JP2637027B2 - 真空用ゲート弁装置 - Google Patents

真空用ゲート弁装置

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JP2637027B2
JP2637027B2 JP4340718A JP34071892A JP2637027B2 JP 2637027 B2 JP2637027 B2 JP 2637027B2 JP 4340718 A JP4340718 A JP 4340718A JP 34071892 A JP34071892 A JP 34071892A JP 2637027 B2 JP2637027 B2 JP 2637027B2
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JP
Japan
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valve
gas
valve plate
seal member
vacuum
Prior art date
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JP4340718A
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JPH06185672A (ja
Inventor
和敏 船場
修一 瓜生
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NIPPON SEIKOSHO KK
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NIPPON SEIKOSHO KK
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は真空用ゲート弁装置に関
し、特に、弁板のシール部材の劣化を防止し、シール部
材の長寿命化を計るための新規な改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、用いられていたこの種の真空用ゲ
ート弁装置としては、一般に、弁板に設けられたシール
部材としてのOリングを用い、このOリングをシート面
に密合させることにより、開口の閉弁を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の真空用ゲート弁
装置は、以上のように構成されていたため、次のような
課題が存在していた。すなわち、従来、一般に、真空用
ゲート弁に用いられていたシート材は、フッ素ゴムOリ
ングであり、これを半導体製造装置などのガス反応プロ
セス設備に使用した場合、プロセスガスに晒されて非常
に短時間に腐蝕を受け、シールが不可能となって、頻繁
に取り替えなければならない。近年、カルレッツ(米国
のデュポン社の商標)などの高耐蝕性のシール材が用い
られるようになっているが、従来のOリングよりも若干
の延命効果に止まっているにすぎないのが現状である。
【0004】本発明は以上のような課題を解決するため
になされたもので、特に、弁板のシール部材の劣化を防
止し、シール部材の長寿命化を計るようにした真空用ゲ
ート弁装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明による真空用ゲー
ト装置は、弁箱の開口に連通するシート面に、弁板のシ
ール部材を密合させて前記開口を閉弁するようにした真
空用ゲート弁装置において、前記弁板に設けられたガス
流路を介して前記シール部材に不活性ガスを供給するよ
うに構成である。
【0006】
【作用】本発明による真空用ゲート弁装置においては、
弁板に形成されたガス流路を介して、弁板と開口のシー
ト面近傍の弁箱内面との間に形成されて間隙に対して不
活性ガスを供給するため、この間隙に供給した不活性ガ
スがシール部材の近傍に不活性ガス層を形成し、真空チ
ャンバ(図示せず)に供給されている腐蝕性のプロセス
ガスとシール部材との接触を断つことができる。従っ
て、このプロセスガスによるシール部材の腐蝕を長期間
にわたって防止し、シール部材の長寿命化を達成するこ
とができる。
【0007】
【実施例】以下、図面と共に本発明による真空用ゲート
弁装置の好適な実施例について詳細に説明する。図1か
ら図4迄は本発明による真空用ゲート弁装置を示すもの
で、図1は正面図、図2は図1の一部断面を含む正面
図、図3は図1の要部の拡大斜視図、図4は図1の横断
面図である。
【0008】図1から図4において符号1で示されるも
のは、半導体製造装置のチャンバ(図示せず)に接続し
て設けられる弁箱であり、この弁箱1には開口2が形成
されていると共に、この弁箱1の上部1aには、油圧、
空圧及びモータ等の何れかの手段からなる弁板駆動装置
3を有するボンネットフランジ4が載置して設けられて
いる。
【0009】前記弁板駆動装置3に設けられ矢印Aの方
向に沿って往復移動する弁棒5の下端にはほぼ台形状を
なす弁板6が設けられており、この弁板6は前記開口2
を開閉弁できるように構成されている。
【0010】前記弁板6の外面6aは、前記弁箱1の弁
座7に設けられたシート面7aに対面し、この外面6a
に設けられたOリング等からなるシール部材8が前記シ
ート面7aと密合するように構成されており、前記開口
2はこの弁板6のシール部材8がシート面7aに密合す
ることによって閉弁される。前記弁板6の板面6aとシ
ート面7aとの間には所定の間隔を有する間隙9が形成
されており、この間隙9は後述のガス流路10に連通し
ている。
【0011】前記弁箱1の側部1bにはガス分岐管11
が設けられ、このガス分岐管11はガス導入管12を介
して不活性ガスのガス源13に接続されていると共に、
前記弁板6の中心位置に図4に示すように前記ガス分岐
管11に接続された連絡ガス流路10aが形成され、こ
の連絡ガス流路10aが弁板6に形成された前記各ガス
流路10に連通されている。
【0012】前記各ガス流路10は、前述のように、弁
板6と弁座7のシート面7a近傍の弁座内面との間に形
成された間隙9に連通しており、前記ガス分岐管11に
接続された不活性ガスのガス源13からの不活性ガスが
各ガス流路10を介して前記間隙9に供給されることに
より、シール部材8の劣化を防止することができる。な
お、前述のガス分岐管11とガス源13との間のガス導
入管12は、弁板6の往復移動に追従できるように柔軟
性のあるフレキシブルガス管が用いられている。
【0013】従って、前述の構成において、例えば、図
示しない半導体製造装置に前記弁箱1が接続され、閉弁
状態で図示しない半導体用ウェハ上への薄膜形成のため
に使用される腐蝕性ガスが注入されて開口2及び弁板6
等がこの腐蝕性ガス雰囲気下に存在する状態で、前記ガ
ス流路10から半導体製造プロセスに悪影響のない性質
の不活性ガス(例えば、窒素ガス)を前記間隙9に注入
すると、各シール部材8の近傍に不活性ガス層(図示せ
ず)が形成され、この不活性ガス層によって各シール部
材8と前記腐蝕性ガスとの接触が断たれる。従って、各
シール部材8の腐蝕性ガスによる劣化は極めて良好に防
止され、従来構成に比較すると、各シール部材8の交換
時期を大幅に延期することが可能となった。
【0014】
【発明の効果】本発明による真空用ゲート弁装置は、以
上のように構成されているため、次のような効果を得る
ことができる。すなわち、弁板に形成されたガス流路を
介して弁板と弁座間に形成された間隙内に不活性ガスを
供給し、シール部材の近傍に形成した不活性ガス層によ
ってシール部材と腐蝕性ガスとの接触を避けることがで
き、シール部材の劣化を効果的に防止し、その交換期間
を従来構成よりも大幅に延期させて半導体製造装置等の
信頼性を大幅に向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による真空用ゲート弁装置を示す正面図
である。
【図2】図1の一部断面を含む正面図である。
【図3】図1の要部の拡大斜視図である。
【図4】図1の横断面図である。
【符号の説明】
1 弁箱 2 開口 3 弁板駆動装置 4 ボンネットフランジ 5 弁棒 6 弁板 7a シート面 8 シール部材 9 間隙 10 ガス流路

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 弁箱(1)の開口(2)に連通するシート面(7
    a)に、弁板(6)のシール部材(8)を密合させて前記開口
    (2)を閉弁するようにした真空用ゲート弁装置におい
    て、前記弁板(6)に設けられたガス流路(10)を介して前
    記シール部材(8)に不活性ガスを供給するように構成し
    たことを特徴とする真空用ゲート弁装置。
JP4340718A 1992-12-21 1992-12-21 真空用ゲート弁装置 Expired - Lifetime JP2637027B2 (ja)

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JPH06185672A JPH06185672A (ja) 1994-07-08
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