JPH01233382A - レーザ測距装置 - Google Patents

レーザ測距装置

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Publication number
JPH01233382A
JPH01233382A JP6087488A JP6087488A JPH01233382A JP H01233382 A JPH01233382 A JP H01233382A JP 6087488 A JP6087488 A JP 6087488A JP 6087488 A JP6087488 A JP 6087488A JP H01233382 A JPH01233382 A JP H01233382A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interference optical
semiconductor laser
optical filter
monitoring
laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP6087488A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyasu Otani
大谷 博康
Sho Yasuda
升 安田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP6087488A priority Critical patent/JPH01233382A/ja
Publication of JPH01233382A publication Critical patent/JPH01233382A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体レーザを用いたレーザ測距装置に関する
〔従来の技術〕
従来の半導体レーザを用いたレーザ測距装置の構成を第
2図に示す。
半導体レーザ1はタイミングコントローラ7から出力さ
れるトリガ信号に同期して駆動される。
半導体レーザより出力されたレーザ光は送信光学系2−
を通して目標物に向かって送信ビーム9として出射され
る。目標から反射されたレーザ光である受信ビーム10
は、受信光学系33により集められ、背景光除去用の受
信用干渉光学フィルタ4を通して検知器5に送られる。
検知器5により電気信号に変換せた受信信号は増幅器6
により増幅されタイミングコントローラに導かれる。
タイミングコントローラ7において、半導体レーザ光を
送出した時から、受信信号が入射した時までの時間を計
測して、この時間を距離に換算して表示器8に距離を表
示する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のレーザ測距装置は、半導体レーザの発振
波長が半導体レーザの温度により変化し、その波長変化
範囲は500人にも及び広いしのであるので、背景光除
去用の受信用干渉光学フィルタとしては、波長変化範囲
を含んだ透過帯域を有するものを用いる必要がある。
この為、背景光除去の効果があまり期待できず、有効な
測距が行なえるのは、背景光の少ない夜間の測定か、信
号光が背景光より十分大きくなる近距離の測定に限られ
てしまうという欠点がある。
本発明の目的は上述した欠点を除去し、透過帯域幅の狭
い受信用干渉光学フィルタを用て背景光除去の効果を大
幅に向上することができるレーザ測距装置を提供するこ
とにある。
〔課題を解決するための手段〕 。
本発明の装置は、半導体レーザを用いたレーザ測距装置
において、半導体レーザの発生するレーザ光の一部を取
り出したうえこれをそれぞれ中心波長の異る狭透過帯域
幅を有する少なくとも2個の干渉光学フィルタに通して
その透過光量をモニタする手段と、前記少なくとも2個
の干渉光学フィルタの透過光量差にもとづき前記半導体
レーザの温度を制御してその発振波長を所定の範囲に保
持する手段とを備えて構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
第1図において記号1〜10は第2図に記載の同番号の
ものと同じであり、これらに関する詳細な説明は省略す
る。
第1図において、記号11は半導体レーザ1の出力光の
一部を取り出すためのビームスピリツタ。
12はビームスビリツタ11で取り出しなレーザ光の一
部を透過し残りは反射させるためのパーシャルミラー9
.13は反射ミラー14.15は中心波長が互いに若干
異なる透過帯域の狭いモニタ用干渉光学フィルタ、16
.17はモニタ用干渉光学フィルタ14.15を透過し
た光量をモニタするためのモニタ用光検知器、18はモ
ニタ用光検知器16.17からの信号差をモニタし半導
体レーザの発振波長の変動を検出するモニタ部、19は
半導体レーザ1の温度をコントロールする温度コントロ
ーラである。
次に第1図の実施例の動作について説明する。
半導体レーザ1がら出力したレーザ光の1部は、ビーム
スプリッタ11により収り出され、パーシャルミラー1
29反射ミラー13により2分割にされる。2分割され
たレーザ光は、中心波長が若干異なる狭帯域のモニタ用
干渉光学フオルタ14゜15に導かれる。モニタ干渉光
学フィルタ14゜15の中心波長の中間に中心波長があ
る干渉光学フィルタを受信用干渉光学フィルタ4として
用いる。この関係を第3図に示す。
第3図において、20は受信用干渉光学フィルタ4の透
過特性、21はモニタ用干渉光学フィルタ14の透過特
性、22はモニタ用干渉光学フィルタ15の透過特性で
ある。
半導体レーザ1の発振波長が受信用干渉光学フィルタ4
の中心波長入口より長波長側に変化したとする。この時
、モニタ用光検知器16.17の出力は長波長側に大き
な透過率を有するモニタ用干渉光学フィルタ14に配置
されているモニタ用光検知器16の出力が大きくなり、
一方、モニタ用光検知器16の出力が小さなる。反対に
、発振波長が短波長側に、変化した場合は、モニタ用光
検知器が小さくなり、モニタ用光検知器17の薬方が大
きくなる。このように、2つのモニタ用光検知器の出力
の大小及びその方向により発振波長の変化量をモニタ部
18で比較判別し、その変化量に応じた温度コントロー
ル信号を出力し、温度コントローラ19に送る。温度コ
ントローラ1つは、モニタ部18からの信号に応じて半
導体レーザの温度をコントロールする。
−iに、半導体レーザの波振発振は、温度が上がると長
波長側ヘシフトすることから、モニタ部18により長波
長側にシフトしたと判別すれば、半導体レーザの温度を
冷却するようにコントロールすれば良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、半導体レーザを用いたレ
ーザ測距装置において、狭い透過帯域幅を有する干渉光
学フィルタの透過光量をモニタしつつ、透過光量差にも
とづいて半導体レーザの温度コントロールによって発振
波長を制御することにより、受信用干渉光学フィルタに
狭帯域幅のウィルタを使用することができ、著しく背景
光除去を改善することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のレーザ測距装置の一実施例のブロック
図、第2図は従来のレーザ測距装置のブロック図、第3
図は第1図の実施例における干渉光学フィルタの透過特
性の説明図である。 1・−・半導体レーザ、2・・・送信光学系、3・・・
受信光学系、4・・・受信用干渉光学フィルタ、5・・
・検知器、6・・・増幅器、7・・・タイミングコント
ローラ、8・・・表示器、9・・・送信ビーム、10・
・・受信ビーム、11・・・ビームスプリッタ、12・
・・パーシャルミラー、13反射ミラー、14.15・
・・モニタ用干渉光学フィルタ、16.17・・・モニ
タ用光検知器、18・・・モニタ部、1つ・・・温度コ
ントローラ、20・・・受信用干渉光学フィルタの透過
特性、21,22・・・モニタ用干渉光学フィルタの透
過特性。 代理人 弁理士  内 原  音 翳 1 口 手20

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体レーザを用いたレーザ測距装置において、半導体
    レーザの発生するレーザ光の一部を取り出したうえこれ
    をそれぞれ中心波長の異る狭透過帯域幅を有する少なく
    とも2個の干渉光学フィルタに通してその透過光量をモ
    ニタする手段と、前記少なくとも2個の干渉光学フィル
    タの透過光量差にもとづき前記半導体レーザの温度を制
    御してその発振波長を所定の範囲に保持する手段とを備
    えて成ることを特徴とするレーザ測距装置。
JP6087488A 1988-03-14 1988-03-14 レーザ測距装置 Pending JPH01233382A (ja)

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JP6087488A JPH01233382A (ja) 1988-03-14 1988-03-14 レーザ測距装置

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JPH01233382A true JPH01233382A (ja) 1989-09-19

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JP (1) JPH01233382A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0774423A (ja) * 1993-09-03 1995-03-17 Nec Corp 半導体レーザ装置
JPH0837334A (ja) * 1994-07-22 1996-02-06 Nec Corp レーザ波長制御装置
JP2008224239A (ja) * 2007-03-08 2008-09-25 Nec Corp レーザ測距装置及びレーザ測距方法

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