JP2707690B2 - 光磁気ディスク検査装置 - Google Patents
光磁気ディスク検査装置Info
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- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10502—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/14—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam specially adapted to record on, or to reproduce from, more than one track simultaneously
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- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
- G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
- G11B2220/2525—Magneto-optical [MO] discs
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- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光磁気ディスクの特性を検査する光磁気ディ
スク検査装置に関する。
スク検査装置に関する。
［従来の技術］ 書き換えができる光磁気ディスクに関する製品が出そ
ろってきて、光磁気ディスク技術は試作の段階からの製
品化の段階に達しようとしている。このような製品の発
展に伴い、媒体である光磁気ディスクの大量供給が要求
され始めている。
ろってきて、光磁気ディスク技術は試作の段階からの製
品化の段階に達しようとしている。このような製品の発
展に伴い、媒体である光磁気ディスクの大量供給が要求
され始めている。
光磁気ディスクは、磁気ディスクやフロッピーディス
ク等に代わりコンピュータシステムの記憶装置としての
用途が注目されていることから、特に高寿命、高信頼性
が要求される。そのためには、出荷段階における光磁気
ディスクの検査が重要なポイントとなる。
ク等に代わりコンピュータシステムの記憶装置としての
用途が注目されていることから、特に高寿命、高信頼性
が要求される。そのためには、出荷段階における光磁気
ディスクの検査が重要なポイントとなる。
従来、光磁気ディスクを検査するための装置として
は、光磁気ディスクの種々の特性を評価するための光磁
気ディスク評価装置があった。この光ディスク評価装置
は、本来、光磁気ディスクの規格等の設定における客観
的な評価のためのものであるため、検査項目が多岐にわ
たっており、かつ検査内容も詳細であった。
は、光磁気ディスクの種々の特性を評価するための光磁
気ディスク評価装置があった。この光ディスク評価装置
は、本来、光磁気ディスクの規格等の設定における客観
的な評価のためのものであるため、検査項目が多岐にわ
たっており、かつ検査内容も詳細であった。
［発明が解決しようとする課題］ このように従来の光磁気ディスク評価装置は、大量生
産の光磁気ディスクの出荷検査として必要のない検査項
目まで含んだ多数の検査を行うため、検査に時間がかか
ると共に、装置が大型で高価になり、大量生産用の光磁
気ディスク検査装置として適していなかった。
産の光磁気ディスクの出荷検査として必要のない検査項
目まで含んだ多数の検査を行うため、検査に時間がかか
ると共に、装置が大型で高価になり、大量生産用の光磁
気ディスク検査装置として適していなかった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、大量の
光磁気ディスクを効率的に検査することができる光磁気
ディスク検査装置を提供することを目的とする。
光磁気ディスクを効率的に検査することができる光磁気
ディスク検査装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 上記目的は、光磁気ディスクの特性を検査する光磁気
ディスク検査装置において、書込ヘッドと読出ヘッドを
１組としたｎ組のヘッドを備え、前記光磁気ディスクの
検査する領域をｎ個に分割し、各分割領域に対して１組
のヘッドを配し、前記書込ヘッドにより前記光磁気ディ
スクに書込んだデータを前記読出ヘッドで読出すことに
より、前記光磁気ディスクを検査することを特徴とする
光磁気ディスク検査装置によって達成される。
ディスク検査装置において、書込ヘッドと読出ヘッドを
１組としたｎ組のヘッドを備え、前記光磁気ディスクの
検査する領域をｎ個に分割し、各分割領域に対して１組
のヘッドを配し、前記書込ヘッドにより前記光磁気ディ
スクに書込んだデータを前記読出ヘッドで読出すことに
より、前記光磁気ディスクを検査することを特徴とする
光磁気ディスク検査装置によって達成される。
また、上記目的は、光磁気ディスクの特性を検査する
光磁気ディスク検査装置において、書込ヘッドと読出ヘ
ッドと第１及び第２の消去ヘッドを備え、前記第１の消
去ヘッドは、前記光磁気ディスクを検査のために初期化
し、前記書込ヘッドは、初期化された前記光磁気ディス
クに検出データを書込み、前記読出ヘッドは、前記光磁
気ディスクに書込まれた検査データを読出して検査し、
前記第２の消去ヘッドは、検査データが書込まれた前記
光磁気ディスクを初期化することを特徴とする光磁気デ
ィスク検査装置によっても達成される。
光磁気ディスク検査装置において、書込ヘッドと読出ヘ
ッドと第１及び第２の消去ヘッドを備え、前記第１の消
去ヘッドは、前記光磁気ディスクを検査のために初期化
し、前記書込ヘッドは、初期化された前記光磁気ディス
クに検出データを書込み、前記読出ヘッドは、前記光磁
気ディスクに書込まれた検査データを読出して検査し、
前記第２の消去ヘッドは、検査データが書込まれた前記
光磁気ディスクを初期化することを特徴とする光磁気デ
ィスク検査装置によっても達成される。
［作用］ 本発明によれば、書込ヘッドと読出ヘッドをｎ組設け
て、光磁気ディスクの記録面をｎ分割して検査するよう
にしたので、検査時間を短縮することができる。
て、光磁気ディスクの記録面をｎ分割して検査するよう
にしたので、検査時間を短縮することができる。
また、本発明によれば、書込ヘッドと読出ヘッドと２
つの消去ヘッドを設けたので、光磁気ディスクの初期
化、検査、初期化を一連して行うことができ、光磁気デ
ィスクの検査の効率化が図れる。
つの消去ヘッドを設けたので、光磁気ディスクの初期
化、検査、初期化を一連して行うことができ、光磁気デ
ィスクの検査の効率化が図れる。
［実施例］ 本発明の第１の実施例による光磁気ディスク検査装置
を第１図乃至第６図を用いて説明する。
を第１図乃至第６図を用いて説明する。
第１図（ａ）（ｂ）は、本実施例の光磁気ディスク検
査装置の主要部の平面図及び断面図である。
査装置の主要部の平面図及び断面図である。
検査される光磁気ディスク10は、スピンドルモータ12
の回転軸に取付けられ、クランパ14により上から固定さ
れる。光磁気ディスク10の下面側に、４つのヘッド16
a、16b、18a、18bが設けられている。ヘッド16a、16b
は、書込専用の書込ヘッドであり、ヘッド18a、18bは、
読出し専用の読出ヘッドであり、書込ヘッド16aと読出
ヘッド18aで組を構成し、書込ヘッド16bと読出ヘッド18
bで組を構成している点に特徴がある。
の回転軸に取付けられ、クランパ14により上から固定さ
れる。光磁気ディスク10の下面側に、４つのヘッド16
a、16b、18a、18bが設けられている。ヘッド16a、16b
は、書込専用の書込ヘッドであり、ヘッド18a、18bは、
読出し専用の読出ヘッドであり、書込ヘッド16aと読出
ヘッド18aで組を構成し、書込ヘッド16bと読出ヘッド18
bで組を構成している点に特徴がある。
各ヘッド16a〜18bには、リニアモータ20a〜20dが設け
られ、各ヘッド16a〜18bを光磁気ディスク10の直径方向
に直線駆動する。
られ、各ヘッド16a〜18bを光磁気ディスク10の直径方向
に直線駆動する。
光磁気ディスク10への磁界印加手段として、書込ヘッ
ド16a、16bに相対する光磁気ディスク10の上面側に、半
径方向に伸びた細長の永久磁石22a、22bが設けられてい
る。これら永久磁石22a、22bは、クランパ14の中心から
伸びる磁石保持部14a、14bに取付けられている。光磁気
ディスク検査装置では、通常の光磁気ディスク装置のよ
うに検査データ書込時に磁界方向を変える必要がないの
で、永久磁石の使用が可能である。
ド16a、16bに相対する光磁気ディスク10の上面側に、半
径方向に伸びた細長の永久磁石22a、22bが設けられてい
る。これら永久磁石22a、22bは、クランパ14の中心から
伸びる磁石保持部14a、14bに取付けられている。光磁気
ディスク検査装置では、通常の光磁気ディスク装置のよ
うに検査データ書込時に磁界方向を変える必要がないの
で、永久磁石の使用が可能である。
ヘッドの各組には、光磁気ディスク10の検査領域が割
当てられる。本実施例では、書込ヘッド16aと読出ヘッ
ド18aの組に、光磁気ディスク10の外側の領域Ｐが割当
てられ、書込ヘッド16aと読出ヘッド18bの組に、光磁気
ディスク10の内側の領域Ｑが割当てられる。書込ヘッド
16aと読出ヘッド18aによる領域Ｐの検査と、書込ヘッド
16bと読出ヘッド18bによる領域Ｑの検査が同時に行える
ため、検査時間が半分に短縮できる。
当てられる。本実施例では、書込ヘッド16aと読出ヘッ
ド18aの組に、光磁気ディスク10の外側の領域Ｐが割当
てられ、書込ヘッド16aと読出ヘッド18bの組に、光磁気
ディスク10の内側の領域Ｑが割当てられる。書込ヘッド
16aと読出ヘッド18aによる領域Ｐの検査と、書込ヘッド
16bと読出ヘッド18bによる領域Ｑの検査が同時に行える
ため、検査時間が半分に短縮できる。
書込ヘッド16及び読出ヘッド18の詳細を第２図に示
す。
す。
第２図（ａ）に書込み専用の書込ヘッド16を示す。レ
ーザ光源30から発せられたレーザ光はコリメータレンズ
31により平行にされる。コリメータレンズ31を通った平
行レーザ光は整形プリズム32により整形される。整形さ
れたレーザ光は、光アイソレータを構成する偏向ビーム
スプリッタ33及び1/4波長板34を介して対物レンズ35に
入射される。この光アイソレータにより、光磁気ディス
ク10から反射された光がレーザ光源30に戻らないように
している。光磁気ディスク10の動きに追随して対物レン
ズ35を駆動することにより、光磁気ディスク10のトラッ
ク上にレーザ光が焦点を結ぶようにする。レーザ光の強
度の検出は、偏向ビームスプリッタ33により分離された
レーザ光を受光する光ディテクタ36により行われる。
ーザ光源30から発せられたレーザ光はコリメータレンズ
31により平行にされる。コリメータレンズ31を通った平
行レーザ光は整形プリズム32により整形される。整形さ
れたレーザ光は、光アイソレータを構成する偏向ビーム
スプリッタ33及び1/4波長板34を介して対物レンズ35に
入射される。この光アイソレータにより、光磁気ディス
ク10から反射された光がレーザ光源30に戻らないように
している。光磁気ディスク10の動きに追随して対物レン
ズ35を駆動することにより、光磁気ディスク10のトラッ
ク上にレーザ光が焦点を結ぶようにする。レーザ光の強
度の検出は、偏向ビームスプリッタ33により分離された
レーザ光を受光する光ディテクタ36により行われる。
書込ヘッド16は書込み専用であるため、プレピットさ
れたフォーマット部は読取る必要があるが、磁気的に記
録されたデータを読取る必要がない。したがって、本実
施例の書込ヘッドは図示のような比較的簡単な構成でよ
い。
れたフォーマット部は読取る必要があるが、磁気的に記
録されたデータを読取る必要がない。したがって、本実
施例の書込ヘッドは図示のような比較的簡単な構成でよ
い。
光磁気ディスク10に対して永久磁石22により磁界を印
加しながら、レーザ光を照射して加熱することにより、
光磁気ディスク10の磁化方向を反転させて書込みが行わ
れる。
加しながら、レーザ光を照射して加熱することにより、
光磁気ディスク10の磁化方向を反転させて書込みが行わ
れる。
第２図（ｂ）に読出し専用の読出ヘッド18を示す。レ
ーザ光源40から発せられたレーザ光はコリメータレンズ
41により平行にされ、整形プリズム42により整形され
る。整形されたレーザ光は、偏光子43により直線偏光に
され、ハーフミラー44を介して対物レンズ45に入射され
る。対物レンズ45は光磁気ディスク10の動きに追随して
駆動され、光磁気ディスク10のトラック上に焦点を結ぶ
ようにする。光磁気ディスク10の磁化方向に応じて偏光
面がカー回転した反射レーザ光は、ハーフミラー44によ
り反射されて検光子46に入射し、カー回転角に応じたレ
ーザ光が光ディテクタ47に入射される。光ディテクタ47
の出力信号により、光磁気ディスク10の磁化方向を検出
する。
ーザ光源40から発せられたレーザ光はコリメータレンズ
41により平行にされ、整形プリズム42により整形され
る。整形されたレーザ光は、偏光子43により直線偏光に
され、ハーフミラー44を介して対物レンズ45に入射され
る。対物レンズ45は光磁気ディスク10の動きに追随して
駆動され、光磁気ディスク10のトラック上に焦点を結ぶ
ようにする。光磁気ディスク10の磁化方向に応じて偏光
面がカー回転した反射レーザ光は、ハーフミラー44によ
り反射されて検光子46に入射し、カー回転角に応じたレ
ーザ光が光ディテクタ47に入射される。光ディテクタ47
の出力信号により、光磁気ディスク10の磁化方向を検出
する。
読出ヘッド18は読出し専用であるため、磁界の反転が
可能なほど光磁気ディスク10を加熱する必要がない。し
たがって、本実施例の読出ヘッドのレーザ光源40はパワ
ーが小さいものでよい。
可能なほど光磁気ディスク10を加熱する必要がない。し
たがって、本実施例の読出ヘッドのレーザ光源40はパワ
ーが小さいものでよい。
第３図乃至第５図は本実施例の光磁気ディスク検査装
置の機能ブロック図である。
置の機能ブロック図である。
第３図は光磁気ディスク検査装置自体の制御の概要を
示すと共に、多数台の光磁気ディスク検査装置を用いた
検査システムの制御を示すものである。この検査システ
ム全体はホストコンピュータ（図示せず）により制御さ
れ、複数台（本実施例では６台）の光磁気ディスク検査
装置をひとつのユニットとして構成し、このユニットを
ユニットコントローラ51により制御する。
示すと共に、多数台の光磁気ディスク検査装置を用いた
検査システムの制御を示すものである。この検査システ
ム全体はホストコンピュータ（図示せず）により制御さ
れ、複数台（本実施例では６台）の光磁気ディスク検査
装置をひとつのユニットとして構成し、このユニットを
ユニットコントローラ51により制御する。
各光磁気ディスク検査装置には、装置全体を制御する
メインコントローラ50が設けられている。メインコント
ローラ50には、光磁気ディスク10の有無及び取付状態を
検出するチルトセンサ52、スピンドルモータ12を駆動制
御するモータ駆動部54が設けられていると共に、書込ヘ
ッド16a、16bを制御する書込ヘッド制御部56、読出ヘッ
ド18a、18bを制御する読出ヘッド制御部58が設けられて
いる。
メインコントローラ50が設けられている。メインコント
ローラ50には、光磁気ディスク10の有無及び取付状態を
検出するチルトセンサ52、スピンドルモータ12を駆動制
御するモータ駆動部54が設けられていると共に、書込ヘ
ッド16a、16bを制御する書込ヘッド制御部56、読出ヘッ
ド18a、18bを制御する読出ヘッド制御部58が設けられて
いる。
書込ヘッド制御部56の詳細を第４図を用いて説明す
る。
る。
レーザドライバ60は、書込ヘッド16のレーザ光源30を
駆動する。このレーザドライバ60により、レーザ光源30
は、メインコントローラ50からのパワー設定信号に応じ
た書込に適した強さで、検査信号発生部61から発せられ
る検査信号に応じてオンオフする。簡単のため、本実施
例の検査信号は、「010101……」と０と１が交互に表れ
る信号とする。
駆動する。このレーザドライバ60により、レーザ光源30
は、メインコントローラ50からのパワー設定信号に応じ
た書込に適した強さで、検査信号発生部61から発せられ
る検査信号に応じてオンオフする。簡単のため、本実施
例の検査信号は、「010101……」と０と１が交互に表れ
る信号とする。
アドレス信号検出部62は、書込ヘッド16の光ディテク
タ36により検出された信号から、光磁気ディスク10の各
セクタに予め形成されたアドレス信号を検出する。この
アドレス信号は、アドレス復調部63により復調されて、
書込ヘッド16の現在の位置を知ることができる。
タ36により検出された信号から、光磁気ディスク10の各
セクタに予め形成されたアドレス信号を検出する。この
アドレス信号は、アドレス復調部63により復調されて、
書込ヘッド16の現在の位置を知ることができる。
サーボ信号検出部64は、書込ヘッド16の光ディテクタ
36により検出された信号からサーボ信号を検出する。フ
ォーカス及びトラッキングサーボ回路65は、検出された
サーボ信号に基づいて、対物レンズ35を上下左右駆動す
るアクチュエータ66を制御する。
36により検出された信号からサーボ信号を検出する。フ
ォーカス及びトラッキングサーボ回路65は、検出された
サーボ信号に基づいて、対物レンズ35を上下左右駆動す
るアクチュエータ66を制御する。
メカコントローラ67は、書込ヘッド16を駆動するリニ
アモータ20を制御するためのものであり、位置センサ68
からの書込ヘッド16の位置信号とアドレス復調部63から
の書込ヘッド16が位置しているアドレスに基づいて、シ
ークコントローラ69に制御信号を出力する。
アモータ20を制御するためのものであり、位置センサ68
からの書込ヘッド16の位置信号とアドレス復調部63から
の書込ヘッド16が位置しているアドレスに基づいて、シ
ークコントローラ69に制御信号を出力する。
リニアモータ20は、フォーカス及びトラッキングサー
ボ回路65からのサーボ信号と、シークコントローラ69か
らのシーク制御信号により制御され、書込ヘッド16を適
切なトラックに位置させる。
ボ回路65からのサーボ信号と、シークコントローラ69か
らのシーク制御信号により制御され、書込ヘッド16を適
切なトラックに位置させる。
読出ヘッド制御部58の詳細を第５図を用いて説明す
る。書込ヘッド制御部56と共通の構成要素には同一の符
号を付して説明を省略する。
る。書込ヘッド制御部56と共通の構成要素には同一の符
号を付して説明を省略する。
レーザドライバ60はメインコントローラ50からのパワ
ー設定信号に応じた読出に適した強さでレーザ光源40を
駆動する。
ー設定信号に応じた読出に適した強さでレーザ光源40を
駆動する。
反射率測定部70は、アドレス信号検出部62からの出力
される読出ヘッド18の光ディテクタ47の検出信号により
光磁気ディスク10の反射率を測定する。反射率測定は、
メカコントローラ67により、光磁気ディスク10の外側又
は内側の記録領域以外の場所に読取りヘッド18を位置さ
せて行う。
される読出ヘッド18の光ディテクタ47の検出信号により
光磁気ディスク10の反射率を測定する。反射率測定は、
メカコントローラ67により、光磁気ディスク10の外側又
は内側の記録領域以外の場所に読取りヘッド18を位置さ
せて行う。
フォーマットエラー検出部71は、光磁気ディスク10の
各セクターのフォーマット部のエラーを検出する。フォ
ーマット部には、セクターマーク、アドレスマーク、ア
ドレス等が光磁気ディスク製造時に予め形成されてお
り、これが正しく形成されているか否かを検査する。
各セクターのフォーマット部のエラーを検出する。フォ
ーマット部には、セクターマーク、アドレスマーク、ア
ドレス等が光磁気ディスク製造時に予め形成されてお
り、これが正しく形成されているか否かを検査する。
データ信号検出部72は、光磁気ディスク10に磁気的に
記録されたデータを検出する。本実施例では書込ヘッド
16により書込まれた検査データ信号を検出する。
記録されたデータを検出する。本実施例では書込ヘッド
16により書込まれた検査データ信号を検出する。
ビットエラー検出部73は、データ信号検出部72により
検出されたデータ信号からビットエラーを検出する。書
込ヘッド16により検査信号が光磁気ディスク10に正しく
記録されているか否かをビット単位で検出する。
検出されたデータ信号からビットエラーを検出する。書
込ヘッド16により検査信号が光磁気ディスク10に正しく
記録されているか否かをビット単位で検出する。
ビットエラーカウンタ74は、ビットエラー検出部73に
より検出されたビットエラーの数をカウントする。
より検出されたビットエラーの数をカウントする。
次に、本実施例の光磁気ディスク検査装置による光磁
気ディスクの検査方法を第６図のフローチャートを用い
て説明する。
気ディスクの検査方法を第６図のフローチャートを用い
て説明する。
この光磁気ディスク検査装置により検査する前に、光
磁気ディスク10は、専用の光磁気ディスク初期化装置
（図示せず）により全トラックを消去して初期化してお
く。
磁気ディスク10は、専用の光磁気ディスク初期化装置
（図示せず）により全トラックを消去して初期化してお
く。
まず、光磁気ディスク10をスピンドルモータ12の回転
軸に取付けて、クランパ14によりクランプする（ステッ
プS100）。このとき、光磁気ディスク10が正しく取付け
られたか否かはチルトセンサ52により検出される。
軸に取付けて、クランパ14によりクランプする（ステッ
プS100）。このとき、光磁気ディスク10が正しく取付け
られたか否かはチルトセンサ52により検出される。
次に、スピンドルモータ12を起動し、所定回転数に達
するのを待つ（ステップS101）。なお、通常の使用時に
は光磁気ディスク10の回転数は1800rpmであるが、短時
間で検査を終了させるために、例えば２倍の3600rpmで
光磁気ディスク10を回転させるようにしてもよい。
するのを待つ（ステップS101）。なお、通常の使用時に
は光磁気ディスク10の回転数は1800rpmであるが、短時
間で検査を終了させるために、例えば２倍の3600rpmで
光磁気ディスク10を回転させるようにしてもよい。
次に、読出ヘッド18を光磁気ディスク10の最外周の記
録領域外に位置させて反射率を検査する（ステップS10
2）。反射率測定部70により測定された反射率が所定の
規定値に達しているか否か判定し（ステップS103）、規
定値に達していなけれは以降の検査をせず、直ちにステ
ップS111に移る。規定値に達していれば次のステップS1
04に移る。
録領域外に位置させて反射率を検査する（ステップS10
2）。反射率測定部70により測定された反射率が所定の
規定値に達しているか否か判定し（ステップS103）、規
定値に達していなけれは以降の検査をせず、直ちにステ
ップS111に移る。規定値に達していれば次のステップS1
04に移る。
ステップS104では、書込ヘッド16a、16bにより検査デ
ータを検査領域Ｐ、Ｑの最も外側のトラックから順番に
書込む。
ータを検査領域Ｐ、Ｑの最も外側のトラックから順番に
書込む。
書込ヘッド16a、16bが最も外側のトラックに検査デー
タを書込むと、その書込まれたトラックを読出トラック
18a、18bにより読出して検査を行う（ステップS105）。
タを書込むと、その書込まれたトラックを読出トラック
18a、18bにより読出して検査を行う（ステップS105）。
フォーマットエラー検出部71によりフォーマット部の
エラーを検査し（ステップS106）、大きなエラーがある
か否か判定する（ステップS107）。大きなエラーがあれ
が以降の検査をせず、直ちにステップS111に移る。大き
なエラーがなければ次のステップS108に移る。
エラーを検査し（ステップS106）、大きなエラーがある
か否か判定する（ステップS107）。大きなエラーがあれ
が以降の検査をせず、直ちにステップS111に移る。大き
なエラーがなければ次のステップS108に移る。
一方、ステップS106と同時に、ビットエラー検出部73
によりデータ信号のエラーを検査し（ステップS109）、
大きなエラーがあるか否か判定する（ステップS110）。
大きなエラーがあれば以降の検査をせず、直ちにステッ
プS111に移る。大きなエラーがなければ次のステップS1
08に移る。
によりデータ信号のエラーを検査し（ステップS109）、
大きなエラーがあるか否か判定する（ステップS110）。
大きなエラーがあれば以降の検査をせず、直ちにステッ
プS111に移る。大きなエラーがなければ次のステップS1
08に移る。
次に、各検査領域Ｐ、Ｑの検査が終了したか否か判断
し（ステップS108）、終了していなければステップS104
に戻り、ステップS104〜S110の検査を繰返す。対象領域
の検査が終了すると、ステップS111に進み、検査結果の
総合判定をする。
し（ステップS108）、終了していなければステップS104
に戻り、ステップS104〜S110の検査を繰返す。対象領域
の検査が終了すると、ステップS111に進み、検査結果の
総合判定をする。
ステップS111では、検査している光磁気ディスクが良
品か否かの最終的な判断を行う。ステップS103で反射率
が規定値に達していないと判断された場合、ステップS1
07で大きなフォーマットエラーがあると判断された場
合、ステップS110で大きなビットエラーがあると判断さ
れた場合は、直ちに「不良品」であるとの判断をする。
それ以外の場合には、フォーマットエラーの程度、ビッ
トエラーの程度を総合的に考慮して最終的に良品である
か否か判断する。例えば、ビットエラーカウンタ74のカ
ウント値が予め定めた数値に達していれば「不良品」で
あると判断する。
品か否かの最終的な判断を行う。ステップS103で反射率
が規定値に達していないと判断された場合、ステップS1
07で大きなフォーマットエラーがあると判断された場
合、ステップS110で大きなビットエラーがあると判断さ
れた場合は、直ちに「不良品」であるとの判断をする。
それ以外の場合には、フォーマットエラーの程度、ビッ
トエラーの程度を総合的に考慮して最終的に良品である
か否か判断する。例えば、ビットエラーカウンタ74のカ
ウント値が予め定めた数値に達していれば「不良品」で
あると判断する。
次に、ステップS111での判定結果をメインコントロー
ラ50がユニットコントローラ51を介してホストコンピュ
ータに転送する（ステップS112）。
ラ50がユニットコントローラ51を介してホストコンピュ
ータに転送する（ステップS112）。
次に、スピンドルモータ12を停止し（ステップS11
3）、クランパ14を外して光磁気ディスク10を取り外し
て（ステップS114）、１枚の光磁気ディスクの検査を終
了する。
3）、クランパ14を外して光磁気ディスク10を取り外し
て（ステップS114）、１枚の光磁気ディスクの検査を終
了する。
検査が終了して「良品」と判定された光磁気ディスク
は、専用の光磁気ディスク初期化装置（図示せず）によ
り初期化されて、最終的な製品とされる。
は、専用の光磁気ディスク初期化装置（図示せず）によ
り初期化されて、最終的な製品とされる。
本実施例によれば、書込専用ヘッドと読出専用ヘッド
を別々に設けたので、ヘッド構成を簡単化することがで
きる。また、書込ヘッドと読出ヘッドを２組設けて、光
磁気ディスクの記録面を２分割して検査するようにした
ので、検査時間を短縮することができる。
を別々に設けたので、ヘッド構成を簡単化することがで
きる。また、書込ヘッドと読出ヘッドを２組設けて、光
磁気ディスクの記録面を２分割して検査するようにした
ので、検査時間を短縮することができる。
本発明の第２の実施例による光磁気ディスク検査装置
を第７図乃至第10図を用いて説明する。第１の実施例と
同一の構成要素には同一の符号を付して説明を省略す
る。
を第７図乃至第10図を用いて説明する。第１の実施例と
同一の構成要素には同一の符号を付して説明を省略す
る。
第１の実施例では、光磁気ディスク検査装置による検
査の前後に、専用の光磁気ディスク初期化装置を必要と
したが、本実施例では光磁気ディスク検査装置におい
て、検査前の初期化と検査後の初期化をも同時に行うこ
とを特徴とするものである。
査の前後に、専用の光磁気ディスク初期化装置を必要と
したが、本実施例では光磁気ディスク検査装置におい
て、検査前の初期化と検査後の初期化をも同時に行うこ
とを特徴とするものである。
第７図（ａ）（ｂ）は、本実施例の光磁気ディスク検
査装置の主要部の平面図及び断面図である。
査装置の主要部の平面図及び断面図である。
本実施例の光磁気ディスク検査装置では、書込ヘッド
16、読出ヘッド18と共に、２つの消去ヘッド80a、80bを
有している。すなわち、光磁気ディスク10の周囲に順番
に、消去ヘッド80a、書込ヘッド16、読出ヘッド18、消
去ヘッド80bが配されている。クランパ14からは４方に
磁石保持部14a、14b、14c、14dが伸びており、読出ヘッ
ド18以外の消去ヘッド80a、書込ヘッド16、消去ヘッド8
0b上に永久磁石22a、22b、22dが設けられている。消去
ヘッド80a、80b上に設けられた永久磁石22a、22dの磁界
方向と、書込ヘッド16上に設けられた永久磁石22bの磁
界方向は互いに逆方向である。読出ヘッド18は磁界を印
加する必要がないので永久磁石は設けていない。
16、読出ヘッド18と共に、２つの消去ヘッド80a、80bを
有している。すなわち、光磁気ディスク10の周囲に順番
に、消去ヘッド80a、書込ヘッド16、読出ヘッド18、消
去ヘッド80bが配されている。クランパ14からは４方に
磁石保持部14a、14b、14c、14dが伸びており、読出ヘッ
ド18以外の消去ヘッド80a、書込ヘッド16、消去ヘッド8
0b上に永久磁石22a、22b、22dが設けられている。消去
ヘッド80a、80b上に設けられた永久磁石22a、22dの磁界
方向と、書込ヘッド16上に設けられた永久磁石22bの磁
界方向は互いに逆方向である。読出ヘッド18は磁界を印
加する必要がないので永久磁石は設けていない。
光磁気ディスク10の最外周から検査するとして、ま
ず、消去ヘッド80aで初期化し、次に書込ヘッド16で検
査データを書込み、続いて読出ヘッド18で検査を行い、
最後に消去ヘッド80bで初期化して元の状態に戻す。す
なわち、初期化前の光磁気ディスク10を本実施例の光磁
気ディスク検査装置により検査すれば、検査が終了して
時点で初期化も終了し、直ちに出荷準備することが可能
である。
ず、消去ヘッド80aで初期化し、次に書込ヘッド16で検
査データを書込み、続いて読出ヘッド18で検査を行い、
最後に消去ヘッド80bで初期化して元の状態に戻す。す
なわち、初期化前の光磁気ディスク10を本実施例の光磁
気ディスク検査装置により検査すれば、検査が終了して
時点で初期化も終了し、直ちに出荷準備することが可能
である。
消去ヘッド80の構成は、第２図（ａ）に示す書込ヘッ
ド16の構成と同様である。ただし、光磁気ディスク10上
面に設けられた永久磁石22の磁界方向が反対である。
ド16の構成と同様である。ただし、光磁気ディスク10上
面に設けられた永久磁石22の磁界方向が反対である。
本実施例の光磁気ディスク検査装置では、第８図の機
能ブロック部に示すように、消去ヘッド制御部82により
消去ヘッド80a、80bを制御する点が第１の実施例と異な
る。
能ブロック部に示すように、消去ヘッド制御部82により
消去ヘッド80a、80bを制御する点が第１の実施例と異な
る。
消去ヘッド制御部82の詳細を第９図に示す。消去ヘッ
ド制御部82は、書込ヘッド制御部56とほとんど同じ構成
である。書込ヘッド制御部56で設けられている検査信号
発生部61が設けられていない点が異なる。消去ヘッド80
ではレーザ光を出し続けて全面を一方向に磁化するから
である。検査信号発生部61が設けられていない点を除い
て他は書込ヘッド制御部56と同じであるので、説明を省
略する。
ド制御部82は、書込ヘッド制御部56とほとんど同じ構成
である。書込ヘッド制御部56で設けられている検査信号
発生部61が設けられていない点が異なる。消去ヘッド80
ではレーザ光を出し続けて全面を一方向に磁化するから
である。検査信号発生部61が設けられていない点を除い
て他は書込ヘッド制御部56と同じであるので、説明を省
略する。
次に、本実施例の光磁気ディスク検査装置による光磁
気ディスクの検査方法を第10図のフローチャートを用い
て説明する。
気ディスクの検査方法を第10図のフローチャートを用い
て説明する。
ステップS104におけるデータ書込みの前にこれから検
査するトラックを消去ヘッド80aで消去する点（ステッ
プS120）と、ステップS107でフォーマットエラーの判定
を行い、ステップS110でビットエラーの判定の行った後
に、今検査が終了したトラックを消去ヘッド80bで消去
する点（ステップS121）が、第１の実施例とは異なる。
すなわち、本実施例では、検査すべき光磁気ディスク10
をトラック単位で、まず、消去ヘッド80aで消去し、次
に書込ヘッド16で検査データを書込み、続いて読出ヘッ
ド18で検査を行い、次に消去ヘッド80bで初期化してい
く。なお、他の検査方法については第１の実施例と同じ
であるので、説明を省略する。
査するトラックを消去ヘッド80aで消去する点（ステッ
プS120）と、ステップS107でフォーマットエラーの判定
を行い、ステップS110でビットエラーの判定の行った後
に、今検査が終了したトラックを消去ヘッド80bで消去
する点（ステップS121）が、第１の実施例とは異なる。
すなわち、本実施例では、検査すべき光磁気ディスク10
をトラック単位で、まず、消去ヘッド80aで消去し、次
に書込ヘッド16で検査データを書込み、続いて読出ヘッ
ド18で検査を行い、次に消去ヘッド80bで初期化してい
く。なお、他の検査方法については第１の実施例と同じ
であるので、説明を省略する。
本実施例によれば、書込専用ヘッド、読出専用ヘッド
と共に、消去ヘッドも別々に設けたので、検査前の初期
化と検査後の初期化をも同時に行うことができ、専用の
光磁気ディスク初期化装置を必要としない。
と共に、消去ヘッドも別々に設けたので、検査前の初期
化と検査後の初期化をも同時に行うことができ、専用の
光磁気ディスク初期化装置を必要としない。
本発明は上記実施例に限らず種々の変形が可能であ
る。
る。
例えば、上記第１の実施例では、書込ヘッドと読出ヘ
ッドを２組設けて、光磁気ディスクの記録面を２分割し
て検査したが、書込ヘッドと読出ヘッドを多数組設け
て、光磁気ディスクの記録面を多数の領域に分割しても
よい。更に検査の高速化が図れる。
ッドを２組設けて、光磁気ディスクの記録面を２分割し
て検査したが、書込ヘッドと読出ヘッドを多数組設け
て、光磁気ディスクの記録面を多数の領域に分割しても
よい。更に検査の高速化が図れる。
また、第２の実施例における書込ヘッドと読出ヘッド
と２つの消去ヘッドを２組以上設けて、光磁気ディスク
の記録面を分割して検査してもよい。
と２つの消去ヘッドを２組以上設けて、光磁気ディスク
の記録面を分割して検査してもよい。
［発明の効果］ 以上の通り、本発明によれば大量の光磁気ディスクを
効率的に検査することができる。
効率的に検査することができる。
第１図は本発明の第１の実施例による光磁気ディスク検
査装置の主要部を示す図、 第２図は同光磁気ディスク検査装置における書込ヘッド
と読出ヘッドを示す図、 第３図は同光磁気ディスク検査装置の機能ブロック図、 第４図は同光磁気ディスク検査装置の書込ヘッド制御部
の機能ブロック図、 第５図は同光磁気ディスク検査装置の読出ヘッド制御部
の機能ブロック図、 第６図は同光磁気ディスク検査装置の検査方法のフロー
チャート、 第７図は本発明の第２の実施例による光磁気ディスク検
査装置の主要部を示す図、 第８図は同光磁気ディスク検査装置の機能ブロック図、 第９図は同光磁気ディスク検査装置の消去ヘッド制御部
の機能ブロック図、 第10図は同光磁気ディスク検査装置の検査方法のフロー
チャート である。 図において、 10…光磁気ディスク 12…スピンドルモータ 14…クランパ 14a〜14d…磁石保持部 16a、16b…書込ヘッド 18a、18b…読出ヘッド 20a〜20d…リニアモータ 22a、22b、22d…永久磁石 30…レーザ光源 31…コリメータレンズ 32…整形プリズム 33…偏向ビームスプリッタ 34…1/4波長板 35…対物レンズ 36…光ディテクタ 40…レーザ光源 41…コリメータレンズ 42…整形プリズム 43…偏光子 44…ハーフミラー 45…対物レンズ 46…検光子 47…光ディテクタ 50…メインコントローラ 51…ユニットコントローラ 52…チルトセンサ 54…モータ駆動部 56…書込ヘッド制御部 58…読出ヘッド制御部 60…レーザドライバ 61…検査信号発生部 62…アドレス信号検出部 63…アドレス復調部 64…サーボ信号検出部 65…フォーカス及びトラッキングサーボ回路 66…アクチュエータ 67…メカコントローラ 68…位置センサ 69…シークコントローラ 70…反射率測定部 71…フォーマットエラー検出部 72…データ信号検出部 73…ビットエラー検出部 74…ビットエラーカウンタ 80a、80b…消去ヘッド 82…消去ヘッド制御部
査装置の主要部を示す図、 第２図は同光磁気ディスク検査装置における書込ヘッド
と読出ヘッドを示す図、 第３図は同光磁気ディスク検査装置の機能ブロック図、 第４図は同光磁気ディスク検査装置の書込ヘッド制御部
の機能ブロック図、 第５図は同光磁気ディスク検査装置の読出ヘッド制御部
の機能ブロック図、 第６図は同光磁気ディスク検査装置の検査方法のフロー
チャート、 第７図は本発明の第２の実施例による光磁気ディスク検
査装置の主要部を示す図、 第８図は同光磁気ディスク検査装置の機能ブロック図、 第９図は同光磁気ディスク検査装置の消去ヘッド制御部
の機能ブロック図、 第10図は同光磁気ディスク検査装置の検査方法のフロー
チャート である。 図において、 10…光磁気ディスク 12…スピンドルモータ 14…クランパ 14a〜14d…磁石保持部 16a、16b…書込ヘッド 18a、18b…読出ヘッド 20a〜20d…リニアモータ 22a、22b、22d…永久磁石 30…レーザ光源 31…コリメータレンズ 32…整形プリズム 33…偏向ビームスプリッタ 34…1/4波長板 35…対物レンズ 36…光ディテクタ 40…レーザ光源 41…コリメータレンズ 42…整形プリズム 43…偏光子 44…ハーフミラー 45…対物レンズ 46…検光子 47…光ディテクタ 50…メインコントローラ 51…ユニットコントローラ 52…チルトセンサ 54…モータ駆動部 56…書込ヘッド制御部 58…読出ヘッド制御部 60…レーザドライバ 61…検査信号発生部 62…アドレス信号検出部 63…アドレス復調部 64…サーボ信号検出部 65…フォーカス及びトラッキングサーボ回路 66…アクチュエータ 67…メカコントローラ 68…位置センサ 69…シークコントローラ 70…反射率測定部 71…フォーマットエラー検出部 72…データ信号検出部 73…ビットエラー検出部 74…ビットエラーカウンタ 80a、80b…消去ヘッド 82…消去ヘッド制御部
Claims (3)
- 【請求項１】光磁気ディスクの特性を検査する光磁気デ
ィスク検査装置において、書込ヘッドと読出ヘッドを１
組としたｎ組のヘッドを備え、前記光磁気ディスクの検
査する領域をｎ個に分割し、各分割領域に対して１組の
ヘッドを配し、前記書込ヘッドにより前記光磁気ディス
クに書込んだデータを前記読出ヘッドで読出すことによ
り、前記光磁気ディスクを検査することを特徴とする光
磁気ディスク検査装置。 - 【請求項２】光磁気ディスクの特性を検査する光磁気デ
ィスク検査装置において、書込ヘッドと読出ヘッドと第
１及び第２の消去ヘッドを備え、前記第１の消去ヘッド
は、前記光磁気ディスクを検査のために初期化し、前記
書込ヘッドは、初期化された前記光磁気ディスクに検査
データを書込み、前記読出ヘッドは、前記光磁気ディス
クに書込まれた検査データを読出して検査し、前記第２
の消去ヘッドは、検査データが書込まれた前記光磁気デ
ィスクを初期化することを特徴とする光磁気ディスク検
査装置。 - 【請求項３】請求項１又は２記載の光磁気ディスク検査
装置において、前記書込ヘッド又は前記消去ヘッドにお
ける前記光磁気ディスクへの磁界印加手段として永久磁
石を用いたことを特徴とする光磁気ディスク検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1056898A JP2707690B2 (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 光磁気ディスク検査装置 |
| EP19900302463 EP0387050A3 (en) | 1989-03-09 | 1990-03-08 | Magneto-optical disk inspecting method and apparatus |
| US07/869,831 US5270879A (en) | 1989-03-09 | 1992-04-16 | Magneto-optical disk inspecting method and apparatus |
| US08/396,091 US5568454A (en) | 1989-03-09 | 1995-02-28 | Apparatus and method for detecting a defect on a magneto-optical disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1056898A JP2707690B2 (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 光磁気ディスク検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02235243A JPH02235243A (ja) | 1990-09-18 |
| JP2707690B2 true JP2707690B2 (ja) | 1998-02-04 |
Family
ID=13040267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1056898A Expired - Lifetime JP2707690B2 (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 光磁気ディスク検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0387050A3 (ja) |
| JP (1) | JP2707690B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61277006A (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-08 | Nec Home Electronics Ltd | 記録用デイスク検査装置 |
| JPS6265251A (ja) * | 1985-09-17 | 1987-03-24 | Toshiba Corp | 情報記録再生装置 |
| JPH0777047B2 (ja) * | 1986-10-21 | 1995-08-16 | 株式会社アサカ | 光磁気デイスク記録装置 |
-
1989
- 1989-03-09 JP JP1056898A patent/JP2707690B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-03-08 EP EP19900302463 patent/EP0387050A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0387050A2 (en) | 1990-09-12 |
| EP0387050A3 (en) | 1991-07-24 |
| JPH02235243A (ja) | 1990-09-18 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20060829 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070109 |