JP2662470B2 - 化合物半導体エピタキシャル成長方法 - Google Patents

化合物半導体エピタキシャル成長方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数のV族元素を有す
る多元系III-V族化合物半導体エピタキシャル成長方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、複数のV族元素を有する多元系II
I-V族化合物半導体をエピタキシャル成長する場合、V
族元素の数に応じたIII 族元素のボートを準備して、そ
れぞれのIII-V族の2元系化合物クラストを一旦形成し
た後、基板上に多元系III-V族化合物半導体を成長して
いた。図2は、GaAsP半導体をエピタキシャル成長
する従来装置の概念図である。反応管2の上流にGa金
属を収容するボート3,3’を2つ置き、導管7及び9
よりAsCl3/H2 及びPCl3/H2 をそれぞれのボ
ートに供給してGaAsクラスト及びGaPクラストを
一旦形成し、ホルダー5に装着された基板4に原料ガス
を供給するとともに、導管8より別途供給されるH2
より基板4の上にGaAsP半導体をエピタキシャル成
長させるものである。なお、反応管2の下流には未反応
物質を捕捉するためのインナーチューブ6を配置し、反
応管2の周囲にはヒータ1を配置して成長に必要な温度
を確保している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の方法は、V族元
素数×III 族元素数のIII 族金属を収容するボートを準
備する必要がある。そして、III 族金属上のクラストか
らのIII 族輸送量を精確に制御するためには、クラスト
の量を一定に保つ必要がある。そのためには、成長に先
立ってクラストを再形成する必要があり、生産性を上げ
られない原因となっていた。また、少量のV族元素につ
いて混晶比を厳密に制御することが困難であるため、エ
ピタキシャル仕様によっては高品質の多元系III-V族化
合物半導体のエピタキシャル層を得ることができなかっ
た。
【0004】そこで、本発明は、上記の問題点を解消
し、V族元素の混晶比及び成長速度を容易に制御するこ
とができ、高品質の多元系III-V族化合物半導体を効率
的に製造することのできるエピタキシャル成長方法を提
供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、III 族原料と
して金属元素をボートに収容し、該金属元素にV族原料
としてV族元素の塩化物及び水素を送ってIII-V族化合
物クラストを一旦形成した後、基板上に多元系III-V族
化合物半導体を成長するエピタキシャル成長方法におい
て、多元系III-V族化合物半導体を構成するV族元素の
うち少なくとも一方の元素を塩化物として基板上に直接
供給することを特徴とする多元系III-V族化合物半導体
エピタキシャル成長方法である。
【0006】
【作用】図1は、本発明を実施するための気相成長装置
の概念図である。この装置は、GaAsX1-X(x>0.5)
化合物半導体を成長する場合を示したもので、図2の従
来の気相成長装置における、GaPクラストを形成する
ためのボート3’を省略し、導管7及び8から導入され
るPCl3/H2 ガス及びH2 ガスを基板4に直接供給
するようにしたもので、その他の装置構成は図2と同じ
である。本発明は、かかる装置を用い、多元系III-V族
化合物半導体を構成するV族元素のうち少なくとも一方
の元素を塩化物として基板上に直接供給し、その流量を
制御することにより、多元系III-V族化合物半導体の成
長速度及び混晶比の制御を容易にし、高品質の多元系II
I-V族化合物半導体の効率的な製造を可能にした。
【0007】
【実施例】図1の装置を用い、GaAsX1-X化合物半
導体を成長させた。ソースボートのガリウム表面には、
別の工程でAsCl3を供給してクラストと呼ばれるガ
リウム砒素の薄い膜を形成した。直径70mmの反応管
に直径50mmのGaAs基板を装着し、予め水素で十
分に置換した後、ソースを850℃に、基板を750℃
に加熱し、10分間その温度に維持してから、25℃に
保持されたバブラーのAsCl3中に600cc/mi
nで水素ガスを導入してAsCl3/H2ガスを形成し、
1℃に保持されたバブラーのPCl3中に20cc/m
inで水素ガスを導入してPCl3/H2ガスを形成し、
別途希釈ガスとしての水素ガス1000cc/minと
ともに基板上に5分間流して結晶成長を行った。その
後、2つのバブラーへの水素ガスの供給を停止し、ヒー
タを止めた。また、PCl3中への水素ガスの供給量を
40、60、80cc/minに変えて上記と同様にG
aAsX1-X化合物半導体を成長させ、成長速度と混晶
比を測定した。その結果を図3及び4に示した。これら
の図から明らかなように、PCl3/H2ガスの供給量を
制御することにより、成長速度と混晶比を比較的自由に
調節することができることが分かる。特に、x値が0.
5より大きな領域で混晶比の調節が容易である。なお、
x値が小さなGaAsX1-X化合物半導体を成長するた
めには、GaPクラストを用い、実施例のAsCl3
2ガスをPCl 3/H2 ガスに、PCl3/H2 ガスをA
sCl3/H2ガスに置き換えれば良い。
【0008】
【発明の効果】本発明は、上記の構成を採用することに
より、多元系III-V族化合物半導体を構成するV族元素
のうち少なくとも1つの原料ガスを塩化物の形で基板上
に直接供給し、その流量を制御することにより、多元系
III-V族化合物半導体の成長速度及び混晶比の精密な調
節が可能になり、高品質の多元系III-V族化合物半導体
を効率的に製造することができるようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法を実施するための気相成長装置の
概念図である。
【図2】従来の気相成長装置の概念図である。
【図3】実施例におけるPCl3流量に対する成長速度
の関係を示したグラフである。
【図4】実施例におけるPCl3流量に対する混晶比の
関係を示したグラフである。
【符号の説明】
1 ヒータ 2 反応管 3 GaAsクラスト形成用ボート 3’GaPクラスト形成用ボート 4 基板 5 基板ホルダー 6 インナーチューブ 7 AsCl3/H2 ガス導入管 8 H2 ガス導入管 9 PCl3/H2 ガス導入管

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 III 族原料として金属元素をボートに収
    容し、該金属元素にV族原料としてV族元素の塩化物及
    び水素を送ってIII-V族化合物クラストを一旦形成した
    後、基板上に多元系III-V族化合物半導体を成長するエ
    ピタキシャル成長方法において、多元系III-V族化合物
    半導体を構成するV族元素のうち少なくとも一方の元素
    を塩化物として基板上に直接供給することを特徴とする
    多元系III-V族化合物半導体エピタキシャル成長方法。
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