JP2728257B2 - 光記録方法 - Google Patents

光記録方法

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JP2728257B2
JP2728257B2 JP63070284A JP7028488A JP2728257B2 JP 2728257 B2 JP2728257 B2 JP 2728257B2 JP 63070284 A JP63070284 A JP 63070284A JP 7028488 A JP7028488 A JP 7028488A JP 2728257 B2 JP2728257 B2 JP 2728257B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は光ディスク装置等における光記録方法に関す
る。
(従来技術) 従来、光ディスク装置又は光磁気ディスク装置におい
ては情報を光学ヘッドにより記録媒体に書き込んだ場合
記録媒体上の書き込み情報が正しく書き込まれたか否か
をチェックしているが、その方法としては 情報の書き込み後に記録媒体が1回転してから記録媒
体から情報の読み出しを行って記録媒体上の書き込み情
報が正しく書き込まれたか否かをチェックする方法、 1つの光学ヘッドで情報書き込み用と情報読み出し用
の2つのレーザビームを記録媒体に照射するようにして
情報書き込み用レーザビームで記録媒体に情報を書き込
んだ直後に情報読み出し用レーザビームによる記録媒体
からの反射光により情報の読み出しを行って記録媒体上
の書き込み情報が正しく書き込まれたか否かをチェック
する方法、 記録媒体への情報書き込み中に記録媒体からの反射光
をモニタしてそのレベル変化を検出し記録媒体上の書き
込み情報が正しく書き込まれたか否かをチェックする方
法(日経エレクトロニクス1983年11月21日号P89〜213参
照) が知られている。
しかしの方法では1トラック分の情報の書き込みと
その書き込み情報のチェックに記録媒体の2回転を要す
るので、実効的な転送速度が低下する。またの方法で
は光学ヘッドで情報書き込み用と情報読み出し用の2つ
のレーザビームを記録媒体に照射するので、光学系が複
雑になり、組付けや調整が困難になる。さらにの方法
では記録媒体からの反射光のレベル変化を検出する検出
回路が複雑になり、確実性に乏しい。
(目的) 本発明は上記欠点を改善し、簡単な構成で実効的な書
き込み速度を向上させることができる光記録方法を提供
することを目的とする。
(構成) 本発明は、記録媒体に対してレーザ光を入力信号に対
応して変調して照射することにより情報を書き込みなが
ら前記記録媒体からの反射光を検出し、この検出信号を
時間的に微分し、この微分信号におけるパルス状を呈す
る信号の有無を判定し、この判定結果より書き込みパワ
ーのオンから書き込みパワーのオフまでの間において、
書き込みパワーのオンから一定時間後に発生すると予測
されるピット書き込み信号の有無を検出することによ
り、ピット書き込みエラーを検出することを特徴とす
る。このため、簡単な構成で実行的な書き込み速度を向
上させることができ、他の書き込みエラー検出方式との
併用により更に書き込みエラー検出の精度を向上させる
ことができる。
第1図は本発明を適用した、光ディスクからなる記録
媒体に情報を書き込む装置の一例を示す。
光ディスク1はスピンドルモータ2によって回転駆動
され、光学ヘッド3が光ディスク1に対して集光ビーム
を直径1μm前後の太さで照射する。この光学ヘッド3
は半導体レーザ(レーザダイオード)4、コリメータレ
ンズ5、偏光プリズム6、1/4波長板7、集光レンズ8,
9、受光器10等からなる光学系で構成され、書き込み情
報発生器11かの信号によりレーザダイオード駆動回路12
から駆動信号13が出力されてレーザダイオード4の発光
が変調される。レーザダイオード4からのレーザ光はコ
リメータレンズ5、偏光プリズム6、1/4波長板7、集
光レンズ8を経て記録媒体1に照射され、その反射光が
集光レンズ8、1/4波長板7、偏光プリズム6、集光レ
ンズ9を経て受光器10によって検出される。この受光器
10の出力信号は変換器14によって電圧信号に変換され、
信号処理回路15に入力される。
本発明の実施例はこのような装置において情報書き込
み時に記録媒体1からの反射光を検出し、その特徴によ
り情報が記録媒体1に正しく書き込まれたかどうかを確
認しようとするものである。
第2図(a)は書き込み情報発生器11からの入力信号
を示す。この入力信号に応じてレーザダイオード4の発
光が変調されてレーザダイオード4からのレーザ光が第
2図(b)のように読み出しパワー(情報読み出しのた
めのレーザダイオード4の出力パワー)Prに書き込みパ
ワー(情報書き込みのためのレーザダイオード4の出力
パワー)Pwを重ね合せた信号となる。情報書き込み時に
おける記録媒体1からの反射光信号は第2図(c)のよ
うになる。この反射光信号においてD1は記録媒体1の反
射率が小さくなる欠陥d1によるものであり、D2は記録媒
体1において反射率は正常値であるが情報書き込みので
きない欠陥d2によるものである。光ディスク1にはd1タ
イプとd2タイプの欠陥があり、両方とも情報書き込み後
における反射光信号にエラーを発生させる。光ディスク
1の正常部分からの反射光信号GはPrからPwに立ち上が
った瞬間にはPwに対応した反射光レベルIwを示すが、す
ぐに光ディスク1にピット(穴)があき始めるために減
衰する特性を示す。d1タイプの欠陥による反射光信号D1
では波形の形状は正常値に近いが、振幅が十分には得ら
れないという特徴を示す。d2タイプの欠陥による反射光
信号D2では波形の形状にピットがあき始めたという特徴
が現れず、減衰カーブを描かない。
本発明の実施例は光ディスク1への情報書き込み不良
の原因である2つのタイプの欠陥、つまり 記録媒体1の反射率が低くなる欠陥(d1タイプの欠
陥) 記録媒体1の情報書き込み時にピット形成ができない
欠陥(d2タイプの欠陥) を、情報書き込み時における光ディスク1からの反射光
信号を処理することによって検出する。ここにの欠陥
の発生原因は光ディスク1の記録膜のピンホール,光デ
ィスク1の基板のきずであり、の欠陥の発生原因は光
ディスク1の記録膜が部分的に厚くなっている欠陥,記
録膜表面の汚れ,異物の付着,基板の形状不良により光
スポットが大きくなることである。
次に本発明の実施例における信号処理回路15の機能に
ついて説明する。まずd1タイプの欠陥の検出について説
明する。第2図(d)は情報書き込み時における光ディ
スク1の反射光信号を交流結合回路を通して得た信号で
ある。この信号はd1タイプの欠陥による部分D1では十分
な振幅が得られないために2値化した後の第2図(e)
に示すような信号が第2図(a)の入力信号よりも短い
パルス幅の信号となり、この2値化信号と第2図(a)
の入力信号とを比較することによりd1タイプの欠陥を検
出することができる。ところがこの比較ではd2タイプの
欠陥は第2図(e)の信号に変化を生じさせないために
見逃されてしまう。次にd2タイプの欠陥の検出について
説明する。第2図(f)は情報書き込み時における光デ
ィスク1の反射光信号を時間的に微分したものである。
この微分信号の正側パルスPonは書き込みパワーがオン
になったタイミングを示すパルスであり、しきい値V1
2値化することにより第2図(h)のような信号が得ら
れる。またこの微分信号の負側パルスは書き込みパワー
がオンになってから少し遅れた時間Td後に光ディスク1
にピットが形成され始めて書き込み時の反射光信号が減
衰することによって生ずるピット形成信号Swと、書き込
みパワーがオフになったときのタイミングで発生する信
号Poffである。d2タイプの欠陥において特徴的に現れる
現象は信号Swのレベルが異常に弱いことであり、第2図
(f)の信号をしきい値V2で2値化した第2図(g)の
ような信号では信号Swが欠落する。そこでこの信号Swの
欠落をチェックすることによりd2タイプの欠陥を検出す
る。例えばパルスPonを時間Tdだけ遅延させた第2図
(i)のような信号のタイミングで信号Swの有無を判定
すればよい。光ディスク1の書き込み信号の良否をセク
タ毎に判定するにはd1タイプの欠陥による上記比較の不
一致のビット(またはワード)数及びd2タイプの欠陥に
よる信号Swの欠落数にしきい値を設けてやればよい。
第3図は本発明の実施例にて第1図の装置における上
記信号処理回路15として用いた回路の例を示す。
第1図の装置において受光器10によって検出された信
号は信号変換器14によって電圧信号に変換され、ハイパ
スフィルタからなる交流結合回路20を通ってコンパレー
タ21で0レベルで2値化されることによって第2図
(e)のような2値化信号となる。この2値化信号はデ
ータ比較器22にて書き込み情報信号発生器11からの入力
信号と比較されることによってd1タイプの欠陥に対応し
たエラー信号D1が検出され、その検出信号がカウンタ23
によりカウントされることによりd1タイプの欠陥に対応
したエラー数がカウントされる。一方、信号変換器14の
出力信号は微分器25により微分され、この微分器25の出
力信号がコンパレータ26,27にて基準電圧源28,29による
しきい値電圧V1,V2で2値化されることにより第2図
(h),(g)のような信号となり、コンパレータ26の
出力信号は遅延回路30で時間Tdだけ遅延されて第2図
(i)のような信号となる。この信号はアンド回路31で
コンパレータ27の出力信号とのアンドがとれ、このアン
ド回路31の出力信号と遅延回路30の出力信号との排他的
オアが排他的オア回路32でとられることによりd2タイプ
の欠陥が検出される。この排他的オア回路32の出力信号
がカウンタ33でカウントされることによりd2タイプの欠
陥数が検出される。
この例では光ディスク1の反射率が低下する欠陥と、
書き込みが十分にできない欠陥という2種類の欠陥によ
るエラーをチェックするため、第4図に示すようにこの
例によって検出されるワードエラー率は情報の書き込み
後の再読み出しによって検出されるワードエラー率と極
めて高い相関性を示し、従来の情報の書き込み後の再読
み出しにより確認していた方法とほぼ同じ正確さで書き
込み信号の良否の判定を行うことが可能である。第4図
はリコー製5・1/4インチ光ディスク装置RO-5040WLに本
発明を適用してリコー製5・1/4インチ色素系光ディス
クカートリッジROD-5080Lを用いて実験した結果であ
る。
(効果) 以上のように本発明によれば、記録媒体に対してレー
ザ光を入力信号に対応して変調して照射することにより
情報を書き込みながら前記記録媒体からの反射光を検出
し、この検出信号を時間的に微分し、この微分信号にお
けるパルス状を呈する信号の有無を判定し、この判定結
果より書き込みパワーのオンから書き込みパワーのオフ
までの間において、書き込みパワーのオンから一定時間
後に発生すると予測されるピット書き込み信号の有無を
検出することにより、ピット書き込みエラーを検出する
ので、記録媒体の1回転の時間で情報の書き込みと書き
込み信号のチェックを行うことができて実効的な書き込
み速度を向上させることができ、しかも簡単な装置にて
実施することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を適用した光ディスク装置の一例を示す
概略図、第2図は本発明を説明するためのタイミングチ
ャート、第3図は上記光ディスク装置における信号処理
回路を示すブロック図、第4図は本発明の実施例の特性
を示す特性図である。 20……ハイパスフィルタ、21,26,27……コンパレータ、
22……データ比較器、25……微分器、30……遅延回路、
31……アンド回路、32……排他的オア回路。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】記録媒体に対してレーザ光を入力信号に対
    応して変調して照射することにより情報を書き込みなが
    ら前記記録媒体からの反射光を検出し、この検出信号を
    時間的に微分し、この微分信号におけるパルス状を呈す
    る信号の有無を判定し、この判定結果より書き込みパワ
    ーのオンから書き込みパワーのオフまでの間において、
    書き込みパワーのオンから一定時間後に発生すると予測
    されるピット書き込み信号の有無を検出することによ
    り、ピット書き込みエラーを検出することを特徴とする
    光記録方法。
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