JP2674868B2

JP2674868B2 - 測定支援装置

Info

Publication number: JP2674868B2
Application number: JP17305990A
Authority: JP
Inventors: 賢治松本; 俊弘佐田
Original assignee: Mitutoyo Corp
Current assignee: Mitutoyo Corp
Priority date: 1990-06-30
Filing date: 1990-06-30
Publication date: 1997-11-12
Anticipated expiration: 2012-11-12
Also published as: JPH0462410A

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は、ホストコンピュータと複数の計測機とが通
信回線を介して相互に接続された計測ネットワークシス
テム等に使用され、測定作業を支援する測定支援装置に
関し、特に測定箇所を図面情報によって特定する測定支
援装置に関する。

［従来の技術］近年、各種測定機で測定された測定データを集中管理
することにより、設計部門、製造部門及び品質管理部門
等の各種部門でこれらのデータを共有し、有効活用する
計測データネットワークシステムが開発されている。こ
の種のシステムでは、端末測定機としてCNC（Computer
Numerical Control）三次元測定機のような高度な測定
機からディジタルデータの出力機能を有するディジタル
ノギス及びディジタルマイクロメータのような小型の測
定器まで種々の測定機器が端末測定器として使用され
る。

この種のシステムで測定を行なう場合、測定依頼者
は、例えばホストコンピュータから測定指示を与える。
そして、測定作業者は、測定機側に設置された端末から
上記測定指示を確認し、最適な測定機と測定工程とを選
択して測定作業を行なっている。

［発明が解決しようとする課題］ところで、上述したシステムで測定箇所を特定する図
面を表示する等の測定支援を行うことがあるが、従来
は、測定依頼者がホストコンピュータ等の図面作成機能
を使用して簡単な略図を作成する等の方法によっていた
ので、複雑な測定対象に対して図面を作成することは困
難であり、測定支援も中途半端なものにならざるを得な
かった。

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであっ
て、簡単な操作で測定箇所を極めて分かり易く特定する
ことができ、測定作業者の負担を大幅に軽減することが
可能な測定支援装置を提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段］本発明に係る測定支援装置は、測定対象及び測定箇所
等の測定指示情報を入力するための測定指示情報入力手
段と、前記測定対象を示す元図データを読み込むための
図面入力手段と、この図面入力手段によって読み込まれ
た元図データをオペレータの操作に従って適宜修正及び
拡大して図面データを作成すると共に作成された図面デ
ータにオペレータの操作に従って前記測定指示情報との
対応付けを図るための情報と測定箇所を特定する情報と
を付加情報として付加して図面情報を生成する図面編集
手段と、この図面編集手段によって生成された図面情報
を前記付加情報を介して前記測定指示情報と結び付ける
手段とを有することを特徴とする。

［作用］本発明によれば、測定対象を示す元図データを図面入
力手段で読み込むと共に、オペレータの操作に従って、
読み込んだ元図データを適宜修正及び拡大することによ
って図面データを作成することができる。従って、測定
依頼作業の能率を向上させることができる。

また、元図データから得られた図面データには、測定
指示情報との対応付けを図るための情報と測定箇所を特
定する情報とが付加情報として付加されて図面情報が作
成される。この図面情報は、前記付加情報を通じて前記
測定指示情報と関係付けることができるので、測定指示
情報に従って関係する図面データ及び測定箇所を特定す
る情報を表示手段等に順次表示することができる。

従って、本発明によれば、測定箇所を極めて分かり易
く表示する図面情報を容易に作成することができ、測定
作業者の負担を大幅に軽減して効果的な測定支援を行う
ことができる。

なお、図面入力手段をイメージスキャナで構成する
と、設計図及び仕様書等の任意の設計資源を有効に活用
することができ、更に測定依頼作業の能率を向上させる
ことができる。

［実施例］以下、添付の図面を参照して本発明の実施例に係る測
定支援装置及びこれを使用した計測データネットワーク
システムについて説明する。

第２図は、上記計測データネットワークシステムの構
成を示すブロック図である。

ホストコンピュータ20は、通信コントローラ21を介し
て複数の端末装置22₁,22₂,…,22_nと接続されている。各
端末装置22₁,22₂,…,22_nには、夫々測定機23₁,23₂,…,2
3_nが接続されている。ホストコンピュータ20は、外部記
憶装置と特定のプログラムとを含み、測定依頼者が測定
作業者に対して作業指示を与えるための機能と、測定デ
ータを吸い上げて所定の統計処理を行う機能を有する。
また、ホストコンピュータ20には、図面入力装置24が接
続されている。そして、この図面入力装置24とホストコ
ンピュータ20と端末装置22₁〜22_nとで測定支援装置が構
成されている。

第１図は、この測定支援装置のうちの制御テーブル作
成装置の更に詳細な機能ブロック図である。

この装置は、大きく分けて２つの情報の入力を行な
う。１つは、制御テーブルの中心的データを構成し、測
定依頼者が測定作業者に対し測定指示を行なうための測
定記述であり、他の１つは、測定自体には直接関係ない
がシステムの効率的な運用と、データの有効活用とを図
るための付属情報である図面情報及び統計・演算指定情
報である。

また、この装置は、これらの情報の入力受け付け及び
編集を行なって測定記述テーブル、要素データテーブル
及び相関データテーブルを生成する機能と、生成された
３つのテーブルの関連付けを行なう機能と、関連付けさ
れたテーブルを展開して制御テーブルを生成する機能の
３つの機能を有している。

第１図において、測定記述テーブル作成部１は、測定
依頼者が測定対象、使用測定機及び測定要素等を指示す
るための測定指示情報である測定記述を入力及び編集し
て測定記述テーブルを作成するための測定指示情報入力
手段であり、例えば第３図に示すように、データを入力
するキーボード及びマウス等の入力部31と、表枠、入力
データ及びメッセージ等を表示する表示部32と、測定記
述テーブル作成のための編集機能を有する測定記述エデ
ィタ33とを有している。測定記述エディタ33は、更に測
定記述入力編集部34、入力情報チェック部35、組込み編
集部36、測定記述統合部37、測定記述ソート部38及びワ
ーキングメモリ39を備えている。

測定記述テーブル作成部１で作成された測定記述テー
ブルは、測定記述テーブル記憶部２に記憶されるように
なっている。また、測定記述テーブル作成部１には、測
定記述テーブル記憶部２に既に登録済みの測定記述テー
ブルが必要に応じて供給されるようになっている。

図面入力装置24は、図面情報を読み込むための装置
で、例えばイメージスキャナ等によって構成されてい
る。この図面入力装置24に入力された図面情報は、図面
情報作成部３に入力されている。図面情報作成部３は、
第４図に示すように、図面入力装置24によって読み込ん
だ１枚の元図から、元図の切り出し、拡大、縮小、移動
及び回転等の機能によって各投影面の図面を複数枚作成
する図面情報エディタ41と、読み込んだ元図を記憶する
元図データ記憶部42と、作成された各投影面の図面デー
タを記憶する各面図データ記憶部43と、各面図に付加さ
れる矢印情報等の付加情報を記憶する付加情報記憶部44
と、前記各図面の編集と付加情報の入力のための入力部
45と、図面編集用の画面を表示する表示部46とを備えた
ものとなっている。

図面情報作成部３で作成された図面情報は、図面情報
記憶部４に記憶されるようになっている。

統計・演算指定情報入力部５は、測定データから、平
均値、ヒストグラム及び−Ｒ管理図のような統計デー
タを作成するための指示を与える情報を入力するための
手段である。

この統計・演算指定情報入力部５で入力された統計・
演算指定情報は、統計・演算指定情報記憶部６に記憶さ
れるようになっている。

測定記述テーブル作成部１で作成された測定記述テー
ブルのうち、要素に関するデータ及び相関に関するデー
タは、夫々要素データテーブルジェネレータ７及び相関
データテーブルジェネレータ８に入力されている。ま
た、要素データテーブルジェネレータ７には、図面情報
作成部３で作成された図面情報と統計・演算指定情報入
力部５によって入力された統計・演算指定情報とが与え
られている。要素データテーブルジェネレータは、これ
らの情報を測定記述テーブルの要素データ部分に付加し
て要素データテーブルを作成するものとなっている。作
成された要素データテーブルは、要素データテーブル記
憶部９に格納されるようになっている。また、相関デー
タテーブルジェネレータ８は、入力された測定記述テー
ブルの相関に関するデータに基づいて相関データテーブ
ルを作成する。作成された相関データテーブルは相関デ
ータテーブル記憶部10に記憶されるようになっている。

これら作成された３つのテーブル、即ち測定記述テー
ブル、要素データテーブル及び相関データテーブルは、
制御テーブルジェネレータ11に供給されている。制御テ
ーブルジェネレータ11は、例えば第５図に示すように構
成されている。即ち、測定記述テーブルを構成する各測
定記述は、番号順にコマンド展開部51とガイドメッセー
ジ選択部52とに供給されている。コマンド展開部51は、
測定記述で指定された測定機が三次元測定機の場合、測
定機別コマンド展開テーブル記憶部12に記憶されたコマ
ンド展開テーブル12a,12b,12c,…のうちの対応する測定
機のテーブルを選択してCNCのコマンドに展開する。ま
た、ガイドメッセージ選択部52は、測定記述及び展開さ
れたコマンドに基づいてガイドメッセージ辞書53から対
応する測定作業者へのメッセージを選択する。そして、
前記コマンド、ガイドメッセージ並びに要素データテー
ブル記憶部９及び相関データテーブル10の必要情報とが
情報統合処理部54へ与えられ、ここで組み付けられて制
御テーブルが作成されるようになっている。

作成された制御テーブルは、制御テーブル記憶部13に
格納されると共に、第２図に示す通信コントローラ12を
介して各端末装置22₁〜22_nに供給されるようになってい
る。

次に、このように構成された本実施例に係る測定支援
装置の動作について説明する。

この計測データネットワークシステムでは、測定記述
テーブルを使用して測定依頼者が測定指示を行なう。測
定記述テーブルは、例えば、第６図に示すようなテーブ
ルで、ヘッダ部61と本表62とに分かれている。

ヘッダ部61には、測定対象の品名、品番、一般公差、
使用測定機及び測定機に関係するパラメータ等が記述さ
れる。また、本表62には、測定作業に直接必要な定義要
素、投影面、表示面、第１要素の名称、出力指定、特別
指定、コメント、第２要素の名称、相関の出力指定等が
記述される。

本表62のうち、定義要素の欄には、測定要素ではない
が測定の都合上必要な要素を定義するための情報、例え
ば三次元測定機で測定を行なう場合の基準面及び原点等
の情報が記述される。ここで、XY,Y,ORGは夫々XY平面、
Ｙ軸及び原点を示している。

投影面の欄には、三次元測定機で測定を行なう場合の
投影面を指示する情報が記述される。ここで、XY,YZ,ZX
等は、夫々XY面、YZ面及びZX面が投影面であることを示
している。

表示面の欄には、測定対象のどの方向から見た図面を
端末装置22₁〜22_nに表示するかを示す情報が記述され
る。この情報は、投影面と同一の場合には省略すること
ができる。

第１要素の名称欄には、測定すべき要素、例えばNo.1
1の円及びNo.13の線等の要素が記号で記述される。ここ
で、PLi,CIi,SPi,PTi,LIi,CYi等は、夫々No.iの線、
円、球、点、投影線及び円筒を示している。

第１要素の出力指定の欄には、第１要素の名称欄で指
定された要素の中の測るべき項目、例えば直径Ｄ、Ｘ座
標、Ｙ座標及びＺ座標等の記号と、設計値と、誤差上限
許容値と、誤差下限許容値とが記述される。

特別指定欄には、使うべき測定機及びプローブ等の情
報が記述される。

コメント欄には、測定作業者に伝えたい注意事項等が
記述される。

第２要素の名称欄には、例えば円と円との中心間距離
等のように、２個の要素の指定が必要な場合に、測定す
べき第２要素を定義する記号が記述される。

相関の出力指定欄には、第１要素と第２要素とで決ま
る関係のうち測るべき項目、例えば距離及び角度等の記
号と、設計値と、誤差上限許容値と、誤差下限許容値と
が記述される。

次に、この測定記述テーブルの作成方法について説明
する。

先ず、第３図に示した測定記述テーブル作成部１の測
定記述エディタ33を起動する。測定記述エディタ33で
は、測定記述入力編集部34が起動され、これによって表
示部32上に測定記述テーブルの表枠のみが表示される。
測定依頼者は、入力部31を操作して、表枠内の必要箇所
に、測定指示を与えるのに必要な測定記述を入力してい
く。なお、このとき、測定記述の入力作業は、測定順序
及び測定機等には拘りなく自由に行なうことができる。

また、過去に作成した測定記述テーブルを利用してテ
ーブル作成を行なう場合には、測定依頼者は、入力部31
によって組込み編集部36を起動し、測定記述テーブル記
憶部２に格納されている測定記述テーブルのうち利用し
たいテーブルを指定する。このとき、例えば表示部32に
はマルチウィンドウが形成され、１つのウィンドウに現
在編集中のテーブルが表示され、他の１つのウィンドウ
に上記指定されたテーブルが表示されることにより、両
ウィンドウ間のデータの移動を容易にしてテーブル作成
を効率的に行なうことができる。これにより、過去のデ
ータを有効利用することができる。

測定記述テーブルに全ての項目が記述されたら、測定
記述エディタ33は、入力情報チェック部35を起動する。
これにより、要素名、出力記号及びパラメータの入力誤
り及び矛盾等がないかがチェックされる。

この階段では、各測定記述は、測定順序及び測定機等
に拘りなくばらばらに配置されているので、次に、これ
を測定効率を考慮した順序に並べ換える編集作業が行な
われる。

先ず、測定記述テーブルの中に過去に作成された測定
記述テーブルの特定の部分を利用するという指示がある
場合には、組込み編集部26を起動して、測定記述テーブ
ル記憶部２にアクセスし、その部分に必要なデータを組
込む。

続いて、測定記述統合部27が起動され、第７図に示す
ように、同じ測定要素で異なる出力記号が別々に入力さ
れている場合に、その出力記号が１つの記述にまとめら
れる。図示の例では、同図（ａ）に示すような、No.11
の円のX,Y,Z座標を求めるという記述と、No.11の円の直
径Ｄを求めるという記述とを、同図（ｂ）に示すよう
な、No.11の円のX,Y,Z座標及び直径Ｄを求めるという記
述に統合している。

最後に、測定記述ソート部28が起動され、測定記述が
測定効率を考慮した順番に並べ換えられる。ソートは例
えば次の基準によって行われる。

使用される測定機毎に測定記述をまとめる。

三次元測定機の場合、使用するプローブ毎に測定記述
をまとめる。

三次元測定機の場合、投影面毎に測定記述をまとめ
る。

実際に測定する要素と、計算で求まる要素とに測定記
述をまとめる。

三次元測定機におけるプローブ及び投影機におけるレ
ンズ等の検出部が最短移動距離で測定できるように測定
記述をまとめる。

ユーザの指定により、特定の要素についてのみ優先的
に測定するように測定記述をまとめる。

このような基準に基づいて測定記述のソートを実行す
ることにより、例えば第８図に示すような測定効率を考
慮しない測定記述テーブル81から、測定効率を考慮した
測定記述テーブル82が生成される。

以上の方法で生成された測定記述テーブルは、測定記
述テーブル記憶部２に格納されると共に、要素データテ
ーブルジェネレータ７、相関データテーブルジェネレー
タ８及び制御テーブルジェネレータ11に供給される。

要素データテーブルジェネレータ７及び相関データテ
ーブルジェネレータ８は、作成された測定記述テーブル
から測定データをホストコンピュータ20上に格納するた
めの記憶装置上の物理領域であるデータエリアを生成す
る。なお、測定データは、一つの要素で決定される例え
ば点の座標及び円の直径等の要素データと、２つの要素
で決定される例えば２点間の距離及び２つの円の中心間
距離等の相関データとに大別される。したがって、要素
データテーブルジェネレータ７は、要素データのデータ
エリアである要素データテーブルを、また、相関データ
テーブルジェネレータ８は、相関データのデータエリア
である相関データテーブルを夫々作成する。要素データ
テーブルジェネレータ７で作成される要素データテーブ
ルは、また、測定記述テーブルと、図面情報と、統計・
演算指定情報とを関連付け、制御テーブル作成時にこれ
らの情報を紐付けするテーブルでもある。

第９図は、要素データテーブルの一例を示す模式図で
ある。即ち、要素データテーブルは、索引部91と本表92
とにより構成される。索引部91には、測定記述テーブル
に記述された第１要素及び第２要素の名称から対応する
要素データのデータエリアへのポインタ（メモリNo.）
が格納される。また、本表92は、メモリNo.（＝各要
素）と対応させてその測定データが格納されるデータエ
リア93と、対応する要素の測定指示に対してどの図面を
表示し、矢印の位置及び形態がどのようなものかを示す
表示データ94と、統計・演算指定を行うためのデータ95
とから構成され、データ94,95が測定記述に関連付けさ
れる部分に相当する。なお、表示データ94は図面情報作
成部４で作成され、統計・演算指定データは統計・演算
指定情報入力部５から入力される。

また、相関データテーブルも、第10図に示すように、
索引部101と本表102とにより構成されている。索引部10
1には、測定記述テーブルでの相関欄の中身が存在する
行について第１要素及び第２要素の名称から対応する相
関データへのポインタ（メモリNo.）が格納される。ま
た、本表102には、メモリNo.（＝各要素）と対応させて
その測定データが格納される。

一方、測定依頼者は、測定記述テーブルの作成に付随
して、測定対象の図面情報をイメージスキャナ等の図面
入力装置24から取り込むことができる。図面情報がCAD
データの場合には、CADシステムから直接データを取り
込むようにしてもよい。

図面情報が図面入力装置24によって読み込まれると、
この図面情報は、第４図の図面情報エディタ41を介して
元図データとして元図データ記憶部42に格納される。元
図データが格納されたら、図面情報エディタ41は、表示
部46に第11図（ａ）に示すような元図データを表示す
る。続いて、図面情報エディタ41は、要素データテーブ
ル記憶部９から順番に送られてくる要素名と図面の情報
を、第11図に示すように、画面の特定部分に表示し、必
要な図面の修正と、矢印記号の指定とを測定依頼者に促
す。第11図（ａ）の例では、測定依頼者が図面MS（全体
図）として元図データそのものを登録し、例えば入力部
45のマウス等の操作によって４つの矢印のうちの一つを
選択して要素名PL11の位置を特定している。また、例え
ば図面としてXY、要素名としてSP11が送られてくると、
測定依頼者は、マウス等を操作して、元図データからXY
面の投影図の部分のみを切り出し、例えば第11図（ｂ）
に示すように、適当に拡大して図面名XYとして登録する
と共に、矢印とその位置を指定する。同様の操作で、他
の図面及び他の要素についても図面情報の登録が行われ
る。

これにより、図面情報エディタ41は、例えば第12図に
示すように、図面名121と２値図形データ122とが対にな
った各面図データを作成し、こを各面図データ記憶部43
に格納すると共に、第13図に示すように、要素名称、図
面、矢印種類並びに矢印の画面上におけるＸ座標及びＹ
座標の対応を示す付加情報を作成し、これを付加情報記
憶部44に格納する。作成された各面図データと付加情報
は、図面情報として図面情報記憶部４に格納されると共
に、要素データテーブルジェネレータ７に転送され、こ
こで要素データテーブルに組込まれる。

また、統計・演算指定情報入力部５から入力された統
計・演算指定情報も、統計・演算指定情報記憶部６に格
納されると共に、要素データテーブルジェネレータ７に
転送され、ここで第９図に示すように、要素データテー
ブルに組込まれる。

このようにして作成された要素データテーブルと、相
関データテーブルと、測定記述テーブルとは、制御テー
ブルジェネレータ11に供給され、ここで制御テーブルの
作成に供される。

第14図は、制御テーブル作成手順を示す流れ図であ
る。

先ず、測定記述テーブル記憶部２から測定記述を１行
分入力する（S₁）。測定記述における測定機の指定欄が
三次元測定機である場合には（S₂）、第５図に示した制
御データテーブルジェネレータ11のコマンド展開部51に
よって測定記述をCNCのコマンドに展開する（S₃）。こ
のとき、測定機の機種によってコマンドが異なるので、
その機種に対応するコマンド展開テーブル12a,12b,12c
を参照してコマンド展開が行われる。このコマンド展開
は、例えば基準面指定動作のコマンド展開、投影面が変
わったときのコマンド展開、第１要素、第２要素及び相
関出力指定のコマンド展開、定義要素のコマンド展開の
順に実行される。コマンド展開が終了すると、ガイドメ
ッセージ選択部52がガイドメッセージ辞書53を検索し、
測定記述及び展開されたコマンドに対応するガイドメッ
セージがあるか否かを調べ、ガイドメッセージがある場
合には、それを選択する（S₄）。

一方、制御テーブルジェネレータ11には、要素データ
テーブルの索引部から測定記述の要素名をキーとして要
素データのメモリNo.と、図面情報と、統計・演算指定
情報とが供給されている。また、制御テーブルジェネレ
ータ11には、相関データテーブルの索引部から測定記述
の要素名をキーとして要素データのメモリNo.が供給さ
れている。そして、これらの情報と、コマンド展開部51
で展開されたコマンドと、ガイドメッセージ選択部52で
選択されたガイドメッセージとが、情報統合処理部54に
よって組み付けられ（S₅）、測定記述テーブルの１行分
の制御テーブルのデータが作成される。これを、測定記
述テーブルの全ての行について実行すると、第15図に示
すような制御テーブルが作成されることになる。

この制御テーブルは、第２図の通信コントローラ21を
介して端末装置22₁〜22_nのうちの対応する端末装置22_k
に供給される。端末装置22_kでは、制御テーブルを１ス
テップずつ順番に実行し、測定機23_kの動作を制御する
と共に、第16図に示すように、必要なガイドメッセージ
及び図面情報等を表示して、測定作業者に測定指示を与
える。なお、第16図（ａ），（ｂ）は、夫々第15図に示
した制御テーブルのステップNo.0/10,0/14を実行した際
の測定端末22_kの表示形態を示している。

従って、測定作業者は、このようなガイドメッセージ
と図面及び測定箇所を示す矢印とを確認しながら測定作
業を進めていけば良いので、測定作業者の負担は大幅に
軽減されることになる。

［発明の効果］以上述べたように、本発明によれば、読み込まれた元
図データを適宜修正及び拡大等することにより、図面デ
ータを作成することができるので、測定箇所を分かり易
く特定することができる程度の大きさ及び内容の図面デ
ータを容易に作成することができる。

また、作成された複数の図面情報は、付加情報を通じ
て測定指示情報と関係付けられるので、測定指示情報に
従って、関連する図面を表示することにより、効果的な
測定支援を行うことができる。従って、測定作業者の負
担を大幅に軽減することができる。

更に、図面入力手段としてイメージスキャナを使用す
ることにより、設計図面等の設定資源を有効に活用して
作業効率のより一層の向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第16図は本発明の実施例に係る測定支援装置
を説明するための図で、第１図は制御テーブル作成装置
のブロック図、第２図は同測定支援装置が使用される計
測データネットワークシステムのブロック図、第３図は
測定記述テーブル作成部のブロック図、第４図は図面情
報作成部のブロック図、第５図は制御テーブルジェネレ
ータのブロック図、第６図は測定記述テーブルを示す模
式図、第７図は測定記述テーブル作成装置における測定
記述統合処理を示す模式図、第８図は同装置における測
定記述ソート処理を示す模式図、第９図は要素データテ
ーブルを示す模式図、第10図は相関データテーブルを示
す模式図、第11図は図面情報作成部での表示画面を示す
模式図、第12図は各面図データを示す模式図、第13図は
付加情報を示す模式図、第14図は制御テーブルジェネレ
ータでの処理を示す流れ図、第15図は制御テーブルを示
す模式図、第16図は同計測データネットワークシステム
の端末装置での表示画面を示す模式図である。 1;測定記述テーブル作成装置、2;測定記述テーブル記憶
部、3;図面情報作成部、4;図面情報記憶部、5;統計・演
算指定情報入力部、6;統計・演算指定情報記憶部、7;要
素データテーブルジェネレータ、8;相関データテーブル
ジェネレータ、9;要素データテーブル記憶部、10;相関
データテーブル記憶部、11;制御テーブルジェネレー
タ、12;測定機種別コマンド展開テーブル記憶部、13;制
御テーブル記憶部、20;ホストコンピュータ、21;通信コ
ントローラ、22₁〜22_n;端末装置、23₁〜23_n;測定機、2
4;図面入力装置、31,45;入力部、32,46;表示部、33;測
定記述エディタ、41;図面情報エディタ、42;元図データ
記憶部、43;各面図データ記憶部、44;付加情報記憶部、
51;コマンド展開部、52;ガイドメッセージ選択部、53;
ガイドメッセージ辞書、54;情報統合処理部

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】測定対象及び測定箇所等の測定指示情報を
入力するための測定指示情報入力手段と、前記測定対象
を示す元図データを読み込むための図面入力手段と、こ
の図面入力手段によって読み込まれた元図データをオペ
レータの操作に従って適宜修正及び拡大して図面データ
を作成すると共に作成された図面データにオペレータの
操作に従って前記測定指示情報との対応付けを図るため
の情報と測定箇所を特定する情報とを付加情報として付
加して図面情報を生成する図面編集手段と、この図面編
集手段によって生成された図面情報を前記付加情報を介
して前記測定指示情報と結び付ける手段とを有すること
を特徴とする測定支援装置。
【請求項２】前記図面入力手段は、イメージスキャナで
あることを特徴とする請求項１に記載の測定支援装置。