JPH0512764Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、機内を循環させながら穀物を乾燥さ
せる穀物乾燥機に設置され、その乾燥中における
機内の穀物の水分測定を行つてデータ処理できる
とともに、機外から供給した穀物の水分測定を行
つてデータ処理できる穀物水分データ処理装置の
改良に関するものである。

（従来の技術） この種の穀物水分データ処理装置で乾燥中にお
ける穀物の水分測定（以下、内部測定という）を
行うときには、例えば乾燥機における昇降機のバ
ケツトからこぼれる等して自然落下する穀物を所
定間隔で１粒ずつ測定電極ローラに供給してその
水分に応じた測定データを得るようにし、その測
定データに所定の処理を行つて水分値を求めてい
る。

これに対して、機外から供給した穀物の水分測
定（以下、外部測定という）を行うときには、測
定電極ローラの上方に設けたホツパ内に収容させ
た複数粒の穀物を、その測定電極ローラ上に落下
させて、外部測定ボタンを押下すれば、複数粒の
水分に応じた測定データが得られ、その測定デー
タに所定の処理を行つて水分値を算出し、その水
分値を表示器で表示している。

（考案が解決しようとしている問題点） ところで、内部測定中に、作業の誤操作によつ
て外部測定が行われるときには、測定電極ローラ
上に外部から複数粒の穀物が供給される。

このような場合には、従来は内部測定が優先さ
れるので、その複数粒の測定データが内部測定デ
ータとして取扱われて正規のデータ処理ができな
くなり、内部測定精度や信頼性が低下するという
問題がある。

そこで、本考案は、内部測定中に外部測定がな
されたときには、外部測定にかかる測定データを
内部測定のデータとして取扱わないようにし、外
部測定に起因する内部測定の測定精度、信頼性の
低下を防止することを目的とする。

（問題点を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本考案は、乾燥
機で乾燥中の穀物を１粒ずつ水分測定して各水分
電圧を出力する内部測定と、外部から供給した複
数個の穀物を水分測定してその水分電圧を出力す
る外部測定とが可能な水分計Ａと、 該水分計Ａから出力される水分電圧の値が所定
値以上のときの時間を計数する計時手段Ｂと、 該時数手段Ｂで計数した値があらかじめ定めた
値を上回つたときに、その水分電圧に対して外部
測定処理を行う外部測定水分処理手段Ｃと、 該外部測定水分処理手段Ｃで処理された水分値
を出力する水分値出力手段Ｄとからなる。

（作用） 本考案は、第１図に示すように計時手段Ｂが、
水分計Ａから出力される水分電圧の値が所定値以
上のときの時間を計時する。

そして、計時手段Ｂで計時した値があらかじめ
定めた値を上回つたときには外部測定とみなし、
外部測定水分処理手段Ｃは、その水分電圧に対し
て外部測定処理を行う。

このように外部測定水分処理手段Ｃで処理され
た水分値は、表示器やプリンタなどの水分値出力
手段Ｄに出力される。

（実施例） 第２図および第３図は本考案に適用する水分計
の実施例であり、図において１は水分計本体ケー
スであり、後述する各構成要素を収納する。

２は外部から穀物を供給して水分測定するとき
に、サンプル穀物を供給するサンプルカツプであ
り、軸３を中心に回動自在とする。

４は乾燥機（図示せず）で乾燥中の穀物の水分
測定を行うときに、１粒づつホツパ５に供給する
穀物供給機構であり、外周にらせん溝６を形成し
た送りロール７とそれに沿つて配置した案内板８
とからなる。そして、らせん溝６に穀物９が収容
されて送りロール７が回転すると、穀物９は案内
板８に案内されて送りロール７の終端からホツパ
５内に落下するように構成する。

ホツパ５の下方には、１対の測定電極ローラ１
０，１０をそれぞれ設け、この両電極ローラ間を
１粒の穀物が通過するときに、その両電極ローラ
間の抵抗が変化するので、その抵抗変化を水分電
圧として取り出す。

第４図は本考案実施例のブロツク図であり、１
１は抵抗−電圧変換回路であり、電極ロール１
０，１０間に供給された穀物が圧砕され、そのと
きの電極ロール間の抵抗を電圧に変換する。この
抵抗−電圧変換回路１１の出力は、Ａ／Ｄ変換回
路１２でＡ／Ｄ変換されてマイクロコンピユータ
１３に供給される。

マイクロコンピユータ１３は、例えば第５図に
示すような各種判断等を行い、後述のように各構
成要素を制御するとともに、その制御手順や各種
のデータを記憶するメモリを有する。

１４は表示器１５を駆動する表示器駆動回路で
ある。表示器１５には測定水分値が表示される。
この測定水分値は、表示器１５に表示するととも
に図示しないプリンタに印字するようにしてもよ
く、あるいはいずれか一方に出力するようにして
もよい。１６は水分計のモータ１７を駆動するモ
ータ駆動回路である。

１８は計時回路であり、第６図に示すように抵
抗−電圧変換回路１１から出力される水分電圧の
値が所定値VTを上回る時間Ｔを計時し、その計
時出力をマイクロコンピユータ１３に供給する。

次に、以上のように構成される本考案実施例の
動作例について、第５図および第６図を参照して
説明する。

いま、内部測定が開始すると（ステツプS1）、
乾燥機で乾燥中の穀物が所定間隔で１粒ずつ測定
電極ローラ１０，１０に供給される。これによ
り、穀物の１粒あたりの水分電圧が抵抗−電圧変
換回路１１から出力される。この水分電圧は、
Ａ／Ｄ変換回路１２でＡ／Ｄ変換されてマイクロ
コンピユータ１３に読込まれるとともに（ステツ
プS2）、計時回路１８でその値が所定値VT以上
である時間Ｔが計時される（第６図参照）。

次に、その計時時間Ｔが、あらかじめ定めた所
定時間T1以下か否かを判定する（ステツプS3）。

その判定の結果、第６図で示す波形ａ，ｂ，ｃ
のように、計時時間Ｔが所定時間T1以下のとき
には、その各波形ａ，ｂ，ｃに対応する各測定デ
ータを、内部水分データとしてメモリに格納する
（ステツプS4）。そして、例えば32粒というよう
に、所定粒数の水分測定が完了すると（ステツプ
S5）、水分値計算を行つて、その水分値を内部水
分として表示器１５で水分表示する（ステツプ
S6，S7）。

他方、ステツプS3で計時時間Ｔが所定時間T1
以上のとき、すなわち第６図で示す波形ｄのよう
な場合には、作業者が誤つてサンプルカツプ２に
穀物を収容して測定電極ローラ１０，１０上にそ
の穀物が落下して外部測定が行われたものとみな
す。従つて、このときには、外部測定を優先させ
るために内部測定処理を停止するとともに（ステ
ツプS8）、メモリに格納されている内部測定デー
タを無効として消去する（ステツプS9）。

そして、その波形ｄに対応する測定データを外
部測定データとしてメモリにストアするとともに
（ステツプS10）、所定の外部測定処理を行つて
（ステツプS11）、その処理によつて得られた水分
値を外部水分として表示器１５に表示する（ステ
ツプS12）。

なお、ステツプS9で、メモリに格納されてい
る内部測定データを消去するものとしたが、これ
に代えて、その内部測定データをいつたん他のメ
モリに転送しておき、内部測定が再開されたとき
そのデータを使用するようにしてもよい。

（考案の効果） 以上のように本考案では、内部測定中に外部測
定がなされたときには、外部測定にかかる測定デ
ータを内部測定のデータとして取扱わないように
したので、内部測定中に外部測定が実施されても
内部測定の測定精度、信頼性が低下することがな
いという効果が得られる。

また本考案では、内部測定中に外部測定がなさ
れたときには、外部測定にかかる測定データを優
先的に処理してその処理結果を出力するようにし
たので、内部測定中であつても表示器等で外部測
定の出力結果が得られ、従来に比してきわめて便
利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の機能図、第２図は本考案に適
用した水分計の正面図、第３図はその側面図、第
４図は本考案実施例のブロツク図、第５図はその
動作例を示すフローチヤート、第６図は水分電圧
の波形の一例を示すグラフである。 Ａは水分計、Ｂは計時手段、Ｃは外部測定水分
処理手段、Ｄは水分値出力手段。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 乾燥機で乾燥中の穀物を１粒ずつ水分測定して
   各水分電圧を出力する内部測定と、外部から供給
   した複数個の穀物を水分測定してその水分電圧を
   出力する外部測定とが可能な水分計と、 該水分計から出力される水分電圧の値が所定値
   以上のときの時間を計数する計時手段と、 該計時手段で計数した値があらかじめ定めた値
   を上回つたときに、その水分電圧に対して外部測
   定処理を行う外部測定水分処理手段と、 該外部測定水分処理手段で処理された水分値を
   出力する水分値出力手段とからなる穀物水分デー
   タ処理装置。