JP2598364B2 - 基板洗浄システム - Google Patents
基板洗浄システムInfo
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- JP2598364B2 JP2598364B2 JP5062670A JP6267093A JP2598364B2 JP 2598364 B2 JP2598364 B2 JP 2598364B2 JP 5062670 A JP5062670 A JP 5062670A JP 6267093 A JP6267093 A JP 6267093A JP 2598364 B2 JP2598364 B2 JP 2598364B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は基板洗浄システムに関
し、さらに詳細には、半導体基板や液晶ガラス基板等の
薄板状の基板に洗浄処理を施す技術に関する。
し、さらに詳細には、半導体基板や液晶ガラス基板等の
薄板状の基板に洗浄処理を施す技術に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の基板洗浄システム、例えば、従
来の半導体基板(以下、「ウェハ」と称する)の洗浄シ
ステムの一般的構成は、複数の洗浄槽が横方向へ一列に
配設され、その一端側に基板搬入部が設けられるととも
に、その他端側に基板搬出部が設けられてなり、基板搬
送処理装置が、これら洗浄槽の配列方向へ洗浄槽と平行
に移動可能とされてなる。
来の半導体基板(以下、「ウェハ」と称する)の洗浄シ
ステムの一般的構成は、複数の洗浄槽が横方向へ一列に
配設され、その一端側に基板搬入部が設けられるととも
に、その他端側に基板搬出部が設けられてなり、基板搬
送処理装置が、これら洗浄槽の配列方向へ洗浄槽と平行
に移動可能とされてなる。
【0003】また、前工程から上記基板搬入部に供給さ
れるウェハは、複数枚のウェハ(例えば、25枚程度)
が一組として一つの搬送用カセット内に収納されてお
り、基板搬入部において上記基板搬送処理装置に移し替
えられる構成とされている。この基板搬送処理装置の構
造としては、上記ウェハを処理用カセットに収納して洗
浄処理するカセットタイプのものと、上記ウェハを直接
保持して洗浄処理するカセットレスタイプのものとがあ
り、近時は、ウェハの洗浄効率を高めるとともに洗浄液
の汚染を防止するため、後者のカセットレスタイプが一
般的になりつつある。
れるウェハは、複数枚のウェハ(例えば、25枚程度)
が一組として一つの搬送用カセット内に収納されてお
り、基板搬入部において上記基板搬送処理装置に移し替
えられる構成とされている。この基板搬送処理装置の構
造としては、上記ウェハを処理用カセットに収納して洗
浄処理するカセットタイプのものと、上記ウェハを直接
保持して洗浄処理するカセットレスタイプのものとがあ
り、近時は、ウェハの洗浄効率を高めるとともに洗浄液
の汚染を防止するため、後者のカセットレスタイプが一
般的になりつつある。
【0004】そして、このカセットレスタイプの基板洗
浄システムにおいて、上記基板搬入部で搬送用カセット
から基板搬送処理装置に移し替えられたウェハは、この
基板搬送処理装置により、順次上記洗浄槽に浸漬されて
洗浄処理された後、上記基板搬出部において、上記搬送
用カセットに再び収納されて次工程へ搬出される。
浄システムにおいて、上記基板搬入部で搬送用カセット
から基板搬送処理装置に移し替えられたウェハは、この
基板搬送処理装置により、順次上記洗浄槽に浸漬されて
洗浄処理された後、上記基板搬出部において、上記搬送
用カセットに再び収納されて次工程へ搬出される。
【0005】この場合、搬送用カセットと基板搬送処理
装置相互のウェハの移し替え作業は自動化されている一
方、ウェハ取出後の空カセットの上記基板搬入部から基
板搬出部への搬送作業は、作業者が手作業によりオペレ
ータゾーンを介して行っていた。
装置相互のウェハの移し替え作業は自動化されている一
方、ウェハ取出後の空カセットの上記基板搬入部から基
板搬出部への搬送作業は、作業者が手作業によりオペレ
ータゾーンを介して行っていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成では以下のような問題点があった。
うな構成では以下のような問題点があった。
【0007】(1) ウェハ取出後の空カセットは、ウェハ
の洗浄処理工程と並行して上記基板搬入部から基板搬出
部へ人手により搬送されているところ、これら基板搬入
部と基板搬出部は、横一列に配設された複数の洗浄槽を
間に反対側に配置されているため、その間の距離つまり
搬送距離が比較的長く、しかも、この搬送作業はウェハ
の洗浄処理工程と並行して行わなければならない。これ
がため、作業者は空カセットの搬送に多くの労力を費や
し、効率の良い作業が困難である。
の洗浄処理工程と並行して上記基板搬入部から基板搬出
部へ人手により搬送されているところ、これら基板搬入
部と基板搬出部は、横一列に配設された複数の洗浄槽を
間に反対側に配置されているため、その間の距離つまり
搬送距離が比較的長く、しかも、この搬送作業はウェハ
の洗浄処理工程と並行して行わなければならない。これ
がため、作業者は空カセットの搬送に多くの労力を費や
し、効率の良い作業が困難である。
【0008】(2) ウェハの洗浄処理工程と同期した効率
の良い空カセットの搬送が困難であるため、空カセット
をウェハの洗浄処理に先行して基板搬出部に予め待機さ
せる必要から、空カセットの保管スペースを確保する必
要があるなど、システム全体が大型化する。
の良い空カセットの搬送が困難であるため、空カセット
をウェハの洗浄処理に先行して基板搬出部に予め待機さ
せる必要から、空カセットの保管スペースを確保する必
要があるなど、システム全体が大型化する。
【0009】(3) 空カセットの搬送が手作業で行われて
いるため、洗浄工程の完全な自動化が不可能であるとと
もに、空カセットの保管も人手で行わねばならず多くの
手間がかかり、しかも、ウェハの工程履歴の管理も作業
者が常に監視していなければならず、信頼性の点で不十
分である。
いるため、洗浄工程の完全な自動化が不可能であるとと
もに、空カセットの保管も人手で行わねばならず多くの
手間がかかり、しかも、ウェハの工程履歴の管理も作業
者が常に監視していなければならず、信頼性の点で不十
分である。
【0010】本発明はかかる従来の問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その目的とするところは、限られた
洗浄室空間を有効利用するとともに、洗浄工程を完全自
動化して、ウェハの工程履歴管理等も自動で確実に行う
ことができる基板洗浄システムを提供することにある。
れたものであって、その目的とするところは、限られた
洗浄室空間を有効利用するとともに、洗浄工程を完全自
動化して、ウェハの工程履歴管理等も自動で確実に行う
ことができる基板洗浄システムを提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の基板洗浄システムは、前工程からキャリア
カセットに収納されて搬入される基板を、基板搬送処理
装置に移し替えてカセットレスで洗浄処理を行った後、
再び搬入時と同一のキャリアカセットに戻して次工程へ
搬出する方式の基板洗浄装置であって、装置搬入側に配
置され、基板をキャリアカセットから上記基板搬送処理
装置に移し替えるローダ装置を備える基板搬入部と、こ
の基板搬入部に隣接して配置され、複数の洗浄槽からな
る洗浄槽列およびこれら洗浄槽の配設方向へ移動可能な
上記基板搬送処理装置を備える洗浄部と、この洗浄部の
搬出側に隣接して配置され、洗浄処理が終了した基板を
上記基板搬送処理装置からキャリアカセットに移し替え
るアンローダ装置を備える基板搬出部と、この基板搬入
部と上記基板搬出部の間に配置されて、基板が取り出さ
れた空のキャリアカセットを搬送するカセット搬送装置
を備えるカセット搬送部と、上記ローダ装置、基板搬送
処理装置、アンローダ装置およびカセット搬送装置を互
いに同期させて駆動制御する駆動制御部とを備え、上記
洗浄部は、複数の洗浄槽からなる洗浄槽列が2列平行に
並設されてなり、これら両洗浄槽列の一端側がそれぞれ
オペレータゾーンに面して設けられるとともに、両洗浄
槽列の他端側間に基板移送部が設けられ、これにより、
基板の洗浄経路は、一方の洗浄槽列のオペレータゾーン
側端からオペレータゾーン反対側端へ進むとともに、他
方の洗浄槽列のオペレータゾーン反対側端からオペレー
タゾーン側端へ進むように構成されていることを特徴と
する。
め、本発明の基板洗浄システムは、前工程からキャリア
カセットに収納されて搬入される基板を、基板搬送処理
装置に移し替えてカセットレスで洗浄処理を行った後、
再び搬入時と同一のキャリアカセットに戻して次工程へ
搬出する方式の基板洗浄装置であって、装置搬入側に配
置され、基板をキャリアカセットから上記基板搬送処理
装置に移し替えるローダ装置を備える基板搬入部と、こ
の基板搬入部に隣接して配置され、複数の洗浄槽からな
る洗浄槽列およびこれら洗浄槽の配設方向へ移動可能な
上記基板搬送処理装置を備える洗浄部と、この洗浄部の
搬出側に隣接して配置され、洗浄処理が終了した基板を
上記基板搬送処理装置からキャリアカセットに移し替え
るアンローダ装置を備える基板搬出部と、この基板搬入
部と上記基板搬出部の間に配置されて、基板が取り出さ
れた空のキャリアカセットを搬送するカセット搬送装置
を備えるカセット搬送部と、上記ローダ装置、基板搬送
処理装置、アンローダ装置およびカセット搬送装置を互
いに同期させて駆動制御する駆動制御部とを備え、上記
洗浄部は、複数の洗浄槽からなる洗浄槽列が2列平行に
並設されてなり、これら両洗浄槽列の一端側がそれぞれ
オペレータゾーンに面して設けられるとともに、両洗浄
槽列の他端側間に基板移送部が設けられ、これにより、
基板の洗浄経路は、一方の洗浄槽列のオペレータゾーン
側端からオペレータゾーン反対側端へ進むとともに、他
方の洗浄槽列のオペレータゾーン反対側端からオペレー
タゾーン側端へ進むように構成されていることを特徴と
する。
【0012】また、本発明の基板洗浄システムにおける
洗浄部は、複数の洗浄槽が上記基板搬入部から基板搬出
部まで一直線上に配置されてなり、上記基板搬入部がオ
ペレータゾーンと反対側に配置される一方、上記基板搬
出部がオペレータゾーンに面して配置され、上記洗浄部
の上方のシステム天井部に、オペレータゾーンから搬入
される基板入りキャリアカセットを上記基板搬入部へ移
送する基板移送部と、上記カセット搬送部が設けられて
いる構成としてもよい。
洗浄部は、複数の洗浄槽が上記基板搬入部から基板搬出
部まで一直線上に配置されてなり、上記基板搬入部がオ
ペレータゾーンと反対側に配置される一方、上記基板搬
出部がオペレータゾーンに面して配置され、上記洗浄部
の上方のシステム天井部に、オペレータゾーンから搬入
される基板入りキャリアカセットを上記基板搬入部へ移
送する基板移送部と、上記カセット搬送部が設けられて
いる構成としてもよい。
【0013】本発明においては、前工程からキャリアカ
セットに収納されて搬入される基板は、基板搬入部で基
板搬送処理装置に移し替えられて、洗浄槽列の一端部か
ら複数の洗浄槽に順次自動で浸漬される。また、これと
並行して、上記基板搬入部で上記基板が取り出された空
のキャリアカセットは、上記洗浄槽列の他端側の基板搬
出部へ搬送され、この基板搬出部において、自動洗浄処
理が完了した上記基板が、上記基板搬送処理装置から搬
入時と同一のキャリアカセットに再び移し替えられ、次
工程へ搬出される。 すなわち、本発明では、基板搬送処
理装置により基板を洗浄処理している間に、このウェハ
が取り出されて空になったキャリアカセットを基板搬出
部へ自動で搬送待機させ、洗浄処理が完了したウェハを
再びこの搬入時に用いたキャリアカセットに収納して次
工程へ搬出する。これにより、搬送用カセットを効率良
く活用して、その必要個数を少なくするとともに、搬送
用カセットの搬送処理を自動化・効率化してその保管ス
ペースも不要とする。さらに、これらの洗浄工程を完全
自動化することにより、基板の工程履歴管理等も自動で
確実に行う。
セットに収納されて搬入される基板は、基板搬入部で基
板搬送処理装置に移し替えられて、洗浄槽列の一端部か
ら複数の洗浄槽に順次自動で浸漬される。また、これと
並行して、上記基板搬入部で上記基板が取り出された空
のキャリアカセットは、上記洗浄槽列の他端側の基板搬
出部へ搬送され、この基板搬出部において、自動洗浄処
理が完了した上記基板が、上記基板搬送処理装置から搬
入時と同一のキャリアカセットに再び移し替えられ、次
工程へ搬出される。 すなわち、本発明では、基板搬送処
理装置により基板を洗浄処理している間に、このウェハ
が取り出されて空になったキャリアカセットを基板搬出
部へ自動で搬送待機させ、洗浄処理が完了したウェハを
再びこの搬入時に用いたキャリアカセットに収納して次
工程へ搬出する。これにより、搬送用カセットを効率良
く活用して、その必要個数を少なくするとともに、搬送
用カセットの搬送処理を自動化・効率化してその保管ス
ペースも不要とする。さらに、これらの洗浄工程を完全
自動化することにより、基板の工程履歴管理等も自動で
確実に行う。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面に基づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
【0015】実施例1 本発明に係る基板洗浄システムを図1および図2に示
し、この基板洗浄システムは、複数枚(本例においては
50枚)のウェハW,W,…をカセットレスで一括して
行うバッチ式のものであって、基板搬入部A、洗浄部
B、基板搬出部C、カセット搬送部Dおよび制御装置
(駆動制御部)Eを主要部として備えてなる。
し、この基板洗浄システムは、複数枚(本例においては
50枚)のウェハW,W,…をカセットレスで一括して
行うバッチ式のものであって、基板搬入部A、洗浄部
B、基板搬出部C、カセット搬送部Dおよび制御装置
(駆動制御部)Eを主要部として備えてなる。
【0016】基板搬入部AはウェハW,W,…が前工程
から搬入される部位で、洗浄部Bの搬入側に配置され、
タクト送り機構1(図3参照)とローダ装置2を備え
る。
から搬入される部位で、洗浄部Bの搬入側に配置され、
タクト送り機構1(図3参照)とローダ装置2を備え
る。
【0017】タクト送り機構1は、経路(1),(2) と経路
(10)の部位に配置されており、例えば、図3に示すよう
に、水平方向へ延びて設けられた走行用のラック5a、
このラック5a上にピニオン5bを介して自走可能に装
置された駆動モータ6、およびこの駆動モータ6上に上
向きに設けられたシリンダ装置7を備えてなる。
(10)の部位に配置されており、例えば、図3に示すよう
に、水平方向へ延びて設けられた走行用のラック5a、
このラック5a上にピニオン5bを介して自走可能に装
置された駆動モータ6、およびこの駆動モータ6上に上
向きに設けられたシリンダ装置7を備えてなる。
【0018】そして、一方のキャリア置台8a上のキャ
リアカセット3を、シリンダ装置7が突き上げて上昇さ
せ、この状態のまま駆動モータ6が他方のキャリア置台
8bまで自走し、続いてシリンダ装置7が再びキャリア
カセット3を下降させてこのキャリア置台8b上に載置
した後、駆動モータ6が再びキャリア置台8aの位置ま
で自走復帰し、以後の動作(図3の矢符Xのサイクル)
を繰り返すように構成されている。
リアカセット3を、シリンダ装置7が突き上げて上昇さ
せ、この状態のまま駆動モータ6が他方のキャリア置台
8bまで自走し、続いてシリンダ装置7が再びキャリア
カセット3を下降させてこのキャリア置台8b上に載置
した後、駆動モータ6が再びキャリア置台8aの位置ま
で自走復帰し、以後の動作(図3の矢符Xのサイクル)
を繰り返すように構成されている。
【0019】前工程から搬入されて来るウェハ入りキャ
リアカセット3,3,…は、タクト送り機構1により矢
符(1) 方向へ所定間隔をもってタクト送りされた後、矢
符(2) 方向へタクト送りされて、2つ並列される。な
お、本例においては、一つのキャリアカセット3に25
枚のウェハW,W,…が収納されている。
リアカセット3,3,…は、タクト送り機構1により矢
符(1) 方向へ所定間隔をもってタクト送りされた後、矢
符(2) 方向へタクト送りされて、2つ並列される。な
お、本例においては、一つのキャリアカセット3に25
枚のウェハW,W,…が収納されている。
【0020】ローダ装置2は、キャリアカセット3から
ウェハW,W,…を洗浄部Bの基板搬送処理装置10に
移し替えるもので、図示しないが、キャリアカセット3
内のウェハW,W,…を突き上げる突上げ機構、この突
き上げられたウェハW,W,…をまとめてチャックする
一対のチャッキングアームなどを備えてなる。
ウェハW,W,…を洗浄部Bの基板搬送処理装置10に
移し替えるもので、図示しないが、キャリアカセット3
内のウェハW,W,…を突き上げる突上げ機構、この突
き上げられたウェハW,W,…をまとめてチャックする
一対のチャッキングアームなどを備えてなる。
【0021】そして、このチャッキングアームが、上記
のように並列した二つのキャリアカセット3,3からウ
ェハW,W,…(本例においては25枚ずつ)を取り出
して、二つのウェハ置台9a,9b上にそれぞれ載置す
る(矢符(3))。ウェハW,W,…が取り出された空のキ
ャリアカセット(空カセット)3´,3´、…は、上記
タクト送り機構1により矢符(10)の経路でカセット搬送
部Dへタクト送りされる。
のように並列した二つのキャリアカセット3,3からウ
ェハW,W,…(本例においては25枚ずつ)を取り出
して、二つのウェハ置台9a,9b上にそれぞれ載置す
る(矢符(3))。ウェハW,W,…が取り出された空のキ
ャリアカセット(空カセット)3´,3´、…は、上記
タクト送り機構1により矢符(10)の経路でカセット搬送
部Dへタクト送りされる。
【0022】上記ウェハ置台9a,9bは、その一方9
bが他方9aへ接近可能とされて、この接近状態で、基
板搬送処理装置10を待機するように構成されている。
bが他方9aへ接近可能とされて、この接近状態で、基
板搬送処理装置10を待機するように構成されている。
【0023】洗浄部Bは、高清浄度雰囲気に維持される
洗浄室内に、上記基板搬送処理装置10と、2列平行に
並設された左右一対の洗浄槽列11,12とを備えてな
り、これら両洗浄槽列11,12の一端側はそれぞれオ
ペレータゾーンOに面するように配設されるとともに、
両洗浄槽列11,12の他端側間に基板移送部13が設
けられている。
洗浄室内に、上記基板搬送処理装置10と、2列平行に
並設された左右一対の洗浄槽列11,12とを備えてな
り、これら両洗浄槽列11,12の一端側はそれぞれオ
ペレータゾーンOに面するように配設されるとともに、
両洗浄槽列11,12の他端側間に基板移送部13が設
けられている。
【0024】つまり、ウェハW,W,…の洗浄経路は、
搬入側の洗浄槽列11のオペレータゾーンO側端からオ
ペレータゾーンO反対側端へ進むとともに、搬出側の洗
浄槽列12のオペレータゾーンO反対側端からオペレー
タゾーンO側端へ進むように構成されている。
搬入側の洗浄槽列11のオペレータゾーンO側端からオ
ペレータゾーンO反対側端へ進むとともに、搬出側の洗
浄槽列12のオペレータゾーンO反対側端からオペレー
タゾーンO側端へ進むように構成されている。
【0025】搬入側の洗浄槽列11は、複数の洗浄槽を
備えるとともに、これら洗浄槽の側部に、上記基板搬送
処理装置10が配設されている。
備えるとともに、これら洗浄槽の側部に、上記基板搬送
処理装置10が配設されている。
【0026】図示例においては5つの洗浄槽11a〜1
1eが設けられており、具体的には、洗浄槽11aは基
板搬送処理装置10のチャッキングアームを洗浄するチ
ャック洗浄槽、洗浄槽11bおよび洗浄槽11cは硫酸
(H2 SO4 )と過酸化水素水(H2 02 )が満たされ
ている洗浄槽、洗浄槽11dは60℃程度の温かい純水
が満たされている純水槽、ならびに洗浄槽11eは基板
移送部13へのウェハWの受渡しを行う受渡し水槽であ
る。
1eが設けられており、具体的には、洗浄槽11aは基
板搬送処理装置10のチャッキングアームを洗浄するチ
ャック洗浄槽、洗浄槽11bおよび洗浄槽11cは硫酸
(H2 SO4 )と過酸化水素水(H2 02 )が満たされ
ている洗浄槽、洗浄槽11dは60℃程度の温かい純水
が満たされている純水槽、ならびに洗浄槽11eは基板
移送部13へのウェハWの受渡しを行う受渡し水槽であ
る。
【0027】また、上記基板搬送処理装置10は、基板
搬入部Aでキャリアカセット3から取り出されたウェハ
W,W,…をカセットレスで搬送処理する構造とされ、
上記洗浄槽11a〜11eの配列方向(矢符(4) 方向)
へ平行に往復移動可能とされている。この基板搬送処理
装置10の具体的構造は、上記ローダ装置2と同様、ウ
ェハW,W,…をチャックする一対のチャッキングアー
ムなどを備えてなり、このチャッキングアームは、上記
両ウェハ置台9a,9b上のウェハW,W,…(本例に
おいては50枚)をまとめてチャック支持する構造を備
える。
搬入部Aでキャリアカセット3から取り出されたウェハ
W,W,…をカセットレスで搬送処理する構造とされ、
上記洗浄槽11a〜11eの配列方向(矢符(4) 方向)
へ平行に往復移動可能とされている。この基板搬送処理
装置10の具体的構造は、上記ローダ装置2と同様、ウ
ェハW,W,…をチャックする一対のチャッキングアー
ムなどを備えてなり、このチャッキングアームは、上記
両ウェハ置台9a,9b上のウェハW,W,…(本例に
おいては50枚)をまとめてチャック支持する構造を備
える。
【0028】上記搬入側洗浄槽列11に続く基板移送部
13は、この搬入側浄槽列11から搬出側洗浄槽列12
へウェハW,W,…を移送する部位で、基板移送装置1
5を備えてなる。この基板移送装置15は、搬入側洗浄
槽列11の受渡し槽11eから搬出側洗浄槽列12の受
渡し槽12aへウェハW,W,…を移送するためのもの
で(矢符(5) 方向)、その具体的構造は上記基板搬送処
理装置10とほぼ同様とされ、両受渡し槽11e,12
a間を往復移動可能とされている。
13は、この搬入側浄槽列11から搬出側洗浄槽列12
へウェハW,W,…を移送する部位で、基板移送装置1
5を備えてなる。この基板移送装置15は、搬入側洗浄
槽列11の受渡し槽11eから搬出側洗浄槽列12の受
渡し槽12aへウェハW,W,…を移送するためのもの
で(矢符(5) 方向)、その具体的構造は上記基板搬送処
理装置10とほぼ同様とされ、両受渡し槽11e,12
a間を往復移動可能とされている。
【0029】搬出側洗浄槽列12は、前述した搬入側洗
浄槽列11と同様、複数の洗浄槽を備えるとともに、こ
れら洗浄槽の側部に、基板搬送処理装置10が配設され
ている。図示例においては4つの洗浄槽12a〜12d
とスピンドライヤ12eが設けられてなる。
浄槽列11と同様、複数の洗浄槽を備えるとともに、こ
れら洗浄槽の側部に、基板搬送処理装置10が配設され
ている。図示例においては4つの洗浄槽12a〜12d
とスピンドライヤ12eが設けられてなる。
【0030】具体的には、洗浄槽12aは、基板移送部
13からのウェハWの受渡しを行う受渡し槽、洗浄槽1
2bは、SC−1液(アンモニア水(NH4 OH)と過
酸化水素水(H2 02 )と純水)が満たされているスタ
ンダード・クリーニング槽、洗浄槽12cは60℃程度
の温かい純水が満たされている純水槽、洗浄槽11dは
最後にウェハW,W,…を濯ぐファイナル・リンス槽で
あり、またスピンドライヤ12eは、ウェハW,W,…
をスピンさせて水を遠心分離しながら乾燥させる乾燥部
として機能する。
13からのウェハWの受渡しを行う受渡し槽、洗浄槽1
2bは、SC−1液(アンモニア水(NH4 OH)と過
酸化水素水(H2 02 )と純水)が満たされているスタ
ンダード・クリーニング槽、洗浄槽12cは60℃程度
の温かい純水が満たされている純水槽、洗浄槽11dは
最後にウェハW,W,…を濯ぐファイナル・リンス槽で
あり、またスピンドライヤ12eは、ウェハW,W,…
をスピンさせて水を遠心分離しながら乾燥させる乾燥部
として機能する。
【0031】また、上記基板搬送処理装置10は前述し
た基本構造を備え、図示しないが、具体的には3台の基
板搬送処理装置10a〜10cが配置されており、基板
搬送処理装置10aが受渡し槽12aから純水槽12c
までの搬送処理を行い、基板搬送処理装置10bが純水
槽12cからスピンドライヤ12eまでの搬送処理を行
い、また、基板搬送処理装置10cがスピンドライヤ1
2eから基板搬出部Cまでの搬送処理を行う構成とされ
ている。
た基本構造を備え、図示しないが、具体的には3台の基
板搬送処理装置10a〜10cが配置されており、基板
搬送処理装置10aが受渡し槽12aから純水槽12c
までの搬送処理を行い、基板搬送処理装置10bが純水
槽12cからスピンドライヤ12eまでの搬送処理を行
い、また、基板搬送処理装置10cがスピンドライヤ1
2eから基板搬出部Cまでの搬送処理を行う構成とされ
ている。
【0032】これら基板搬送処理装置10a〜10c
は、上記洗浄槽12a〜12dおよびスピンドライヤ1
2eの配列方向(矢符(6) 方向)へ平行に移動可能とさ
れているとともに、相互に同期して連動するように駆動
制御され、これにより、受渡し槽12aで受け取ったウ
ェハW,W,…を、順次上記12b〜12dに浸漬させ
た後スピンドライヤ12eで乾燥処理させた後、基板搬
出部Cの二つのウェハ置台19a,19b上に載置する
(矢符(7))。
は、上記洗浄槽12a〜12dおよびスピンドライヤ1
2eの配列方向(矢符(6) 方向)へ平行に移動可能とさ
れているとともに、相互に同期して連動するように駆動
制御され、これにより、受渡し槽12aで受け取ったウ
ェハW,W,…を、順次上記12b〜12dに浸漬させ
た後スピンドライヤ12eで乾燥処理させた後、基板搬
出部Cの二つのウェハ置台19a,19b上に載置する
(矢符(7))。
【0033】これらウェハ置台19a,19bは、その
一方19bが他方19aから離隔可能とされて、この離
隔状態で、基板搬出部Cのアンローダ装置20を待機す
るように構成されている。
一方19bが他方19aから離隔可能とされて、この離
隔状態で、基板搬出部Cのアンローダ装置20を待機す
るように構成されている。
【0034】基板搬出部CはウェハW,W,…が次工程
へ搬出される部位で、上記搬出側洗浄槽列12の搬出側
に配置され、アンローダ装置20とタクト送り機構1
(図3参照)を備える。
へ搬出される部位で、上記搬出側洗浄槽列12の搬出側
に配置され、アンローダ装置20とタクト送り機構1
(図3参照)を備える。
【0035】アンローダ装置20は、洗浄部Bの搬出側
基板搬送処理装置10cからウェハW,W,…を空カセ
ット3´に移し替えるもので、前述したローダ装置2と
同様の基本構造を備えてなる。
基板搬送処理装置10cからウェハW,W,…を空カセ
ット3´に移し替えるもので、前述したローダ装置2と
同様の基本構造を備えてなる。
【0036】そして、このアンローダ装置20のチャッ
キングアームは、上記のように離隔して並列した二つの
ウェハ置台19a,19b上からウェハW,W,…(本
例においては25枚ずつ)を持ち上げて、二つの空カセ
ット3´,3´内の突き上げ機構上にそれぞれ載置した
後、これら突き上げ機構が下降して、ウェハW,W,…
が空カセット3´,3´内に収納される(矢符(8))。
キングアームは、上記のように離隔して並列した二つの
ウェハ置台19a,19b上からウェハW,W,…(本
例においては25枚ずつ)を持ち上げて、二つの空カセ
ット3´,3´内の突き上げ機構上にそれぞれ載置した
後、これら突き上げ機構が下降して、ウェハW,W,…
が空カセット3´,3´内に収納される(矢符(8))。
【0037】これら空カセット3´,3´は、後述する
ように、カセット搬送部Dを介して矢符(10),(11),(12)
の経路で連続的に搬送されてきた洗浄処理済みのもの
で、上記ウェハW,W,…が搬入時に収納されていたの
とそれぞれ同一のものである。
ように、カセット搬送部Dを介して矢符(10),(11),(12)
の経路で連続的に搬送されてきた洗浄処理済みのもの
で、上記ウェハW,W,…が搬入時に収納されていたの
とそれぞれ同一のものである。
【0038】タクト送り機構1は前述したような基本構
造を備え、上記経路(12)の部位と経路(8)(9)の部位に配
置されている。経路(12)(8) においては、後述するカセ
ット搬送部Dから供給される洗浄済み空カセット3´,
3´を上記ウェハ置台19a,19bの隣接位置へタク
ト送りする。これら空カセット3´,3´には、前述の
ごとく、アンローダ装置20によりウェハW,W,…が
収納される。このウェハW,W,…が収納されたキャリ
アカセット3,3,…は、タクト送り機構1により矢符
(9) の経路でタクト送りされて、次工程へ搬出される。
造を備え、上記経路(12)の部位と経路(8)(9)の部位に配
置されている。経路(12)(8) においては、後述するカセ
ット搬送部Dから供給される洗浄済み空カセット3´,
3´を上記ウェハ置台19a,19bの隣接位置へタク
ト送りする。これら空カセット3´,3´には、前述の
ごとく、アンローダ装置20によりウェハW,W,…が
収納される。このウェハW,W,…が収納されたキャリ
アカセット3,3,…は、タクト送り機構1により矢符
(9) の経路でタクト送りされて、次工程へ搬出される。
【0039】カセット搬送部Dは基板搬入部Aから基板
搬出部Cへ空カセット3´を搬送する部位で、これら基
板搬入部Aと基板搬出部Cとを連結している。また、こ
のカセット搬送部Dは、カセット搬送装置25を備える
とともに、その移送経路(11)の中途箇所にはカセット洗
浄槽26が設けられている。
搬出部Cへ空カセット3´を搬送する部位で、これら基
板搬入部Aと基板搬出部Cとを連結している。また、こ
のカセット搬送部Dは、カセット搬送装置25を備える
とともに、その移送経路(11)の中途箇所にはカセット洗
浄槽26が設けられている。
【0040】カセット搬送装置25は、前記基板搬送処
理装置10と同様、矢符(11)の経路に沿って往復移動可
能とされるとともに、空カセット3´をチャックする一
対のチャッキングアームなどを備えてなる。そして、こ
れらチャッキングアームは、基板搬入部AでウェハW,
W,…が取り出された空カセット3´をチャックし、カ
セット洗浄槽26に浸漬して洗浄処理を施した後、上記
基板搬出部Cへ搬送する。
理装置10と同様、矢符(11)の経路に沿って往復移動可
能とされるとともに、空カセット3´をチャックする一
対のチャッキングアームなどを備えてなる。そして、こ
れらチャッキングアームは、基板搬入部AでウェハW,
W,…が取り出された空カセット3´をチャックし、カ
セット洗浄槽26に浸漬して洗浄処理を施した後、上記
基板搬出部Cへ搬送する。
【0041】この場合のサイクルタイムは、上記洗浄部
Bにおけるサイクルタイムと同期されて、前述のごと
く、空カセット(キャリアカセット)3´,3´には、
前工程からの搬入時に収納していたのと同一のウェハ
W,W,…が再び基板搬出部Cで収納されるように制御
される。
Bにおけるサイクルタイムと同期されて、前述のごと
く、空カセット(キャリアカセット)3´,3´には、
前工程からの搬入時に収納していたのと同一のウェハ
W,W,…が再び基板搬出部Cで収納されるように制御
される。
【0042】制御装置Eは、前記タクト送り機構1、ロ
ーダ装置2、基板搬送処理装置10、アンローダ装置2
0およびカセット搬送装置25などを互いに同期して駆
動制御するもので、この制御装置Eにより、以下の洗浄
処理工程がウェハW,W,…の搬入時から搬出時まで全
自動で行われることとなる。
ーダ装置2、基板搬送処理装置10、アンローダ装置2
0およびカセット搬送装置25などを互いに同期して駆
動制御するもので、この制御装置Eにより、以下の洗浄
処理工程がウェハW,W,…の搬入時から搬出時まで全
自動で行われることとなる。
【0043】A.ウェハW,W,…の搬入: 前工程の終了したウェハW,W,…はキャリアカセ
ット3内に収納された状態で、図示しない無人搬送車
(AGV)や搬入コンベア等の自動搬入手段あるいはオ
ペレータにより手作業で基板搬入部Aに搬入される。 搬入されたキャリアカセット3,3,…は、タクト
送り機構1により前述のごとく順次矢符(1),(2) の経路
でタクト送りされて、二つ並列に配置される。 これら両キャリアカセット3,3のウェハW,W,
…は、ローダ装置2により、洗浄部Bの基板搬送処理装
置10に移し替えられる(矢符(3) 参照) 。 一方、ウェハW,W,…が取り出された空カセット
3´は、タクト機構1によりカセット搬送部Dへ送られ
る(矢符(10)参照) 。
ット3内に収納された状態で、図示しない無人搬送車
(AGV)や搬入コンベア等の自動搬入手段あるいはオ
ペレータにより手作業で基板搬入部Aに搬入される。 搬入されたキャリアカセット3,3,…は、タクト
送り機構1により前述のごとく順次矢符(1),(2) の経路
でタクト送りされて、二つ並列に配置される。 これら両キャリアカセット3,3のウェハW,W,
…は、ローダ装置2により、洗浄部Bの基板搬送処理装
置10に移し替えられる(矢符(3) 参照) 。 一方、ウェハW,W,…が取り出された空カセット
3´は、タクト機構1によりカセット搬送部Dへ送られ
る(矢符(10)参照) 。
【0044】B.ウェハW,W,…の洗浄: 搬入側の基板搬送処理装置10にカセットレスで保
持されたウェハW,W,…は、各洗浄槽11a〜11d
に順次浸漬されて洗浄処理が施された後、受渡し水槽1
1eに浸漬される(矢符(4) 参照) 。 この受渡し水槽11e内に待機するウェハW,W,
…は、基板移送装置15により搬出側の受渡し槽12a
内へ移送され、ここで基板搬送処理装置10(具体的に
は前述したように3台の基板搬送処理装置10a,10
b,10cを備える)に受け渡される(矢符(5) 参照)
。 基板搬送処理装置2によりカセットレスで保持され
たウェハW,W,…は、今度は搬出側洗浄槽列12の各
洗浄槽12b〜12dに順次浸漬されて洗浄処理が施さ
れ、続いてスピンドライヤ12eで乾燥処理された後、
基板搬出部Cへ搬送される(矢符(6) 参照) 。
持されたウェハW,W,…は、各洗浄槽11a〜11d
に順次浸漬されて洗浄処理が施された後、受渡し水槽1
1eに浸漬される(矢符(4) 参照) 。 この受渡し水槽11e内に待機するウェハW,W,
…は、基板移送装置15により搬出側の受渡し槽12a
内へ移送され、ここで基板搬送処理装置10(具体的に
は前述したように3台の基板搬送処理装置10a,10
b,10cを備える)に受け渡される(矢符(5) 参照)
。 基板搬送処理装置2によりカセットレスで保持され
たウェハW,W,…は、今度は搬出側洗浄槽列12の各
洗浄槽12b〜12dに順次浸漬されて洗浄処理が施さ
れ、続いてスピンドライヤ12eで乾燥処理された後、
基板搬出部Cへ搬送される(矢符(6) 参照) 。
【0045】C.空カセット3´,3´,…の搬送:カ
セット搬送部Dへ送られた空カセット3´は、これから
取り出されたウェハW,W,…の洗浄処理工程と並行し
て、カセット搬送装置25により、カセット洗浄槽26
に浸漬して洗浄処理が施された後、上記基板搬出部Cへ
搬送される(矢符(11)参照) 。
セット搬送部Dへ送られた空カセット3´は、これから
取り出されたウェハW,W,…の洗浄処理工程と並行し
て、カセット搬送装置25により、カセット洗浄槽26
に浸漬して洗浄処理が施された後、上記基板搬出部Cへ
搬送される(矢符(11)参照) 。
【0046】D.ウェハW,W,…の搬出: 両洗浄槽列11,12での洗浄工程が終了したウェ
ハW,W,…は、基板搬出部Cにおいて、アンローダ装
置20により、前述のごとく基板搬送処理装置10から
洗浄済みの空カセット3´,3´に移し替えられる(矢
符(7)(8)参照) 。この場合に収納される空カセット3´
は、上記ウェハW,W,…が搬入時に収納されていたも
のであって、前述のごとくカセット搬送部Dを通って基
板搬出部Cへ予め搬送され、ここで上記ウェハW,W,
…の洗浄工程が終了するのを待機している(矢符(10)(1
1)(12)(8) 参照)。 ウェハW,W,…を収納したキャリアカセット3,
3,…は、タクト送り機構1により矢符(9) の経路でタ
クト送りされるとともに、図示しないAGVや搬出コン
ベア等の搬出手段により次の工程へ向けて搬送される。
ハW,W,…は、基板搬出部Cにおいて、アンローダ装
置20により、前述のごとく基板搬送処理装置10から
洗浄済みの空カセット3´,3´に移し替えられる(矢
符(7)(8)参照) 。この場合に収納される空カセット3´
は、上記ウェハW,W,…が搬入時に収納されていたも
のであって、前述のごとくカセット搬送部Dを通って基
板搬出部Cへ予め搬送され、ここで上記ウェハW,W,
…の洗浄工程が終了するのを待機している(矢符(10)(1
1)(12)(8) 参照)。 ウェハW,W,…を収納したキャリアカセット3,
3,…は、タクト送り機構1により矢符(9) の経路でタ
クト送りされるとともに、図示しないAGVや搬出コン
ベア等の搬出手段により次の工程へ向けて搬送される。
【0047】しかして、以上のように、ウェハW,W,
…の搬入時に使用したキャリアカセット3を搬出時にお
いても活用することにより、必要なキャリアカセット数
が少なく、しかも、空カセット3´,3´,…の搬送も
自動で効率良く行うことにより、その保管スペースも不
要で、システム構成がコンパクトに納められている。
…の搬入時に使用したキャリアカセット3を搬出時にお
いても活用することにより、必要なキャリアカセット数
が少なく、しかも、空カセット3´,3´,…の搬送も
自動で効率良く行うことにより、その保管スペースも不
要で、システム構成がコンパクトに納められている。
【0048】また、ウェハW,W,…の移し替え作業が
ローダ装置2およびアンローダ装置25により自動的に
行われて、システム全体の完全な自動化が実現してい
る。しかも、搬出時にウェハW,W,…が収納されるキ
ャリアカセット3が、搬入時に収納されていたのと同一
になるようにシステム全体が駆動制御されるため、ウェ
ハW,W,…の保管・管理、さらにはその工程履歴の管
理も自動で確実に行われる。
ローダ装置2およびアンローダ装置25により自動的に
行われて、システム全体の完全な自動化が実現してい
る。しかも、搬出時にウェハW,W,…が収納されるキ
ャリアカセット3が、搬入時に収納されていたのと同一
になるようにシステム全体が駆動制御されるため、ウェ
ハW,W,…の保管・管理、さらにはその工程履歴の管
理も自動で確実に行われる。
【0049】さらに、ウェハW,W,…の洗浄経路が、
搬入側の洗浄槽列11のオペレータゾーンO側端からオ
ペレータゾーンO反対側端へ、さらに搬出側の洗浄槽列
12のオペレータゾーンO反対側端からオペレータゾー
ンO側端へとほぼU字形状に構成されており、基板洗浄
システムの全体構成が、上記システム構成のコンパクト
化と相まって、間口が狭くかつ奥行きが長い縦長形状と
される。
搬入側の洗浄槽列11のオペレータゾーンO側端からオ
ペレータゾーンO反対側端へ、さらに搬出側の洗浄槽列
12のオペレータゾーンO反対側端からオペレータゾー
ンO側端へとほぼU字形状に構成されており、基板洗浄
システムの全体構成が、上記システム構成のコンパクト
化と相まって、間口が狭くかつ奥行きが長い縦長形状と
される。
【0050】したがって、複数台の基板洗浄システム
を、洗浄室内の作業者用通路に沿って縦長状態で設置す
る配列構造をとることが可能となり、限られた洗浄室空
間を有効に利用することできる。この結果、作業者用オ
ペレータゾーンOつまり作業者の作業範囲を小さくし
て、作業負担を減少することができ、一方、これと逆に
従来狭過ぎたユーティリティゾーンを広く確保して、こ
の部位のメンテナンスを容易に行うことができる。
を、洗浄室内の作業者用通路に沿って縦長状態で設置す
る配列構造をとることが可能となり、限られた洗浄室空
間を有効に利用することできる。この結果、作業者用オ
ペレータゾーンOつまり作業者の作業範囲を小さくし
て、作業負担を減少することができ、一方、これと逆に
従来狭過ぎたユーティリティゾーンを広く確保して、こ
の部位のメンテナンスを容易に行うことができる。
【0051】実施例2 本例は図4および図5に示し、洗浄部Bとカセット搬送
部Dの相対的構成が、実施例1のような平面的構成から
立体的構成に改変されるとともに、基板搬入部Aがオペ
レータゾーンOと反対側に、また基板搬出部Cがオペレ
ータゾーンOに面して配置されてなるものである。
部Dの相対的構成が、実施例1のような平面的構成から
立体的構成に改変されるとともに、基板搬入部Aがオペ
レータゾーンOと反対側に、また基板搬出部Cがオペレ
ータゾーンOに面して配置されてなるものである。
【0052】すなわち、上記基板搬入部Aは、オペレー
タゾーンOに面した入口部A1 から、清浄度雰囲気に維
持されるシステム天井部Fの基板移送部A2 を通って、
出口部A3 へ続くように構成されている。具体的には、
上記入口部A1 、基板移送部A2 および出口部A3 の各
部位には、タクト送り機構1(図3参照)がそれぞれ配
置されるとともに、入口部A1 と基板移送部A2 との間
(経路(2) の部位)、およびこの基板移送部A2 と出口
部A3 との間(経路(4) の部位)には、昇降機構30
(図6参照)が配置されている。
タゾーンOに面した入口部A1 から、清浄度雰囲気に維
持されるシステム天井部Fの基板移送部A2 を通って、
出口部A3 へ続くように構成されている。具体的には、
上記入口部A1 、基板移送部A2 および出口部A3 の各
部位には、タクト送り機構1(図3参照)がそれぞれ配
置されるとともに、入口部A1 と基板移送部A2 との間
(経路(2) の部位)、およびこの基板移送部A2 と出口
部A3 との間(経路(4) の部位)には、昇降機構30
(図6参照)が配置されている。
【0053】この昇降機構30は、例えば、図6に示す
ように、上下方向へ延びて設けられた昇降用のラック3
5、このラック35上にピニオン36を介して昇降可能
に装置された駆動モータ37、およびこの駆動モータ3
7に取り付けられた支持台38を備えてなる。
ように、上下方向へ延びて設けられた昇降用のラック3
5、このラック35上にピニオン36を介して昇降可能
に装置された駆動モータ37、およびこの駆動モータ3
7に取り付けられた支持台38を備えてなる。
【0054】そして、入口部A1 と移送部A2 間におい
ては、駆動モータ37により、下側のキャリア置台8c
上のキャリアカセット3が、支持台38で支えられなが
ら上側のキャリア置台8dの上方まで上昇され、この後
下降されてこのキャリア置台8d上に載置されるととも
に、駆動モータ37が再び下側キャリア置台8cの位置
まで下降復帰して、以後この昇降動作が繰り返される。
一方、移送部A2 と出口部A3 間においてはこれと逆の
動作が繰り返される。
ては、駆動モータ37により、下側のキャリア置台8c
上のキャリアカセット3が、支持台38で支えられなが
ら上側のキャリア置台8dの上方まで上昇され、この後
下降されてこのキャリア置台8d上に載置されるととも
に、駆動モータ37が再び下側キャリア置台8cの位置
まで下降復帰して、以後この昇降動作が繰り返される。
一方、移送部A2 と出口部A3 間においてはこれと逆の
動作が繰り返される。
【0055】しかして、前工程から基板搬入部Aの入口
部A1 に搬入されて来るウェハ入りキャリアカセット
3,3,…は、タクト送り機構1により矢符(1) 方向へ
タクト送りされた後、昇降機構30によりシステム天井
部Fの基板移送部A2 へ上昇される(矢符(2) 参照)。
この基板移送部A2 へ送られたキャリアカセット3,
3,…は、さらにタクト送り機構1により矢符(3) の経
路をタクト送りされた後、昇降機構30によりオペレー
タゾーンOと反対側の出口部A3 へ下降される(矢符
(4) 参照)。
部A1 に搬入されて来るウェハ入りキャリアカセット
3,3,…は、タクト送り機構1により矢符(1) 方向へ
タクト送りされた後、昇降機構30によりシステム天井
部Fの基板移送部A2 へ上昇される(矢符(2) 参照)。
この基板移送部A2 へ送られたキャリアカセット3,
3,…は、さらにタクト送り機構1により矢符(3) の経
路をタクト送りされた後、昇降機構30によりオペレー
タゾーンOと反対側の出口部A3 へ下降される(矢符
(4) 参照)。
【0056】この出口部A3 にはローダ装置2が装置さ
れており、キャリアカセット3,3,…は、タクト送り
機構1により矢符(5) 方向へタクト送りされて2つ並列
された後、これら両キャリアカセット3,3内のウェハ
W,W,…が、実施例1と同様に、ローダ装置2により
二つのウェハ置台9a,9b上にそれぞれ載置される
(矢符(6))。ウェハW,W,…が取り出された空カセッ
ト3´,3´、…は、タクト送り機構1により矢符(10)
の経路でカセット搬送部Dへタクト送りされる。
れており、キャリアカセット3,3,…は、タクト送り
機構1により矢符(5) 方向へタクト送りされて2つ並列
された後、これら両キャリアカセット3,3内のウェハ
W,W,…が、実施例1と同様に、ローダ装置2により
二つのウェハ置台9a,9b上にそれぞれ載置される
(矢符(6))。ウェハW,W,…が取り出された空カセッ
ト3´,3´、…は、タクト送り機構1により矢符(10)
の経路でカセット搬送部Dへタクト送りされる。
【0057】また、本例の洗浄部Bは、高清浄度雰囲気
に維持される洗浄室内に、洗浄槽列40と、その側部に
配設された基板搬送処理装置10を備えてなる。
に維持される洗浄室内に、洗浄槽列40と、その側部に
配設された基板搬送処理装置10を備えてなる。
【0058】上記洗浄槽列40は、複数の洗浄槽が上記
基板搬入部Aから基板搬出部Cまで一直線上に配置され
てなり、図示例においては8つの洗浄槽40a〜40h
とスピンドライヤ40iが設けられてなる。
基板搬入部Aから基板搬出部Cまで一直線上に配置され
てなり、図示例においては8つの洗浄槽40a〜40h
とスピンドライヤ40iが設けられてなる。
【0059】具体的には、洗浄槽40aは基板搬送処理
装置10のチャッキングアームを洗浄するチャック洗浄
槽、洗浄槽40bはフッ酸(HF)が満たされている洗
浄槽、洗浄槽40cは純水が満たされている純水槽、洗
浄槽40d〜40fはリン酸(H3 PO4 ) が満たされ
ている洗浄槽、洗浄槽40gは60℃程度の温かい純水
が満たされている純水槽、洗浄槽40hは最後にウェハ
W,W,…を濯ぐファイナル・リンス槽であり、またス
ピンドライヤ40iは、ウェハW,W,…をスピンさせ
て水を遠心分離しながら乾燥させる乾燥部として機能す
る。
装置10のチャッキングアームを洗浄するチャック洗浄
槽、洗浄槽40bはフッ酸(HF)が満たされている洗
浄槽、洗浄槽40cは純水が満たされている純水槽、洗
浄槽40d〜40fはリン酸(H3 PO4 ) が満たされ
ている洗浄槽、洗浄槽40gは60℃程度の温かい純水
が満たされている純水槽、洗浄槽40hは最後にウェハ
W,W,…を濯ぐファイナル・リンス槽であり、またス
ピンドライヤ40iは、ウェハW,W,…をスピンさせ
て水を遠心分離しながら乾燥させる乾燥部として機能す
る。
【0060】カセット搬送部Dは、基板搬入部Aと平行
に延びて並設されるとともに、その構成も基板搬入部A
とほぼ同様とされ、動作経路(11)〜(15)のみが基板搬入
部Aの逆方向とされている。つまり、カセット搬送部D
においては、動作経路(11)〜(15)が、基板搬入部Aの出
口部A3 側から基板搬出部C側へと進むように構成され
ている。
に延びて並設されるとともに、その構成も基板搬入部A
とほぼ同様とされ、動作経路(11)〜(15)のみが基板搬入
部Aの逆方向とされている。つまり、カセット搬送部D
においては、動作経路(11)〜(15)が、基板搬入部Aの出
口部A3 側から基板搬出部C側へと進むように構成され
ている。
【0061】なお、カセット搬送部Dにおける空カセッ
ト3´,3´,…の搬送サイクルタイムは、実施例1と
同様、上記洗浄部Bにおけるサイクルタイムと同期され
て、前工程からの搬入時に収納していたウェハW,W,
…が再び基板搬出部Cで同一の空カセット(キャリアカ
セット)3´,3´に収納されるように制御される。
ト3´,3´,…の搬送サイクルタイムは、実施例1と
同様、上記洗浄部Bにおけるサイクルタイムと同期され
て、前工程からの搬入時に収納していたウェハW,W,
…が再び基板搬出部Cで同一の空カセット(キャリアカ
セット)3´,3´に収納されるように制御される。
【0062】しかして、以上のように構成された基板洗
浄システムにおいて、基板搬入部Aの入口部A1 に搬入
されたウェハ入りキャリアカセット3,3,…は、基板
移送部A2 を介して出口部A3 へ送られ(矢符(1)〜
(5) 参照)、ここで洗浄部Bの基板搬送処理装置10に
移し替えられるとともに(矢符(6) 参照) 、残りの空カ
セット3´はカセット搬送部Dへ送られる(矢符(10)参
照) 。
浄システムにおいて、基板搬入部Aの入口部A1 に搬入
されたウェハ入りキャリアカセット3,3,…は、基板
移送部A2 を介して出口部A3 へ送られ(矢符(1)〜
(5) 参照)、ここで洗浄部Bの基板搬送処理装置10に
移し替えられるとともに(矢符(6) 参照) 、残りの空カ
セット3´はカセット搬送部Dへ送られる(矢符(10)参
照) 。
【0063】基板搬送処理装置10に保持されたウェハ
W,W,…は、洗浄部Bの各洗浄槽40a〜40hに順
次浸漬されて洗浄処理が施され、続いてスピンドライヤ
40iで乾燥処理された後、基板搬出部Cへ搬送される
(矢符(7) 参照) 。
W,W,…は、洗浄部Bの各洗浄槽40a〜40hに順
次浸漬されて洗浄処理が施され、続いてスピンドライヤ
40iで乾燥処理された後、基板搬出部Cへ搬送される
(矢符(7) 参照) 。
【0064】一方、カセット搬送部Dへ送られた空カセ
ット3´は、洗浄部Bのウェハ洗浄処理工程と並行し
て、上記基板搬出部Cへ搬送される(矢符(11)〜(15)参
照) 。
ット3´は、洗浄部Bのウェハ洗浄処理工程と並行し
て、上記基板搬出部Cへ搬送される(矢符(11)〜(15)参
照) 。
【0065】洗浄部Bでの洗浄工程が終了したウェハ
W,W,…は、基板搬出部Cにおいて、基板搬送処理装
置10から空カセット3´,3´に移し替えられる(矢
符(8)参照) 。この場合に収納される空カセット3´
は、上記ウェハW,W,…が搬入時に収納されていたも
のであることは実施例1の場合と同様であり、ウェハ
W,W,…を収納したキャリアカセット3,3,…は、
矢符(9) の経路で次の工程へ向けて搬送される。
W,W,…は、基板搬出部Cにおいて、基板搬送処理装
置10から空カセット3´,3´に移し替えられる(矢
符(8)参照) 。この場合に収納される空カセット3´
は、上記ウェハW,W,…が搬入時に収納されていたも
のであることは実施例1の場合と同様であり、ウェハ
W,W,…を収納したキャリアカセット3,3,…は、
矢符(9) の経路で次の工程へ向けて搬送される。
【0066】以上洗浄システムにおける自動洗浄処理工
程のシーケンスを簡単に説明したが、その具体的構成お
よび動作等については実施例1の場合と同様である。
程のシーケンスを簡単に説明したが、その具体的構成お
よび動作等については実施例1の場合と同様である。
【0067】なお、本例の洗浄システム構成において
も、ウェハW,W,…の洗浄経路がオペレータゾーンO
と反対側からオペレータゾーンの側へと直線状に構成さ
れて、間口が狭くかつ奥行きが長い縦長形状とされてお
り、これにより、複数台の基板洗浄システムを、洗浄室
内の作業者用通路に沿って縦長状態で設置する配列構造
をとることが可能となり、限られた洗浄室空間を有効に
利用することできるなど実施例1と同様の効果が得られ
る。
も、ウェハW,W,…の洗浄経路がオペレータゾーンO
と反対側からオペレータゾーンの側へと直線状に構成さ
れて、間口が狭くかつ奥行きが長い縦長形状とされてお
り、これにより、複数台の基板洗浄システムを、洗浄室
内の作業者用通路に沿って縦長状態で設置する配列構造
をとることが可能となり、限られた洗浄室空間を有効に
利用することできるなど実施例1と同様の効果が得られ
る。
【0068】実施例3 本例は図7および図8に示し、本発明が、従来公知の洗
浄システム、つまり洗浄部B全体がオペレータゾーンO
に面して配置されてなるシステム構成に適用されたもの
で、洗浄部Bとカセット搬送部Dの相対的構成が実施例
2と同様な立体的構成とされている。
浄システム、つまり洗浄部B全体がオペレータゾーンO
に面して配置されてなるシステム構成に適用されたもの
で、洗浄部Bとカセット搬送部Dの相対的構成が実施例
2と同様な立体的構成とされている。
【0069】すなわち、上記基板搬入部A、洗浄部Bお
よび基板搬出部CがオペレータゾーンOに面するように
構成され、間口が広くかつ奥行きが短い横長形状とされ
ている点を除いて、実施例2とほとんど同様の基本構造
を備えている。
よび基板搬出部CがオペレータゾーンOに面するように
構成され、間口が広くかつ奥行きが短い横長形状とされ
ている点を除いて、実施例2とほとんど同様の基本構造
を備えている。
【0070】しかして、以上のように構成された基板洗
浄システムにおいて、基板搬入部Aに搬入されたウェハ
入りキャリアカセット3,3,…は、矢符(1) 方向へタ
クト送りされ、ここで洗浄部Bの基板搬送処理装置10
に移し替えられるとともに(矢符(2) 参照) 、残りの空
カセット3´はカセット搬送部Dへ送られる(矢符(6)
参照) 。
浄システムにおいて、基板搬入部Aに搬入されたウェハ
入りキャリアカセット3,3,…は、矢符(1) 方向へタ
クト送りされ、ここで洗浄部Bの基板搬送処理装置10
に移し替えられるとともに(矢符(2) 参照) 、残りの空
カセット3´はカセット搬送部Dへ送られる(矢符(6)
参照) 。
【0071】基板搬送処理装置10に保持されたウェハ
W,W,…は、洗浄部Bの各洗浄槽40a〜40hに順
次浸漬されて洗浄処理が施され、続いてスピンドライヤ
40iで乾燥処理された後、基板搬出部Cへ搬送される
(矢符(3) 参照) 。
W,W,…は、洗浄部Bの各洗浄槽40a〜40hに順
次浸漬されて洗浄処理が施され、続いてスピンドライヤ
40iで乾燥処理された後、基板搬出部Cへ搬送される
(矢符(3) 参照) 。
【0072】カセット搬送部Dへ送られた空カセット3
´は、洗浄部Bのウェハ洗浄処理工程と並行して、上記
基板搬出部Cへ搬送される(矢符(7) 〜(10)参照) 。
´は、洗浄部Bのウェハ洗浄処理工程と並行して、上記
基板搬出部Cへ搬送される(矢符(7) 〜(10)参照) 。
【0073】洗浄部Bでの洗浄工程が終了したウェハ
W,W,…は、基板搬出部Cにおいて、基板搬送処理装
置10から空カセット3´,3´に移し替えられる(矢
符(4)参照) 。この場合に、前記実施例1および実施例
2と同様、ウェハW,W,…が収納される空カセット3
´は、これらウェハW,W,…が搬入時に収納されてい
たものと同一である。ウェハW,W,…を収納したキャ
リアカセット3,3,…は、矢符(5) の経路で次の工程
へ向けて搬送される。その他の構成および作用は実施例
2と同様である。
W,W,…は、基板搬出部Cにおいて、基板搬送処理装
置10から空カセット3´,3´に移し替えられる(矢
符(4)参照) 。この場合に、前記実施例1および実施例
2と同様、ウェハW,W,…が収納される空カセット3
´は、これらウェハW,W,…が搬入時に収納されてい
たものと同一である。ウェハW,W,…を収納したキャ
リアカセット3,3,…は、矢符(5) の経路で次の工程
へ向けて搬送される。その他の構成および作用は実施例
2と同様である。
【0074】なお、以上の実施例1〜実施例3はあくま
でも本発明の好適な実施態様を示すためのものであっ
て、本発明はこれに限定して解釈されるべきでなく、本
発明の範囲内で種々設計変更可能である。
でも本発明の好適な実施態様を示すためのものであっ
て、本発明はこれに限定して解釈されるべきでなく、本
発明の範囲内で種々設計変更可能である。
【0075】例えば、図示例におけるタクト送り機構
1,ローダ装置2,基板搬送処理装置10,基板移送装
置15,カセット搬送装置25および昇降機構30な
ど、基板洗浄システムを構成する各構成装置の具体的構
造については、図示例に限定されることなく種々設計変
更可能である。
1,ローダ装置2,基板搬送処理装置10,基板移送装
置15,カセット搬送装置25および昇降機構30な
ど、基板洗浄システムを構成する各構成装置の具体的構
造については、図示例に限定されることなく種々設計変
更可能である。
【0076】また、洗浄部Bの具体的構成についても、
その洗浄目的および方法等に応じて種々設計変更され
る。
その洗浄目的および方法等に応じて種々設計変更され
る。
【0077】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
基板搬送処理装置によりウェハを洗浄処理している間
に、このウェハが取り出されて空になったキャリアカセ
ットを基板搬出部へ自動で搬送待機させ、洗浄処理が完
了したウェハを再びこの搬入時に用いたキャリアカセッ
トに収納して次工程へ搬出するから、キャリアカセット
が効率良く活用されて、その必要個数が最小限に抑えら
れるとともに、キャリアカセットの搬送処理が自動化・
効率化されてその保管スペースも不要となり、限られた
洗浄室空間を有効に利用することができる。
基板搬送処理装置によりウェハを洗浄処理している間
に、このウェハが取り出されて空になったキャリアカセ
ットを基板搬出部へ自動で搬送待機させ、洗浄処理が完
了したウェハを再びこの搬入時に用いたキャリアカセッ
トに収納して次工程へ搬出するから、キャリアカセット
が効率良く活用されて、その必要個数が最小限に抑えら
れるとともに、キャリアカセットの搬送処理が自動化・
効率化されてその保管スペースも不要となり、限られた
洗浄室空間を有効に利用することができる。
【0078】さらに、これらの洗浄工程が完全自動化さ
れているから、ウェハの工程履歴管理等も自動で確実に
行うことができる。
れているから、ウェハの工程履歴管理等も自動で確実に
行うことができる。
【図1】本発明の実施例1である基板洗浄システムの全
体構成を一部切開して示す斜視図である。
体構成を一部切開して示す斜視図である。
【図2】同基板洗浄システムの全体構成を示す概略平面
図である。
図である。
【図3】同基板洗浄システムにおけるタクト送り機構の
概略構成を示す正面図である。
概略構成を示す正面図である。
【図4】本発明の実施例2である基板洗浄システムの全
体構成を一部切開して示す斜視図である。
体構成を一部切開して示す斜視図である。
【図5】同基板洗浄システムの全体構成を示す概略平面
図である。
図である。
【図6】同基板洗浄システムにおける昇降機構の概略構
成を示す正面図である。
成を示す正面図である。
【図7】本発明の実施例3である基板洗浄システムの全
体構成を一部切開して示す斜視図である。
体構成を一部切開して示す斜視図である。
【図8】同基板洗浄システムの全体構成を示す概略平面
図である。
図である。
【符号の説明】 W ウェハ A 基板搬入部 A1 基板搬入部の入口部 A2 基板搬入部の基板移送部 A3 基板搬入部の出口部 B 洗浄部 C 基板搬出部 D カセット搬送部 E 制御装置(駆動制御部) F システム天井部 O オペレータゾーン 1 タクト送り機構 2 ローダ装置 3 ウェハ入りキャリアカセット 3´ 空カセット 10 基板搬送処理装置 11,12 洗浄槽列 13 基板移送部 15 基板移送装置 20 アンローダ装置 25 カセット搬送装置 26 カセット洗浄槽 30 昇降機構
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−27025(JP,A) 特開 昭63−208223(JP,A) 特開 平2−76227(JP,A)
Claims (3)
- 【請求項1】 前工程からキャリアカセットに収納され
て搬入される基板を、基板搬送処理装置に移し替えてカ
セットレスで洗浄処理を行った後、再び搬入時と同一の
キャリアカセットに戻して次工程へ搬出する方式の基板
洗浄装置であって、 装置搬入側に配置され、基板をキャリアカセットから上
記基板搬送処理装置に移し替えるローダ装置を備える基
板搬入部と、 この基板搬入部に隣接して配置され、複数の洗浄槽から
なる洗浄槽列およびこれら洗浄槽の配設方向へ移動可能
な上記基板搬送処理装置を備える洗浄部と、 この洗浄部の搬出側に隣接して配置され、洗浄処理が終
了した基板を上記基板搬送処理装置からキャリアカセッ
トに移し替えるアンローダ装置を備える基板搬出部と、 この基板搬入部と上記基板搬出部の間に配置されて、基
板が取り出された空のキャリアカセットを搬送するカセ
ット搬送装置を備えるカセット搬送部と、上記ローダ装置、基板搬送処理装置、アンローダ装置お
よびカセット搬送装置を互いに同期させて駆動制御する
駆動制御部とを備え、 上記洗浄部は、複数の洗浄槽からなる洗浄槽列が2列平
行に並設されてなり、 これら両洗浄槽列の一端側がそれぞれオペレータゾーン
に面して設けられるとともに、両洗浄槽列の他端側間に
基板移送部が設けられ、 これにより、基板の洗浄経路は、一方の洗浄槽列のオペ
レータゾーン側端からオペレータゾーン反対側端へ進む
とともに、他方の洗浄槽列のオペレータゾーン反対側端
からオペレータゾーン側端へ進むように構成されている ことを特徴とする基板洗浄システム。 - 【請求項2】 前工程からキャリアカセットに収納され
て搬入される基板を、基板搬送処理装置に移し替えてカ
セットレスで洗浄処理を行った後、再び搬入時と同一の
キャリアカセットに戻して次工程へ搬出する方式の基板
洗浄装置であって、 装置搬入側に配置され、基板をキャリアカセットから上
記基板搬送処理装置に移し替えるローダ装置を備える基
板搬入部と、 この基板搬入部に隣接して配置され、複数の洗浄槽から
なる洗浄槽列およびこれら洗浄槽の配設方向へ移動可能
な上記基板搬送処理装置を備える洗浄部と、 この洗浄部の搬出側に隣接して配置され、洗浄処理が終
了した基板を上記基板搬送処理装置からキャリアカセッ
トに移し替えるアンローダ装置を備える基板搬出部と、 この基板搬入部と上記基板搬出部の間に配置されて、基
板が取り出された空のキャリアカセットを搬送するカセ
ット搬送装置を備えるカセット搬送部と、上記ローダ装置、基板搬送処理装置、アンローダ装置お
よびカセット搬送装置を互いに同期させて駆動制御する
駆動制御部とを備え、 上記洗浄部は、複数の洗浄槽が上記基板搬入部から基板
搬出部まで一直線上に配置されてなり、 上記基板搬入部がオペレータゾーンと反対側に配置され
る一方、上記基板搬出部がオペレータゾーンに面して配
置され、 上記洗浄部の上方のシステム天井部に、オペレータゾー
ンから搬入される基板入りキャリアカセットを上記基板
搬入部へ移送する基板移送部と、上記カセット搬送部が
設けられている ことを特徴とする基板洗浄システム 。 - 【請求項3】 上記カセット搬送部に、上記カセット搬
送装置により搬送される空のキャリアカセットを洗浄す
るカセット洗浄槽が設けられている請求項1または2に
記載の基板洗浄システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5062670A JP2598364B2 (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | 基板洗浄システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5062670A JP2598364B2 (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | 基板洗浄システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06252126A JPH06252126A (ja) | 1994-09-09 |
JP2598364B2 true JP2598364B2 (ja) | 1997-04-09 |
Family
ID=13206966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5062670A Expired - Fee Related JP2598364B2 (ja) | 1993-02-26 | 1993-02-26 | 基板洗浄システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2598364B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0821566B2 (ja) * | 1986-07-18 | 1996-03-04 | 関西日本電気株式会社 | 半導体ウエ−ハの洗浄方法 |
JPS63208223A (ja) * | 1987-02-25 | 1988-08-29 | Hitachi Ltd | ウエハ処理装置 |
JPH07111963B2 (ja) * | 1988-09-12 | 1995-11-29 | 株式会社スガイ | 基板の洗浄乾燥装置 |
JP2541887Y2 (ja) * | 1990-03-02 | 1997-07-23 | 大日本スクリ−ン製造 株式会社 | ウエハの表面処理装置 |
JPH04157724A (ja) * | 1990-10-22 | 1992-05-29 | Dan Kagaku:Kk | 洗浄装置 |
JPH04249320A (ja) * | 1991-02-05 | 1992-09-04 | Mitsubishi Electric Corp | 自動洗浄装置における輸送方式 |
JP3117834U (ja) * | 2005-10-21 | 2006-01-12 | 高夫 石川 | パレット |
-
1993
- 1993-02-26 JP JP5062670A patent/JP2598364B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06252126A (ja) | 1994-09-09 |
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