JP2604411Y2 - 小型電子機器におけるテスト端子構造 - Google Patents
小型電子機器におけるテスト端子構造Info
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- JP2604411Y2 JP2604411Y2 JP1991021233U JP2123391U JP2604411Y2 JP 2604411 Y2 JP2604411 Y2 JP 2604411Y2 JP 1991021233 U JP1991021233 U JP 1991021233U JP 2123391 U JP2123391 U JP 2123391U JP 2604411 Y2 JP2604411 Y2 JP 2604411Y2
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- Japan
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- test terminal
- test
- small electronic
- battery box
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- Elimination Of Static Electricity (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、小型電子機器におけ
るテスト端子構造に関する。
るテスト端子構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、ページャなどの小型電子機器
は、電池ボックスの一部に複数個のテスト端子が突設さ
れている。これらのテスト端子は、線材、あるいは板ば
ねからなり、一端は上ケース内に収納された回路基板側
に電気的に接続されており、他端が電池ボックスの上面
に突出している。これら複数個のテスト端子は、あらか
じめ定められたテスト端子同志の組合せにより、目的と
するテストモードの選択を行なえるように設けられてい
る。例えばページャにおいては、ページャに対する呼出
しを知らせるために、ページャ内に設けられたスピーカ
の音圧テスト、あるいはページャの受信感度のテストに
使用される。
は、電池ボックスの一部に複数個のテスト端子が突設さ
れている。これらのテスト端子は、線材、あるいは板ば
ねからなり、一端は上ケース内に収納された回路基板側
に電気的に接続されており、他端が電池ボックスの上面
に突出している。これら複数個のテスト端子は、あらか
じめ定められたテスト端子同志の組合せにより、目的と
するテストモードの選択を行なえるように設けられてい
る。例えばページャにおいては、ページャに対する呼出
しを知らせるために、ページャ内に設けられたスピーカ
の音圧テスト、あるいはページャの受信感度のテストに
使用される。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなテスト端子構造では、テスト端子が電池ボック
スの一部から上方に突出した状態で露出しているため、
電池蓋を外している時にページャの利用者が不用意にテ
スト端子に触れる危険性があるだけでなく、電池蓋を嵌
めている場合においても、着衣に帯電している静電気が
電池蓋と上ケースとの間の隙間からケース内に侵入して
テスト端子に流れ、回路基板上の電子回路や電子部品等
の静電破壊を誘発すると言う問題点がある。
たようなテスト端子構造では、テスト端子が電池ボック
スの一部から上方に突出した状態で露出しているため、
電池蓋を外している時にページャの利用者が不用意にテ
スト端子に触れる危険性があるだけでなく、電池蓋を嵌
めている場合においても、着衣に帯電している静電気が
電池蓋と上ケースとの間の隙間からケース内に侵入して
テスト端子に流れ、回路基板上の電子回路や電子部品等
の静電破壊を誘発すると言う問題点がある。
【０００４】この考案は上述したような事情に鑑みなさ
れたもので、その目的とするところは、電池蓋を外せば
何時でもテストできるという利便性に加え、静電破壊が
生じ難い小型電子機器におけるテスト端子構造、より具
体的には、テスト端子に利用者が直接触れることができ
ず、また電界集中が生じることのない小型電子機器にお
けるテスト端子構造を提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、電池蓋を外せば
何時でもテストできるという利便性に加え、静電破壊が
生じ難い小型電子機器におけるテスト端子構造、より具
体的には、テスト端子に利用者が直接触れることができ
ず、また電界集中が生じることのない小型電子機器にお
けるテスト端子構造を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この考案は上述したよう
な目的を達成するために、電池蓋により閉塞される電池
ボックスを有する小型電子機器において、前記電池ボッ
クスに併設される回路基板の電池ボックス側の側縁部に
テスト端子を設けるとともに、前記電池ボックスの回路
基板側の外側壁に、前記回路基板上の前記テスト端子が
設けられている領域を覆う突出部を形成し、且つこの突
出部の前記テスト端子に対応する位置に貫通孔を形成す
るとともに、前記電池蓋の形状を当該蓋を嵌めていると
きには前記貫通孔を覆う形状にしたことを要点とする。
な目的を達成するために、電池蓋により閉塞される電池
ボックスを有する小型電子機器において、前記電池ボッ
クスに併設される回路基板の電池ボックス側の側縁部に
テスト端子を設けるとともに、前記電池ボックスの回路
基板側の外側壁に、前記回路基板上の前記テスト端子が
設けられている領域を覆う突出部を形成し、且つこの突
出部の前記テスト端子に対応する位置に貫通孔を形成す
るとともに、前記電池蓋の形状を当該蓋を嵌めていると
きには前記貫通孔を覆う形状にしたことを要点とする。
【０００６】
【実施例】図１は、この考案の一実施例を説明する斜視
図であって、ページャとして例示する小型電子機器１は
上ケース２と、この上ケース２に着脱可能な下ケース３
と、上ケース２に対して着脱可能で、かつ、下ケース３
とも係合関係にある電池蓋４とを備えている。
図であって、ページャとして例示する小型電子機器１は
上ケース２と、この上ケース２に着脱可能な下ケース３
と、上ケース２に対して着脱可能で、かつ、下ケース３
とも係合関係にある電池蓋４とを備えている。
【０００７】上ケース２内には、図２に示すように回路
基板ユニット６が収納されている。回路基板ユニット６
は図示していない回路パターンが形成された回路基板７
と、その一端側（図２の左端側）に取付固定された電池
ボックス５と、回路基板７の上に実装された多数の電子
部品とから構成されている。すなわち、回路基板７上に
は小型電子機器の一例として示されているページャ全体
を制御する回路が集積化されたＬＳＩ８、自己呼出番号
を記憶するＩＤ−ＲＯＭ９、着信の報知を行うスピーカ
１０、電源のオンオフ、スピーカの音量切替え等を行う
ためのスライドスイッチ１１、呼出信号電波の受信用ア
ンテナ３１等の電子部品が実装されている。また、回路
基板７の一端側（図２においては左下の角部の上面）に
は、図３に示すようにテスト端子１２が回路パターンの
一部として複数個形成されている。テスト端子１２は図
では１個しか示していないが、この実施例の場合には３
個形成されている。例えば、３個のテスト端子は、１つ
は電源端子、他の１つは音圧テスト端子、もう１つは受
信感度特性のテスト端子である。
基板ユニット６が収納されている。回路基板ユニット６
は図示していない回路パターンが形成された回路基板７
と、その一端側（図２の左端側）に取付固定された電池
ボックス５と、回路基板７の上に実装された多数の電子
部品とから構成されている。すなわち、回路基板７上に
は小型電子機器の一例として示されているページャ全体
を制御する回路が集積化されたＬＳＩ８、自己呼出番号
を記憶するＩＤ−ＲＯＭ９、着信の報知を行うスピーカ
１０、電源のオンオフ、スピーカの音量切替え等を行う
ためのスライドスイッチ１１、呼出信号電波の受信用ア
ンテナ３１等の電子部品が実装されている。また、回路
基板７の一端側（図２においては左下の角部の上面）に
は、図３に示すようにテスト端子１２が回路パターンの
一部として複数個形成されている。テスト端子１２は図
では１個しか示していないが、この実施例の場合には３
個形成されている。例えば、３個のテスト端子は、１つ
は電源端子、他の１つは音圧テスト端子、もう１つは受
信感度特性のテスト端子である。
【０００８】下ケース３は上ケース２の下側に嵌合され
るが、その電池ボックス５側の端部には、図３に示すよ
うに、電池蓋４の一部が重なる１段低くなった段部１３
が形成されており、この段部１３には図１に示すよう
に、回路基板７上のテスト端子１２と対応した３個の孔
１４と、図示していないトリマを調整するための治具が
挿入される孔１４ａが形成されている。下ケース３の上
ケース２に対する固定方法に付いては後述する。
るが、その電池ボックス５側の端部には、図３に示すよ
うに、電池蓋４の一部が重なる１段低くなった段部１３
が形成されており、この段部１３には図１に示すよう
に、回路基板７上のテスト端子１２と対応した３個の孔
１４と、図示していないトリマを調整するための治具が
挿入される孔１４ａが形成されている。下ケース３の上
ケース２に対する固定方法に付いては後述する。
【０００９】電池蓋４は図１に示すように、上ケース２
と下ケース３の角部に取り付けられる。すなわち、電池
蓋４は断面がＬ字状に形成されており、その内側縁の先
端部には突片１５が突設されており、この突片１５が下
ケース３の端縁側の下面と、下ケースの段部１３との間
の隙間１３ａにスライド嵌合される。また、電池蓋４の
中央部にはロック釦１６が下ケース３方向に向かって摺
動可能に設けられており、電池蓋４が閉じられたとき、
このロック釦１６を突出させ、下ケース３の端縁の切欠
部１７内に嵌合させれば、電池蓋４をロックすることが
できる。
と下ケース３の角部に取り付けられる。すなわち、電池
蓋４は断面がＬ字状に形成されており、その内側縁の先
端部には突片１５が突設されており、この突片１５が下
ケース３の端縁側の下面と、下ケースの段部１３との間
の隙間１３ａにスライド嵌合される。また、電池蓋４の
中央部にはロック釦１６が下ケース３方向に向かって摺
動可能に設けられており、電池蓋４が閉じられたとき、
このロック釦１６を突出させ、下ケース３の端縁の切欠
部１７内に嵌合させれば、電池蓋４をロックすることが
できる。
【００１０】一方、電池ボックス５は、ほぼ「Ｊ」の字
状の断面をもって形成されており、下ケース３側が高
く、反対側は上ケース２の高さとほぼ同一である。電池
ボックス５の一端で、下ケース３の段部１３の孔１４、
１４ａが形成されている部分と対応する位置には、図２
に示すように、突出部１８が突設されており、この突出
部１８には下ケース３の段部１３の４個の孔１４、１４
ａと対向して、４個の孔１９、１９ａが形成されてい
る。４個の孔１４、１４ａはテスト端子１２とトリマに
対向しているため、突出部１８に形成された４個の孔１
９、１９ａもテスト端子１２、およびトリマと対向して
いる。なお、孔１９、１９ａの直径は図３に示すよう
に、孔１４、１４ａの直径よりも小さい。
状の断面をもって形成されており、下ケース３側が高
く、反対側は上ケース２の高さとほぼ同一である。電池
ボックス５の一端で、下ケース３の段部１３の孔１４、
１４ａが形成されている部分と対応する位置には、図２
に示すように、突出部１８が突設されており、この突出
部１８には下ケース３の段部１３の４個の孔１４、１４
ａと対向して、４個の孔１９、１９ａが形成されてい
る。４個の孔１４、１４ａはテスト端子１２とトリマに
対向しているため、突出部１８に形成された４個の孔１
９、１９ａもテスト端子１２、およびトリマと対向して
いる。なお、孔１９、１９ａの直径は図３に示すよう
に、孔１４、１４ａの直径よりも小さい。
【００１１】また、図１に示すように、電池ボックス５
の回路基板７側の側壁には切欠部２０が四辺形状に形成
されており、この切欠部２０と対向して、上ケース２の
底面から、図２に示すように、回路基板７の切欠部７ａ
を通って、支持板２１が突設されており、支持板２１の
側面には切欠部２０方向に向かって、図示していないね
じ孔が形成されたボス２２が突設されている。一方、切
欠部２０内には、図１に示すように下ケースの底面側か
ら突設された突片２３が嵌合される。突片２３には図示
していない孔が形成されており、この孔を介してねじ２
４がボス２２のねじ孔内にねじ込まれ、上下のケース
２、３は一体化される。
の回路基板７側の側壁には切欠部２０が四辺形状に形成
されており、この切欠部２０と対向して、上ケース２の
底面から、図２に示すように、回路基板７の切欠部７ａ
を通って、支持板２１が突設されており、支持板２１の
側面には切欠部２０方向に向かって、図示していないね
じ孔が形成されたボス２２が突設されている。一方、切
欠部２０内には、図１に示すように下ケースの底面側か
ら突設された突片２３が嵌合される。突片２３には図示
していない孔が形成されており、この孔を介してねじ２
４がボス２２のねじ孔内にねじ込まれ、上下のケース
２、３は一体化される。
【００１２】ところで、電池ボックス５内には電池２５
が収容されるが、電池ボックス５のプラス端子２６及び
マイナス端子２８はそれぞれ回路基板７に直接その一端
を固定されている。
が収容されるが、電池ボックス５のプラス端子２６及び
マイナス端子２８はそれぞれ回路基板７に直接その一端
を固定されている。
【００１３】以上のように、この実施例においては、回
路基板７上に形成されたテスト端子１２と対向して、電
池ボックス５の突出部１８、および突出部１８に重なる
下ケース３の段部１３に孔１４、１４ａ、および孔１
９、１９ａを形成してあるため、テスト端子１２は電池
ボックス５の上面に突出した状態で露出しておらず、テ
スト用の針等を孔１４から挿入しないかぎり、誤ってテ
スト端子１２に触れることはなく、誤操作を誘発する等
の不都合は生じない。
路基板７上に形成されたテスト端子１２と対向して、電
池ボックス５の突出部１８、および突出部１８に重なる
下ケース３の段部１３に孔１４、１４ａ、および孔１
９、１９ａを形成してあるため、テスト端子１２は電池
ボックス５の上面に突出した状態で露出しておらず、テ
スト用の針等を孔１４から挿入しないかぎり、誤ってテ
スト端子１２に触れることはなく、誤操作を誘発する等
の不都合は生じない。
【００１４】また、テスト端子１２は電池ボックス５の
露出表面からかなりの距離を有する回路基板７の表面に
形成されているため、静電気がテスト端子に流れること
はなく、電子回路や電子部品の静電破壊が生じることは
ない。
露出表面からかなりの距離を有する回路基板７の表面に
形成されているため、静電気がテスト端子に流れること
はなく、電子回路や電子部品の静電破壊が生じることは
ない。
【００１５】なお、上述した実施例においては、電池ボ
ックス５の突出部１８上に、下ケース３の段部１３が重
なっている構造であるため、段部１３にも孔１４、１４
ａを設けたが、下ケース３と電池ボックス５の一部が重
ならない構造の場合には、電池ボックス５の一部にのみ
に孔１９ａを設けておけばよい。
ックス５の突出部１８上に、下ケース３の段部１３が重
なっている構造であるため、段部１３にも孔１４、１４
ａを設けたが、下ケース３と電池ボックス５の一部が重
ならない構造の場合には、電池ボックス５の一部にのみ
に孔１９ａを設けておけばよい。
【００１６】
【考案の効果】以上説明したように、この考案によれ
ば、電池蓋により閉塞される電池ボックスを有する小型
電子機器において、前記電池ボックスに併設される回路
基板の電池ボックス側の側縁部にテスト端子を設けると
ともに、前記電池ボックスの回路基板側の外側壁に、前
記回路基板上の前記テスト端子が設けられている領域を
覆う突出部を形成し、且つこの突出部の前記テスト端子
に対応する位置に貫通孔を形成するとともに、前記電池
蓋の形状を当該蓋を嵌めているときには前記貫通孔を覆
う形状にしたものであり、利用者がテスト端子に直接触
れることができず、また電界集中が生じない構造である
ので、電池蓋を外せば何時でもテストできるという利便
性に加え、静電破壊が生じ難い小型電子機器におけるテ
スト端子構造を提供することができる。
ば、電池蓋により閉塞される電池ボックスを有する小型
電子機器において、前記電池ボックスに併設される回路
基板の電池ボックス側の側縁部にテスト端子を設けると
ともに、前記電池ボックスの回路基板側の外側壁に、前
記回路基板上の前記テスト端子が設けられている領域を
覆う突出部を形成し、且つこの突出部の前記テスト端子
に対応する位置に貫通孔を形成するとともに、前記電池
蓋の形状を当該蓋を嵌めているときには前記貫通孔を覆
う形状にしたものであり、利用者がテスト端子に直接触
れることができず、また電界集中が生じない構造である
ので、電池蓋を外せば何時でもテストできるという利便
性に加え、静電破壊が生じ難い小型電子機器におけるテ
スト端子構造を提供することができる。
【図１】電池蓋を取り外した状態の小型電子機器を背面
側から見た斜視図。
側から見た斜視図。
【図２】電池蓋、および下ケースを取り外した状態の小
型電子機器の平面図。
型電子機器の平面図。
【図３】図２のＡーＡ線断面図。
１ 小型電子機器 ２ 上ケース ３ 下ケース ４ 電池蓋 ５ 電池ボックス １２ テスト端子 １３ 段部 １４、１４ａ、１９、１９ａ 孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 31/28
Claims (3)
- 【請求項１】 電池蓋により閉塞される電池ボックスを
有する小型電子機器において、前記電池ボックスに併設される回路基板の電池ボックス
側の側縁部にテスト端子を設けるとともに、前記電池ボ
ックスの回路基板側の外側壁に、前記回路基板上の前記
テスト端子が設けられている領域を覆う突出部を形成
し、且つこの突出部の前記テスト端子に対応する位置に
貫通孔を形成するとともに、前記電池蓋の形状を当該蓋
を嵌めているときには前記貫通孔を覆う形状にした こと
を特徴とする小型電子機器におけるテスト端子構造。 - 【請求項２】 前記突出部の厚みは、前記貫通孔の径よ
りも大きいことを特徴とする請求項１記載の小型電子機
器におけるテスト端子構造。 - 【請求項３】 前記貫通孔と前記テスト端子はそれぞれ
複数設けられていることを特徴とする請求項１又は２記
載の小型電子機器におけるテスト端子構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991021233U JP2604411Y2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 小型電子機器におけるテスト端子構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991021233U JP2604411Y2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 小型電子機器におけるテスト端子構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04110985U JPH04110985U (ja) | 1992-09-25 |
| JP2604411Y2 true JP2604411Y2 (ja) | 2000-05-15 |
Family
ID=31907031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991021233U Expired - Fee Related JP2604411Y2 (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 小型電子機器におけるテスト端子構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2604411Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59121872U (ja) * | 1983-02-04 | 1984-08-16 | 松下電器産業株式会社 | 小型電子機器の試験端子板 |
-
1991
- 1991-03-12 JP JP1991021233U patent/JP2604411Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04110985U (ja) | 1992-09-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |