配
置図を図１８（以下、第２の従来例という）に夫々示す
ように、２種類のプロセスガスを容器ｅ，ｅから流出口
Ａ，Ｂに導くための流路に夫々設けられたプロセスガス
制御部ｆ，ｆと、プロセスガス容器ｅ，ｅの交換時に口
金付近に侵入した大気成分をパージするため、容器ｇか
ら高圧（１５０kgf/cm² ）のＮ₂ やＡr を導く流路に設
けられたパージガス制御部ｈとを備えている。工場内の
供給源（図示略）から流入口Ｃに導かれる低圧（７kgf/
cm² ）のＮ₂ ガスは、プロセスガスが排気口Ｄから排出
される時、その毒性、腐食性および大気との反応性など
を希釈するためのものである。

【０００８】この第２の従来例においても、一部に２連
式および３連式の複合弁（図１７において破線で区画し
て示す）２９が用いられているが、その他の単機能部材
は、配管および継手を介して接続されているので、図１
８において２点鎖線で示すキャビネットの寸法は、幅Ｗ
が１６０cm、高さＨが２００cm程度となっている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上記従来例において
は、単機能部材相互間を結ぶ配管や継手の数が多いの
で、（ａ）占有スペースが大きい。（ｂ）シール部が多いため、外部リークの総量が増大す
る。（ｃ）配管が長くなるため、その内面の総面積が大きく
なり、不純ガス放出量が多くなってプロセスガス純度の
低下を招く。（ｄ）配管および継手等の調達、接続（溶接を含む）お
よび多数接続部の漏洩検査等の作業を必要とし、これが
原因でコスト高となる。などの不具合が生じてくる。

【００１０】このような不具合を解消するために、２個
の遮断弁ｂ，ｂと１個のマスフローコントローラｃとの
組合せ（図１９参照）、１個の内蔵フィルタａと２個の
遮断弁ｂ，ｂとの組合せ（図２０参照）、２個の遮断弁
ｂ，ｂと１個の圧力検出器ｄとの組合せ（図２１参照）
などの提案がなされている。

【００１１】しかしながら、この程度の複合体では、配
管の長さおよび接続部の数を大幅に減少させることは困
難であり、上記（ａ）〜（ｄ）の不具合を解消すること
ができない。

【００１２】また、マスフローコントローラｃは、比較
的故障を生じ易いため、取り外す機会が多い。そのた
め、図１９のような構成では、２個の遮断弁ｂ，ｂと共
に取り外さなければならないので、他の管系に大気が侵
入するのを防止するため別の弁を設けなければならず、
必然的にコスト増を伴う。さりとて、これを怠れば取り
外しの度ごとに他の管系が広範囲にわたって大気汚染を
被ることになる。

【００１３】しかも、マスフローコントローラ自体には
寸法のバラツキがあるので、図１９のような構成のもの
を複数組連結しようとすれば、シール用メタルガスケッ
トの潰し代のバラツキとの関連でシール性の確保が困難
となるなどの問題が発生する。

【００１４】本発明は、上述のような問題点を解決する
ためになされたもので、その目的とするところは、格別
な配管や継手等の間接的接続手段を必要とせず、低コス
トで占有スペースが少なく、かつ不純ガスの放出量を少
なく抑えることができるとともに、流量制御機構を取り
外した場合でも、ガス流通系に不純物が入り込むのを防
止でき、メンテナンスを容易に行なえるガス制御装置を
提供しようとするものである。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るガス制御装置は、ガス流量を制御する
弁およびこの弁を開閉する駆動部を有する流量制御機構
と、この流量制御機構の上流に配置された遮断弁を含む
複数の上流側単機能部材と、上記流量制御機構の下流に
配置された遮断弁を含む少なくとも一つの下流側単機能
部材と、を含む高純度ガスの流通系を備えている。そし
て、上記流量制御機構は、高純度ガスの入口および出口
を含む流路を有する台座に支持されているとともに、上
記上流側単機能部材および下流側単機能部材は、夫々一
つのブロックからなるケーシングに支持され、これらケ
ーシングは、上記単機能部材および上記台座の流路に連
なるガス通路を有し、これら台座とケーシングとを互い
に直接接合することで、上記流量制御機構、上流側単機
能部材および下流側単機能部材を一つのユニットとして
一体化するとともに、上記台座は、その流路の入口およ
び出口に夫々上記流路を開閉する開閉弁を備えているこ
とを特徴としている。

【００１６】

【作用】このような構成によれば、流量制御機構、上流
側単機能部材および下流側単機能部材は、一つのユニッ
トとして組み立てられるので、流量制御機構と単機能部
材との間、および隣り合う単機能部材の間を個々に接続
するための格別な配管や継手等の間接的接続手段が不要
となる。そのため、従来の装置における上記（ａ）から
（ｄ）の不具合を解消することができる。

【００１７】しかも、流量制御機構のメンテナンスに伴
い、この流量制御機構を取り外す場合に、開閉弁を閉じ
ておけば、流路の入口および出口を閉塞しておくことが
でき、流路への不純物の侵入を防止することができる。
このため、高純度ガスの流通系の大気汚染を回避するこ
とができ、この流通系の洗浄作業が不要となって上記流
量制御機構のメンテナンスを容易に行なうことができ
る。

【００１８】

【実施例】以下、図１ないし図１４を参照して本発明の
一実施例を説明する。図１は半導体製造装置におけるガ
ス制御装置の配管図である。この配管構造は、図１５に
示す従来の系統図に対応するように構成されている。

【００１９】すなわち、流入口Ａ，Ｂ，Ｃを有するプロ
セスガスの流通ライン１３は、各フィルタ７を経て流入
される３種類のプロセスガスを夫々遮断弁３および４に
よって切替えるとともに、マスフローコントローラ２に
よってプロセスガスの流量を制御し、流出口Ｄから反応
炉に供給するようになっている。

【００２０】また、パージガス（通常Ｎ₂ ）の流通ライ
ン１４では、流入口Ｅからフィルタ７を経て流入される
パージガスを、夫々遮断弁３および４によって切替える
とともに、マスフローコントローラ２を経て流出口Ｄに
導くようになっており、その流入側には圧力検出センサ
５が設けられている。

【００２１】なお、上記プロセスガスの流通ライン１３
における各マスフローコントローラ２は、他の遮断弁
６、６を経てパージガスの流通ライン１４にも接続され
ている。

【００２２】上記プロセスガス流通ライン１３およびパ
ージガス流通ライン１４はそれぞれユニット化されてお
り、まずプロセスガス流通ライン１３のユニットについ
て説明する。プロセスガス流通ライン１３は、図２に示
すようなユニット構造を有し、上記フィルタ７、遮断弁
３、６、マスフローコントローラ２、および遮断弁４、
６を備えている上記マスフローコントローラ２は、図３
に模式的に、また図５に具体的に示す通り、台座８に流
量センサ２０１およびピエゾ圧電素子式コントロール弁
２０２を取り付けて一体に構成されている。ピエゾ圧電
素子式コントロール弁２０２は、ピエゾ圧電素子２０３
と、このピエゾ圧電素子２０３によって開閉駆動される
弁体２０４とを備えている。上記台座８には、遮断弁３
および４に接続可能に開口された流路１０，１０が形成
されている。

【００２３】これら各遮断弁３、４およびは、弁ケ−シ
ングに弁アクチュエータを取り付けて構成されているも
のである。図６に示す通り、マスフローコントローラ２
の上流側の２個の遮断弁３および６は２連式の構造とし
てあり、単一のケ−シング４０１ａに、２個の弁アクチ
ュエータ４０２、４０３を取り付け、さらにフィルタ７
を付設してある。

【００２４】これについて説明すると、２個の弁アクチ
ュエータ４０２、４０３は両者が同一構造であってよい
ので、一方を説明すると、圧力導入口４０５から導入さ
れた圧力によりピストン４０６を作動させ、このピスト
ン４０６によりステム４０７を介してメタルダイアフラ
ム弁４０８を作動させる構造となっている。

【００２５】このような弁アクチュエータ４０２、４０
３が取着される上記ケ−シング４０１ａには、プロセス
ガス流通ライン１３の流入口Ａ（Ｂ，Ｃ）に連なるガス
通路４１０およびマスフローコントローラ２の通路１０
に連なるガス通路４１１ならびにパージガス流通ライン
１４の流入口Ｅに連なるガス通路４１２が形成されてい
る。そして、一方の弁アクチュエータ４０２は、上記ガ
ス通路４１０と４１１との連通を開閉し、他方の弁アク
チュエータ４０３は、ガス通路４１２と４１１との連通
を開閉するようになっている。

【００２６】上記弁ケ−シング４０１ａのガス通路４１
０には、フィルタ７が連結されている。フィルタ７は、
フィルタケーシング４７０の一端にプロセスガス流通ラ
イン１３の流入口Ａ（Ｂ，Ｃ）を形成するとともに、他
端にフランジ部４７１を形成し、これらの途中にメタル
フィルタ４７２を収容したもので、上記他端のフランジ
部４７１を介してケ−シング４０１ａに図示しないボル
トにより連結されている。なお、４７３は、ケーシング
４０１ａとフランジ部４７１との合面をシールするメタ
ルＯリングを示す。

【００２７】一方、マスフローコントローラ２の下流側
にも２個の遮断弁４および６が設けられている。これら
遮断弁４および６も２連式であり、図７に示す構造を有
している。つまり、単一のケ−シング４０１ｂには、２
個の弁アクチュエータ４２２、４２３が取り付けられて
いる。

【００２８】この場合、弁アクチュエータ４２２、４２
３が取着される上記ケ−シング４０１ｂには、マスフロ
ーコントローラ２の流路１０に連なるガス通路４３１、
プロセスガス流通ライン１４の流出口Ｆに連なるガス通
路４３２ならびにパージガス流通ライン１３の流出口Ｄ
に連なるガス通路４３３が形成されている。そして、一
方の弁アクチュエータ４２３は、上記ガス通路４３１と
４３２との連通を開閉し、他方の弁アクチュエータ４２
２は、ガス通路４３１と４３３との連通を開閉するよう
になっている。

【００２９】したがって、プロセスガス流通ライン１３
は、図６に示すケ−シング４０１ａと、図５に示す台座
８と、図７に示すケ−シング４０１ｂとを相互に直結す
ることにより、フィルタ７、遮断弁３、６、マスフロー
コントローラ２および遮断弁４、６からなる各単機能部
材によって構成されるものであり、このプロセスガス流
通ライン１３の組み立て構造は、図２の（Ａ）に概略的
に示すようにユニット化されており、通路構造は図２の
（Ｂ）に示す構成となる。

【００３０】一方、パージガス流通ライン１４のユニッ
トは、図８に示されており、フィルタ７、圧力センサ
５、遮断弁３、マスフローコントローラ２および遮断弁
４を備えている。

【００３１】マスフローコントローラ２は、上記図５に
示す構造と同一であってよい。このようなマスフローコ
ントローラ２の上流側に１個の遮断弁３とフィルタ７お
よび圧力センサ５が設けられ、これらは図９に示す通
り、ケ−シング５０１ａに弁アクチュエータ５０２とフ
ィルタ７および圧力センサ５を付設して構成してある。
弁アクチュエータ５０２およびフィルタ７は、図６に示
す構造と同一であってよい。

【００３２】ケ−シング５０１ａには、パージガス流通
ライン１４の流入口Ｅに連なるガス通路５１０およびマ
スフローコントローラ２の流路１０に連なるガス通路５
１１ならびにプロセスガス流通ライン１３のマスフロー
コントローラ２に連なるガス通路５１２が形成されてい
る。そして、上記弁アクチュエータ５０２は、上記ガス
通路５１０と５１１との連通を開閉する。上記ガス通路
５１０には、圧力センサ５が設けられている。この圧力
センサ５は、詳図しないがダイアフラム式圧力センサ５
５０を、ケ−シング５０１ａにナット５５１により締め
付けて取着したものである。

【００３３】なお、５５２はスラスト軸受であり、この
スラスト軸受５５２は、ナット５５１の締め付け時にダ
イアフラム式圧力センサ５５０が回転するのを防止する
ためのものである。

【００３４】また、マスフローコントローラ２の下流側
に設けられる１個の遮断弁４は、図１０に示すように、
ケ−シング５０１ｂに上記と同様の弁アクチュエータ５
０２を取り付けて構成されている。ケ−シング５０１ｂ
には、マスフローコントローラ２の流路１０に連なるガ
ス通路５２２、パージガス流通ライン１３の流出口Ｄに
連なるガス通路５２３が形成されている。そして、上記
弁アクチュエータ５０２は、上記ガス通路５２２と５２
３との連通を開閉するようになっている。

【００３５】したがって、パージガス流通ライン１４
は、図９に示すケ−シング５０１ａと、図５に示す台座
８と、図１０に示すケ−シング５０１ｂとを相互に直結
することにより、フィルタ７、圧力センサ５、遮断弁
３、マスフローコントローラ２および遮断弁４からなる
各単機能部材によって構成されている。

【００３６】上記のように構成されたプロセスガス流通
ライン１３のユニットおよびパージガス流通ライン１４
のユニットは、第１，第２マニホルド１７，１８を介し
て互いに連結されている。つまり、本実施例の場合、図
１に示すように、一点鎖線で区画したプロセスガス流通
ライン１３およびパージガス流通ライン１４をそれぞれ
ユニット化するとともに、これらユニット部分ごとに個
別に組立て、さらにこれらユニットを第１および第２の
マニホルド１７，１８によって一体的に結合することに
より装置全体が一体構造をなしている。

【００３７】第１のマニホルド１７は、図１１に示す通
り、ケーシング４０１ａおよび５０１ａに形成したガス
通路４１２、５１２を相互に導通させる接続通路１７０
を有している。また、第２のマニホルド１８は、図１２
に示す通り、ケーシング４０１ｂおよび５０１ｂに形成
したガス通路４３２と導通される接続通路１８１、およ
びガス通路４３３、５２３と導通される接続通路１８２
を有している。

【００３８】各台座８、ケーシング４０１ａ、４０１
ｂ、５０１ａ、５０１ｂおよび第１，第２のマニホルド
１７，１８の接続部には、メタルＣリング、メタルＯリ
ング４７３、メタルガスケット等によるメタルシール
（図示略）が夫々設けられている。これらのシール部材
は、通常のＯリング等を用いることも可能であるが、高
分子材料はガス放出量が多いので高純度ガス流通系には
不適当である。

【００３９】さらに、各単機能部材を含む全流路には、
内面の表面粗さがＲmax １．０μm以下の表面（鏡面）
仕上げが施されており、かつガスが滞留するような袋小
路が極小となるような構成が採用されている。

【００４０】また、ガスが接触する可能性のある部分
は、上記シール部材を含み全て金属材料から構成され、
かつ適宜の表面処理や精密洗浄などが施されている。そ
れとともに、微小粒子が発生するような摺接部は、最大
限に排除されている。さらに、必要とあらば、流路に対
して乾燥Ｏ₂ による熱酸化不動態化処理を施してもよ
く、これにより微小流量時に放出ガスによるガス純度の
低下が防止される。

【００４１】また、マスフローコントローラ２は、図２
に示す状態で台座８から図示上方の部分が、ケーシング
４０１ａ、４０１ｂから外れて上方に向けて着脱できる
ようにしておけば、複数のマスフローコントローラ２が
横方向に並べて立設されていても、いずれのマスフロー
コントローラ２であっても１個のみを取り外すことがで
き、保守性が大幅に向上し、分解、組み立て時における
作業性が向上する。

【００４２】すなわち、このようにマスフローコントロ
ーラ２をユニットから外した場合、流量センサ２０１お
よびピエゾ圧電素子式コントロール弁２０２に大気成分
が侵入し、これを再びユニットに組み込むと、流路１
０、１０に侵入した大気成分の酸素や水分がプロセスガ
スと反応し、反応生成物を発生させたり、腐蝕の原因と
なる。

【００４３】これを防止するため、メンテナンス適用形
のマスフローコントローラ２では、図２の（Ａ）および
（Ｃ）に示すように、台座８の流路１０の入口１０ａと
流路１０の出口１０ｂに、夫々前記遮断弁３、４および
６と同様の構成を有する開閉弁１２、１２が接続されて
いる。これら開閉弁１２、１２は、弁ブロック１２ａ、
１２ａに形成した変更流路１１，１１を開閉するように
なっている。変更通路１１、１１は、ケーシング４０１
ａ、４０１ｂの通路４１１、４３１に接続される。

【００４４】また、図４に示すように、隣接する他のプ
ロセスガス流通ライン１３のマスフローコントローラ２
にあっては、その台座８に補助通路ブロック８１ａ、８
１ｂが形成されており、これら補助通路ブロック８１
ａ、８１ｂには、変更流路１１，１１が形成されてい
る。

【００４５】また、プロセスガス流通ライン１３および
パージガス流通ライン１４が増減される場合は、これら
のユニットを増減すればよいから、ガス流通ラインの変
更が容易である。この場合、第１および第２のマニホル
ド１７，１８による通路の増減も必要とするが、図１３
または図１４に示すように、各マニホルド１７，１８に
補助マニホルド１６を接続したり又は取り外したり、あ
るいは小ブロック形のマニホルド１５を適宜必要に応じ
て連結して用いるようにすればよい。

【００４６】なお、図１３および図１４において、６０
０は間隔調整用のシム、６０１はシール用のメタルＯリ
ングである。このような構成においては、それぞれ所定
ガスを制御可能な基準的なガス流通ライン１３，１４を
個別にユニットとして組立てるとともに、これらを第１
および第２のマニホルド１７，１８の増減や変更によっ
て連結するように構成できるので、使用されるガスの種
類に応じて基準となるガス流通ライン１３、１４の数を
選択的に設定可能であり、それに対応するマニホルド１
７，１８，１９を必要の都度準備すればよい。

【００４７】したがって、基準的制御部となるユニット
を予め見越し生産することができ、相異なる種々な要求
にも迅速に対応し得るから、コスト的および納期的に有
利となる。

【００４８】上述のように構成された装置によると、全
ての単機能部材が一体的に直結されているから、単機能
部材相互間を結ぶ配管および継手等が不要になり、外形
寸法が大幅に縮小し、上記第１の従来例に比べて１／５
以下となってコンパクトになる。

【００４９】また、シール部材の数が少くて済むから、
漏洩に対する信頼性が向上するとともに、流路長の減少
に伴い流路内面積が減少することにより、不純ガスの放
出量が減少し、ひいてはプロセスガス純度の低下が防止
される。

【００５０】しかも、配管および継手等の間接的接続手
段が不要となるから、単に調達コストばかりでなく、こ
れらに係る寸法合せ、接続、溶接、検査、組立、洗浄等
の作業が不要となり、製造コストも大幅に低減される。

【００５１】さらに、上記構成によると、マスフローコ
ントローラ２をユニットから取り外す場合に、開閉弁１
２、１２を閉じて流路１０、１０を閉塞しておくことが
できる。そのため、流量センサ２０１およびピエゾ圧電
素子式コントロール弁２０２に大気成分が侵入するのを
阻止でき、酸化や腐蝕を防止することができる。

【００５２】

【発明の効果】以上詳述した本発明によれば、流量制御
機構と単機能部材との間、および隣り合う単機能部材の
間を個々に接続するための格別な配管や継手等の間接的
接続手段が不要となるので、低コストで占有スペースが
少なく、かつ不純ガスの放出量が少ないガス制御装置を
得ることができる。

【００５３】しかも、流量制御機構のメンテナンスに伴
い、この流量制御機構を取り外す場合に、開閉弁を閉じ
ておけば、流路の入口および出口を閉塞しておくことが
でき、流路への不純物の侵入を防止することができる。
このため、高純度ガスの流通系の大気汚染を回避するこ
とができ、この流通系の洗浄作業が不要となって、上記
流量制御機構のメンテナンスを容易に行なうことができ
るといった利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例における半導体製造装置にお
けるガス制御装置を示す系統図。

【図２】同実施例の構成を示し、（Ａ）はガス制御装置全体の斜視図、（Ｂ）は、（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、（Ｃ）は、（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図。

【図３】同実施例のメンテナンス適用形のマスフローコ
ントローラを示し、（Ａ）は、斜視図、（Ｂ）は、概略断面図。

【図４】同実施例のマスフローコントローラを示し、（Ａ）は、斜視図、（Ｂ）は、概略断面図。

【図５】同実施例におけるマスフローコントローラの断
面図。

【図６】同実施例におけるプロセスガス流通ラインの上
流側遮断弁の断面図。

【図７】同実施例におけるプロセスガス流通ラインの下
流側遮断弁の断面図。

【図８】同実施例におけるパージガス流通ラインのユニ
ットを示し、（Ａ）は、斜視図、（Ｂ）は、概略断面図。

【図９】同実施例におけるパージガス流通ラインの上流
側遮断弁の断面図。

【図１０】同実施例におけるパージガス流通ラインの下
流側遮断弁の断面図。

【図１１】同実施例における第１のマニホルドを示し、（Ａ）は、一部断面した斜視図、（Ｂ）は、概略断面図。

【図１２】同実施例における第２のマニホルドを示し、（Ａ）は、一部断面した斜視図、（Ｂ）は、概略断面図。

【図１３】本発明のマニホルドの変形例を一部断面して
示す斜視図。

【図１４】本発明の他のマニホルドの変形例を一部断面
して示す斜視図。

【図１５】従来の半導体製造装置における代表的なガス
制御装置を例示する系統図。

【図１６】同系統図に対応する第１従来例を示し、（Ａ）は、上面図、（Ｂ）は、正面図。

【図１７】従来の半導体製造装置における他の代表的な
ガス制御装置を例示する系統図。

【図１８】同系統図に対応する第２従来例を示す正面
図。

【図１９】遮断弁とマスフローコントローラとの複合体
の従来例を示し、（Ａ）は、上面図、（Ｂ）は、正面図、（Ｃ）は、系統図。

【図２０】遮断弁とフィルタとの複合体の従来例を示
し、（Ａ）は、正面図、（Ｂ）は、系統図。

【図２１】遮断弁と圧力検出部との複合体の従来例を示
し、（Ａ）は、正面図、（Ｂ）は、系統図。

【符号の説明】

２…流量制御機構（マスフローコントローラ）３、７…上流側単機能部材（遮断弁、フィルタ）４…下流側単機能部材（遮断弁）８…台座１０…流路１０ａ…入口１０ｂ…出口１２…開閉弁２０３…駆動部（ピエゾ圧電素子）２０４…弁（弁体）４０１ａ、４０１ｂ、５０１ａ、５０１ｂ…ケーシング４１０、４１１、４３１、４３２、５１０、５１１、５
２２、５２３…ガス通路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献実開昭64−45068（ＪＰ，Ｕ) 実開昭61−6076（ＪＰ，Ｕ) 特公平４−45712（ＪＰ，Ｂ２) 特公昭63−11552（ＪＰ，Ｂ２)

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】ガス流量を制御する弁およびこの弁を開
閉する駆動部を有する流量制御機構と、この流量制御機
構の上流に配置された遮断弁を含む複数の上流側単機能
部材と、上記流量制御機構の下流に配置された遮断弁を
含む少なくとも一つの下流側単機能部材と、を含む高純
度ガスの流通系を備えているガス制御装置において、上記流量制御機構は、高純度ガスの入口および出口を含
む流路を有する台座に支持されているとともに、上記上
流側単機能部材および下流側単機能部材は、夫々一つの
ブロックからなるケーシングに支持され、これらケーシ
ングは、上記単機能部材および上記台座の流路に連なる
ガス通路を有し、これら台座とケーシングとを互いに直
接接合することで、上記流量制御機構、上流側単機能部
材および下流側単機能部材を一つのユニットとして一体
化するとともに、上記台座は、その流路の入口および出口に夫々上記流路
を開閉する開閉弁を備えていることを特徴とするガス制
御装置。
【請求項２】請求項１の記載において、上記高純度ガ
スが流通される全ての流路およびガス通路の内面は、表
面粗さがＲmax １μm 以下の表面仕上が施されているこ
とを特徴とするガス制御装置。