JP2624128B2 - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報の記録・再生・消
去が可能な光磁気記録媒体に関する、特にレーザー波長
690nm以下の可視、短波長に適する媒体に関する。
去が可能な光磁気記録媒体に関する、特にレーザー波長
690nm以下の可視、短波長に適する媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光磁気ディスク用の磁性材料であ
る希土類・遷移金属アモルファス合金薄膜は、カー回転
角が小さいことから再生信号レベルが低いことが問題で
あった。再生信号レベルを向上させるために特開昭57
−12428号公報では、記録媒体の背面に金属の反射
膜を設け、記録媒体上にSiOやSiO2 などの誘電体
膜を形成している。図9にこの記録媒体の断面図を示
す。以後この記録媒体の構造を反射膜構造という。91
はガラス等の基板、92は磁性膜、93はSiO2透明
薄膜、94は金属膜である。この媒体においてカー回転
角はSiO2 透明薄膜93の膜厚を変化させると図10
に示すように変化する。したがって、SiO2 透明薄膜
の膜厚を適当に選ぶことによって、カー回転角を大きく
することができる。
る希土類・遷移金属アモルファス合金薄膜は、カー回転
角が小さいことから再生信号レベルが低いことが問題で
あった。再生信号レベルを向上させるために特開昭57
−12428号公報では、記録媒体の背面に金属の反射
膜を設け、記録媒体上にSiOやSiO2 などの誘電体
膜を形成している。図9にこの記録媒体の断面図を示
す。以後この記録媒体の構造を反射膜構造という。91
はガラス等の基板、92は磁性膜、93はSiO2透明
薄膜、94は金属膜である。この媒体においてカー回転
角はSiO2 透明薄膜93の膜厚を変化させると図10
に示すように変化する。したがって、SiO2 透明薄膜
の膜厚を適当に選ぶことによって、カー回転角を大きく
することができる。
【0003】また、図11に示すように、反射膜構造を
改良した構造が検討されている(日本応用磁気学会学会
誌Vol.11、No.2、1987)。この構造は図
9の反射膜構造において基板91と磁性膜92の間に誘
電体膜112を形成したものである。このような構成に
おいては、磁性膜表面での反射光と磁性膜を透過して反
射膜で反射してきた光による磁気光学効果を利用し、カ
ー回転角を大きくしているために磁性膜の膜厚は20n
m〜30nmとなっている。この場合、第二誘電体膜の
膜厚は20nmと第一誘電体膜の膜厚80nmより薄
い。そのときの波長780nmにおけるカー回転角は
1.5度、反射率は12%と報告されており、カー回転
角を大きくしたために反射率が低下していることが分か
る。現行の光磁気記録媒体ではこのような構造を用い、
カー回転角を増大させ、再生信号レベルを高くしてい
る。
改良した構造が検討されている(日本応用磁気学会学会
誌Vol.11、No.2、1987)。この構造は図
9の反射膜構造において基板91と磁性膜92の間に誘
電体膜112を形成したものである。このような構成に
おいては、磁性膜表面での反射光と磁性膜を透過して反
射膜で反射してきた光による磁気光学効果を利用し、カ
ー回転角を大きくしているために磁性膜の膜厚は20n
m〜30nmとなっている。この場合、第二誘電体膜の
膜厚は20nmと第一誘電体膜の膜厚80nmより薄
い。そのときの波長780nmにおけるカー回転角は
1.5度、反射率は12%と報告されており、カー回転
角を大きくしたために反射率が低下していることが分か
る。現行の光磁気記録媒体ではこのような構造を用い、
カー回転角を増大させ、再生信号レベルを高くしてい
る。
【0004】一方、記録膜自体の改良においては、キュ
リー温度が高い膜の方がカー回転角が大きくなることか
ら、キュリー温度が高く比較的大きなカー回転角を有す
る膜(読み出し層)と、キュリー温度が低く記録感度が
良い膜(書き込み層)とを積層し記録膜とした交換結合
二層膜が提案されている(特公平2−35371号公
報)。図12は交換結合二層膜の断面構造であり、キュ
リー温度が高く室温で保磁力が小さい磁性膜121(読
み出し層)、キュリー温度があまり高くなく室温で保磁
力が大きな磁性膜122(書き込み層)よりなる。図1
3にしたがって交換結合二層膜における従来の記録マー
ク形成プロセスについて説明する。図13(a)のよう
にレーザー光131が照射されるとその部分では温度が
上昇する。読み出し層121はキュリー温度が高いので
磁化が無くなることはないが、キュリー温度があまり高
くない書き込み層122はキュリー温度に到達し、磁化
が無くなる。このような状態において外部磁界132を
加えると、図13(b)のように読み出し層121の磁
化が反転する。温度が下降するとき図13(c)のよう
に交換結合により、読み出し層121から書き込み層1
22へ磁化が転写される。このような記録プロセスにお
いては、キュリー温度が高く保磁力の小さな読み出し層
121へ形状が良好な記録マークを形成する事が難し
く、記録ノイズレベルの上昇を招きやすい。
リー温度が高い膜の方がカー回転角が大きくなることか
ら、キュリー温度が高く比較的大きなカー回転角を有す
る膜(読み出し層)と、キュリー温度が低く記録感度が
良い膜(書き込み層)とを積層し記録膜とした交換結合
二層膜が提案されている(特公平2−35371号公
報)。図12は交換結合二層膜の断面構造であり、キュ
リー温度が高く室温で保磁力が小さい磁性膜121(読
み出し層)、キュリー温度があまり高くなく室温で保磁
力が大きな磁性膜122(書き込み層)よりなる。図1
3にしたがって交換結合二層膜における従来の記録マー
ク形成プロセスについて説明する。図13(a)のよう
にレーザー光131が照射されるとその部分では温度が
上昇する。読み出し層121はキュリー温度が高いので
磁化が無くなることはないが、キュリー温度があまり高
くない書き込み層122はキュリー温度に到達し、磁化
が無くなる。このような状態において外部磁界132を
加えると、図13(b)のように読み出し層121の磁
化が反転する。温度が下降するとき図13(c)のよう
に交換結合により、読み出し層121から書き込み層1
22へ磁化が転写される。このような記録プロセスにお
いては、キュリー温度が高く保磁力の小さな読み出し層
121へ形状が良好な記録マークを形成する事が難し
く、記録ノイズレベルの上昇を招きやすい。
【0005】このような交換結合二層膜においても磁性
膜の膜厚を薄くした反射膜構造が検討されており(特開
平2−230535号公報)、カー回転角の増大効果お
よび熱的な干渉の軽減効果があるとされている。媒体の
構成は、PC基板上にAlSiN誘電体膜を80nm、
第一磁性膜Gd0 . 2 3 Fe0 . 7 3 Co0 . 0 4 を1
5nm、第二磁性膜Tb0 . 2 2 Fe0 . 7 2 Co
0 . 0 6 を15nm、AlSiN誘電体膜を25nm、
Al反射膜を40nm、順次積層したものである。この
構成において記録膜の全膜厚は30nmとなっており、
従来の反射膜構造と光学的な構成は全く変わっていな
い。そのため、干渉効果により、カー回転角は大きくな
るが、反射率が低下するという問題点は改善されていな
い。
膜の膜厚を薄くした反射膜構造が検討されており(特開
平2−230535号公報)、カー回転角の増大効果お
よび熱的な干渉の軽減効果があるとされている。媒体の
構成は、PC基板上にAlSiN誘電体膜を80nm、
第一磁性膜Gd0 . 2 3 Fe0 . 7 3 Co0 . 0 4 を1
5nm、第二磁性膜Tb0 . 2 2 Fe0 . 7 2 Co
0 . 0 6 を15nm、AlSiN誘電体膜を25nm、
Al反射膜を40nm、順次積層したものである。この
構成において記録膜の全膜厚は30nmとなっており、
従来の反射膜構造と光学的な構成は全く変わっていな
い。そのため、干渉効果により、カー回転角は大きくな
るが、反射率が低下するという問題点は改善されていな
い。
【0006】また、二層膜の記録ノイズレベルが上昇し
やすい点も改善されていない。
やすい点も改善されていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上に述べたように、従
来の反射膜構造の媒体では高いC/N比を得るために記
録膜を薄くして、記録膜からの反射光と記録膜を透過し
て金属膜で反射してくる光を利用し、カー回転角を大き
くし再生信号を増大させていた。光磁気ディスクのC/
N比は性能指数(θk ・R1 / 2 )によって特徴づけら
れ、C/N比は主としてカー回転角に依存すると考えら
れており、反射率は十数%程度あれば良いと考えられて
いた。
来の反射膜構造の媒体では高いC/N比を得るために記
録膜を薄くして、記録膜からの反射光と記録膜を透過し
て金属膜で反射してくる光を利用し、カー回転角を大き
くし再生信号を増大させていた。光磁気ディスクのC/
N比は性能指数(θk ・R1 / 2 )によって特徴づけら
れ、C/N比は主としてカー回転角に依存すると考えら
れており、反射率は十数%程度あれば良いと考えられて
いた。
【0008】しかし近年、波長670nm〜690nm
の赤色レーザーが実用化され、光源が短波長化される
と、光検出器の放射感度が低下するため回路系のノイズ
が他のノイズに比較して顕著に増大してくるという問題
点が明らかになった。そこで可視光以下の短波長域で
は、反射率が15%以上程度と大きく、カー回転角も大
きい媒体構造が求められている。
の赤色レーザーが実用化され、光源が短波長化される
と、光検出器の放射感度が低下するため回路系のノイズ
が他のノイズに比較して顕著に増大してくるという問題
点が明らかになった。そこで可視光以下の短波長域で
は、反射率が15%以上程度と大きく、カー回転角も大
きい媒体構造が求められている。
【0009】交換結合二層膜においても磁性膜の膜厚を
薄くした反射膜構造の媒体が検討されているが、磁性膜
を薄くし、干渉効果を強めた場合に反射率が低下すると
いう問題点があり、さらに、再生信号は読み出し層の記
録マークによるので、ノイズを低く抑えるためにキュリ
ー温度が高い読み出し層に如何にして歪みの少ないマー
クを形成するか、調整することが困難であった。また、
この場合の交換結合膜におけるカー回転角の大きな層の
膜厚は15nmと薄いため、カー回転角が十分大きくな
らないという問題点があった。
薄くした反射膜構造の媒体が検討されているが、磁性膜
を薄くし、干渉効果を強めた場合に反射率が低下すると
いう問題点があり、さらに、再生信号は読み出し層の記
録マークによるので、ノイズを低く抑えるためにキュリ
ー温度が高い読み出し層に如何にして歪みの少ないマー
クを形成するか、調整することが困難であった。また、
この場合の交換結合膜におけるカー回転角の大きな層の
膜厚は15nmと薄いため、カー回転角が十分大きくな
らないという問題点があった。
【0010】本発明の目的は、可視光以下の短波長域で
反射率を下げることなくカー回転角を増大させ、良好な
記録・再生特性を示す光磁気記録媒体を提供することで
ある。
反射率を下げることなくカー回転角を増大させ、良好な
記録・再生特性を示す光磁気記録媒体を提供することで
ある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、希土類・遷移
金属アモルファス合金膜を記録膜とする光磁気記録媒体
において、記録膜の全膜厚が40nm以上80nm未満
で、媒体の構成が基板側からみて、第一誘電体膜、記録
膜、第二誘電体膜、反射膜の順序となっており、第二誘
電体膜の膜厚が、第一誘電体膜の膜厚に比べて厚く、カ
ー回転角と反射率の積が最大となるような第二誘電体膜
の膜厚を選択したことを特徴とする光磁気記録媒体であ
り、可視光波長以下の短波長光源に適用して効果の大き
い光磁気記録媒体である。
金属アモルファス合金膜を記録膜とする光磁気記録媒体
において、記録膜の全膜厚が40nm以上80nm未満
で、媒体の構成が基板側からみて、第一誘電体膜、記録
膜、第二誘電体膜、反射膜の順序となっており、第二誘
電体膜の膜厚が、第一誘電体膜の膜厚に比べて厚く、カ
ー回転角と反射率の積が最大となるような第二誘電体膜
の膜厚を選択したことを特徴とする光磁気記録媒体であ
り、可視光波長以下の短波長光源に適用して効果の大き
い光磁気記録媒体である。
【0012】特に、記録膜が読み出し層と書き込み層か
らなる二層膜で、読み出し層の膜厚は20nm以上、書
き込み層の膜厚は20nm以上であり、読み出し層と書
き込み層が交換結合し、書き込み層から読み出し層へ磁
化の転写が起こることを特徴とする光磁気記録媒体が有
効である。
らなる二層膜で、読み出し層の膜厚は20nm以上、書
き込み層の膜厚は20nm以上であり、読み出し層と書
き込み層が交換結合し、書き込み層から読み出し層へ磁
化の転写が起こることを特徴とする光磁気記録媒体が有
効である。
【0013】さらに第一誘電体膜として、屈折率が2.
00以上2.45未満の材料が特に優れている。
00以上2.45未満の材料が特に優れている。
【0014】誘電体膜の具体的な材料としては、Si
N、ZnS、TaN、SiO、Ta2O5 、AlSi
N、AlNなどが使用できる。また、反射膜の具体的な
材料としてはAl、Ti、Cu、Cr、Taまたは、そ
れらの合金膜が使用できる。
N、ZnS、TaN、SiO、Ta2O5 、AlSi
N、AlNなどが使用できる。また、反射膜の具体的な
材料としてはAl、Ti、Cu、Cr、Taまたは、そ
れらの合金膜が使用できる。
【0015】
【作用】可視光以下の短波長光源対応の光磁気ディスク
においては回路系のノイズは再生光量には依存しないの
で、再生光量を大きくするために媒体の反射率を大きく
設計することが重要である。そこで、本発明においては
カー回転角θk と反射率Rに注目し、θk ・Rが大きく
なるような構成を提供する。
においては回路系のノイズは再生光量には依存しないの
で、再生光量を大きくするために媒体の反射率を大きく
設計することが重要である。そこで、本発明においては
カー回転角θk と反射率Rに注目し、θk ・Rが大きく
なるような構成を提供する。
【0016】θk ・R1 / 2 とθk ・Rの記録膜厚に対
する変化21、22を図2に示す。θk ・R1 / 2 は記
録膜厚が薄くなるにしたがって大きくなり記録膜厚が2
0nm程度の従来媒体の構成のほうが大きい。しかし、
θk ・Rは記録膜厚が40nm以上80nm未満で極大
となる。よって、信号強度を大きくするには、記録膜厚
40nm以上80nm未満が有効であり、更に40nm
〜60nmではより効果が大きい。
する変化21、22を図2に示す。θk ・R1 / 2 は記
録膜厚が薄くなるにしたがって大きくなり記録膜厚が2
0nm程度の従来媒体の構成のほうが大きい。しかし、
θk ・Rは記録膜厚が40nm以上80nm未満で極大
となる。よって、信号強度を大きくするには、記録膜厚
40nm以上80nm未満が有効であり、更に40nm
〜60nmではより効果が大きい。
【0017】このような厚い記録膜を用いることで媒体
ノイズが低減できるというメリットがある。希土類・遷
移金属アモルファス合金膜では成長初期層として異方性
が小さな層が下地層との界面に形成される。膜厚15n
m〜20nm程度の薄い記録膜においては、この影響に
よって媒体ノイズが上昇する。図4にTbFeCo記録
膜の膜厚に対するノイズレベルの変化を示す。記録膜厚
20nmの従来の媒体と記録膜厚が厚い本発明媒体を比
較すると、記録膜厚が厚くなるにしたがってノイズレベ
ルが低くなり、記録膜厚60nm以上ではほぼ一定であ
る。本発明のような厚い記録膜ではこの成長初期層の影
響を無視できるので、媒体ノイズが低い。よって、ノイ
ズレベルの観点から望ましい記録膜厚は40nm以上、
より望ましくは60nm以上である。
ノイズが低減できるというメリットがある。希土類・遷
移金属アモルファス合金膜では成長初期層として異方性
が小さな層が下地層との界面に形成される。膜厚15n
m〜20nm程度の薄い記録膜においては、この影響に
よって媒体ノイズが上昇する。図4にTbFeCo記録
膜の膜厚に対するノイズレベルの変化を示す。記録膜厚
20nmの従来の媒体と記録膜厚が厚い本発明媒体を比
較すると、記録膜厚が厚くなるにしたがってノイズレベ
ルが低くなり、記録膜厚60nm以上ではほぼ一定であ
る。本発明のような厚い記録膜ではこの成長初期層の影
響を無視できるので、媒体ノイズが低い。よって、ノイ
ズレベルの観点から望ましい記録膜厚は40nm以上、
より望ましくは60nm以上である。
【0018】以上のように記録膜厚が40nm未満では
ノイズの上昇が顕著であり、80nm以上では信号強度
が不十分である。よって記録膜厚は40nm以上80n
m未満に制限される。このような媒体は特に可視光以下
の短波長の光源の光磁気ディスクでは良好な特性を示す
のである。
ノイズの上昇が顕著であり、80nm以上では信号強度
が不十分である。よって記録膜厚は40nm以上80n
m未満に制限される。このような媒体は特に可視光以下
の短波長の光源の光磁気ディスクでは良好な特性を示す
のである。
【0019】第二誘電体膜の膜厚は、従来の構造のよう
に第一誘電体膜の膜厚よりも薄くすると干渉効果による
カー回転角の増大は不十分となる。記録膜厚が40nm
〜80nmのとき第一誘電体膜の膜厚と第二誘電体膜の
膜厚の関係について更に説明する。一例として図3に記
録膜としてTbFeCoを膜厚60nm、第一誘電体膜
としてSiNを膜厚74nmとしたときの、第二誘電体
膜の膜厚に対するθk・Rの変化を示す。第二誘電体膜
の膜厚が約140nmのとき、θk ・Rが最も大きい。
このように記録膜膜厚が40nm〜80nmのときは、
第二誘電体膜の膜厚が第一誘電体膜の膜厚より厚い条件
の中にθk ・Rが最大となる条件が存在するのである。
に第一誘電体膜の膜厚よりも薄くすると干渉効果による
カー回転角の増大は不十分となる。記録膜厚が40nm
〜80nmのとき第一誘電体膜の膜厚と第二誘電体膜の
膜厚の関係について更に説明する。一例として図3に記
録膜としてTbFeCoを膜厚60nm、第一誘電体膜
としてSiNを膜厚74nmとしたときの、第二誘電体
膜の膜厚に対するθk・Rの変化を示す。第二誘電体膜
の膜厚が約140nmのとき、θk ・Rが最も大きい。
このように記録膜膜厚が40nm〜80nmのときは、
第二誘電体膜の膜厚が第一誘電体膜の膜厚より厚い条件
の中にθk ・Rが最大となる条件が存在するのである。
【0020】さらに、望ましい媒体構成は、記録膜を二
層化することである。二層構造ではカー回転角の大きな
材料である読み出し層と記録感度が良い書き込み層とを
組み合わせることができるので、媒体のカー回転角をさ
らに大きくすることができる。二層構造の記録膜におい
ては読み出し層を20nm以上、望ましくは30nm以
上とするとθk を十分大きくできる。書き込み層厚を一
定として読み出し層厚を変えた場合の記録パワーに対す
るキャリアレベルの変化を図5に示す。これより、読み
出し層厚20nmの場合よりも40nmの方がキャリア
レベルを大きくすることができるのは明らかである。こ
のような読み出し層に組み合わせる書き込み層は熱干渉
の影響を小さくし、反射膜構造とするために薄くする必
要がある。そのためには、書き込み層のキュリー温度近
傍を除いて、読み出し層の磁壁エネルギー密度σw を書
き込み層のσw よりも小さくし、書き込み層側から読み
出し層側へ磁化の転写が起こるように特性を調整しなけ
ればならない。そのような二層構成記録膜を用いること
によりノイズが低く、キャリアの大きな良好な特性の媒
体を得ることができる。
層化することである。二層構造ではカー回転角の大きな
材料である読み出し層と記録感度が良い書き込み層とを
組み合わせることができるので、媒体のカー回転角をさ
らに大きくすることができる。二層構造の記録膜におい
ては読み出し層を20nm以上、望ましくは30nm以
上とするとθk を十分大きくできる。書き込み層厚を一
定として読み出し層厚を変えた場合の記録パワーに対す
るキャリアレベルの変化を図5に示す。これより、読み
出し層厚20nmの場合よりも40nmの方がキャリア
レベルを大きくすることができるのは明らかである。こ
のような読み出し層に組み合わせる書き込み層は熱干渉
の影響を小さくし、反射膜構造とするために薄くする必
要がある。そのためには、書き込み層のキュリー温度近
傍を除いて、読み出し層の磁壁エネルギー密度σw を書
き込み層のσw よりも小さくし、書き込み層側から読み
出し層側へ磁化の転写が起こるように特性を調整しなけ
ればならない。そのような二層構成記録膜を用いること
によりノイズが低く、キャリアの大きな良好な特性の媒
体を得ることができる。
【0021】
実施例1 本発明について、図面を参照して説明する。図1は、本
発明の一実施例を示す光磁気ディスクの断面構造図であ
る。11はPC基板やガラス基板などのような透明基
板、12は第一誘電体膜SiNを74nm、13はキュ
リー温度が高く室温で保磁力が小さい磁性膜(読み出し
層)30nm、14はキュリー温度が低く室温で保磁力
が大きい磁性膜(書き込み層)30nm、15は第二誘
電体膜SiNを146nm、16は反射膜であり、Ti
金属膜40nmまたはAl金属膜30nmをそれぞれ用
いた。SiN誘電体膜の膜厚はどちらもレーザー波長6
80nm帯でθk ・Rが大きくなるような膜厚である。
これらの各層をスパッタ法により作成した。16の金属
膜以外は真空を破らずに順次連続成膜した。
発明の一実施例を示す光磁気ディスクの断面構造図であ
る。11はPC基板やガラス基板などのような透明基
板、12は第一誘電体膜SiNを74nm、13はキュ
リー温度が高く室温で保磁力が小さい磁性膜(読み出し
層)30nm、14はキュリー温度が低く室温で保磁力
が大きい磁性膜(書き込み層)30nm、15は第二誘
電体膜SiNを146nm、16は反射膜であり、Ti
金属膜40nmまたはAl金属膜30nmをそれぞれ用
いた。SiN誘電体膜の膜厚はどちらもレーザー波長6
80nm帯でθk ・Rが大きくなるような膜厚である。
これらの各層をスパッタ法により作成した。16の金属
膜以外は真空を破らずに順次連続成膜した。
【0022】読み出し層の組成Gdx (Fe1 - y Co
y )1 - x は 0.15≦x≦0.25 0.15≦y≦0.25 の範囲であり、ここではx〜0.2、y〜0.2とし
た。
y )1 - x は 0.15≦x≦0.25 0.15≦y≦0.25 の範囲であり、ここではx〜0.2、y〜0.2とし
た。
【0023】また、書き込み層の組成Tbx (Fe
1 - y Coy )1 - x は 0.15≦x≦0.25 0.0≦y≦0.1 の範囲であり、ここではx〜0.2、y〜0.05とし
た。
1 - y Coy )1 - x は 0.15≦x≦0.25 0.0≦y≦0.1 の範囲であり、ここではx〜0.2、y〜0.05とし
た。
【0024】このような媒体構成とする事で、27.5
%の反射率が得られる。
%の反射率が得られる。
【0025】比較例1 図11の媒体構成で、基板上に第一誘電体膜SiNを6
8nm、磁性膜にはTbFeCoを20nm、第二誘電
体膜SiNを28nm、Al反射膜40nmを順次積層
した比較例を作製した。TbFeCo磁性膜の組成は前
記書き込み層と同様である。
8nm、磁性膜にはTbFeCoを20nm、第二誘電
体膜SiNを28nm、Al反射膜40nmを順次積層
した比較例を作製した。TbFeCo磁性膜の組成は前
記書き込み層と同様である。
【0026】実施例1および比較例1の評価結果を次に
示す。
示す。
【0027】図6はキャリアレベルの記録周波数に対す
る変化である。61はAl金属膜を用いた本発明媒体の
キャリアレベル、62はTi金属膜を用いた本発明媒体
のキャリアレベル、63は従来媒体のキャリアレベルで
ある。Ti金属膜を用いた場合、記録周波数25MHz
以上では従来媒体のキャリアレベルに及ばないものの2
5MHz以下の記録周波数では従来媒体を大きく上回っ
ている。また、61に示すようにAl金属膜を用いるこ
とによって記録周波数30MHzにおいても従来媒体を
大きく上回るキャリアレベルを実現できる。また、本発
明媒体は熱伝導率の異なる反射膜を用いることによって
記録感度の調整をする事が可能である。
る変化である。61はAl金属膜を用いた本発明媒体の
キャリアレベル、62はTi金属膜を用いた本発明媒体
のキャリアレベル、63は従来媒体のキャリアレベルで
ある。Ti金属膜を用いた場合、記録周波数25MHz
以上では従来媒体のキャリアレベルに及ばないものの2
5MHz以下の記録周波数では従来媒体を大きく上回っ
ている。また、61に示すようにAl金属膜を用いるこ
とによって記録周波数30MHzにおいても従来媒体を
大きく上回るキャリアレベルを実現できる。また、本発
明媒体は熱伝導率の異なる反射膜を用いることによって
記録感度の調整をする事が可能である。
【0028】これらの評価は、レーザー波長680n
m、線速27.3m/sの条件で行った。
m、線速27.3m/sの条件で行った。
【0029】実施例2 他の実施例について説明する。ここで示した本発明の実
施例は図1の光磁気ディスクの断面構造図と同一構造の
媒体である。第一誘電体膜12はZnSを62nm、読
み出し層13と書き込み層14は実施例1に示したもの
と同様の膜厚、組成のものを、第二誘電体膜15はZn
Sを123nm、反射膜16はTi金属膜50nmとし
た。実施例1と同様、第一および第二誘電体膜厚は波長
680nm帯でθk ・Rが大きくなるような膜厚であ
る。これらの各層をスパッタ法により作製した。16の
反射膜以外の膜は、真空を破らず順次連続成膜した。こ
のような媒体構成とする事で18.5%の反射率が得ら
れた。ZnSの屈折率は2.3である。
施例は図1の光磁気ディスクの断面構造図と同一構造の
媒体である。第一誘電体膜12はZnSを62nm、読
み出し層13と書き込み層14は実施例1に示したもの
と同様の膜厚、組成のものを、第二誘電体膜15はZn
Sを123nm、反射膜16はTi金属膜50nmとし
た。実施例1と同様、第一および第二誘電体膜厚は波長
680nm帯でθk ・Rが大きくなるような膜厚であ
る。これらの各層をスパッタ法により作製した。16の
反射膜以外の膜は、真空を破らず順次連続成膜した。こ
のような媒体構成とする事で18.5%の反射率が得ら
れた。ZnSの屈折率は2.3である。
【0030】以下に、実施例2と比較例1の比較評価結
果を示す。
果を示す。
【0031】図7は搬送波対雑音比(C/N比)、記録
ノイズレベルの再生光出力に対する変化を示している。
71は本発明媒体のC/N比、72は従来媒体のC/N
比、73は本発明媒体のノイズレベル、74は従来媒体
のノイズレベルである。本発明媒体の記録ノイズレベル
も従来媒体の記録ノイズレベルも再生光出力が大きくな
るにしたがって同じ傾向で上昇している。しかし、本発
明媒体は従来媒体のノイズレベルより低いノイズレベル
を実現している。一方、本発明媒体のC/N比は再生光
出力の大きさによらず、従来媒体のC/N比を上回って
いる。また、再生光出力が大きくなるにしたがって、従
来媒体のC/N比は徐々に下降して行くが、本発明媒体
のC/N比はわずかに伸びていく。したがって、本発明
は低ノイズレベルと高キャリアレベルを示し、再生レー
ザーパワーが大きくなったところでも有利である。
ノイズレベルの再生光出力に対する変化を示している。
71は本発明媒体のC/N比、72は従来媒体のC/N
比、73は本発明媒体のノイズレベル、74は従来媒体
のノイズレベルである。本発明媒体の記録ノイズレベル
も従来媒体の記録ノイズレベルも再生光出力が大きくな
るにしたがって同じ傾向で上昇している。しかし、本発
明媒体は従来媒体のノイズレベルより低いノイズレベル
を実現している。一方、本発明媒体のC/N比は再生光
出力の大きさによらず、従来媒体のC/N比を上回って
いる。また、再生光出力が大きくなるにしたがって、従
来媒体のC/N比は徐々に下降して行くが、本発明媒体
のC/N比はわずかに伸びていく。したがって、本発明
は低ノイズレベルと高キャリアレベルを示し、再生レー
ザーパワーが大きくなったところでも有利である。
【0032】これらの評価は、レーザー波長680n
m、線速11.0m/s、記録周波数3.7MHz、d
uty比50%、磁界±400Oeの条件で行った。
m、線速11.0m/s、記録周波数3.7MHz、d
uty比50%、磁界±400Oeの条件で行った。
【0033】ここで、屈折率が2.00〜2.45の誘
電体膜を少なくとも第一誘電体膜として使用することの
効果について述べる。図8に第一誘電体膜の屈折率に対
する媒体反射率とθk の変化を示す。81は媒体反射率
の変化、82はカー回転角の変化である。第二誘電体膜
は屈折率が2.0のSiNを、第一誘電体膜にはZnS
または成膜時のガス分圧を変化させることにより窒素含
有量を変えたSiNxをそれぞれ用いた。各媒体はそれ
ぞれの誘電体膜でθk ・Rが最大となるように膜厚を定
めた。第一誘電体膜の屈折率が大きくなるにしたがって
カー回転角が大きくなり、大きな屈折率の誘電体膜はカ
ー回転角の増大効果がある。しかし、第一誘電体膜の屈
折率が2.45以上では記録膜厚が60nmと厚いにも
関わらず反射率が15%以下となってしまう。よって誘
電体膜の屈折率は2.45未満に制限されるのである。
電体膜を少なくとも第一誘電体膜として使用することの
効果について述べる。図8に第一誘電体膜の屈折率に対
する媒体反射率とθk の変化を示す。81は媒体反射率
の変化、82はカー回転角の変化である。第二誘電体膜
は屈折率が2.0のSiNを、第一誘電体膜にはZnS
または成膜時のガス分圧を変化させることにより窒素含
有量を変えたSiNxをそれぞれ用いた。各媒体はそれ
ぞれの誘電体膜でθk ・Rが最大となるように膜厚を定
めた。第一誘電体膜の屈折率が大きくなるにしたがって
カー回転角が大きくなり、大きな屈折率の誘電体膜はカ
ー回転角の増大効果がある。しかし、第一誘電体膜の屈
折率が2.45以上では記録膜厚が60nmと厚いにも
関わらず反射率が15%以下となってしまう。よって誘
電体膜の屈折率は2.45未満に制限されるのである。
【0034】実施例1、2で示したように、誘電体膜に
よらず本発明は有効であり、誘電体膜としてTaN、S
iO、Ta2 O5 、AlSiN、AlNなどを使用して
も良い。また、反射膜としてAlとTiの例を示した
が、この他にもCu、Cr、Taまたはそれらの合金膜
を反射膜として使用しても良い。
よらず本発明は有効であり、誘電体膜としてTaN、S
iO、Ta2 O5 、AlSiN、AlNなどを使用して
も良い。また、反射膜としてAlとTiの例を示した
が、この他にもCu、Cr、Taまたはそれらの合金膜
を反射膜として使用しても良い。
【0035】実施例3 誘電体膜としてAlNを用いた場合について述べる。T
bFeCo記録膜を50nm、AlTi反射膜40nm
を用いたとき、第一誘電体膜、第二誘電体膜の膜厚はそ
れぞれ77nm、161nmとなる。このような媒体構
成とする事によって高キャリアレベル、低ノイズレベル
の媒体が得られる。
bFeCo記録膜を50nm、AlTi反射膜40nm
を用いたとき、第一誘電体膜、第二誘電体膜の膜厚はそ
れぞれ77nm、161nmとなる。このような媒体構
成とする事によって高キャリアレベル、低ノイズレベル
の媒体が得られる。
【0036】実施例4 誘電体膜としてTa2 O5 を用いた場合について述べ
る。記録膜として二層膜を用い、読み出し層はGd
0 . 2 2 (Fe0 . 8 5 Co0 . 1 5 )0 . 1 8 を20
nm、書き込み層はTb0 . 2 Fe0 . 8 を40nm、
反射膜はAlTiを40nmとした。このとき第一誘電
体膜、第二誘電体膜の膜厚をそれぞれ75nm、144
nmとすることにより、高キャリアレベル、低ノイズレ
ベルの媒体が得られる。
る。記録膜として二層膜を用い、読み出し層はGd
0 . 2 2 (Fe0 . 8 5 Co0 . 1 5 )0 . 1 8 を20
nm、書き込み層はTb0 . 2 Fe0 . 8 を40nm、
反射膜はAlTiを40nmとした。このとき第一誘電
体膜、第二誘電体膜の膜厚をそれぞれ75nm、144
nmとすることにより、高キャリアレベル、低ノイズレ
ベルの媒体が得られる。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明を用いれば、ノイズ
レベルを低く抑えることができる。さらに第二誘電体膜
の膜厚を第一誘電体膜の膜厚に対して厚くするような反
射膜構造をとっていることから、波長680nmなど短
波長化したときには特に、反射率の低下を抑えることが
でき、高い再生信号レベルも実現でき、媒体全体として
高いC/N比を示す媒体が得られる。
レベルを低く抑えることができる。さらに第二誘電体膜
の膜厚を第一誘電体膜の膜厚に対して厚くするような反
射膜構造をとっていることから、波長680nmなど短
波長化したときには特に、反射率の低下を抑えることが
でき、高い再生信号レベルも実現でき、媒体全体として
高いC/N比を示す媒体が得られる。
【図1】本発明媒体の構成図(断面図)
【図2】θk ・R1 / 2 およびθk ・Rの記録膜厚に対
する変化
する変化
【図3】θk ・Rの第二誘電体膜の膜厚に対する変化
【図4】ノイズレベルの記録膜の膜厚に対する変化
【図5】読み出し層厚を変えたときのキャリアレベルと
記録パワーの関係
記録パワーの関係
【図6】キャリアレベルの記録周波数に対する変化
【図7】C/N比およびノイズレベルの再生光出力に対
する変化
する変化
【図8】第一誘電体膜の屈折率と媒体の反射率の関係
【図9】従来の反射膜構造の構成図(断面図)
【図10】カー回転角のSiO2 膜厚に対する変化
【図11】改良された反射膜構造の構成図(断面図)
【図12】従来用いられている交換結合二層膜の断面図
【図13】交換結合二層膜における記録マーク形成プロ
セスの説明図
セスの説明図
11 基板 12 第一誘電体膜 13 磁性膜(読み出し層) 14 磁性膜(書き込み層) 15 第二誘電体膜 16 反射膜 21 θk ・R1 / 2 22 θk ・R 51 読み出し層厚が40nmの時のキャリアレベル 52 読み出し層厚が20nmの時のキャリアレベル 61 Al反射膜を用いた本発明媒体のキャリアレベル 62 Ti反射膜を用いた本発明媒体のキャリアレベル 63 従来媒体のキャリアレベル 71 本発明媒体のC/N比 72 従来媒体のC/N比 73 本発明媒体のノイズレベル 74 従来媒体のノイズレベル 81 第一誘電体膜の屈折率に対する媒体反射率の変化 82 第一誘電体膜の屈折率に対するカー回転角の変化 91 透明基板 92 磁性膜 93 SiO2 透明薄膜 94 金属膜 111 透明基板 112 第一誘電体膜 113 TbFeCo磁性膜 114 第二誘電体膜 115 反射膜 121 読み出し層 122 書き込み層 131 レーザー光 132 バイアス磁界
Claims (3)
- 【請求項1】 希土類・遷移金属アモルファス合金膜を
記録膜とする光磁気記録媒体において、記録膜の全膜厚
が40nm以上80nm未満で、媒体の構成が基板側か
らみて、第一誘電体膜、記録膜、第二誘電体膜、反射
膜、の順序となっており、第二誘電体膜の膜厚が、第一
誘電体膜の膜厚に比べて厚く、カー回転角と反射率の積
が最大となるような第二誘電体膜の膜厚を選択したこと
を特徴とする可視光波長以下の短波長光源対応の光磁気
記録媒体。 - 【請求項2】 記録膜が読み出し層と書き込み層からな
る二層膜で、読み出し層の膜厚は20nm以上、書き込
み層の膜厚は20nm以上であり、読み出し層と書き込
み層が交換結合し、書き込み層から読み出し層へ磁化の
転写が起こることを特徴とする請求項1記載の可視光波
長以下の短波長光源対応の光磁気記録媒体。 - 【請求項3】 第一誘電体膜として、屈折率が2.00
以上2.45未満の材料を使用していることを特徴とす
る請求項1記載の可視光波長以下の短波長光源対応の光
磁気記録媒体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5181472A JP2624128B2 (ja) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | 光磁気記録媒体 |
US08/278,225 US5589282A (en) | 1993-07-22 | 1994-07-21 | Magneto-optical recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5181472A JP2624128B2 (ja) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | 光磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0737282A JPH0737282A (ja) | 1995-02-07 |
JP2624128B2 true JP2624128B2 (ja) | 1997-06-25 |
Family
ID=16101359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5181472A Expired - Fee Related JP2624128B2 (ja) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5589282A (ja) |
JP (1) | JP2624128B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10162442A (ja) * | 1996-12-04 | 1998-06-19 | Sony Corp | 光磁気記録媒体 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6025036A (ja) * | 1983-07-20 | 1985-02-07 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光磁気記録媒体 |
JPS62212944A (ja) * | 1986-03-13 | 1987-09-18 | Canon Inc | 光磁気メモリ用媒体 |
JPS639047A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-01-14 | Canon Inc | 光磁気記録媒体 |
EP0258978B1 (en) * | 1986-07-08 | 1998-10-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Magnetooptical recording medium allowing overwriting with two or more magnetic layers and recording method utilizing the same |
US5265073A (en) * | 1987-03-13 | 1993-11-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Overwritable magneto-optical recording medium having two-layer magnetic films wherein one of the films contains one or more of Cu, Ag, Ti, Mn, B, Pt, Si, Ge, Cr and Al, and a method of recording on the same |
JPH0230535A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-01-31 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 印刷紙のインキ乾燥方法 |
JPH0235371A (ja) * | 1988-07-25 | 1990-02-05 | Hitachi Jidosha Buhin Hanbai Kk | オシロスコープ操作支援装置 |
JP2921590B2 (ja) * | 1989-06-30 | 1999-07-19 | 株式会社リコー | 光磁気記録媒体 |
JP2701963B2 (ja) * | 1990-06-20 | 1998-01-21 | シャープ株式会社 | 光学記憶素子 |
-
1993
- 1993-07-22 JP JP5181472A patent/JP2624128B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-07-21 US US08/278,225 patent/US5589282A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5589282A (en) | 1996-12-31 |
JPH0737282A (ja) | 1995-02-07 |
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Legal Events
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