JP2638463B2 - 回線試験方式 - Google Patents

回線試験方式

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JP2638463B2
JP2638463B2 JP5353603A JP35360393A JP2638463B2 JP 2638463 B2 JP2638463 B2 JP 2638463B2 JP 5353603 A JP5353603 A JP 5353603A JP 35360393 A JP35360393 A JP 35360393A JP 2638463 B2 JP2638463 B2 JP 2638463B2
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裕一 小山
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、装置間の伝送路の品質
等を試験するための回線試験方式に関し、特に試験開始
時における装置の制御に関する。
【0002】
【従来の技術】図4に、従来の回線試験方式の一例を示
す。図4における、試験信号を送信する装置Bは、試験
信号を生成する試験PN信号生成部2と、上位制御装置
からの試験信号挿入指示により試験信号を主信号に挿入
する接続部であるスイッチSW3とにより構成され、こ
のスイッチSW3は、伝送路1と試験PN信号生成部2
の間に接続されている。この例では、試験信号として擬
似ランダムパターンであるPN信号を使用しており、こ
の試験信号を主信号に挿入するためスイッチSW3の制
御を、上位制御装置からのインサート回線設定信号によ
り行なっている。
【0003】また、試験PN信号を受信する装置Aは、
伝送路1に直列に挿入されるポインタ終端部(受信信号
終端部)4と、誤り測定部9と、受信試験PN信号を上
位制御装置からの指示により誤り測定部9に導くための
接続部であるスイッチSW1,SW2とにより構成さ
れ、これらスイッチSW1,SW2は伝送路1と誤り測
定部9との間に直列に接続されている。ここで、ポイン
タ終端部4は、信号フレームの先頭に付加されているフ
レーム内部信号の先頭を示すポインタを認識することに
より、信号の先頭を検出し信号を装置内部の位相に変換
する働きを有しており、誤り測定部9は、試験PN信号
によりPN同期を確立し、誤りを計測する。この例で
は、試験を開始するためのスイッチSW1の制御を、上
位制御装置からのドロップ回線設定信号により行なって
おり、試験PN信号を誤り測定部9に導くスイッチSW
2の制御を、上位制御装置からの誤り測定部接続信号に
より行なっている。
【0004】つぎに、従来の回線試験方式の動作を説明
する。この試験方式では、基本的には装置Bから試験P
N信号を送出し、伝送路1で接続された装置Aにおい
て、その試験PN信号を受信し、伝送路1の品質の測定
や接続確認を行なうものであり、一般的には、装置Aお
よび装置Bのそれぞれの上位制御装置からの制御は独立
して行なわれる。まず、装置Bの動作を説明する。通常
の運用時には図5(a)に示すフレーム構成の信号を装
置Aに送信している。フレームの先頭には運用信号12
の先頭を示す運用ポインタ10が付加されており、さら
に他の信号処理階層で処理するための固定パターン11
が付加されている。回線試験開始時には、上位制御装置
からのインサート回線設定信号を受けると、図6(a)
に示すようにスイッチSW3がオンとなり、試験PN信
号生成部2と信号伝送路1が接続され、図中(b)に示
すように、試験PN信号が装置Aに向けて送信される。
このときの試験PN信号のフレーム構成は、図5(b)
に示すように、フレームの先頭に試験PN信号14の先
頭を示す試験ポインタ13が付加されており、試験PN
信号14は運用時の固定パターン11の位置にもマッピ
ングされている。
【0005】装置Aでは、ポインタ終端部4において装
置Bより受信した試験PN信号のポインタを認識し、試
験PN信号を装置A内部の位相に変更する。但し、装置
内部の位相に変更前でも受信PN信号はポインタ終端部
4を通過し、装置内部へ送信される。図6(c)にT点
の信号位相を示す。上位制御装置からドロップ回線設定
信号を受けると、スイッチSW1がオンとなり、誤り測
定部接続信号を受けることで、スイッチSW2がオンと
なり、受信試験PN信号が誤り測定部9に入力され、P
N同期確立後に、誤り測定が実施される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このように従
来の回線試験方式では、一般に装置Aと装置Bのそれぞ
れの上位制御装置からの制御は時間的に独立して行なわ
れるため、装置Bのインサート回線設定制御と、装置A
のドロップ回線設定制御、誤り測定部接続制御は、どの
ような順序で行なわれるか分からない。ここで、つぎの
ような順序で制御が行なわれた場合の動作を考える。ま
ず、装置BのスイッチSW3がオンされる。続いて、装
置Aのポインタ終端部4で運用信号の位相から試験PN
信号の位相に変更される前、つまり試験PN信号の位相
の前方保護時間内に、図6(d)に示すようにスイッチ
SW1とスイッチSW2がオンされたとする。この場
合、誤り測定部9には、試験PN信号が運用信号の位相
で入力され、そのまま運用信号の位相でPN同期が確立
される。続いて、前方保護時間経過後、ポインタ終端部
4で試験ポインタが認識されると、運用信号の位相から
試験PN信号の位相に変更されて、試験PN信号が誤り
測定部9に入力される。ここで、現在、誤り測定部9は
図6(e)に示すように運用信号の位相で同期が確立し
ており、試験PN信号の位相に変更になると、誤りを検
出してしまい、回線試験を正常に実施できなくなる。
【0007】なお、特開平1−241934号には、回
線を介して監視および制御信号の授受を行なうにあた
り、無線回線の瞬断による非同期状態に陥ることをなく
し、回線のエラーにより非同期状態に陥っても再同期時
間に要する時間を短縮できるようにした同期判定方式が
提案されているが、回線試験方式については記載されて
いない。
【0008】本発明は、このような従来の技術が有する
課題を解決するために提案されたものであり、運用信号
の先頭を示す運用ポインタ値と試験信号の先頭を示す試
験ポインタ値が異なっていても、試験信号送信側装置と
試験信号受信側装置の制御のタイミングを考慮すること
なく回線試験を実施できる回線試験方式の提供を目的と
する。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、伝送路の品質や伝送路の接続確認を行なう
ための試験信号を生成する試験信号生成部を有し、上位
制御装置からの制御に従いこの試験信号生成部より生成
した試験信号を伝送路へ挿入する試験信号送信側装置
と、この試験信号送信側装置と伝送路を介して接続され
ており、試験信号送信側装置より受信した試験信号を装
置内部の位相に変換する受信信号終端部と、上位制御装
置からの制御に従い上記試験信号の誤りを測定するため
の誤り測定部とを有する試験信号受信側装置とからなる
回線試験方式において、上記試験信号送信側装置には、
上位制御装置から伝送路への試験信号挿入指示を受けて
から一定時間経過後に誤り測定開始を指示する測定開始
パターンを挿入するための測定開始パターン挿入部を備
え、上記試験信号受信側装置には、受信した信号が通常
の運用信号であるのか、伝送路の試験を行なうための試
験信号であるのかを判定するための試験信号判定部と、
試験信号の中に含まれている測定開始パターンを検出す
るための測定開始パターン検出部とを備え、この試験信
号受信側装置では、上記試験信号判定部で試験信号を判
定して、上位制御装置からの試験開始指示を受けても、
測定開始パターン検出部で測定開始パターンを検出する
までは、誤り測定部で測定を開始せず、上記測定開始パ
ターンを検出してから、装置内位相に変更された上記試
験信号を誤り測定部に入力し、試験信号の誤り測定を開
始する構成としてあり、好ましくは、上記試験信号が試
験PN信号からなり、上記試験信号生成部が試験PN信
号生成部として構成されている。
【0010】
【作用】上述した構成によれば、試験信号受信側装置に
おいて上位制御装置から試験開始指示を受けても、試験
信号中の測定開始パターンを受信するまでは、誤り測定
を開始しない。測定開始パターンを受信すると、試験信
号の位相に変更された試験PN信号を誤り測定部に入力
して、試験PN信号の誤り測定を実施できることから、
誤同期を防止できる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき詳細に
説明する。図1に、本発明による回線試験方式の一実施
例を示す。この図で、試験信号送信側装置Bは、擬似ラ
ンダムパターンである試験PN信号を生成する試験PN
信号生成部2と、試験PN信号に測定開始パターンを挿
入するための測定開始パターン挿入部3と、上位制御装
置からの試験信号挿入指示により試験信号を主信号に挿
入する接続部であるスイッチSW3で構成されており、
測定開始パターン挿入部3は試験PN信号生成部2に直
列に接続され、測定開始パターン挿入部3と伝送路1の
間にスイッチSW3が接続されている。
【0012】また、試験信号受信側装置Aは、フレーム
の先頭に付加されているポインタを終端することによ
り、信号の先頭を検出するポインタ終端部4と、フレー
ムの一定の位置に付加されている固定パターンを監視す
ることにより、運用信号と試験PN信号の判定を行なう
試験信号判定部5と、試験PN信号の誤り測定開始を指
示する測定開始パターンを検出するための測定開始パタ
ーン検出部7と、試験PN信号の誤りを測定するための
誤り測定部9と、伝送路1と誤り測定部9とを接続する
スイッチSW1,SW2と、上位制御装置からの制御信
号を受けてそれぞれスイッチSW1,SW2を開閉する
制御ゲート6,8とから構成されている。ここで、ポイ
ンタ終端部4は伝送路1に直列に挿入され、スイッチS
W1,SW2は伝送路1と誤り測定部9との間に直列に
接続される。また、伝送路1は試験信号判定部5の入力
端子に接続され、この判定部5の出力端子が制御ゲート
6の一方の入力端子に接続される。この制御ゲート6の
他方の入力端子には、上位制御装置からのドロップ回線
設定信号が入力される。この制御ゲート6の出力により
スイッチSW1の接続が制御される。また、スイッチS
W1とSW2の接続点が測定開始パターン検出部7の入
力端子に接続され、この検出部7の出力端子が制御ゲー
ト8の一方の入力端子に接続される。この制御ゲート8
の他方の入力端子には、上位制御装置からの誤り測定部
接続信号が入力される。この制御ゲート8の出力により
スイッチSW2の接続が制御される。
【0013】伝送路1によって接続される装置Aと装置
Bは、同一局舎内において異なるフロアに設置された
り、異なる局舎に設置されて使用される。このため、装
置Aと装置Bを制御する上位制御装置は、それぞれ独立
したものとなり、装置Aと装置Bは時間的に完全に独立
した制御が行なわれる。
【0014】初めに装置Aと装置Bが通常運用状態のと
きの動作を説明する。通常の運用には、図2(a)に示
すフレーム構成の信号が、装置Bから伝送路1を経由し
て装置Aに送信されている。フレームの先頭には、運用
信号12の先頭を示す運用ポインタ10が付加されてお
り、さらに下位の信号処理階層で必要な固定パターン1
1が付加されている。この信号を受信した装置Aは、ポ
インタ終端部4で運用ポインタ値を認識し、運用信号を
装置内部の位相に変更し、装置内に出力し下流において
信号処理を行なう。ここで、ポインタ終端部4で受信信
号のポインタ値を認識する時間は信号の種類によって一
意的に決まっている。
【0015】また、試験信号判定部5では固定パターン
の位置を常に観測しており、この位置の信号が常に定め
られた固定パターンであれば、受信信号を通常の運用信
号であると見なし、PNのランダム信号であれば試験P
N信号と認識し、制御ゲート6に通知する。この制御ゲ
ート6は、試験信号判定部5からの信号と上制御装置か
らのドロップ回線設定信号の両方が、ともにイネーブル
状態のときにスイッチSW1をオン状態にする。同様に
制御ゲート8は、測定開始パターン検出部7からの信号
と上位制御装置からの誤り測定部接続信号の両方が、と
もにイネーブル状態のときにスイッチSW2をオン状態
にする。
【0016】つぎに、装置Aと装置Bの間で伝送路1の
試験を行なうときの動作について説明する。図3(a)
に示すように、装置Bで、上位制御装置からインサート
回線設定の制御を受けるとスイッチSW3がオンとな
り、試験PN信号生成部2で生成された図2(b)に示
すフレーム構成の試験PN信号が、図3(b)に示すよ
うに主信号に挿入される。この試験信号フレームは、試
験PN信号14にその先頭を示す試験ポインタ13を付
加した構成となっている。
【0017】この信号を受信した装置Aは、ポインタ終
端部4で試験ポインタを認識し始めるが、図3(c)に
示すように認識するまでの前方保護時間の間は、まだ運
用信号の位相により受信試験PN信号を装置内の位相に
変更している。このとき、装置Aの上位制御装置からの
制御によりドロップ回線設定と、誤り測定部接続の制御
が行なわれたとすると、試験信号判定部5では運用時固
定パターンのスロットがPNのランダム信号であるた
め、試験PN信号を受信したと認識し、制御ゲート6に
イネーブル状態を通知し、ドロップ回線設定制御が有効
となって、図中(d)に示すようにスイッチSW1がオ
ンとなる。測定開始パターン検出部7では、試験PN信
号中の測定開始パターンの存在を常に監視しており、こ
のパターンを検出すると制御ゲート8にイネーブル状態
を通知し、誤り測定部接続制御が有効となり、スイッチ
SW2をオンとするが、装置Bの測定開始パターン挿入
部3ではまだ測定開始パターンの挿入を行なっていない
ため、測定開始パターンは検出されず、スイッチSW2
はオン状態とはならない。
【0018】装置Aのポインタ終端部が試験PN信号の
試験ポインタを認識する前方保護時間経過後、つまり試
験PN信号の位相に変更後、装置Bの測定開始パターン
挿入部3において、図2(c)に示す測定開始パターン
15を挿入する。ここで、測定開始パターン15として
は、例えばa11“0”またはa11“1”を数バイト
連続させたものとする。これは、PN信号の性質とし
て、同一パターンが連続することはないからである。測
定開始パターン15を含む試験PN信号を測定開始パタ
ーン検出部7が受信すると、制御ゲート8にイネーブル
状態が通知され、誤り測定部接続制御が有効となり、ス
イッチSW2がオンとなり、試験PN信号の位相になっ
た信号が誤り測定部9に入力され、図3(e)に示すよ
うにPN同期確立後、誤りの測定を開始する。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように本発明による回線試
験方式によれば、試験信号に、試験開始指示を示す測定
開始パターンを付加したことから、試験信号受信側の装
置が試験信号の位相に変更になったあとに誤り測定を開
始することができるので、特に試験信号送信側装置と試
験信号受信側装置を制御するタイミングを考慮する必要
がない。これにより、従来のような誤りの誤検出が発生
せず、回線試験を正常に実施できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による回線試験方式の一実施例を示すブ
ロック図である。
【図2】図1の回線試験方式で用いられる信号形式を示
す図である。
【図3】上記回線試験方式の動作を示すタイミング図で
ある。
【図4】従来の回線試験方式を示すブロック図である。
【図5】従来の回線試験方式で用いられる信号形式を示
す図である。
【図6】従来の回線試験方式の動作を示すタイミング図
である。
【符号の説明】
1 伝送路 2 試験PN信号生成部 3 測定開始パターン挿入部 4 ポインタ終端部 5 試験信号判定部 6,8 制御ゲート 7 測定開始パターン検出部 9 誤り測定部 10 運用ポインタ 11 固定パターン 12 運用信号 13 試験ポインタ 14 試験PN信号 15 測定開始パターン SW1 ドロップ回線設定用のスイッチ SW2 誤り測定部接続用のスイッチ SW3 試験信号挿入用のスイッチ

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 伝送路の品質や伝送路の接続確認を行な
    うための試験信号を生成する試験信号生成部を有し、上
    位制御装置からの制御に従いこの試験信号生成部より生
    成した試験信号を伝送路へ挿入する試験信号送信側装置
    と、この試験信号送信側装置と伝送路を介して接続され
    ており、試験信号送信側装置より受信した試験信号を装
    置内部の位相に変換する受信信号終端部と、上位制御装
    置からの制御に従い上記試験信号の誤りを測定するため
    の誤り測定部とを有する試験信号受信側装置とからなる
    回線試験方式において、 上記試験信号送信側装置には、上位制御装置から伝送路
    への試験信号挿入指示を受けてから一定時間経過後に誤
    り測定開始を指示する測定開始パターンを挿入するため
    の測定開始パターン挿入部を備え、 上記試験信号受信側装置には、受信した信号が通常の運
    用信号であるのか、伝送路の試験を行なうための試験信
    号であるのかを判定するための試験信号判定部と、試験
    信号の中に含まれている測定開始パターンを検出するた
    めの測定開始パターン検出部とを備え、 この試験信号受信側装置では、上記試験信号判定部で試
    験信号を判定して、上位制御装置からの試験開始指示を
    受けても、測定開始パターン検出部で測定開始パターン
    を検出するまでは、誤り測定部において測定を開始せ
    ず、上記測定開始パターンを検出してから、装置内位相
    に変更された上記試験信号を誤り測定部に入力し、試験
    信号の誤り測定を開始することを特徴とした回線試験方
    式。
  2. 【請求項2】 上記試験信号が試験PN信号からなり、
    上記試験信号生成部が試験PN信号生成部として構成さ
    れることを特徴とした請求項1記載の回線試験方式。
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