JP2651346B2 - テールクリアランス計測方法及び装置 - Google Patents
テールクリアランス計測方法及び装置Info
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- JP2651346B2 JP2651346B2 JP5208034A JP20803493A JP2651346B2 JP 2651346 B2 JP2651346 B2 JP 2651346B2 JP 5208034 A JP5208034 A JP 5208034A JP 20803493 A JP20803493 A JP 20803493A JP 2651346 B2 JP2651346 B2 JP 2651346B2
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- distance
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- measurement point
- shield machine
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テールクリアランスの
計測方法及び計測装置に関し、とくにシールドトンネル
工事における掘進動作中のシールド掘削機（以下シール
ド機という）のテールクリアランスを計測する計測方法
及び計測装置に関する。
計測方法及び計測装置に関し、とくにシールドトンネル
工事における掘進動作中のシールド掘削機（以下シール
ド機という）のテールクリアランスを計測する計測方法
及び計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】シールド機による掘削によってトンネル
を構築する場合、地盤を一定距離だけ掘進する毎に、図
５に示すように、シールド機の外周壁である円筒形のシ
ールド・スキンプレート（以下単にスキンプレートとい
う）２の後端部の内側に掘削後のトンネル内壁となるシ
ールド・セグメント（以下単にセグメントという）５を
組立てる。この場合、スキンプレート２の内側表面と組
立てられるセグメント５の外面との間のテールクリアラ
ンスと呼ばれる微小間隙を正確に調整する必要がある。
このテールクリアランスを精密調整せずに、スキンプレ
ート２の中心とセグメント５の中心との間に偏心を残し
たままセグメント５を固定すると、その後前記一定距離
だけ再び掘進した後に行う次回のセグメント５の組立て
の際に、前記一定距離だけ進んだスキンプレート２の内
面と次回のセグメント５の外面との間に前述した偏心に
起因する干渉が生じ、セグメント５の組立てが困難にな
る問題がある。
を構築する場合、地盤を一定距離だけ掘進する毎に、図
５に示すように、シールド機の外周壁である円筒形のシ
ールド・スキンプレート（以下単にスキンプレートとい
う）２の後端部の内側に掘削後のトンネル内壁となるシ
ールド・セグメント（以下単にセグメントという）５を
組立てる。この場合、スキンプレート２の内側表面と組
立てられるセグメント５の外面との間のテールクリアラ
ンスと呼ばれる微小間隙を正確に調整する必要がある。
このテールクリアランスを精密調整せずに、スキンプレ
ート２の中心とセグメント５の中心との間に偏心を残し
たままセグメント５を固定すると、その後前記一定距離
だけ再び掘進した後に行う次回のセグメント５の組立て
の際に、前記一定距離だけ進んだスキンプレート２の内
面と次回のセグメント５の外面との間に前述した偏心に
起因する干渉が生じ、セグメント５の組立てが困難にな
る問題がある。
【０００３】このようなテールクリアランスの調整は必
然的にその測定を必要とする。従来のシールド機のテー
ルクリアランスを測定する方法としては、（１）スキン
プレートと最前部のセグメントとの間に定規をあててテ
ールクリアランスを人手により直接読み取る方法、
（２）図５に示すエレクタ４などに距離計を取付け、セ
グメント内面に沿って一回転させてセグメントの内径を
測定し、シールド機の内径及びセグメントの厚みからテ
ールクリアランスを算出する方法、(３)スキンプレート
内面の表面に設けたレーザ距離計などによりスキンプレ
ート内面と対向するセグメント外面との間の距離を直接
計測する方法、等が用いられていた。
然的にその測定を必要とする。従来のシールド機のテー
ルクリアランスを測定する方法としては、（１）スキン
プレートと最前部のセグメントとの間に定規をあててテ
ールクリアランスを人手により直接読み取る方法、
（２）図５に示すエレクタ４などに距離計を取付け、セ
グメント内面に沿って一回転させてセグメントの内径を
測定し、シールド機の内径及びセグメントの厚みからテ
ールクリアランスを算出する方法、(３)スキンプレート
内面の表面に設けたレーザ距離計などによりスキンプレ
ート内面と対向するセグメント外面との間の距離を直接
計測する方法、等が用いられていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記（１）の方
法では、読み取りに労力が必要であるうえ測定者によっ
て読取り値に相違が生じるおそれがある。上記（２）の
方法は、セグメントの内径から間接的にテールクリアラ
ンスを求めるので、セグメント表面の凹凸、シールド機
の変形、及びセグメントの真円度などにより計算誤差が
大きくなることがある。また上記（３）の方法は、シー
ルド機本体に取付けた距離計のメンテナンスが難しい問
題がある。
法では、読み取りに労力が必要であるうえ測定者によっ
て読取り値に相違が生じるおそれがある。上記（２）の
方法は、セグメントの内径から間接的にテールクリアラ
ンスを求めるので、セグメント表面の凹凸、シールド機
の変形、及びセグメントの真円度などにより計算誤差が
大きくなることがある。また上記（３）の方法は、シー
ルド機本体に取付けた距離計のメンテナンスが難しい問
題がある。
【０００５】従って本発明の目的は、テールクリアラン
スを簡易にしかも直接計測できる計測方法及び計測装置
を提供するにある。
スを簡易にしかも直接計測できる計測方法及び計測装置
を提供するにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】図１の実施例を参照する
に、本発明のテールクリアランスの計測方法は、シール
ド機１のスキンプレート２内面とセグメント５外面との
間の距離ｔを計測する方法であって、シールド機１の中
心軸線H1とシールド機１の特定直径Ｄとを含む平面Ｓ上
の被測定セグメント５の前端面と対向するスキンプレー
ト２の内側部分に測定点Ｐを設け、スキンプレート２内
面から測定点Ｐまでの直径Ｄ方向の距離をt1とし、測定
点Ｐにおいて平面Ｓと直交する枢支軸10をスキンプレー
ト２内面から支持し、枢支軸10の測定点Ｐに距離計13を
回転自在に枢支し、枢支軸10上の距離計13の回転角を測
定点Ｐにおけるシールド機１の中心軸線H1と平行な基準
方向H2から測定し、距離計13により平面Ｓ上における測
定点Ｐから被測定セグメント５の前端面の外方端Ｒまで
の距離Ｌを求めると共に前記回転角により基準方向H2に
対する外方端Ｒの偏角θを求め、前端面上における基準
方向H2から外方端Ｒまでの距離t2を距離Ｌと偏角θとか
ら算出し（t2＝Ｌsinθ）、テールクリアランスｔをス
キンプレート２から測定点Ｐまでの距離t1と距離t2との
差（ｔ＝t1−t2）として算出する。
に、本発明のテールクリアランスの計測方法は、シール
ド機１のスキンプレート２内面とセグメント５外面との
間の距離ｔを計測する方法であって、シールド機１の中
心軸線H1とシールド機１の特定直径Ｄとを含む平面Ｓ上
の被測定セグメント５の前端面と対向するスキンプレー
ト２の内側部分に測定点Ｐを設け、スキンプレート２内
面から測定点Ｐまでの直径Ｄ方向の距離をt1とし、測定
点Ｐにおいて平面Ｓと直交する枢支軸10をスキンプレー
ト２内面から支持し、枢支軸10の測定点Ｐに距離計13を
回転自在に枢支し、枢支軸10上の距離計13の回転角を測
定点Ｐにおけるシールド機１の中心軸線H1と平行な基準
方向H2から測定し、距離計13により平面Ｓ上における測
定点Ｐから被測定セグメント５の前端面の外方端Ｒまで
の距離Ｌを求めると共に前記回転角により基準方向H2に
対する外方端Ｒの偏角θを求め、前端面上における基準
方向H2から外方端Ｒまでの距離t2を距離Ｌと偏角θとか
ら算出し（t2＝Ｌsinθ）、テールクリアランスｔをス
キンプレート２から測定点Ｐまでの距離t1と距離t2との
差（ｔ＝t1−t2）として算出する。
【０００７】図１及び図２の実施例を参照するに、本発
明のテールクリアランス計測装置は、シールド機１のス
キンプレート２内面とセグメント５外面との間の距離ｔ
を計測する装置であって、被測定セグメント５の前端面
と対向するスキンプレート２の内側部分にシールド機１
の中心軸線H1とシールド機１の特定直径Ｄとを含む平面
Ｓと直交する枢支軸10をスキンプレート２内面から支持
する支持台15、枢支軸10が平面Ｓと交差する測定点Ｐに
おいて枢支軸10に回転自在に枢支され且つ測定点Ｐから
被測定セグメント５の前端面までの距離に応じた距離信
号を出力する距離計13、距離計13の枢支軸10の回りの回
転を制御する回転制御手段21、枢支軸10上の距離計13の
回転角を測定点Ｐにおけるシールド機１の中心軸線H1と
平行な基準方向H2から測定し且つ前記回転角に応じた角
度信号を出力する角度計14、前記距離信号及び角度信号
を入力して平面Ｓ上における測定点Ｐから被測定セグメ
ント５の前端面の外方端Ｒまでの距離Ｌ及び基準方向H2
に対する外方端Ｒの偏角θを求める検出手段22、スキン
プレート２内面から測定点Ｐまでの直径Ｄ方向の距離t1
を記憶する記憶手段24、及び距離Ｌと偏角θと距離t1と
からテールクリアランスｔ（ｔ＝t1−Ｌsinθ）を算出
する算出手段23を備えてなる。
明のテールクリアランス計測装置は、シールド機１のス
キンプレート２内面とセグメント５外面との間の距離ｔ
を計測する装置であって、被測定セグメント５の前端面
と対向するスキンプレート２の内側部分にシールド機１
の中心軸線H1とシールド機１の特定直径Ｄとを含む平面
Ｓと直交する枢支軸10をスキンプレート２内面から支持
する支持台15、枢支軸10が平面Ｓと交差する測定点Ｐに
おいて枢支軸10に回転自在に枢支され且つ測定点Ｐから
被測定セグメント５の前端面までの距離に応じた距離信
号を出力する距離計13、距離計13の枢支軸10の回りの回
転を制御する回転制御手段21、枢支軸10上の距離計13の
回転角を測定点Ｐにおけるシールド機１の中心軸線H1と
平行な基準方向H2から測定し且つ前記回転角に応じた角
度信号を出力する角度計14、前記距離信号及び角度信号
を入力して平面Ｓ上における測定点Ｐから被測定セグメ
ント５の前端面の外方端Ｒまでの距離Ｌ及び基準方向H2
に対する外方端Ｒの偏角θを求める検出手段22、スキン
プレート２内面から測定点Ｐまでの直径Ｄ方向の距離t1
を記憶する記憶手段24、及び距離Ｌと偏角θと距離t1と
からテールクリアランスｔ（ｔ＝t1−Ｌsinθ）を算出
する算出手段23を備えてなる。
【０００８】
【作用】図１及び図２の実施例を参照して本発明の作用
を説明する。図１(Ａ)はシールド機１の中心軸線H1及び
特定直径Ｄとを含む平面Ｓによるシールド機１の縦断面
図、図１(Ｂ)は図１(Ａ)の要部拡大図、図１(Ｃ)は図１
(Ａ)の矢印Ｃ−Ｃ方向の断面図をそれぞれ示し、図２は
本発明のテールクリアランス計測装置の模式的説明図を
示す。
を説明する。図１(Ａ)はシールド機１の中心軸線H1及び
特定直径Ｄとを含む平面Ｓによるシールド機１の縦断面
図、図１(Ｂ)は図１(Ａ)の要部拡大図、図１(Ｃ)は図１
(Ａ)の矢印Ｃ−Ｃ方向の断面図をそれぞれ示し、図２は
本発明のテールクリアランス計測装置の模式的説明図を
示す。
【０００９】枢支軸10は、例えば図１に示すようにスキ
ンプレート２内面に取り付けた支持台15に保持され、セ
グメント５の前端面と対向する測定点Ｐを通る。測定点
Ｐとスキンプレート２内面との間の距離t1はテールクリ
アランスの計測に先立って予め計測される。なお支持台
15の構造は図示例に限定されるものではなく、測定点Ｐ
に平面Ｓと直交する枢支軸10を支持できるものであれば
足りる。
ンプレート２内面に取り付けた支持台15に保持され、セ
グメント５の前端面と対向する測定点Ｐを通る。測定点
Ｐとスキンプレート２内面との間の距離t1はテールクリ
アランスの計測に先立って予め計測される。なお支持台
15の構造は図示例に限定されるものではなく、測定点Ｐ
に平面Ｓと直交する枢支軸10を支持できるものであれば
足りる。
【００１０】枢支軸10が枢支する距離計13は、例えば図
２に示すように所定速度の波動を送出したのちセグメン
ト５の前端面からの反射波動を受波するまでの時間に基
づいて測定点Ｐとセグメント５の前端面上の反射点との
間の距離を計測する方式の光、レーザ光、超音波などを
利用した距離計とすることができる。枢支軸10はシール
ド機１の中心軸線H1及び特定直径Ｄを含む平面Ｓと直交
するので、図１(Ｂ)及び図１(Ｃ)に示すように距離計13
を平面Ｓ上で回転自在に枢支することができる。距離計
13の枢支軸10の回りの回転は回転制御手段21により制御
され、距離計13の基準方向H2からの回転角が角度計14に
より計測される。かかる回転制御手段21及び角度計14は
公知技術に属する。
２に示すように所定速度の波動を送出したのちセグメン
ト５の前端面からの反射波動を受波するまでの時間に基
づいて測定点Ｐとセグメント５の前端面上の反射点との
間の距離を計測する方式の光、レーザ光、超音波などを
利用した距離計とすることができる。枢支軸10はシール
ド機１の中心軸線H1及び特定直径Ｄを含む平面Ｓと直交
するので、図１(Ｂ)及び図１(Ｃ)に示すように距離計13
を平面Ｓ上で回転自在に枢支することができる。距離計
13の枢支軸10の回りの回転は回転制御手段21により制御
され、距離計13の基準方向H2からの回転角が角度計14に
より計測される。かかる回転制御手段21及び角度計14は
公知技術に属する。
【００１１】距離計13及び角度計14により前記距離及び
角度を計測しながら距離計13を回転させ、セグメント５
の前端面上の反射点を平面Ｓ上において移動させる。前
記反射点がセグメント５の前端面上にある限り前記距離
計13の計測距離は実質上連続的に変化するが、前記反射
点がセグメント５の前端面の外方端Ｒを通過するときは
前記計測距離が急激に変化する。この距離計13の計測距
離の不連続な増加又は減少から前記反射点が外方端Ｒを
通過したことを検出し、例えば検出直前の距離計13の計
測距離及び角度計14の計測角度から測定点Ｐと外方端Ｒ
との間の距離Ｌ及び当該外方端Ｒの偏角θを求める。図
３に示すように、測定点Ｒと基準方向H2と外方端Ｒとに
より形成される直角三角形において距離Ｌと角度θとが
定まるので、セグメント５の前端面上における基準方向
H2から外方端Ｒまで距離t2を次式により求めることがで
きる。
角度を計測しながら距離計13を回転させ、セグメント５
の前端面上の反射点を平面Ｓ上において移動させる。前
記反射点がセグメント５の前端面上にある限り前記距離
計13の計測距離は実質上連続的に変化するが、前記反射
点がセグメント５の前端面の外方端Ｒを通過するときは
前記計測距離が急激に変化する。この距離計13の計測距
離の不連続な増加又は減少から前記反射点が外方端Ｒを
通過したことを検出し、例えば検出直前の距離計13の計
測距離及び角度計14の計測角度から測定点Ｐと外方端Ｒ
との間の距離Ｌ及び当該外方端Ｒの偏角θを求める。図
３に示すように、測定点Ｒと基準方向H2と外方端Ｒとに
より形成される直角三角形において距離Ｌと角度θとが
定まるので、セグメント５の前端面上における基準方向
H2から外方端Ｒまで距離t2を次式により求めることがで
きる。
【００１２】 t2＝Ｌsinθ ………(1)
【００１３】図３を参照するに、測定点Ｐとスキンプレ
ート内面との間の距離t1は予め計測されており、しかも
距離t2が(1)式から算出されるので、スキンプレート２
内面とセグメント５外面との間のテールクリアランスｔ
が次式により求められる。
ート内面との間の距離t1は予め計測されており、しかも
距離t2が(1)式から算出されるので、スキンプレート２
内面とセグメント５外面との間のテールクリアランスｔ
が次式により求められる。
【００１４】 ｔ＝t1−t2＝t1−Ｌsinθ ………(2)
【００１５】本発明によれば、セグメント５の前端面の
テールクリアランスｔを直接計測することができ、しか
も距離計13及び角度計14の出力信号をコンピュータへ入
力してテールクリアランス計測の簡易化・自動化を図る
ことができる。
テールクリアランスｔを直接計測することができ、しか
も距離計13及び角度計14の出力信号をコンピュータへ入
力してテールクリアランス計測の簡易化・自動化を図る
ことができる。
【００１６】よって本発明の目的である「テールクリア
ランスを簡易にしかも直接計測できる計測方法及び計測
装置」の提供を達成することができる。
ランスを簡易にしかも直接計測できる計測方法及び計測
装置」の提供を達成することができる。
【００１７】
【実施例】図２に示すテールクリアランス計測装置11は
エンコーダ19を有し、距離計13が出力する距離信号及び
角度計14が出力する角度信号をディジタル信号へ変換し
てコンピュータ20へ入力し、コンピュータ20のプログラ
ムにより距離Ｌ及び偏角θの測定及びテールクリアラン
スｔの算出を行っている。また回転制御手段21もコンピ
ュータ20に接続され、コンピュータ20のプログラムによ
り距離計13の枢支軸10の回りの回転を制御している。
エンコーダ19を有し、距離計13が出力する距離信号及び
角度計14が出力する角度信号をディジタル信号へ変換し
てコンピュータ20へ入力し、コンピュータ20のプログラ
ムにより距離Ｌ及び偏角θの測定及びテールクリアラン
スｔの算出を行っている。また回転制御手段21もコンピ
ュータ20に接続され、コンピュータ20のプログラムによ
り距離計13の枢支軸10の回りの回転を制御している。
【００１８】図６に、コンピュータ20によるテールクリ
アランス計測の流れ図の一例を示す。ステップ601で、
例えば入力手段25から測定点Ｐとスキンプレート２内面
との間の距離t1を入力して記憶手段24に記憶する。ステ
ップ602で、角度計14からの角度信号が零になるように
回転制御手段21を制御して距離計13を基準方向H2に位置
付ける。その後ステップ603において、距離計13による
距離計測及び角度計14による角度計測を行いながら回転
制御手段21により距離計13を枢支軸10の回りに回転さ
せ、ステップ604において検出手段22が距離計13の距離
信号における不連続な変化の有無を判断する。不連続な
変化がないときはステップ603へ戻り、更に距離計13を
回転させて距離及び角度の計測を継続する。不連続な変
化が検出された場合はステップ605へ進み、例えば当該
検出の直前の距離信号及び角度信号を測定点Ｐと外方端
Ｒとの間の距離Ｌ及び当該外方端Ｒの偏角θとして求め
る。算出手段24が前記距離Ｌ及び角度θを上述の式(1)
及び式(2)に代入してテールクリアランスｔを計算する
（ステップ606及びステップ607）。算出されたテールク
リアランスｔは、例えば図２に示す出力手段26へ表示し
て掘進作業や次回のセグメント組立て作業において利用
する。本発明によれば、掘進動作を中断する必要がなく
且つ上述のようにコンピュータを用いて短時間でテール
クリアランスを求めることができるので、シールド掘進
動作中にリアルタイムでテールクリアランスを計測する
ことも可能である。
アランス計測の流れ図の一例を示す。ステップ601で、
例えば入力手段25から測定点Ｐとスキンプレート２内面
との間の距離t1を入力して記憶手段24に記憶する。ステ
ップ602で、角度計14からの角度信号が零になるように
回転制御手段21を制御して距離計13を基準方向H2に位置
付ける。その後ステップ603において、距離計13による
距離計測及び角度計14による角度計測を行いながら回転
制御手段21により距離計13を枢支軸10の回りに回転さ
せ、ステップ604において検出手段22が距離計13の距離
信号における不連続な変化の有無を判断する。不連続な
変化がないときはステップ603へ戻り、更に距離計13を
回転させて距離及び角度の計測を継続する。不連続な変
化が検出された場合はステップ605へ進み、例えば当該
検出の直前の距離信号及び角度信号を測定点Ｐと外方端
Ｒとの間の距離Ｌ及び当該外方端Ｒの偏角θとして求め
る。算出手段24が前記距離Ｌ及び角度θを上述の式(1)
及び式(2)に代入してテールクリアランスｔを計算する
（ステップ606及びステップ607）。算出されたテールク
リアランスｔは、例えば図２に示す出力手段26へ表示し
て掘進作業や次回のセグメント組立て作業において利用
する。本発明によれば、掘進動作を中断する必要がなく
且つ上述のようにコンピュータを用いて短時間でテール
クリアランスを求めることができるので、シールド掘進
動作中にリアルタイムでテールクリアランスを計測する
ことも可能である。
【００１９】以上距離計13及び角度計14を用いた本発明
の実施例について説明したが、２台の距離計13を用いれ
ば角度計14がなくとも上述した方法とほぼ同様にしてテ
ールクリアランスを計測することができる。例えば図４
の実施例を参照して説明するに、上述した図３と同様の
シールド機１の中心軸線H1及び特定直径Ｄを含む平面Ｓ
において、被測定セグメント５の前端面と対向するスキ
ンプレート２の内側部分に、シールド機１の特定直径方
向に所定距離t4だけ離れた測定点Ｐ1、Ｐ2を設け、各測
定点Ｐ1、Ｐ2に枢支軸10を支持し、各枢支軸10にそれぞ
れ距離計13を枢支し、各距離計13により各測定点Ｐ1、
Ｐ2からセグメント５の前端面の外方端Ｒまでの距離
Ｌ1、Ｌ2を測定する。従って図４に示すように測定点Ｐ
1、Ｐ2、及び外方端Ｒで定まる三角形が一意的に定ま
り、基準方向H2に対する外方端Ｒの偏角θを幾何学的に
求めることができるので、上述の式(1)及び式(2)からテ
ールクリアランスｔを算出することができる。
の実施例について説明したが、２台の距離計13を用いれ
ば角度計14がなくとも上述した方法とほぼ同様にしてテ
ールクリアランスを計測することができる。例えば図４
の実施例を参照して説明するに、上述した図３と同様の
シールド機１の中心軸線H1及び特定直径Ｄを含む平面Ｓ
において、被測定セグメント５の前端面と対向するスキ
ンプレート２の内側部分に、シールド機１の特定直径方
向に所定距離t4だけ離れた測定点Ｐ1、Ｐ2を設け、各測
定点Ｐ1、Ｐ2に枢支軸10を支持し、各枢支軸10にそれぞ
れ距離計13を枢支し、各距離計13により各測定点Ｐ1、
Ｐ2からセグメント５の前端面の外方端Ｒまでの距離
Ｌ1、Ｌ2を測定する。従って図４に示すように測定点Ｐ
1、Ｐ2、及び外方端Ｒで定まる三角形が一意的に定ま
り、基準方向H2に対する外方端Ｒの偏角θを幾何学的に
求めることができるので、上述の式(1)及び式(2)からテ
ールクリアランスｔを算出することができる。
【００２０】またセグメント５の前端面がシールド機１
の直径方向と平行であるとみなせる場合には、図３に示
す測定点Ｐから基準方向H2におけるセグメント５の前端
面上の点Ｑまでの距離を求めることにより、角度計14を
用いることなく１台の距離計13のみにより上述した距離
t2を求めて式(2)からテールクリアランスｔを算出する
ことも可能である。
の直径方向と平行であるとみなせる場合には、図３に示
す測定点Ｐから基準方向H2におけるセグメント５の前端
面上の点Ｑまでの距離を求めることにより、角度計14を
用いることなく１台の距離計13のみにより上述した距離
t2を求めて式(2)からテールクリアランスｔを算出する
ことも可能である。
【００２１】更にＣＣＤカメラと画像処理技術を用い、
セグメント５の前端面の外方端Ｒの位置を求めることに
よりテールクリアランスを検出する手法もある。
セグメント５の前端面の外方端Ｒの位置を求めることに
よりテールクリアランスを検出する手法もある。
【００２２】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明のテ
ールクリアランス計測方法及び計測装置は、被測定セグ
メントの前端面と対向する測定点Ｐに枢支軸を設けて距
離計を回転自在に枢支し、測定点Ｐにおけるシールド機
の中心軸線と平行な基準方向に対する枢支軸上の距離計
の回転角を測定し、測定点Ｐと被測定セグメントの前端
面の外方端との間の距離Ｌを距離計により求め、前記基
準方向に対する前記外方端の偏角θを回転角から求め、
距離Ｌと偏角θとシールド機の直径方向におけるスキン
プレート内面から測定点Ｐまでの距離t1とからテールク
リアランスｔを算出する構成を有するので、以下に述べ
る顕著な効果を奏する。
ールクリアランス計測方法及び計測装置は、被測定セグ
メントの前端面と対向する測定点Ｐに枢支軸を設けて距
離計を回転自在に枢支し、測定点Ｐにおけるシールド機
の中心軸線と平行な基準方向に対する枢支軸上の距離計
の回転角を測定し、測定点Ｐと被測定セグメントの前端
面の外方端との間の距離Ｌを距離計により求め、前記基
準方向に対する前記外方端の偏角θを回転角から求め、
距離Ｌと偏角θとシールド機の直径方向におけるスキン
プレート内面から測定点Ｐまでの距離t1とからテールク
リアランスｔを算出する構成を有するので、以下に述べ
る顕著な効果を奏する。
【００２３】（１）簡単な構造によりセグメントの前端
面のテールクリアランスを直接計測することができる。 （２）計測器の構造が簡単なので、メンテナンスが容易
である。 （３）距離計及び角度計の出力信号をコンピュータへ入
力することによりテールクリアランス計測の簡易化・自
動化を図ることができる。 （４）シールド掘進動作中にリアルタイムでテールクリ
アランスの計測を行うことができる。
面のテールクリアランスを直接計測することができる。 （２）計測器の構造が簡単なので、メンテナンスが容易
である。 （３）距離計及び角度計の出力信号をコンピュータへ入
力することによりテールクリアランス計測の簡易化・自
動化を図ることができる。 （４）シールド掘進動作中にリアルタイムでテールクリ
アランスの計測を行うことができる。
【図１】は、本発明の一実施例の説明図である。
【図２】は、本発明装置の一実施例の説明図である。
【図３】は、本発明の作用を示す説明図である。
【図４】は、本発明の他の実施例の作用を示す説明図で
ある。
ある。
【図５】は、従来技術の説明図である。
【図６】は、本発明装置の動作の流れ図である。
１ シールド機 ２ スキンプレート ３
シールドジャッキ ４ エレクター ５ セグメント 10
枢支軸 11 計測装置 13 距離計 14
角度計 15 支持台 19 エンコーダ 20
コンピュータ 21 回転制御手段 22 検出手段 23
計算手段 24 記憶手段 25 入力手段 26
出力手段。
シールドジャッキ ４ エレクター ５ セグメント 10
枢支軸 11 計測装置 13 距離計 14
角度計 15 支持台 19 エンコーダ 20
コンピュータ 21 回転制御手段 22 検出手段 23
計算手段 24 記憶手段 25 入力手段 26
出力手段。
Claims (5)
- 【請求項１】 シールド機のスキンプレート内面とセグ
メント外面との間の距離を計測する方法において、シー
ルド機の中心軸線とシールド機の特定直径とを含む平面
上の被測定セグメントの前端面と対向するスキンプレー
ト内側部分に測定点Ｐを設け、スキンプレート内面から
前記測定点Ｐまでの前記直径方向距離をt1とし、前記測
定点Ｐにおいて前記平面と直交する枢支軸を前記スキン
プレート内面から支持し、前記枢支軸の前記測定点Ｐに
距離計を回転自在に枢支し、前記枢支軸上の前記距離計
の回転角を前記測定点Ｐにおける前記シールド機の中心
軸線と平行な基準方向から測定し、前記距離計により前
記平面上における前記測定点Ｐから前記被測定セグメン
トの前端面の外方端までの距離Ｌを求めると共に前記回
転角により前記基準方向に対する前記外方端の偏角θを
求め、前記前端面上における前記基準方向から前記外方
端までの距離t2を前記距離Ｌと前記偏角θとから算出し
（t2＝Ｌsinθ）、テールクリアランスｔを前記スキン
プレートから前記測定点Ｐまでの距離t1と前記距離t2と
の差（ｔ＝t1−t2）として算出してなるテールクリアラ
ンス計測方法。 - 【請求項２】 請求項１の計測方法において、前記距離
計を光、レーザ光、又は超音波による距離計としてなる
テールクリアランス計測方法。 - 【請求項３】 シールド機のスキンプレート内面とセグ
メント外面との間の距離を計測する装置において、被測
定セグメントの前端面と対向するスキンプレート内側部
分にシールド機の中心軸線とシールド機の特定直径とを
含む平面と直交する枢支軸を前記スキンプレート内面か
ら支持する支持台、前記枢支軸が前記平面と交差する測
定点Ｐにおいて前記枢支軸に回転自在に枢支され且つ前
記測定点Ｐから前記被測定セグメントの前端面までの距
離に応じた距離信号を出力する距離計、前記距離計の前
記枢支軸の回りの回転を制御する回転制御手段、前記枢
支軸上の前記距離計の回転角を前記測定点Ｐにおける前
記シールド機の中心軸線と平行な基準方向から測定し且
つ前記回転角に応じた角度信号を出力する角度計、前記
距離信号及び角度信号を入力して前記平面上における前
記測定点Ｐから前記被測定セグメントの前端面の外方端
までの距離Ｌ及び前記基準方向に対する前記外方端の偏
角θを求める検出手段、スキンプレート内面から前記測
定点Ｐまでの前記直径方向距離t1を記憶する記憶手段、
及び前記距離Ｌと前記偏角θと前記距離t1とからテール
クリアランスｔ（ｔ＝t1−Ｌsinθ）を算出する算出手
段を備えてなるテールクリアランス計測装置。 - 【請求項４】 請求項３の計測装置において、前記距離
計を光、レーザ光、又は超音波による距離計としてなる
テールクリアランス計測装置。 - 【請求項５】 請求項３又は４の計測装置において、前
記距離信号及び前記角度信号を電気信号とし、前記距離
信号及び角度信号をコンピュータへ入力し、前記検出手
段及び算出手段を前記コンピュータ上のプログラムとし
てなるテールクリアランス計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5208034A JP2651346B2 (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | テールクリアランス計測方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5208034A JP2651346B2 (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | テールクリアランス計測方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0755436A JPH0755436A (ja) | 1995-03-03 |
| JP2651346B2 true JP2651346B2 (ja) | 1997-09-10 |
Family
ID=16549571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5208034A Expired - Lifetime JP2651346B2 (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | テールクリアランス計測方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2651346B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6482811B2 (ja) * | 2014-10-01 | 2019-03-13 | 株式会社フジタ | テールクリアランス測定装置 |
| CN106123795B (zh) * | 2016-08-24 | 2019-12-17 | 湖南科天健光电技术有限公司 | 基于结构光三维检测技术的盾尾间隙测量方法和装置 |
| CN107941192A (zh) * | 2017-11-16 | 2018-04-20 | 西安长峰机电研究所 | 一种舵偏角测试仪 |
| JP7086737B2 (ja) * | 2018-06-11 | 2022-06-20 | 地中空間開発株式会社 | テールクリアランス計測装置、シールド掘進機およびテールクリアランス計測方法 |
-
1993
- 1993-08-23 JP JP5208034A patent/JP2651346B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0755436A (ja) | 1995-03-03 |
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