JP2719717B2 - 穀物水分測定装置 - Google Patents
穀物水分測定装置Info
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- JP2719717B2 JP2719717B2 JP4254089A JP4254089A JP2719717B2 JP 2719717 B2 JP2719717 B2 JP 2719717B2 JP 4254089 A JP4254089 A JP 4254089A JP 4254089 A JP4254089 A JP 4254089A JP 2719717 B2 JP2719717 B2 JP 2719717B2
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- Japan
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- moisture
- grain
- grains
- crushing time
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は穀物水分測定装置に関し、特に試料に混入
している異常粒の測定データを除外し、試料の水分値を
正確に測定するものに関する。
している異常粒の測定データを除外し、試料の水分値を
正確に測定するものに関する。
[従来の技術] 一対のロール電極間で試料穀粒を一粒ずつ圧砕し、該
電極間に発生する電気抵抗値を検出し、これをデジタル
信号に変換するとともに測定データとして順次、メモリ
ーに記憶し、その測定データに基づいて該穀物の水分値
を算出する形式の穀物水分計に関し、本出願人は特願昭
61−201854号及び特願昭63−144300号の出願を行ってい
る。前者の穀物水分計は、試料に正常粒(「整粒」)状
態以外の異常粒(例えば、「屑粒」)が混入して測定デ
ータがバラツいて、水分値の算出に誤差が生じるという
不都合を防止するために、次のような手段を設けてい
る。
電極間に発生する電気抵抗値を検出し、これをデジタル
信号に変換するとともに測定データとして順次、メモリ
ーに記憶し、その測定データに基づいて該穀物の水分値
を算出する形式の穀物水分計に関し、本出願人は特願昭
61−201854号及び特願昭63−144300号の出願を行ってい
る。前者の穀物水分計は、試料に正常粒(「整粒」)状
態以外の異常粒(例えば、「屑粒」)が混入して測定デ
ータがバラツいて、水分値の算出に誤差が生じるという
不都合を防止するために、次のような手段を設けてい
る。
即ち、前記電極間で一粒ずつ圧砕するときに、測定デ
ータと同時に圧砕時間を検出し、この圧砕時間が予め設
定しておいた所定の基準値以下の場合には、そのときの
測定データを異常粒の測定データとして除外し、残余の
測定データに基づいて試料の水分値を算出し、誤差のな
い水分値を得るようにしている。
ータと同時に圧砕時間を検出し、この圧砕時間が予め設
定しておいた所定の基準値以下の場合には、そのときの
測定データを異常粒の測定データとして除外し、残余の
測定データに基づいて試料の水分値を算出し、誤差のな
い水分値を得るようにしている。
又、後者においては、穀粒が乾燥するにつれて前記圧
砕時間が短縮する傾向に対処すべく、穀物の水分値ある
いは圧砕時間の変化に伴って前記除外のための判断基準
値の許容範囲を修正して正確な水分値を得ようとしてい
る。
砕時間が短縮する傾向に対処すべく、穀物の水分値ある
いは圧砕時間の変化に伴って前記除外のための判断基準
値の許容範囲を修正して正確な水分値を得ようとしてい
る。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、前記形式の穀物水分計を利用して乾燥中の
被乾燥穀物を試料として採取し、試料粒の水分測定を行
い、その水分値を算出し、得られた水分値に基づいて穀
物乾燥機の各種制御等を行ったところ、次のような不都
合が生じた。
被乾燥穀物を試料として採取し、試料粒の水分測定を行
い、その水分値を算出し、得られた水分値に基づいて穀
物乾燥機の各種制御等を行ったところ、次のような不都
合が生じた。
即ち、従来のやり方で除外した穀粒の中に、何ら不都
合のない正常粒が混入していると言うことである。そこ
でこの点についてさらに詳しく調べたところ、試料の水
分値が従来、可としていた領域(例、籾の場合14〜16
%)よりも低い場合、又は測定時の試料温度が低い場合
(10℃以下)にこのような不都合を生ずることが判明し
た。この原因は、穀粒がその水分を減ずる過程で硬化
し、ある水分値を下回った場合には、圧砕する際に、そ
れまでの塑性変形から破砕変形へと変化するのでロール
電極で圧砕するときの圧砕時間が極端に短縮するため、
乾燥による収縮で穀粒の粒径が小さいため、穀物の
温度特性の影響で、水分が粒の内部から表面に出にくく
なり、したがって電気量の変化が現われにくく、圧砕時
間が短くみなされるため、と認識された。
合のない正常粒が混入していると言うことである。そこ
でこの点についてさらに詳しく調べたところ、試料の水
分値が従来、可としていた領域(例、籾の場合14〜16
%)よりも低い場合、又は測定時の試料温度が低い場合
(10℃以下)にこのような不都合を生ずることが判明し
た。この原因は、穀粒がその水分を減ずる過程で硬化
し、ある水分値を下回った場合には、圧砕する際に、そ
れまでの塑性変形から破砕変形へと変化するのでロール
電極で圧砕するときの圧砕時間が極端に短縮するため、
乾燥による収縮で穀粒の粒径が小さいため、穀物の
温度特性の影響で、水分が粒の内部から表面に出にくく
なり、したがって電気量の変化が現われにくく、圧砕時
間が短くみなされるため、と認識された。
これに対しては、従来のように一定の基準値を設定し
たり、又、この基準値に対する許容範囲を水分値等によ
って修正するやり方では対応しきれず、正常粒を除外す
ることとなっていた。又、基準値を低目に設定すると、
通常の場合の測定において、破砕粒を正常粒とみなす誤
判定となる不都合が生じる。
たり、又、この基準値に対する許容範囲を水分値等によ
って修正するやり方では対応しきれず、正常粒を除外す
ることとなっていた。又、基準値を低目に設定すると、
通常の場合の測定において、破砕粒を正常粒とみなす誤
判定となる不都合が生じる。
[発明の目的] そこでこの出願の第1発明の目的は、上記事情を考慮
して、圧砕時間を基準値と比較して異常粒を判別除去す
るものにおいて、測定中に除外した粒数をカウントし、
その粒数が所定値に達した場合に信号を発して作業者に
注意するようにした穀物水分測定装置を提供することと
し、第2発明の目的は、同じく測定中に除外した粒数を
カウントし、その粒数が所定値に達したとき、さらに測
定水分値を確認して所要の基準値修正を自動的に行うよ
うにした穀物水分測定装置を提供することとした。
して、圧砕時間を基準値と比較して異常粒を判別除去す
るものにおいて、測定中に除外した粒数をカウントし、
その粒数が所定値に達した場合に信号を発して作業者に
注意するようにした穀物水分測定装置を提供することと
し、第2発明の目的は、同じく測定中に除外した粒数を
カウントし、その粒数が所定値に達したとき、さらに測
定水分値を確認して所要の基準値修正を自動的に行うよ
うにした穀物水分測定装置を提供することとした。
[問題点を解決するための手段] この目的を達成するために、この出願の第1発明は、
圧砕時間が基準値に満たないで除外された穀粒の粒数を
カウントするカウンタと、このカウンタが所定の粒数を
カウントしたとき信号を発する警告手段とを設けたこと
を特徴とする構成要旨とし、第2発明は、同じくカウン
タと、このカウンタが所定の粒数をカウントしたとき信
号を発する警告手段と、この警告手段の信号を受けて水
分値を確認し、さらに前記基準値を修正する設定修正手
段とを設けたことを特徴とする構成要旨としたものであ
る。
圧砕時間が基準値に満たないで除外された穀粒の粒数を
カウントするカウンタと、このカウンタが所定の粒数を
カウントしたとき信号を発する警告手段とを設けたこと
を特徴とする構成要旨とし、第2発明は、同じくカウン
タと、このカウンタが所定の粒数をカウントしたとき信
号を発する警告手段と、この警告手段の信号を受けて水
分値を確認し、さらに前記基準値を修正する設定修正手
段とを設けたことを特徴とする構成要旨としたものであ
る。
[作用] 上述のような構成により、第1発明は、警告手段が測
定中に除外した試料の割合が多い場合を逸早く知らせ
て、作業者に適切な対応を求める。
定中に除外した試料の割合が多い場合を逸早く知らせ
て、作業者に適切な対応を求める。
又、第2発明では、測定中の除外粒数が多い場合に、
自動的に対応して不必要な除外粒の発生を防止する。
自動的に対応して不必要な除外粒の発生を防止する。
[実施例] 以下図面に基づいてこの発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第1図はこの発明の一実施例を示す穀物水分測定装置
の測定制御回路のブロック図である。
の測定制御回路のブロック図である。
この測定制御回路は、一対のロール電極11a、11bにお
いて試料穀粒を一粒ずつ圧砕し、そのとき電極間に生ず
る電気抵抗値を測定して電圧値としてアナログ信号を出
力する水分測定手段をなす測定回路11と、この測定回路
11から出力される電圧値を一定周期でホールドする電圧
ホールド回路12と、このホールドした電圧を連続的に
(試料が圧砕されていない場合も)A/D変換し、得られ
たデジタル信号を測定データとして出力するA/D変換手
段であるA/D変換回路13と、入力されたデジタル信号等
により各種演算及び判断を実行するCPU14(中央演算処
理装置)とからなる。
いて試料穀粒を一粒ずつ圧砕し、そのとき電極間に生ず
る電気抵抗値を測定して電圧値としてアナログ信号を出
力する水分測定手段をなす測定回路11と、この測定回路
11から出力される電圧値を一定周期でホールドする電圧
ホールド回路12と、このホールドした電圧を連続的に
(試料が圧砕されていない場合も)A/D変換し、得られ
たデジタル信号を測定データとして出力するA/D変換手
段であるA/D変換回路13と、入力されたデジタル信号等
により各種演算及び判断を実行するCPU14(中央演算処
理装置)とからなる。
前記CPU14は、例えば8ビットのマイクロコンピュー
タで構成され、穀物水分測定装置の測定動作を制御する
測定制御プログラムと各種データとを記憶するROM(リ
ードオンリーメモリー)15と、入力した各種データを一
時的に記憶するRAM(ランダムアクセスメモリー)16
と、記憶した測定データ等を読み出すレジスタ17と、こ
れによりA/D変換回路13から入力したデジタル信号に基
づいて試料の平均水分値nを演算するALU(演算・論
理回路)18等を有する。また、CPU14はA/D変換回路13か
ら連続的に出力されるデジタル信号(もしくは前記測定
回路11が発するアナログ信号でもよい)の変動値から、
一粒の圧砕時間Tをカウントする演算を実行する。
タで構成され、穀物水分測定装置の測定動作を制御する
測定制御プログラムと各種データとを記憶するROM(リ
ードオンリーメモリー)15と、入力した各種データを一
時的に記憶するRAM(ランダムアクセスメモリー)16
と、記憶した測定データ等を読み出すレジスタ17と、こ
れによりA/D変換回路13から入力したデジタル信号に基
づいて試料の平均水分値nを演算するALU(演算・論
理回路)18等を有する。また、CPU14はA/D変換回路13か
ら連続的に出力されるデジタル信号(もしくは前記測定
回路11が発するアナログ信号でもよい)の変動値から、
一粒の圧砕時間Tをカウントする演算を実行する。
さらに19は前記CPU14に接続されて各種の制御信号を
出力する出力制御回路で、リレー回路20を動作させる。
21は測定データから演算して得た水分値n、あるいは
所要の警告内容等をデジタル表示する表示装置である。
出力する出力制御回路で、リレー回路20を動作させる。
21は測定データから演算して得た水分値n、あるいは
所要の警告内容等をデジタル表示する表示装置である。
次に、穀物乾燥機に装着して乾燥運転したときの本発
明の作用について、第2図のフローチャートにより説明
する。
明の作用について、第2図のフローチャートにより説明
する。
穀物水分測定装置のスイッチ(図示せず)をオンする
とスタートし、ステップ51(以下、ステップを[ ]で
表わす。)で測定を行う。すなわち、一対のロール電極
11a、11b間に一粒ずつ供給される試料は、ロール電極11
a、11bの回転につれて、両電極間で圧砕される。そのと
き、両電極間に電荷を供給し、穀粒を介在させた場合の
電気量、例えば、電気抵抗値を電圧値のアナログ信号と
して検出し、これをA/D変換回路13でA/D変換して、CPU1
4に入力する。CPU14では、入力されたデジタル値をRAM1
6に順次記憶し、同時に、そのデジタル値の変動から、
穀粒の圧砕時間Tを演算して、これもRAM16に記憶す
る。
とスタートし、ステップ51(以下、ステップを[ ]で
表わす。)で測定を行う。すなわち、一対のロール電極
11a、11b間に一粒ずつ供給される試料は、ロール電極11
a、11bの回転につれて、両電極間で圧砕される。そのと
き、両電極間に電荷を供給し、穀粒を介在させた場合の
電気量、例えば、電気抵抗値を電圧値のアナログ信号と
して検出し、これをA/D変換回路13でA/D変換して、CPU1
4に入力する。CPU14では、入力されたデジタル値をRAM1
6に順次記憶し、同時に、そのデジタル値の変動から、
穀粒の圧砕時間Tを演算して、これもRAM16に記憶す
る。
次に[52]で前記測定した圧砕時間Tが基準値TLより
長いか否かを判断する。ここにTLは試料に適合するとし
て予め設定した圧砕時間の下限値であり、例えばTL=25
0として通常の籾の乾燥の場合に適用可能である。[5
2]でYESのときは、[53]に進み、測定回数Caをカウン
トする。さらに[54]では、前記デジタル値に基づいて
水分値Mnを演算し、RAM16に記憶する。この[51]〜[5
4]の動作を所定回数N(例えば、200回)に達するまで
繰り返し[55]、所定回数Nに達したら、記憶した水分
値MnのすべてをRAM16からレジスタ17に読み出して、こ
れから平均水分値nを算出し[56]、同時に表示装置
21で平均水分値nの表示を行う[57]。そして、再測
定の信号があった場合に[58]、再び前記[51]へ戻っ
て次の測定を行う。
長いか否かを判断する。ここにTLは試料に適合するとし
て予め設定した圧砕時間の下限値であり、例えばTL=25
0として通常の籾の乾燥の場合に適用可能である。[5
2]でYESのときは、[53]に進み、測定回数Caをカウン
トする。さらに[54]では、前記デジタル値に基づいて
水分値Mnを演算し、RAM16に記憶する。この[51]〜[5
4]の動作を所定回数N(例えば、200回)に達するまで
繰り返し[55]、所定回数Nに達したら、記憶した水分
値MnのすべてをRAM16からレジスタ17に読み出して、こ
れから平均水分値nを算出し[56]、同時に表示装置
21で平均水分値nの表示を行う[57]。そして、再測
定の信号があった場合に[58]、再び前記[51]へ戻っ
て次の測定を行う。
前記[52]でNOの場合、前記デジタル値を放棄して、
[59]に進み、データを放棄、つまり除外した粒数Cbを
カウントする。次いで[60]での判断で、このカウント
した粒数Cbが所定数(例えば、10)に達しない場合は
[51]に戻り、達した場合は、[61]に進み、測定した
平均水分値nが14%を下回ったか否かの判断を行う。
この判断で、NOの場合は[51]に戻り、YESの場合は警
告信号を発して[62]に進み、全測定粒数中の除外粒数
の割合Rを算出する。そして、[63]で割合Rの値に基
づいて、前記基準値TLを修正する。なお、この修正に伴
って、さきに[52]で除外したデータを再利用するよう
にして、ロスを少なくすることもできる。
[59]に進み、データを放棄、つまり除外した粒数Cbを
カウントする。次いで[60]での判断で、このカウント
した粒数Cbが所定数(例えば、10)に達しない場合は
[51]に戻り、達した場合は、[61]に進み、測定した
平均水分値nが14%を下回ったか否かの判断を行う。
この判断で、NOの場合は[51]に戻り、YESの場合は警
告信号を発して[62]に進み、全測定粒数中の除外粒数
の割合Rを算出する。そして、[63]で割合Rの値に基
づいて、前記基準値TLを修正する。なお、この修正に伴
って、さきに[52]で除外したデータを再利用するよう
にして、ロスを少なくすることもできる。
すなわち、[63]の修正では第3図に示すように[71
a]で、Rを所定値a1と比較し、大きいときは[71b]で
TL=250として、当初の設定値TL=250を修正せず、その
まま前記[51]へ戻る。[71a]の判断でNOのときは、
[72a]に進み、Rをa2と比較し、これより大きいとき
は、[72b]でTL=200に修正する。[72a]の判断でNO
のときは[73a]に進み、Rをa3と比較し、これより大
きいときは、[73b]でTL=150に修正する。以下同様に
必要な段階数だけ修正を行うステップを設ける。
a]で、Rを所定値a1と比較し、大きいときは[71b]で
TL=250として、当初の設定値TL=250を修正せず、その
まま前記[51]へ戻る。[71a]の判断でNOのときは、
[72a]に進み、Rをa2と比較し、これより大きいとき
は、[72b]でTL=200に修正する。[72a]の判断でNO
のときは[73a]に進み、Rをa3と比較し、これより大
きいときは、[73b]でTL=150に修正する。以下同様に
必要な段階数だけ修正を行うステップを設ける。
なお、前記[61]に代えて第4図の[61a]とし、警
告信号を発して表示装置21に「基準値を修正するように
指示する内容の警告」を表示するようにすれば、作業者
はその指示により容易に操作を行うこととなる。
告信号を発して表示装置21に「基準値を修正するように
指示する内容の警告」を表示するようにすれば、作業者
はその指示により容易に操作を行うこととなる。
又、前記[62]で除外粒数の割合RをR=Cb/(Cb+C
a)の式で算出し、全数に対する除外数の割合とした
が、これに限定する理由はなく、単にR=Cb/Caによっ
て算出した値を利用してもよい。
a)の式で算出し、全数に対する除外数の割合とした
が、これに限定する理由はなく、単にR=Cb/Caによっ
て算出した値を利用してもよい。
さらに[63]における基準値TLの修正においては、例
示の方法に限らず、それまでの圧砕時間Tの平均値から
所定値を差し引いてもよい。
示の方法に限らず、それまでの圧砕時間Tの平均値から
所定値を差し引いてもよい。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように、この出願における第1発
明は、測定中に対象から除外する粒数が所定値に達した
とき、その旨を作業者に警告をもって知らせるので、作
業者が適切なタイミングで所要の対応措置を講ずること
ができ、したがって正確な水分測定を可能とし、正常粒
を除外損失することを速やかに防止する効果を果たす。
明は、測定中に対象から除外する粒数が所定値に達した
とき、その旨を作業者に警告をもって知らせるので、作
業者が適切なタイミングで所要の対応措置を講ずること
ができ、したがって正確な水分測定を可能とし、正常粒
を除外損失することを速やかに防止する効果を果たす。
又、第2発明は、測定中に対象から除外する粒数が所
定値に達したとき、除外するか否かの判断基準となる基
準値を自動的に修正する構成としたので、正常粒を除外
損失する怖れをなくし、正確な水分測定を実現する効果
を果たす。
定値に達したとき、除外するか否かの判断基準となる基
準値を自動的に修正する構成としたので、正常粒を除外
損失する怖れをなくし、正確な水分測定を実現する効果
を果たす。
第1〜4図はこの発明の実施例を示し、第1図は穀物水
分測定装置の測定制御回路のブロック図、第2〜3図は
穀物水分測定装置の作用を説明するフローチャート、第
4図は他の実施例におけるフローチャートである。 11……水分測定手段、11a、11b……ロール電極、13……
A/D変換手段、14……CPU、15……ROM、16……RAM、17…
…レジスタ、18……ALU、21……表示装置である。
分測定装置の測定制御回路のブロック図、第2〜3図は
穀物水分測定装置の作用を説明するフローチャート、第
4図は他の実施例におけるフローチャートである。 11……水分測定手段、11a、11b……ロール電極、13……
A/D変換手段、14……CPU、15……ROM、16……RAM、17…
…レジスタ、18……ALU、21……表示装置である。
Claims (2)
- 【請求項1】次の構成を要件とする穀物水分測定装置。 A、回転しながら穀粒を圧砕する一対のロール電極を有
し、該電極間で圧砕した試料穀粒の電気量を連続してア
ナログ信号を出力する水分測定手段、 B、前記水分測定部が出力するアナログ信号を、A/D変
換し、デジタル値を出力するA/D変換手段、 C、前記デジタル値に基づいて測定した水分値を演算す
る水分値演算手段、 D、前記デジタル値又は前記水分測定手段が出力するア
ナログ信号の変動から一粒の圧砕時間を演算する圧砕時
間演算手段、 E、前記圧砕時間演算手段が演算した圧砕時間を予め設
定した基準値と比較し、基準値に満たないものを除外す
る判定手段、 F、前記判定手段が除外した粒数をカウントするカウン
タ、 G、前記カウンタが所定数をカウントしたとき前記基準
値を変更すべく信号を発する警告手段、 H、前記水分値を表示する表示手段。 - 【請求項2】次の構成を要件とする請求項1記載の穀物
水分測定装置。 J、前記警告手段が信号を発し、かつ前記水分値演算手
段が演算した測定水分値が所定値以下になったとき、前
記基準値を変更せしめる設定修正手段。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4254089A JP2719717B2 (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 穀物水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4254089A JP2719717B2 (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 穀物水分測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02221850A JPH02221850A (ja) | 1990-09-04 |
JP2719717B2 true JP2719717B2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=12638901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4254089A Expired - Lifetime JP2719717B2 (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 穀物水分測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2719717B2 (ja) |
-
1989
- 1989-02-22 JP JP4254089A patent/JP2719717B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02221850A (ja) | 1990-09-04 |
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