JPS58113832A - 光フアイバ破断点検出装置 - Google Patents
光フアイバ破断点検出装置Info
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- JPS58113832A JPS58113832A JP21435181A JP21435181A JPS58113832A JP S58113832 A JPS58113832 A JP S58113832A JP 21435181 A JP21435181 A JP 21435181A JP 21435181 A JP21435181 A JP 21435181A JP S58113832 A JPS58113832 A JP S58113832A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、近端破断点の検出も可能な光フアイバ破断点
検出装置に関するものである。
検出装置に関するものである。
光ファイバの破断点検出には、光ファイバにパルス光を
入射し、破断点からの反射パルス光を検出して、パルス
光の入射から反射パルス光の検出までの時間により、破
断点の位置を算出するのが一般的である。このような光
ファイバの破断点を検出する装置は、従来第1図に示す
構成を有する ゛ものであった。同図に於いて、
1は信号処理部、2はパルス発生器、3はレーザ装置、
4は光力グラ、5は光コネクタ、6は被測定光フフイバ
、7は破断点、8はアバランシェ7オトダイオード等か
らなる光検知器、9は増幅器である。
入射し、破断点からの反射パルス光を検出して、パルス
光の入射から反射パルス光の検出までの時間により、破
断点の位置を算出するのが一般的である。このような光
ファイバの破断点を検出する装置は、従来第1図に示す
構成を有する ゛ものであった。同図に於いて、
1は信号処理部、2はパルス発生器、3はレーザ装置、
4は光力グラ、5は光コネクタ、6は被測定光フフイバ
、7は破断点、8はアバランシェ7オトダイオード等か
らなる光検知器、9は増幅器である。
信号処理部1からのタイミング信号によシパルス発生器
2はパルス信号全レーザ装置3に加え、レーザパルス光
ヲ発生させる。このレーザパルス光は、光カプラ4、光
コネクタ5を介して被測定光ファイバ6に入射される。
2はパルス信号全レーザ装置3に加え、レーザパルス光
ヲ発生させる。このレーザパルス光は、光カプラ4、光
コネクタ5を介して被測定光ファイバ6に入射される。
破断点7でレーザパルス光が反射され、光カプラ4によ
り光検知器8にその反射パルス光が加えられる。
り光検知器8にその反射パルス光が加えられる。
光検知器8の出力は増幅器9により増幅されて信号処理
部1に加えられる。信号処理部1では、レーザパルス光
の発生から反射パルス光の検出までの時間により、破断
点7までの距離Li算出する。このレーザパルス光は所
定の期間毎に繰返し発生する吃のでおシ、信号処理部1
はアベレージング処理を行なうことによp1高精度で距
離を算出することができる。
部1に加えられる。信号処理部1では、レーザパルス光
の発生から反射パルス光の検出までの時間により、破断
点7までの距離Li算出する。このレーザパルス光は所
定の期間毎に繰返し発生する吃のでおシ、信号処理部1
はアベレージング処理を行なうことによp1高精度で距
離を算出することができる。
破断点が100〜200脩以内の場合の反射パルス光と
5Kmの場合の反射パルス光との比は0.87X10’
になるので、5Kmのような遠端の破断点を検出し得る
ように、増幅器9の利得を大きくしておくのが一般的で
ある。従って近端の破断点を検出する場合、バックスキ
ャツタリングの影響も加わって、増幅器9は飽和状態と
なる。即ち近端破断点からtv k 射ハルス光の成分
は、バックスキャツタリングの成分に埋れて識別できな
いものとなる。
5Kmの場合の反射パルス光との比は0.87X10’
になるので、5Kmのような遠端の破断点を検出し得る
ように、増幅器9の利得を大きくしておくのが一般的で
ある。従って近端の破断点を検出する場合、バックスキ
ャツタリングの影響も加わって、増幅器9は飽和状態と
なる。即ち近端破断点からtv k 射ハルス光の成分
は、バックスキャツタリングの成分に埋れて識別できな
いものとなる。
このようなことから、従来は近端破断点の検出が不可能
であったから、近端破断点については、光ファイバの他
端から測定を行なうことによシ、遠端破断点として検出
するものであった。
であったから、近端破断点については、光ファイバの他
端から測定を行なうことによシ、遠端破断点として検出
するものであった。
不発明は、近端破断点についても容易に検出し得るよう
にすることを目的とするものでおる。以下実施例につい
て詳細に説明する。
にすることを目的とするものでおる。以下実施例につい
て詳細に説明する。
第2図は本発明の実施例のブロック線図でおplllは
信号処理部、12はパルス発生器、13はレーザ装置、
14は光カプラ、15は光コネクタ、16ハ被測定光フ
フイバ、17は破断点、18は光検知器、19は増幅器
、20は電気光学素子等から構成され、印加電圧に応じ
て光の通過損失か変化する光スィッチ、21は関数発生
器、22は遅延回路である。
信号処理部、12はパルス発生器、13はレーザ装置、
14は光カプラ、15は光コネクタ、16ハ被測定光フ
フイバ、17は破断点、18は光検知器、19は増幅器
、20は電気光学素子等から構成され、印加電圧に応じ
て光の通過損失か変化する光スィッチ、21は関数発生
器、22は遅延回路である。
レーザ装置16からのレーザパルス光が光カプラ14、
光コイフタ15ヲ介して被測定光ファイバ16に入射さ
れ、破断点17に・よる反射パルス光及びバックスキャ
ツタリングによる反射光は、光カプラ14によシ分離さ
れて元スイッチ20に加えられる。
光コイフタ15ヲ介して被測定光ファイバ16に入射さ
れ、破断点17に・よる反射パルス光及びバックスキャ
ツタリングによる反射光は、光カプラ14によシ分離さ
れて元スイッチ20に加えられる。
この光スィッチ20に関数発生器21からの信号が遅延
回路22で遅延されて加えられて、光検知器18に加え
る光量を制御する。即ち光スィッチ20は、近端部から
の反射光に対して時間的に変化する光アッテネータとし
て作用する。
回路22で遅延されて加えられて、光検知器18に加え
る光量を制御する。即ち光スィッチ20は、近端部から
の反射光に対して時間的に変化する光アッテネータとし
て作用する。
第5図は動作説明図であp1同図(、)に示すパルスが
信号処理部11からのタイミング信号によりパルス発生
器12からレーザ装w、16に加えられると、レーザ装
置1It16から(6)に示すレーザパルス光が発生さ
れる。このレーザパルス光にょ多、光コネクタ15から
の反射光、被測定光フ1イバ16のレーリ散乱による散
乱光(バックスキャツタ)及び破断点17からの反射パ
ルス光が光力グラ14により光スィッチ20に入射され
る。
信号処理部11からのタイミング信号によりパルス発生
器12からレーザ装w、16に加えられると、レーザ装
置1It16から(6)に示すレーザパルス光が発生さ
れる。このレーザパルス光にょ多、光コネクタ15から
の反射光、被測定光フ1イバ16のレーリ散乱による散
乱光(バックスキャツタ)及び破断点17からの反射パ
ルス光が光力グラ14により光スィッチ20に入射され
る。
第5図(1)は前述の各反射光の一例を示すもので、遠
端破断点の反射パルス光はRF’で示すものとなるが、
近端破断点の反射パルス光はRFで示すものとなる。こ
のような反射光を直接光検知器18で検出して増幅器1
9で増幅すると、増幅器19の飽和により増幅出力は第
6図(d)に示すものとなる。
端破断点の反射パルス光はRF’で示すものとなるが、
近端破断点の反射パルス光はRFで示すものとなる。こ
のような反射光を直接光検知器18で検出して増幅器1
9で増幅すると、増幅器19の飽和により増幅出力は第
6図(d)に示すものとなる。
即ち近端破断点の反射パルス光RFの検出信号がなくな
ってしまうことになる。
ってしまうことになる。
そこで光スイツチ20全制御し、増幅器19に於ける飽
和を防止し、近端破断点の反射パルス光RFの検出信号
も正しく増幅し得るようにするもので、光スィッチ20
に加える制御信号を第3図(−)に示すようKする。
和を防止し、近端破断点の反射パルス光RFの検出信号
も正しく増幅し得るようにするもので、光スィッチ20
に加える制御信号を第3図(−)に示すようKする。
時間t1は光コイフタ15がらの反射光による影響を除
く為に遅延回路22にょ)与える遅延時間でめシ、 で与えられる。但し、C−光速(−3X108倶)、N
−光ファイバの群屈折率(: 1.459 ) 、 L
P−ガイド光ファイバの全長、Tsu−レーザパルス光
のパルス幅である。なおガイド光ファイバは、被測定光
ファイバ16以外の部分の光ファイバを示す。
く為に遅延回路22にょ)与える遅延時間でめシ、 で与えられる。但し、C−光速(−3X108倶)、N
−光ファイバの群屈折率(: 1.459 ) 、 L
P−ガイド光ファイバの全長、Tsu−レーザパルス光
のパルス幅である。なおガイド光ファイバは、被測定光
ファイバ16以外の部分の光ファイバを示す。
又制御信号の立上シは、関数発生器21により形成され
るもので、 の波形とするものでめる。但し、α−光フ1イバのiI
g槓偵失、’V11はスイッチ電圧でおる。
るもので、 の波形とするものでめる。但し、α−光フ1イバのiI
g槓偵失、’V11はスイッチ電圧でおる。
元スイッチ20は電圧を印加することによシ光のスイッ
チングが可能なもので、種々の電気光学素子を用いるこ
とができる。第4図は光スィッチ20に加える電圧と通
過損失との特性の一例を示すものであシ、電圧が零のと
きは損失が最大で光信号に対してはオフ状態となシ、電
圧を上昇するに従って通過損失は低下し、スイッチ電圧
VI(によシはぼ損失は零となるものでおる。従って第
3図(−)に示す制御信号を光スィッチ20に加えるこ
とによシ、指数関数的に通過損失を少なくシ、近端のバ
ックスキャツタリング光に損失金与えて光検知器18に
入射させることができる。
チングが可能なもので、種々の電気光学素子を用いるこ
とができる。第4図は光スィッチ20に加える電圧と通
過損失との特性の一例を示すものであシ、電圧が零のと
きは損失が最大で光信号に対してはオフ状態となシ、電
圧を上昇するに従って通過損失は低下し、スイッチ電圧
VI(によシはぼ損失は零となるものでおる。従って第
3図(−)に示す制御信号を光スィッチ20に加えるこ
とによシ、指数関数的に通過損失を少なくシ、近端のバ
ックスキャツタリング光に損失金与えて光検知器18に
入射させることができる。
時間t2は、例えば5μsとすると、被測定光ファイバ
16の500m Vでの間の反射光に対して損失変化を
与えることになF)、200mまでの間の反射光に対し
て損失変化を与える場合は2μsに選定すれば良いこと
になる。
16の500m Vでの間の反射光に対して損失変化を
与えることになF)、200mまでの間の反射光に対し
て損失変化を与える場合は2μsに選定すれば良いこと
になる。
従って光スィッチ20から光検知器18には、第6図(
1)に示す反射光が加えられることになるから、増幅器
19は反射パルス光EFの検出信号を飽和することなく
増幅することができるものとなる。光スィッチ20の立
上シ特性が制御されることによシ、被測定光ファイバ1
6の近端損失が変化したようになるが、信号処理部11
で補正処理を行なうことができ、それによって第3図(
g)に示す信号となり、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を容易に識別できるので、信号処理部1の演算機
能によF) 200m以内の近端破断点も容易に検出す
ることができるものとなる。なお破断点17は完全な破
断のみでなく、クラックが生じている場合も含むもので
ある。
1)に示す反射光が加えられることになるから、増幅器
19は反射パルス光EFの検出信号を飽和することなく
増幅することができるものとなる。光スィッチ20の立
上シ特性が制御されることによシ、被測定光ファイバ1
6の近端損失が変化したようになるが、信号処理部11
で補正処理を行なうことができ、それによって第3図(
g)に示す信号となり、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を容易に識別できるので、信号処理部1の演算機
能によF) 200m以内の近端破断点も容易に検出す
ることができるものとなる。なお破断点17は完全な破
断のみでなく、クラックが生じている場合も含むもので
ある。
バ16に入射させるパルス光の発生から所定時間遅延さ
せると共に、関数発生器21による指数関数的に上昇さ
せる手段を有することにより、光コネクタ15からの反
射光及びバックスキャツタリング光による増幅器19の
飽和全防止できるので、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を飽和することなく増幅することができるものと
なる。それによって近端破断点の検出も容易となる利点
がある。なお遠端破断点の検出は従来例と同様に検出す
るこ ′とができる。
せると共に、関数発生器21による指数関数的に上昇さ
せる手段を有することにより、光コネクタ15からの反
射光及びバックスキャツタリング光による増幅器19の
飽和全防止できるので、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を飽和することなく増幅することができるものと
なる。それによって近端破断点の検出も容易となる利点
がある。なお遠端破断点の検出は従来例と同様に検出す
るこ ′とができる。
第1図は従来の光フアイバ破断点検出装置のブロック線
図、第2図は本発明の実施例のブロック線図、第3図は
動作説明図、第4図は光スィッチの特性説明図である。 11は信号処理部、12はパルス発生器、16はレーザ
装置、14は光カブラ、15は光コネクタ、16は被測
定光ファイバ、17は破断点、18は光検知器、19は
増幅器、20は光スィッチ、21は関数発生器、22は
遅延回路である。 特許出願人富士通株式会社 代理人弁理士玉蟲久五部 外6名 第1図 第2図
図、第2図は本発明の実施例のブロック線図、第3図は
動作説明図、第4図は光スィッチの特性説明図である。 11は信号処理部、12はパルス発生器、16はレーザ
装置、14は光カブラ、15は光コネクタ、16は被測
定光ファイバ、17は破断点、18は光検知器、19は
増幅器、20は光スィッチ、21は関数発生器、22は
遅延回路である。 特許出願人富士通株式会社 代理人弁理士玉蟲久五部 外6名 第1図 第2図
Claims (1)
- 被測定光ファイバにパルス光を入射し、破断点からの反
射パルス光を検出して、光ファイバの破断点を検出する
装置に於いて、制御信号に応じて通過損失が制御される
光スィッチ、眩光スイッチを介して前記反射パルス光を
加える光検知器、該光検知器の出力を増幅する増幅器、
前記光スィッチに加える制御信号の立上シラ前記パルス
光の発生から所定時間遅延させると共にほぼ指数関数的
に上昇させる手段と全備えたことを%徴とする光フアイ
バ破断点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21435181A JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21435181A JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58113832A true JPS58113832A (ja) | 1983-07-06 |
JPH033175B2 JPH033175B2 (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=16654326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21435181A Granted JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58113832A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01223325A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-06 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
JPH02304328A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ファイバ障害点探索方法および装置 |
FR2649803A1 (fr) * | 1989-07-14 | 1991-01-18 | Tektronix Inc | Reflectometre temporel optique et declencheur automatique de masque pour un tel reflectometre |
US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
EP2741432A1 (en) * | 2011-12-31 | 2014-06-11 | Huawei Technologies Co., Ltd | Optical time-domain reflectometer and method for obtaining measuring signals thereof |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5021323A (ja) * | 1973-06-28 | 1975-03-06 | ||
JPS5149052A (ja) * | 1974-10-24 | 1976-04-27 | Nippon Electric Co | Hikarifuaibadansenkensasochi |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP21435181A patent/JPS58113832A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5021323A (ja) * | 1973-06-28 | 1975-03-06 | ||
JPS5149052A (ja) * | 1974-10-24 | 1976-04-27 | Nippon Electric Co | Hikarifuaibadansenkensasochi |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01223325A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-06 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
JPH02304328A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ファイバ障害点探索方法および装置 |
FR2649803A1 (fr) * | 1989-07-14 | 1991-01-18 | Tektronix Inc | Reflectometre temporel optique et declencheur automatique de masque pour un tel reflectometre |
US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
EP2741432A1 (en) * | 2011-12-31 | 2014-06-11 | Huawei Technologies Co., Ltd | Optical time-domain reflectometer and method for obtaining measuring signals thereof |
EP2741432A4 (en) * | 2011-12-31 | 2014-10-29 | Huawei Tech Co Ltd | OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND METHOD FOR OBTAINING MEASUREMENT SIGNALS THEREFOR |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH033175B2 (ja) | 1991-01-17 |
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