JPS58113832A - 光フアイバ破断点検出装置 - Google Patents
光フアイバ破断点検出装置Info
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- JPS58113832A JPS58113832A JP21435181A JP21435181A JPS58113832A JP S58113832 A JPS58113832 A JP S58113832A JP 21435181 A JP21435181 A JP 21435181A JP 21435181 A JP21435181 A JP 21435181A JP S58113832 A JPS58113832 A JP S58113832A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、近端破断点の検出も可能な光フアイバ破断点
検出装置に関するものである。
検出装置に関するものである。
光ファイバの破断点検出には、光ファイバにパルス光を
入射し、破断点からの反射パルス光を検出して、パルス
光の入射から反射パルス光の検出までの時間により、破
断点の位置を算出するのが一般的である。このような光
ファイバの破断点を検出する装置は、従来第１図に示す
構成を有する ゛ものであった。同図に於いて、
１は信号処理部、２はパルス発生器、３はレーザ装置、
４は光力グラ、５は光コネクタ、６は被測定光フフイバ
、７は破断点、８はアバランシェ７オトダイオード等か
らなる光検知器、９は増幅器である。
入射し、破断点からの反射パルス光を検出して、パルス
光の入射から反射パルス光の検出までの時間により、破
断点の位置を算出するのが一般的である。このような光
ファイバの破断点を検出する装置は、従来第１図に示す
構成を有する ゛ものであった。同図に於いて、
１は信号処理部、２はパルス発生器、３はレーザ装置、
４は光力グラ、５は光コネクタ、６は被測定光フフイバ
、７は破断点、８はアバランシェ７オトダイオード等か
らなる光検知器、９は増幅器である。
信号処理部１からのタイミング信号によシパルス発生器
２はパルス信号全レーザ装置３に加え、レーザパルス光
ヲ発生させる。このレーザパルス光は、光カプラ４、光
コネクタ５を介して被測定光ファイバ６に入射される。
２はパルス信号全レーザ装置３に加え、レーザパルス光
ヲ発生させる。このレーザパルス光は、光カプラ４、光
コネクタ５を介して被測定光ファイバ６に入射される。
破断点７でレーザパルス光が反射され、光カプラ４によ
り光検知器８にその反射パルス光が加えられる。
り光検知器８にその反射パルス光が加えられる。
光検知器８の出力は増幅器９により増幅されて信号処理
部１に加えられる。信号処理部１では、レーザパルス光
の発生から反射パルス光の検出までの時間により、破断
点７までの距離Ｌｉ算出する。このレーザパルス光は所
定の期間毎に繰返し発生する吃のでおシ、信号処理部１
はアベレージング処理を行なうことによｐ１高精度で距
離を算出することができる。
部１に加えられる。信号処理部１では、レーザパルス光
の発生から反射パルス光の検出までの時間により、破断
点７までの距離Ｌｉ算出する。このレーザパルス光は所
定の期間毎に繰返し発生する吃のでおシ、信号処理部１
はアベレージング処理を行なうことによｐ１高精度で距
離を算出することができる。
破断点が１００〜２００脩以内の場合の反射パルス光と
５Ｋｍの場合の反射パルス光との比は０．８７Ｘ１０’
になるので、５Ｋｍのような遠端の破断点を検出し得る
ように、増幅器９の利得を大きくしておくのが一般的で
ある。従って近端の破断点を検出する場合、バックスキ
ャツタリングの影響も加わって、増幅器９は飽和状態と
なる。即ち近端破断点からｔｖ ｋ 射ハルス光の成分
は、バックスキャツタリングの成分に埋れて識別できな
いものとなる。
５Ｋｍの場合の反射パルス光との比は０．８７Ｘ１０’
になるので、５Ｋｍのような遠端の破断点を検出し得る
ように、増幅器９の利得を大きくしておくのが一般的で
ある。従って近端の破断点を検出する場合、バックスキ
ャツタリングの影響も加わって、増幅器９は飽和状態と
なる。即ち近端破断点からｔｖ ｋ 射ハルス光の成分
は、バックスキャツタリングの成分に埋れて識別できな
いものとなる。
このようなことから、従来は近端破断点の検出が不可能
であったから、近端破断点については、光ファイバの他
端から測定を行なうことによシ、遠端破断点として検出
するものであった。
であったから、近端破断点については、光ファイバの他
端から測定を行なうことによシ、遠端破断点として検出
するものであった。
不発明は、近端破断点についても容易に検出し得るよう
にすることを目的とするものでおる。以下実施例につい
て詳細に説明する。
にすることを目的とするものでおる。以下実施例につい
て詳細に説明する。
第２図は本発明の実施例のブロック線図でおｐｌｌｌは
信号処理部、１２はパルス発生器、１３はレーザ装置、
１４は光カプラ、１５は光コネクタ、１６ハ被測定光フ
フイバ、１７は破断点、１８は光検知器、１９は増幅器
、２０は電気光学素子等から構成され、印加電圧に応じ
て光の通過損失か変化する光スィッチ、２１は関数発生
器、２２は遅延回路である。
信号処理部、１２はパルス発生器、１３はレーザ装置、
１４は光カプラ、１５は光コネクタ、１６ハ被測定光フ
フイバ、１７は破断点、１８は光検知器、１９は増幅器
、２０は電気光学素子等から構成され、印加電圧に応じ
て光の通過損失か変化する光スィッチ、２１は関数発生
器、２２は遅延回路である。
レーザ装置１６からのレーザパルス光が光カプラ１４、
光コイフタ１５ヲ介して被測定光ファイバ１６に入射さ
れ、破断点１７に・よる反射パルス光及びバックスキャ
ツタリングによる反射光は、光カプラ１４によシ分離さ
れて元スイッチ２０に加えられる。
光コイフタ１５ヲ介して被測定光ファイバ１６に入射さ
れ、破断点１７に・よる反射パルス光及びバックスキャ
ツタリングによる反射光は、光カプラ１４によシ分離さ
れて元スイッチ２０に加えられる。
この光スィッチ２０に関数発生器２１からの信号が遅延
回路２２で遅延されて加えられて、光検知器１８に加え
る光量を制御する。即ち光スィッチ２０は、近端部から
の反射光に対して時間的に変化する光アッテネータとし
て作用する。
回路２２で遅延されて加えられて、光検知器１８に加え
る光量を制御する。即ち光スィッチ２０は、近端部から
の反射光に対して時間的に変化する光アッテネータとし
て作用する。
第５図は動作説明図であｐ１同図（、）に示すパルスが
信号処理部１１からのタイミング信号によりパルス発生
器１２からレーザ装ｗ、１６に加えられると、レーザ装
置１Ｉｔ１６から（６）に示すレーザパルス光が発生さ
れる。このレーザパルス光にょ多、光コネクタ１５から
の反射光、被測定光フ１イバ１６のレーリ散乱による散
乱光（バックスキャツタ）及び破断点１７からの反射パ
ルス光が光力グラ１４により光スィッチ２０に入射され
る。
信号処理部１１からのタイミング信号によりパルス発生
器１２からレーザ装ｗ、１６に加えられると、レーザ装
置１Ｉｔ１６から（６）に示すレーザパルス光が発生さ
れる。このレーザパルス光にょ多、光コネクタ１５から
の反射光、被測定光フ１イバ１６のレーリ散乱による散
乱光（バックスキャツタ）及び破断点１７からの反射パ
ルス光が光力グラ１４により光スィッチ２０に入射され
る。
第５図（１）は前述の各反射光の一例を示すもので、遠
端破断点の反射パルス光はＲＦ’で示すものとなるが、
近端破断点の反射パルス光はＲＦで示すものとなる。こ
のような反射光を直接光検知器１８で検出して増幅器１
９で増幅すると、増幅器１９の飽和により増幅出力は第
６図（ｄ）に示すものとなる。
端破断点の反射パルス光はＲＦ’で示すものとなるが、
近端破断点の反射パルス光はＲＦで示すものとなる。こ
のような反射光を直接光検知器１８で検出して増幅器１
９で増幅すると、増幅器１９の飽和により増幅出力は第
６図（ｄ）に示すものとなる。
即ち近端破断点の反射パルス光ＲＦの検出信号がなくな
ってしまうことになる。
ってしまうことになる。
そこで光スイツチ２０全制御し、増幅器１９に於ける飽
和を防止し、近端破断点の反射パルス光ＲＦの検出信号
も正しく増幅し得るようにするもので、光スィッチ２０
に加える制御信号を第３図（−）に示すようＫする。
和を防止し、近端破断点の反射パルス光ＲＦの検出信号
も正しく増幅し得るようにするもので、光スィッチ２０
に加える制御信号を第３図（−）に示すようＫする。
時間ｔ１は光コイフタ１５がらの反射光による影響を除
く為に遅延回路２２にょ）与える遅延時間でめシ、 で与えられる。但し、Ｃ−光速（−３Ｘ１０８倶）、Ｎ
−光ファイバの群屈折率（： １．４５９ ） 、 Ｌ
Ｐ−ガイド光ファイバの全長、Ｔｓｕ−レーザパルス光
のパルス幅である。なおガイド光ファイバは、被測定光
ファイバ１６以外の部分の光ファイバを示す。
く為に遅延回路２２にょ）与える遅延時間でめシ、 で与えられる。但し、Ｃ−光速（−３Ｘ１０８倶）、Ｎ
−光ファイバの群屈折率（： １．４５９ ） 、 Ｌ
Ｐ−ガイド光ファイバの全長、Ｔｓｕ−レーザパルス光
のパルス幅である。なおガイド光ファイバは、被測定光
ファイバ１６以外の部分の光ファイバを示す。
又制御信号の立上シは、関数発生器２１により形成され
るもので、 の波形とするものでめる。但し、α−光フ１イバのｉＩ
ｇ槓偵失、’Ｖ１１はスイッチ電圧でおる。
るもので、 の波形とするものでめる。但し、α−光フ１イバのｉＩ
ｇ槓偵失、’Ｖ１１はスイッチ電圧でおる。
元スイッチ２０は電圧を印加することによシ光のスイッ
チングが可能なもので、種々の電気光学素子を用いるこ
とができる。第４図は光スィッチ２０に加える電圧と通
過損失との特性の一例を示すものであシ、電圧が零のと
きは損失が最大で光信号に対してはオフ状態となシ、電
圧を上昇するに従って通過損失は低下し、スイッチ電圧
ＶＩ（によシはぼ損失は零となるものでおる。従って第
３図（−）に示す制御信号を光スィッチ２０に加えるこ
とによシ、指数関数的に通過損失を少なくシ、近端のバ
ックスキャツタリング光に損失金与えて光検知器１８に
入射させることができる。
チングが可能なもので、種々の電気光学素子を用いるこ
とができる。第４図は光スィッチ２０に加える電圧と通
過損失との特性の一例を示すものであシ、電圧が零のと
きは損失が最大で光信号に対してはオフ状態となシ、電
圧を上昇するに従って通過損失は低下し、スイッチ電圧
ＶＩ（によシはぼ損失は零となるものでおる。従って第
３図（−）に示す制御信号を光スィッチ２０に加えるこ
とによシ、指数関数的に通過損失を少なくシ、近端のバ
ックスキャツタリング光に損失金与えて光検知器１８に
入射させることができる。
時間ｔ２は、例えば５μｓとすると、被測定光ファイバ
１６の５００ｍ Ｖでの間の反射光に対して損失変化を
与えることになＦ）、２００ｍまでの間の反射光に対し
て損失変化を与える場合は２μｓに選定すれば良いこと
になる。
１６の５００ｍ Ｖでの間の反射光に対して損失変化を
与えることになＦ）、２００ｍまでの間の反射光に対し
て損失変化を与える場合は２μｓに選定すれば良いこと
になる。
従って光スィッチ２０から光検知器１８には、第６図（
１）に示す反射光が加えられることになるから、増幅器
１９は反射パルス光ＥＦの検出信号を飽和することなく
増幅することができるものとなる。光スィッチ２０の立
上シ特性が制御されることによシ、被測定光ファイバ１
６の近端損失が変化したようになるが、信号処理部１１
で補正処理を行なうことができ、それによって第３図（
ｇ）に示す信号となり、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を容易に識別できるので、信号処理部１の演算機
能によＦ） ２００ｍ以内の近端破断点も容易に検出す
ることができるものとなる。なお破断点１７は完全な破
断のみでなく、クラックが生じている場合も含むもので
ある。
１）に示す反射光が加えられることになるから、増幅器
１９は反射パルス光ＥＦの検出信号を飽和することなく
増幅することができるものとなる。光スィッチ２０の立
上シ特性が制御されることによシ、被測定光ファイバ１
６の近端損失が変化したようになるが、信号処理部１１
で補正処理を行なうことができ、それによって第３図（
ｇ）に示す信号となり、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を容易に識別できるので、信号処理部１の演算機
能によＦ） ２００ｍ以内の近端破断点も容易に検出す
ることができるものとなる。なお破断点１７は完全な破
断のみでなく、クラックが生じている場合も含むもので
ある。
バ１６に入射させるパルス光の発生から所定時間遅延さ
せると共に、関数発生器２１による指数関数的に上昇さ
せる手段を有することにより、光コネクタ１５からの反
射光及びバックスキャツタリング光による増幅器１９の
飽和全防止できるので、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を飽和することなく増幅することができるものと
なる。それによって近端破断点の検出も容易となる利点
がある。なお遠端破断点の検出は従来例と同様に検出す
るこ ′とができる。
せると共に、関数発生器２１による指数関数的に上昇さ
せる手段を有することにより、光コネクタ１５からの反
射光及びバックスキャツタリング光による増幅器１９の
飽和全防止できるので、近端破断点の反射パルス光の検
出信号を飽和することなく増幅することができるものと
なる。それによって近端破断点の検出も容易となる利点
がある。なお遠端破断点の検出は従来例と同様に検出す
るこ ′とができる。
第１図は従来の光フアイバ破断点検出装置のブロック線
図、第２図は本発明の実施例のブロック線図、第３図は
動作説明図、第４図は光スィッチの特性説明図である。 １１は信号処理部、１２はパルス発生器、１６はレーザ
装置、１４は光カブラ、１５は光コネクタ、１６は被測
定光ファイバ、１７は破断点、１８は光検知器、１９は
増幅器、２０は光スィッチ、２１は関数発生器、２２は
遅延回路である。 特許出願人富士通株式会社 代理人弁理士玉蟲久五部 外６名 第１図 第２図
図、第２図は本発明の実施例のブロック線図、第３図は
動作説明図、第４図は光スィッチの特性説明図である。 １１は信号処理部、１２はパルス発生器、１６はレーザ
装置、１４は光カブラ、１５は光コネクタ、１６は被測
定光ファイバ、１７は破断点、１８は光検知器、１９は
増幅器、２０は光スィッチ、２１は関数発生器、２２は
遅延回路である。 特許出願人富士通株式会社 代理人弁理士玉蟲久五部 外６名 第１図 第２図
Claims (1)
- 被測定光ファイバにパルス光を入射し、破断点からの反
射パルス光を検出して、光ファイバの破断点を検出する
装置に於いて、制御信号に応じて通過損失が制御される
光スィッチ、眩光スイッチを介して前記反射パルス光を
加える光検知器、該光検知器の出力を増幅する増幅器、
前記光スィッチに加える制御信号の立上シラ前記パルス
光の発生から所定時間遅延させると共にほぼ指数関数的
に上昇させる手段と全備えたことを％徴とする光フアイ
バ破断点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21435181A JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21435181A JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58113832A true JPS58113832A (ja) | 1983-07-06 |
| JPH033175B2 JPH033175B2 (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=16654326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21435181A Granted JPS58113832A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 光フアイバ破断点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58113832A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01223325A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-06 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
| JPH02304328A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ファイバ障害点探索方法および装置 |
| FR2649803A1 (fr) * | 1989-07-14 | 1991-01-18 | Tektronix Inc | Reflectometre temporel optique et declencheur automatique de masque pour un tel reflectometre |
| US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
| EP2741432A1 (en) * | 2011-12-31 | 2014-06-11 | Huawei Technologies Co., Ltd | Optical time-domain reflectometer and method for obtaining measuring signals thereof |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5021323A (ja) * | 1973-06-28 | 1975-03-06 | ||
| JPS5149052A (ja) * | 1974-10-24 | 1976-04-27 | Nippon Electric Co | Hikarifuaibadansenkensasochi |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP21435181A patent/JPS58113832A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5021323A (ja) * | 1973-06-28 | 1975-03-06 | ||
| JPS5149052A (ja) * | 1974-10-24 | 1976-04-27 | Nippon Electric Co | Hikarifuaibadansenkensasochi |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01223325A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-06 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
| JPH02304328A (ja) * | 1989-05-18 | 1990-12-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ファイバ障害点探索方法および装置 |
| FR2649803A1 (fr) * | 1989-07-14 | 1991-01-18 | Tektronix Inc | Reflectometre temporel optique et declencheur automatique de masque pour un tel reflectometre |
| US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
| EP2741432A1 (en) * | 2011-12-31 | 2014-06-11 | Huawei Technologies Co., Ltd | Optical time-domain reflectometer and method for obtaining measuring signals thereof |
| EP2741432A4 (en) * | 2011-12-31 | 2014-10-29 | Huawei Tech Co Ltd | OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND METHOD FOR OBTAINING MEASUREMENT SIGNALS THEREFOR |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH033175B2 (ja) | 1991-01-17 |
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