JPS63136369A - 浮上式ヘツドの浮上量試験方法 - Google Patents
浮上式ヘツドの浮上量試験方法Info
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- JPS63136369A JPS63136369A JP28146486A JP28146486A JPS63136369A JP S63136369 A JPS63136369 A JP S63136369A JP 28146486 A JP28146486 A JP 28146486A JP 28146486 A JP28146486 A JP 28146486A JP S63136369 A JPS63136369 A JP S63136369A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 101100129922 Caenorhabditis elegans pig-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100520057 Drosophila melanogaster Pig1 gene Proteins 0.000 description 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
上側の透明円板と対向する上向きの磁気ヘッドおよび下
側の透明円板と対向する下向きの磁気ヘッドを同時に浮
上させた状態で、それぞれの透明円板を透過して磁気ヘ
ッドに測定光を照射し、かつ浮上量検出器を選択的にそ
れぞれの磁気ヘッドに向けて反射光を測定し、2つの磁
気ヘッドの浮上量を連続して能率的に試験可能とする。
側の透明円板と対向する下向きの磁気ヘッドを同時に浮
上させた状態で、それぞれの透明円板を透過して磁気ヘ
ッドに測定光を照射し、かつ浮上量検出器を選択的にそ
れぞれの磁気ヘッドに向けて反射光を測定し、2つの磁
気ヘッドの浮上量を連続して能率的に試験可能とする。
情報処理システムにおける外部記憶装置として使用され
る磁気ディスク装置では、磁気ディスクへの情報の記録
/再生が、通常磁気ヘッドを浮上させた状態で行なわれ
る。この浮上量が許容値の範囲内にあるか、磁気ディス
ク装置の出荷前に試験されるが、本発明はこのように磁
気ヘッドの浮上量を試験する方法に関する。
る磁気ディスク装置では、磁気ディスクへの情報の記録
/再生が、通常磁気ヘッドを浮上させた状態で行なわれ
る。この浮上量が許容値の範囲内にあるか、磁気ディス
ク装置の出荷前に試験されるが、本発明はこのように磁
気ヘッドの浮上量を試験する方法に関する。
第4図は浮上式の磁気ヘッドを示す図で、(a)は磁気
ディスク装置に実装使用状態の側面図、(b)はフロン
トギャップ側から見た斜視図である。フロントギャップ
1は磁気ディスク2の磁性塗膜3に対向している。この
磁気ヘッドは、磁気ヘッドの浮上を司るスライダ4とコ
ア5が同じフェライト材で出来ており、コア5はフロン
トギャップ1およびバックギャップ6でガラスを介して
スライダ4に固着されている。13は読書き用のコイル
であり、コア5に巻回されている。フロントギャップ1
は、凸条をなしたセンターレール7とコア5間に形成さ
れており、該センターレール70両側には、溝81.8
2を挟んで同じく凸条のサイドレールエ0.11が設け
られている。そして各レール7.10.11の端部に、
磁気ヘッドを空気力学的に浮上させるための迎え角斜面
7”、lOo、11゛が形成されている。スライダ4は
、費消9を介してジンバル12に支持され、バネ圧でデ
ィスク2側へ加圧されている。ディスク2が矢印方向へ
回転すると、スライダ4とディスク2間の空気流でスラ
イダが0.2〜0.3μm程度浮上し、フロントギャッ
プ1は磁性塗膜3とエアギャップGを介して対向する。
ディスク装置に実装使用状態の側面図、(b)はフロン
トギャップ側から見た斜視図である。フロントギャップ
1は磁気ディスク2の磁性塗膜3に対向している。この
磁気ヘッドは、磁気ヘッドの浮上を司るスライダ4とコ
ア5が同じフェライト材で出来ており、コア5はフロン
トギャップ1およびバックギャップ6でガラスを介して
スライダ4に固着されている。13は読書き用のコイル
であり、コア5に巻回されている。フロントギャップ1
は、凸条をなしたセンターレール7とコア5間に形成さ
れており、該センターレール70両側には、溝81.8
2を挟んで同じく凸条のサイドレールエ0.11が設け
られている。そして各レール7.10.11の端部に、
磁気ヘッドを空気力学的に浮上させるための迎え角斜面
7”、lOo、11゛が形成されている。スライダ4は
、費消9を介してジンバル12に支持され、バネ圧でデ
ィスク2側へ加圧されている。ディスク2が矢印方向へ
回転すると、スライダ4とディスク2間の空気流でスラ
イダが0.2〜0.3μm程度浮上し、フロントギャッ
プ1は磁性塗膜3とエアギャップGを介して対向する。
この状態で、コイル13により情報の読書きが行なわれ
る。
る。
第5図は前記の磁気ヘッドをジンバルに搭載した状態の
全容を示す斜視図である。磁気ヘッドのスライダ4の費
消9に、ジンバルのホルダ一部14が嵌入し、左右2本
のジンバルアーム12a 、12bで駆動アーム15に
取りつけられている。また左右のジンバルアーム12a
、 12bの間に加圧板バネ部12cを有しており、
この加圧板バネ部12cで、スライダ4が磁気ディスク
側に押圧される。そしてこの押圧力に抗して、スライダ
4が浮上することで、第4図(a)のように浮上ギャッ
プGが磁気ディスク面との間に生じる。
全容を示す斜視図である。磁気ヘッドのスライダ4の費
消9に、ジンバルのホルダ一部14が嵌入し、左右2本
のジンバルアーム12a 、12bで駆動アーム15に
取りつけられている。また左右のジンバルアーム12a
、 12bの間に加圧板バネ部12cを有しており、
この加圧板バネ部12cで、スライダ4が磁気ディスク
側に押圧される。そしてこの押圧力に抗して、スライダ
4が浮上することで、第4図(a)のように浮上ギャッ
プGが磁気ディスク面との間に生じる。
通常磁気ヘッドは、1つの駆動アーム15に対し、上下
2組取りつけられ、上側の磁気へ゛ラドAが上側の磁気
ディスクに対向して情報の記録/再生を行ない、下側の
磁気ヘッドBが下側の磁気ディスクに対向して情報の記
録/再生を行なう構成となっている。磁気ディスク装置
は、第6図のように、平行配置された複数枚の磁気ディ
スク2・・・が駆動軸16に取りつけられており、駆動
軸16で高速回転される。そして各磁気ディスク2・・
・間に第5図のような磁気ヘッド組が配置され、上側の
磁気ヘッドAは上側の磁気ディスクに対向し、下側の磁
気ヘッドBは下側の磁気ディスクに対向し、1つの駆動
アーム15で同時に磁気ディスク2の半径方向に駆動さ
れて、情報の記録/再生が行なわれる。
2組取りつけられ、上側の磁気へ゛ラドAが上側の磁気
ディスクに対向して情報の記録/再生を行ない、下側の
磁気ヘッドBが下側の磁気ディスクに対向して情報の記
録/再生を行なう構成となっている。磁気ディスク装置
は、第6図のように、平行配置された複数枚の磁気ディ
スク2・・・が駆動軸16に取りつけられており、駆動
軸16で高速回転される。そして各磁気ディスク2・・
・間に第5図のような磁気ヘッド組が配置され、上側の
磁気ヘッドAは上側の磁気ディスクに対向し、下側の磁
気ヘッドBは下側の磁気ディスクに対向し、1つの駆動
アーム15で同時に磁気ディスク2の半径方向に駆動さ
れて、情報の記録/再生が行なわれる。
ところでジンバルの加圧板バネ部12cのバネ圧が強過
ぎると、浮上ギャップが小さくなり、弱過ぎると浮上ギ
ャップが大きくなるので、この浮上ギャップが所定の範
囲内にあるか、出荷前に試験が行なわれる。この浮上量
試験は従来は、第7図のように、駆動軸21を中心に回
転している透明円板17に対し、片側の磁気ヘッドAを
対向させた状態で、測定光を光源18からミラー19で
磁気ヘッドA側に導き、スライダと透明円板16間に生
じる干渉縞を検出器20で検出することにより、行なわ
れる。こうして片方の磁気ヘッドA側の浮上量試験が終
わると、アーム15を反転して、磁気ヘッドBを透明円
板17に対向させて浮上させ、同様な手法で浮上量試験
を行なう。
ぎると、浮上ギャップが小さくなり、弱過ぎると浮上ギ
ャップが大きくなるので、この浮上ギャップが所定の範
囲内にあるか、出荷前に試験が行なわれる。この浮上量
試験は従来は、第7図のように、駆動軸21を中心に回
転している透明円板17に対し、片側の磁気ヘッドAを
対向させた状態で、測定光を光源18からミラー19で
磁気ヘッドA側に導き、スライダと透明円板16間に生
じる干渉縞を検出器20で検出することにより、行なわ
れる。こうして片方の磁気ヘッドA側の浮上量試験が終
わると、アーム15を反転して、磁気ヘッドBを透明円
板17に対向させて浮上させ、同様な手法で浮上量試験
を行なう。
しかしながらこのように、片方の磁気ヘッドの浮上量試
験の後、反転して次の磁気ヘッドの浮上量試験を行なう
のは、作業性が悪く、量産に適L7ていない。
験の後、反転して次の磁気ヘッドの浮上量試験を行なう
のは、作業性が悪く、量産に適L7ていない。
本発明の技術的課題は、従来の浮上式ヘッドの浮上量試
験方法におけるこのような問題を解消し、磁気ヘッドを
反転することなしに、上下の磁気ヘッドを連続して浮上
量試験可能とすることにある。
験方法におけるこのような問題を解消し、磁気ヘッドを
反転することなしに、上下の磁気ヘッドを連続して浮上
量試験可能とすることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図は本発明による浮上式ヘッドの浮上量試験方法の
基本原理を説明する側面図である。17a、17bは透
明の円板であり、駆動軸21によって磁気ディスクと同
じ速度で回転される。この透明円板17a 、17bの
間に、磁気ヘッドA、Bがジンバルを介して取りつけら
れた駆動アーム15に配置されている。上側の磁気ヘッ
ドAが上側の透明円板17aに対向し、下側の磁気ヘッ
ドBが下側の透明円板17bに対向した状態で、透明円
板17a 、17bが高速回転し、磁気ヘッドA、Bの
スライダが浮上する。磁気ヘッドA、Bのスライダと上
下の透明円板17a 、17bとの間には、測定光が照
射され、その反射光が1つの浮上量検出器20で検出測
定される。浮上量検出器20は、回転軸22に取りつけ
られ、該回転軸22の回りに回動でき、上側の磁気ヘッ
ドAの浮上量を測定する場合は、上側の磁気ヘッドA側
に向け、下側の磁気ヘッドBの浮上量を測定する場合は
、下側の磁気ヘッドB側に向ける。
基本原理を説明する側面図である。17a、17bは透
明の円板であり、駆動軸21によって磁気ディスクと同
じ速度で回転される。この透明円板17a 、17bの
間に、磁気ヘッドA、Bがジンバルを介して取りつけら
れた駆動アーム15に配置されている。上側の磁気ヘッ
ドAが上側の透明円板17aに対向し、下側の磁気ヘッ
ドBが下側の透明円板17bに対向した状態で、透明円
板17a 、17bが高速回転し、磁気ヘッドA、Bの
スライダが浮上する。磁気ヘッドA、Bのスライダと上
下の透明円板17a 、17bとの間には、測定光が照
射され、その反射光が1つの浮上量検出器20で検出測
定される。浮上量検出器20は、回転軸22に取りつけ
られ、該回転軸22の回りに回動でき、上側の磁気ヘッ
ドAの浮上量を測定する場合は、上側の磁気ヘッドA側
に向け、下側の磁気ヘッドBの浮上量を測定する場合は
、下側の磁気ヘッドB側に向ける。
2枚の透明円板17a 、17bは、駆動軸21によっ
て高速回転し、上下の磁気ヘッドA、Bが共に浮上する
。この状態で、いま上側の磁気ヘッドAを先に測定する
ものとすると、上側の磁気ヘッドAと上側の透明円板1
7aとの間に測定光を照射し、かつ浮上量検出器20を
上側の磁気へッl”Aに向けて、該磁気ヘッドAからの
反射光を検出し測定する。次に浮上量検出器20を下側
の磁気ヘッドB側に向けて下側の磁気ヘッドBからの反
射光を検出し測定する。このように、磁気ヘッドA、B
を反転したりすることなく、浮上量検出器20のみを目
的の磁気ヘッドAまたはBに向けるだけで、連続して上
下2組の磁気ヘッドA、Hの浮上量を試験することがで
きる。
て高速回転し、上下の磁気ヘッドA、Bが共に浮上する
。この状態で、いま上側の磁気ヘッドAを先に測定する
ものとすると、上側の磁気ヘッドAと上側の透明円板1
7aとの間に測定光を照射し、かつ浮上量検出器20を
上側の磁気へッl”Aに向けて、該磁気ヘッドAからの
反射光を検出し測定する。次に浮上量検出器20を下側
の磁気ヘッドB側に向けて下側の磁気ヘッドBからの反
射光を検出し測定する。このように、磁気ヘッドA、B
を反転したりすることなく、浮上量検出器20のみを目
的の磁気ヘッドAまたはBに向けるだけで、連続して上
下2組の磁気ヘッドA、Hの浮上量を試験することがで
きる。
〔実施例]
次に本発明による浮上式ヘッドの浮上量試験方法が実際
上どのように具体化されるかを実施例で説明する。第2
図は本発明の第1実施例であり、光源18から出射した
紫外線などの測定光を、ハーフミラ−24で2分割し、
その透過光23aをミラー19で上側の磁気ヘッドAに
導き、ハーフミラ−24の反射光をミラー25.26で
下側の磁気ヘッドBに導く構成になっている。このよう
に、上下の磁気ヘッドA、Bに同時に測定光が照射され
ているため、浮上量検出器20を、支軸22の回りに回
動し、磁気ヘッドA、Bの反射光を選択的に検出するの
みで、2つの磁気ヘッドA、Bの浮上量を連続して試験
できる。なお図のように上側の透明円板17a側に浮上
量検出器20が配置されている場合は、該浮上量検出器
20を上側の磁気ヘッドAに向けるのみで、その反射光
を検出し測定できるが、下側の磁気ヘッドBの反射光は
、一旦ミラー27に反射させて、浮上量検出器20に導
かれる。
上どのように具体化されるかを実施例で説明する。第2
図は本発明の第1実施例であり、光源18から出射した
紫外線などの測定光を、ハーフミラ−24で2分割し、
その透過光23aをミラー19で上側の磁気ヘッドAに
導き、ハーフミラ−24の反射光をミラー25.26で
下側の磁気ヘッドBに導く構成になっている。このよう
に、上下の磁気ヘッドA、Bに同時に測定光が照射され
ているため、浮上量検出器20を、支軸22の回りに回
動し、磁気ヘッドA、Bの反射光を選択的に検出するの
みで、2つの磁気ヘッドA、Bの浮上量を連続して試験
できる。なお図のように上側の透明円板17a側に浮上
量検出器20が配置されている場合は、該浮上量検出器
20を上側の磁気ヘッドAに向けるのみで、その反射光
を検出し測定できるが、下側の磁気ヘッドBの反射光は
、一旦ミラー27に反射させて、浮上量検出器20に導
かれる。
第3図は本発明の第2の実施例であり、第2図のハーフ
ミラ−24に代えて全反射ミラー28を使用している。
ミラ−24に代えて全反射ミラー28を使用している。
この全反射ミラー28は、支軸29の回りに回動でき、
(a)図のように測定光の光路から退避させると、測定
光は総て上側のミラー19側に導かれ、磁気ヘッドAに
照射される。そしてこれに合わせて、浮上量検出器20
も支軸22の回りに磁気ヘッドA側に向けることで、該
磁気ヘッドAの浮上量試験を行なう。
(a)図のように測定光の光路から退避させると、測定
光は総て上側のミラー19側に導かれ、磁気ヘッドAに
照射される。そしてこれに合わせて、浮上量検出器20
も支軸22の回りに磁気ヘッドA側に向けることで、該
磁気ヘッドAの浮上量試験を行なう。
また全反射ミラー28を[有])のように測定光の光路
に入れると、該全反射ミラー28で全反射された光が、
ミラー25.26で下側の磁気ヘッドB側に導かれる。
に入れると、該全反射ミラー28で全反射された光が、
ミラー25.26で下側の磁気ヘッドB側に導かれる。
これに合わせて、浮上量検出器20を磁気ヘッドB側に
向けることで、ミラー27の反射光を検出し該磁気ヘッ
ドBの浮上量試験を行なう。
向けることで、ミラー27の反射光を検出し該磁気ヘッ
ドBの浮上量試験を行なう。
測定光を上下の磁気ヘッドA、Bに導く光路、磁気ヘッ
ドA、Bと透明円板17a 、17b間の反射光を浮上
量検出器20に導く光路は、前記の実施例のはかいろい
ろ考えられる。
ドA、Bと透明円板17a 、17b間の反射光を浮上
量検出器20に導く光路は、前記の実施例のはかいろい
ろ考えられる。
以上のように本発明によれば、駆動アームに取りつけら
れた上下2&Ilの磁気ヘッドA、Bを、上下の透明円
板17a 、 17bに対向させ、同時に浮上させた状
態で、浮上量検出器20のみを切り替えて、上下の磁気
ヘッドA、Bを別々に浮上試験する方法を採っている。
れた上下2&Ilの磁気ヘッドA、Bを、上下の透明円
板17a 、 17bに対向させ、同時に浮上させた状
態で、浮上量検出器20のみを切り替えて、上下の磁気
ヘッドA、Bを別々に浮上試験する方法を採っている。
そのため、磁気ヘッドA、Bを反転したりすることなく
、連続して浮上量試験でき、試験作業が極めて容易にな
り、作業能率が向上する。
、連続して浮上量試験でき、試験作業が極めて容易にな
り、作業能率が向上する。
第1図は本発明による浮上式ヘッドの浮上量試験方法の
基本原理を説明する側面図、第2図は本発明方法の第1
実施例を示す側面図、第3図は本発明の第2実施例を示
す側面図、第4図は浮上量試験が行なわれる磁気ヘッド
の側面図と斜視図、第5図は同磁気ヘッドが駆動アーム
に実装された状態の斜視図、第6図は同磁気ヘッドが実
装された磁気ディスク装置の側面図、第7図は従来の浮
上式ヘッドの浮上量試験方法を示す側面図である。 図において、A、Bは磁気ヘッド、4はスライダ、12
はジンバル、15は駆動アーム、17a 、 17bは
透明円板、18は光源、19.25.26.27.28
は全反射ミラー、24はハーフミラ−120は浮上量検
出器をそれぞれ示す。 特許出願人 冨士通株式会社 復代理人 弁理士 福 島 康 文 +2$c施今J 第3図 璋上式慮気へ、ソド 第4 図 ち1気ヘツド亥共1大熊、 第5図
基本原理を説明する側面図、第2図は本発明方法の第1
実施例を示す側面図、第3図は本発明の第2実施例を示
す側面図、第4図は浮上量試験が行なわれる磁気ヘッド
の側面図と斜視図、第5図は同磁気ヘッドが駆動アーム
に実装された状態の斜視図、第6図は同磁気ヘッドが実
装された磁気ディスク装置の側面図、第7図は従来の浮
上式ヘッドの浮上量試験方法を示す側面図である。 図において、A、Bは磁気ヘッド、4はスライダ、12
はジンバル、15は駆動アーム、17a 、 17bは
透明円板、18は光源、19.25.26.27.28
は全反射ミラー、24はハーフミラ−120は浮上量検
出器をそれぞれ示す。 特許出願人 冨士通株式会社 復代理人 弁理士 福 島 康 文 +2$c施今J 第3図 璋上式慮気へ、ソド 第4 図 ち1気ヘツド亥共1大熊、 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 2枚の透明円板(17a)(17b)を平行に配置して
、中心の回転軸(21)に取りつけたこと、 両透明円板(17a)(17b)間に、それぞれの透明
円板と対向する上向きおよび下向きの磁気ヘッド(A)
(B)を有する駆動アーム(15)を配置し、前記透明
円板(17a)(17b)を回転させて、上下の磁気ヘ
ッド(A)(B)を同時に浮上させること、 上向きの磁気ヘッド(A)および下向きの磁気ヘッド(
B)に、それぞれの透明円板(17a)(17b)を透
過して測定光を照射して反射させること、 1つの浮上量検出器(20)を、上向きの磁気ヘッド(
A)側と下向きの磁気ヘッド(B)側に選択的に対応さ
せることで、片方の磁気ヘッドからの反射光を検出測定
した後、別の磁気ヘッドからの反射光を検出測定し、上
下の磁気ヘッドを連続して浮上量試験することを特徴と
する浮上式ヘッドの浮上量試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61281464A JPH06101216B2 (ja) | 1986-11-26 | 1986-11-26 | 浮上式ヘツドの浮上量試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61281464A JPH06101216B2 (ja) | 1986-11-26 | 1986-11-26 | 浮上式ヘツドの浮上量試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63136369A true JPS63136369A (ja) | 1988-06-08 |
JPH06101216B2 JPH06101216B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=17639545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61281464A Expired - Lifetime JPH06101216B2 (ja) | 1986-11-26 | 1986-11-26 | 浮上式ヘツドの浮上量試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06101216B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003012781A1 (fr) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Fujitsu Limited | Testeur de tete magnetique |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5977307A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-02 | Hitachi Ltd | 浮動スペーシング測定方法 |
-
1986
- 1986-11-26 JP JP61281464A patent/JPH06101216B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5977307A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-02 | Hitachi Ltd | 浮動スペーシング測定方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003012781A1 (fr) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Fujitsu Limited | Testeur de tete magnetique |
US7196512B2 (en) | 2001-07-30 | 2007-03-27 | Fujitsu Limited | Magnetic head tester |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06101216B2 (ja) | 1994-12-12 |
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