JP2722524B2 - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JP2722524B2 JP2722524B2 JP63239740A JP23974088A JP2722524B2 JP 2722524 B2 JP2722524 B2 JP 2722524B2 JP 63239740 A JP63239740 A JP 63239740A JP 23974088 A JP23974088 A JP 23974088A JP 2722524 B2 JP2722524 B2 JP 2722524B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光パルス試験器に係り、特に被測定ファイバ
からの戻り光の検出信号を処理する信号処理装置のトリ
ガのとり方を工夫した光パルス試験器に関するものであ
る。
からの戻り光の検出信号を処理する信号処理装置のトリ
ガのとり方を工夫した光パルス試験器に関するものであ
る。
［従来の技術］ 従来の、光パルス試験器を第２図に示す。パルス発振
器11により、レーザー12をパルス発光させ（レーザー12
は、半導体、気体、固体レーザー等である。）被測定フ
ァイバ14に入射させる。被測定ファイバ14からは、入射
光強度に応じた後方散乱光が、入射方向とは逆向きに戻
ってくる。この光は、光方向性結合器13により、光路を
切り換えられ、検出器15にて検出された後、信号処理装
置16及び、コンピュータ17にて必要な情報に変換され
る。この時、信号処理の基準信号（トリガ信号）として
は、通常パルス発振器11のクロック信号が用いられてい
た。また半導体レーザーなどでは発光面とは逆の面に、
検出器を設け、光を電気信号に変え、トリガ信号として
いるものであった。
器11により、レーザー12をパルス発光させ（レーザー12
は、半導体、気体、固体レーザー等である。）被測定フ
ァイバ14に入射させる。被測定ファイバ14からは、入射
光強度に応じた後方散乱光が、入射方向とは逆向きに戻
ってくる。この光は、光方向性結合器13により、光路を
切り換えられ、検出器15にて検出された後、信号処理装
置16及び、コンピュータ17にて必要な情報に変換され
る。この時、信号処理の基準信号（トリガ信号）として
は、通常パルス発振器11のクロック信号が用いられてい
た。また半導体レーザーなどでは発光面とは逆の面に、
検出器を設け、光を電気信号に変え、トリガ信号として
いるものであった。
［発明が解決しようとする課題］ 従来の光パルス試験器は、前述のような構成を有して
いるので、パルス発振器の電気的信号が発振してからレ
ーザーが発光するまでに時間的遅延がある。通常この時
間的遅延は１〜２（μｓ）のオーダーであるが、数10
（ns）のオーダーで考えた場合、必ずしも常に一定とは
なっていないのが現状である。
いるので、パルス発振器の電気的信号が発振してからレ
ーザーが発光するまでに時間的遅延がある。通常この時
間的遅延は１〜２（μｓ）のオーダーであるが、数10
（ns）のオーダーで考えた場合、必ずしも常に一定とは
なっていないのが現状である。
光パルス試験器において、その検出信号が微弱な為、
通常10,000回程度のアベレージング処理が行なわれる
が、上記のような発光タイミングのバラつきがあると得
られる情報にも誤差を生じ、分解能の低下を招く、恐れ
があった。
通常10,000回程度のアベレージング処理が行なわれる
が、上記のような発光タイミングのバラつきがあると得
られる情報にも誤差を生じ、分解能の低下を招く、恐れ
があった。
この問題点を、解決する為に、半導体レーザーパッケ
ージの中に発光面とは逆向きに、検出器を設け光を電気
信号に変え、トリガ信号をとるというものもあるが、こ
れらの半導体レーザーは、数10mw程度の出力である為、
分布型光ファイバ温度センサ等に用いるには、出力が低
すぎるなどの問題点があった。
ージの中に発光面とは逆向きに、検出器を設け光を電気
信号に変え、トリガ信号をとるというものもあるが、こ
れらの半導体レーザーは、数10mw程度の出力である為、
分布型光ファイバ温度センサ等に用いるには、出力が低
すぎるなどの問題点があった。
［課題を解決するための手段］ 本発明は、前述の問題点を解決すべくなさたものであ
り、被測定ファイバへパルスレーザー光を入射する光源
と、被測定ファイバからの戻り光を検出器へ光路変換す
る光方向性結合器と、検出器からの信号を処理する信号
処理装置とを具備してなる光パルス試験器において、前
記検出器と被測定ファイバの入射端面との光路上に被測
定ファイバ端面からの近端フレネル反射光を取り出すフ
ィルターを備える光路変換器を設け、さらに前記近端フ
レネル反射光を検出する他の検出器を設け、前記近端フ
レネル反射光を前記信号処理装置の同期をとるためのト
リガ信号とすることを特徴とする光パルス試験器を提供
するものである。
り、被測定ファイバへパルスレーザー光を入射する光源
と、被測定ファイバからの戻り光を検出器へ光路変換す
る光方向性結合器と、検出器からの信号を処理する信号
処理装置とを具備してなる光パルス試験器において、前
記検出器と被測定ファイバの入射端面との光路上に被測
定ファイバ端面からの近端フレネル反射光を取り出すフ
ィルターを備える光路変換器を設け、さらに前記近端フ
レネル反射光を検出する他の検出器を設け、前記近端フ
レネル反射光を前記信号処理装置の同期をとるためのト
リガ信号とすることを特徴とする光パルス試験器を提供
するものである。
［作用］ 本発明において、光パルス試験器のトリガ信号に被測
定ファイバからの近端フレネル反射光を用いる機構は、
光源用のレーザーの入力電気信号と発光の時間的遅延及
びその変動の影響を解消することができ、測定誤差の減
少及び安定した高分解能を得ることができる。
定ファイバからの近端フレネル反射光を用いる機構は、
光源用のレーザーの入力電気信号と発光の時間的遅延及
びその変動の影響を解消することができ、測定誤差の減
少及び安定した高分解能を得ることができる。
［実施例］ 本発明の、光パルス試験器の１実施例を第１図に示
す。パルス発振器１により発振される大出力パルス発振
型のレーザー２からのパルスレーザー光を、被測定ファ
イバ５に入射する。分布型光ファイバ温度センサの場
合、検出対象となるのは、レーザー２からの光に対し
て、波長がシフトしたストークス光、反ストークス光で
ある為、入射レーザー光と、同波長成分は、検出機構に
対して遮断されなければならない。そこで、光方向性結
合器４内にフィルター10,10′を設け、ラマン散乱成分
は検出器６へ、レーザー光と同波長成分は検出器６′へ
導かれるようにする。検出器６′へは、近端フレネル成
分や、レーリー散乱成分が検出される。この時近端フレ
ネル反射光は、被測定ファイバ端面での反射光である
為、非常にレベルが大きい成分であり（入射レーザー光
の３〜５％程度）これを信号処理装置８の同期信号に用
いる。コンピュータ９は処理された信号の表示等を行
う。
す。パルス発振器１により発振される大出力パルス発振
型のレーザー２からのパルスレーザー光を、被測定ファ
イバ５に入射する。分布型光ファイバ温度センサの場
合、検出対象となるのは、レーザー２からの光に対し
て、波長がシフトしたストークス光、反ストークス光で
ある為、入射レーザー光と、同波長成分は、検出機構に
対して遮断されなければならない。そこで、光方向性結
合器４内にフィルター10,10′を設け、ラマン散乱成分
は検出器６へ、レーザー光と同波長成分は検出器６′へ
導かれるようにする。検出器６′へは、近端フレネル成
分や、レーリー散乱成分が検出される。この時近端フレ
ネル反射光は、被測定ファイバ端面での反射光である
為、非常にレベルが大きい成分であり（入射レーザー光
の３〜５％程度）これを信号処理装置８の同期信号に用
いる。コンピュータ９は処理された信号の表示等を行
う。
第１図に示した実施例において、光路変換器としては
近端フレネル反射光を検出器６′へ導光するものが好ま
しく、ハーフミラーの他にプリズムを利用したビームス
プリッターや光ファイバ、光導波路を利用した光分配器
を用いることができる。光方向性結合器４としては音響
光学素子、電気光学効果型素子、磁気光学効果型素子、
光導波路型光スイッチ等を用いることができる。検出器
６、６′としてはフォトダイオード、CCD等が用いられ
る。
近端フレネル反射光を検出器６′へ導光するものが好ま
しく、ハーフミラーの他にプリズムを利用したビームス
プリッターや光ファイバ、光導波路を利用した光分配器
を用いることができる。光方向性結合器４としては音響
光学素子、電気光学効果型素子、磁気光学効果型素子、
光導波路型光スイッチ等を用いることができる。検出器
６、６′としてはフォトダイオード、CCD等が用いられ
る。
第１図の実施例において、近端フレネル反射光を取り
出す光路変換器は光方向性結合器４と検出器６との間の
光路上に設けるのが測定の感度の点で好ましい。
出す光路変換器は光方向性結合器４と検出器６との間の
光路上に設けるのが測定の感度の点で好ましい。
［発明の効果］ 本発明は、測定誤差の減少及び安定した高分解能が得
られるなどの優れた効果を有している。
られるなどの優れた効果を有している。
本発明の光パルス試験器は、光学系での継続的な位置
ズレを光速で割った程度の誤差しか生じないが、光学系
の位置ズレはほとんどない為、誤差はほとんど無視でき
る。また、使用するレーザーに半導体、気体、固体レー
ザー等のいかなるレーザーを用いた場合でも、その駆動
回路から、同期信号をとらない為、同じように、高分解
能を得ることができる。
ズレを光速で割った程度の誤差しか生じないが、光学系
の位置ズレはほとんどない為、誤差はほとんど無視でき
る。また、使用するレーザーに半導体、気体、固体レー
ザー等のいかなるレーザーを用いた場合でも、その駆動
回路から、同期信号をとらない為、同じように、高分解
能を得ることができる。
第１図は本発明の１実施例を示し、近端フレネル反射光
からトリガ信号をとり出した光パルス試験器のブロック
図であり、第２図は従来の光パルス試験器のブロック図
である。 １…パルス発振器、２…レーザー、４…光方向性結合
器、５…被測定ファイバ、８…信号処理装置。
からトリガ信号をとり出した光パルス試験器のブロック
図であり、第２図は従来の光パルス試験器のブロック図
である。 １…パルス発振器、２…レーザー、４…光方向性結合
器、５…被測定ファイバ、８…信号処理装置。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定ファイバヘパルスレーザー光を入射
する光源と、被測定ファイバからの戻り光を検出器へ光
路変換する光方向性結合器と、検出器からの信号を処理
する信号処理装置とを具備してなる光パルス試験器にお
いて、前記検出器と被測定ファイバの入射端面との光路
上に被測定ファイバ端面からの近端フレネル反射光を取
り出すフィルターを備える光路変換器を設け、さらに前
記近端フレネル反射光を検出する他の検出器を設け、前
記近端フレネル反射光を前記信号処理装置の同期をとる
ためのトリガ信号とすることを特徴とする光パルス試験
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63239740A JP2722524B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63239740A JP2722524B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0288936A JPH0288936A (ja) | 1990-03-29 |
| JP2722524B2 true JP2722524B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=17049229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63239740A Expired - Fee Related JP2722524B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2722524B2 (ja) |
-
1988
- 1988-09-27 JP JP63239740A patent/JP2722524B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0288936A (ja) | 1990-03-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |