JP2590762Y2 - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
- Publication number
- JP2590762Y2 JP2590762Y2 JP1993003331U JP333193U JP2590762Y2 JP 2590762 Y2 JP2590762 Y2 JP 2590762Y2 JP 1993003331 U JP1993003331 U JP 1993003331U JP 333193 U JP333193 U JP 333193U JP 2590762 Y2 JP2590762 Y2 JP 2590762Y2
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- Japan
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- electric signal
- waveform
- sampling point
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、光ファイバ接続点や破
断点等を検出するために、レーザ光等のパルスを出射し
て光ファイバ内で発生する後方散乱光や反射光の減衰量
を測定する光パルス試験器に関する。
断点等を検出するために、レーザ光等のパルスを出射し
て光ファイバ内で発生する後方散乱光や反射光の減衰量
を測定する光パルス試験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の光パルス試験器は、図３
に示すように、光源１１およびパルス幅設定部１２を含
む発光部１０と、光スイッチ２０と、受光部３１、低雑
音の増幅部３２からなるＯ／Ｅ変換部と、Ａ／Ｄ変換部
４０と、ディジタルアベレージャ５１’からなるデータ
演算部５０’と、表示部６０と、ＣＰＵ７０およびタイ
ミング発生部８０からなり、表示部６０と、測定条件の
切替え設定が可能な制御パネルを含むＣＰＵ７０からな
る本体に、光ファイバの種類や測定距離範囲等に応じ
て、交換可能なプローブパルスの波長やパルス幅、ダイ
ナミックレンジ等が固定された複数のプラグインユニッ
トを組合わせて使用されている。
に示すように、光源１１およびパルス幅設定部１２を含
む発光部１０と、光スイッチ２０と、受光部３１、低雑
音の増幅部３２からなるＯ／Ｅ変換部と、Ａ／Ｄ変換部
４０と、ディジタルアベレージャ５１’からなるデータ
演算部５０’と、表示部６０と、ＣＰＵ７０およびタイ
ミング発生部８０からなり、表示部６０と、測定条件の
切替え設定が可能な制御パネルを含むＣＰＵ７０からな
る本体に、光ファイバの種類や測定距離範囲等に応じ
て、交換可能なプローブパルスの波長やパルス幅、ダイ
ナミックレンジ等が固定された複数のプラグインユニッ
トを組合わせて使用されている。
【０００３】この光パルス試験器の動作は、一般に次の
通りである。
通りである。
【０００４】光源１１で発生されたレーザ光のプローブ
パルスは、パルス幅設定部１２により定められたパルス
幅および周期で光スイッチ２０を経由して測定対象の光
ファイバ９０に繰返し出射される。このプローブパルス
の出射光に対する光ファイバ９０から入射される反射光
や後方散乱光は、光スイッチ２０で分岐されて受光部３
１に導かれる。この入射光は、受光部３１によって同じ
アナログ波形の電気信号に変換され、増幅部３２で増幅
されてＡ／Ｄ変換部４０に送られる。Ａ／Ｄ変換部４０
は、このアナログ波形の電気信号を設定されたタイミン
グでサンプリングしてディジタルデータの電気信号に変
換する。
パルスは、パルス幅設定部１２により定められたパルス
幅および周期で光スイッチ２０を経由して測定対象の光
ファイバ９０に繰返し出射される。このプローブパルス
の出射光に対する光ファイバ９０から入射される反射光
や後方散乱光は、光スイッチ２０で分岐されて受光部３
１に導かれる。この入射光は、受光部３１によって同じ
アナログ波形の電気信号に変換され、増幅部３２で増幅
されてＡ／Ｄ変換部４０に送られる。Ａ／Ｄ変換部４０
は、このアナログ波形の電気信号を設定されたタイミン
グでサンプリングしてディジタルデータの電気信号に変
換する。
【０００５】ディジタルアベレージャ５１’は、このデ
ィジタルデータの信号を各プローブパルスに対する同一
順位のサンプリングポイントごとにその繰返し数ｍ個ず
つ集計してその平均値を演算し、その平均値のデータを
各サンプリングポイントの波形データとして出力する。
ィジタルデータの信号を各プローブパルスに対する同一
順位のサンプリングポイントごとにその繰返し数ｍ個ず
つ集計してその平均値を演算し、その平均値のデータを
各サンプリングポイントの波形データとして出力する。
【０００６】ディジタルアベレージャ５１’から出力さ
れたデータは、対数変換され、表示部６０のＣＲＴ、記
録装置等によって表示または記録される。
れたデータは、対数変換され、表示部６０のＣＲＴ、記
録装置等によって表示または記録される。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】従来の光パルス試験器
は、光ファイバから入射する微弱な反射光、後方散乱光
のＳ／Ｎ比を改善するために、プローブパルスを繰返し
光ファイバに出射し、各プローブパルスに対する反射光
等の波形をｍ個ずつ重ね合わせてその平均値を算出し、
この平均値による波形を表示していた。そして、測定対
象の区間に応じてプローブパルスの幅や出入パワーのダ
イナミックレンジを選択して測定精度の向上を計ってい
た。
は、光ファイバから入射する微弱な反射光、後方散乱光
のＳ／Ｎ比を改善するために、プローブパルスを繰返し
光ファイバに出射し、各プローブパルスに対する反射光
等の波形をｍ個ずつ重ね合わせてその平均値を算出し、
この平均値による波形を表示していた。そして、測定対
象の区間に応じてプローブパルスの幅や出入パワーのダ
イナミックレンジを選択して測定精度の向上を計ってい
た。
【０００８】しかし、接続点を含む通常の光ファイバか
らの反射光のデータは比較的安定しているが、光ファイ
バの切断点等の伝搬特性の不連続点や遠距離の測定区間
外等からの反射波形は変動が大きく、図２のＢに示すよ
うに、これらの部分からの波形データが大きく変動した
まま残り、また、同一のプローブパルス幅に対して、測
定区間の帯域を高精度で変更できないという欠点があっ
た。
らの反射光のデータは比較的安定しているが、光ファイ
バの切断点等の伝搬特性の不連続点や遠距離の測定区間
外等からの反射波形は変動が大きく、図２のＢに示すよ
うに、これらの部分からの波形データが大きく変動した
まま残り、また、同一のプローブパルス幅に対して、測
定区間の帯域を高精度で変更できないという欠点があっ
た。
【０００９】本考案は、このような欠点を解消し、１組
の回路でプローブパルスの幅に応じて測定区間の帯域を
変更し、空間分解能とダイナミックレンジを向上できる
光パルス試験器を提供することを目的とする。
の回路でプローブパルスの幅に応じて測定区間の帯域を
変更し、空間分解能とダイナミックレンジを向上できる
光パルス試験器を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本考案の光パルス試験器
は、Ａ／Ｄ変換された電気信号のデータを各プローブパ
ルスの同一順位のサンプリングポイントごとにプローブ
パルスの出射繰返し回数に等しい数ずつ集計してそれぞ
れの平均値を演算するディジタルアベレージャと、これ
らのサンプリングポイントごとの平均値を、最初のサン
プリングポイントから連続するｎ番目まで集計してその
平均値を演算し、その結果を第ｎ番目のサンプリングポ
イントの波形データとして出力し、その後サンプリング
ポイントを１個ずつ後方に移動しながら同様にしてｎ個
ずつの移動平均値を演算してそれぞれを第ｎ＋１番目以
降のサンプリングポイントの波形データとして出力する
移動平均処理部とを含むデータ演算部を有する。
は、Ａ／Ｄ変換された電気信号のデータを各プローブパ
ルスの同一順位のサンプリングポイントごとにプローブ
パルスの出射繰返し回数に等しい数ずつ集計してそれぞ
れの平均値を演算するディジタルアベレージャと、これ
らのサンプリングポイントごとの平均値を、最初のサン
プリングポイントから連続するｎ番目まで集計してその
平均値を演算し、その結果を第ｎ番目のサンプリングポ
イントの波形データとして出力し、その後サンプリング
ポイントを１個ずつ後方に移動しながら同様にしてｎ個
ずつの移動平均値を演算してそれぞれを第ｎ＋１番目以
降のサンプリングポイントの波形データとして出力する
移動平均処理部とを含むデータ演算部を有する。
【００１１】
【作用】移動平均処理部により、変動の大きい近接サン
プリングポイント間のデータの級間変動が平滑化され、
したがって、表示部に表示される波形のノイズによる大
きな変動が減少される。
プリングポイント間のデータの級間変動が平滑化され、
したがって、表示部に表示される波形のノイズによる大
きな変動が減少される。
【００１２】
【実施例】次に本考案の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１３】図１は本考案の光パルス試験器の一実施例
の構成を示すブロック図、図２は表示部の表示例で、Ａ
は本実施例によるもの、Ｂは従来の表示例によるもので
ある。
の構成を示すブロック図、図２は表示部の表示例で、Ａ
は本実施例によるもの、Ｂは従来の表示例によるもので
ある。
【００１４】図１において、本実施例の光パルス試験器
は、光源１１とパルス幅設定部１２を有する発光部１０
と、光スイッチ２０と、受光部３１、低雑音の増幅部３
２からなるＯ／Ｅ変換部３０と、Ａ／Ｄ変換部４０と、
ディジタイルアベレージャ５１、移動平均処理部５２か
らなるデータ演算部５０と、表示部６０と、各部の動作
を制御するＣＰＵ７０、タイミング発生部８０とからな
り、移動平均処理部５２以外の各部は、従来の光パルス
試験器と同様の回路を使用することができる。移動平均
処理部５２は、ディジタルアベレージャ５１から出力さ
れる入射光の波形をサンプリングして平均化された各サ
ンプリングポイントごとのディジタルデータを、最初の
サンプリングポイントに対応するデータから連続してｎ
個まで合計してｎで除して平均値を算出し、その平均値
を第ｎ番目のサンプリングポイントの波形データとして
出力し、その後続けてサンプリングポイントを１個ずつ
ずらしながら同様にしてｎ個ずつの移動平均値を演算し
てそれぞれを第ｎ＋１番目から後のサンプリングポイン
トの波形データとして出力するディジタルフィルタであ
る。ｎの値は、ＣＰＵ７０により外部から任意に指定さ
れる１以上の正の整数である。
は、光源１１とパルス幅設定部１２を有する発光部１０
と、光スイッチ２０と、受光部３１、低雑音の増幅部３
２からなるＯ／Ｅ変換部３０と、Ａ／Ｄ変換部４０と、
ディジタイルアベレージャ５１、移動平均処理部５２か
らなるデータ演算部５０と、表示部６０と、各部の動作
を制御するＣＰＵ７０、タイミング発生部８０とからな
り、移動平均処理部５２以外の各部は、従来の光パルス
試験器と同様の回路を使用することができる。移動平均
処理部５２は、ディジタルアベレージャ５１から出力さ
れる入射光の波形をサンプリングして平均化された各サ
ンプリングポイントごとのディジタルデータを、最初の
サンプリングポイントに対応するデータから連続してｎ
個まで合計してｎで除して平均値を算出し、その平均値
を第ｎ番目のサンプリングポイントの波形データとして
出力し、その後続けてサンプリングポイントを１個ずつ
ずらしながら同様にしてｎ個ずつの移動平均値を演算し
てそれぞれを第ｎ＋１番目から後のサンプリングポイン
トの波形データとして出力するディジタルフィルタであ
る。ｎの値は、ＣＰＵ７０により外部から任意に指定さ
れる１以上の正の整数である。
【００１５】この移動平均処理部の動作は、ディジタル
フィルタの代わりに、ＣＰＵ７０のソフトウェアにより
処理することもできる。
フィルタの代わりに、ＣＰＵ７０のソフトウェアにより
処理することもできる。
【００１６】
【考案の効果】本考案の光パルス試験器は、ディジタル
アベレージャと表示部との間に移動平均処理部を設ける
ことにより、変動の大きい近接サンプリングポイント間
のデータの級間変動がｎの平方根に逆比例して平滑化さ
れ、したがって、表示部に表示される波形のノイズによ
る大きな変動が減少され、従来は２機種、もしくは２系
統の回路が必要であったものが、１機種、１系統の回路
によりプローブパルスの幅に応じて測定区間の帯域を変
更し、空間分解能とダイナミックレンジを向上できると
いう効果がある。
アベレージャと表示部との間に移動平均処理部を設ける
ことにより、変動の大きい近接サンプリングポイント間
のデータの級間変動がｎの平方根に逆比例して平滑化さ
れ、したがって、表示部に表示される波形のノイズによ
る大きな変動が減少され、従来は２機種、もしくは２系
統の回路が必要であったものが、１機種、１系統の回路
によりプローブパルスの幅に応じて測定区間の帯域を変
更し、空間分解能とダイナミックレンジを向上できると
いう効果がある。
【図１】本考案の１実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】表示部に表示される波形の例を示す図である。 ［Ａ］本実施例による波形である。 ［Ｂ］従来の装置による波形である。
【図３】従来の光パルス試験器の構成を示すブロック図
である。
である。
１０ 発光部 １１ 光源 １２ パルス幅設定部 ２０ 光スイッチ ３０ Ｏ／Ｅ変換部 ３１ 受光部 ３２ 増幅部 ４０ Ａ／Ｄ変換部 ５０，５０’ データ演算部 ５１，５１’ ディジタルアベレージャ ５２ 移動平均処理部 ６０ 表示部 ７０ ＣＰＵ ８０ タイミング発生部 ９０ 光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01M 11/00
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザ光のプローブパルスを複数回繰返
して発光する発光部と、発光部で発光され測定対象の光
ファイバに出射されるプローブパルスと光ファイバから
の入射光とを分離する光スイッチと、光スイッチで分離
された入射光をアナログ波形の電気信号に変換するＯ／
Ｅ変換部と、前記アナログ波形の電気信号をサンプリン
グしてデジタル形の電気信号のデータに変換するＡ／Ｄ
変換部と、Ａ／Ｄ変換部で変換された電気信号のデータ
を演算して波形のデータを生成するデータ演算部と、デ
ータ演算部で生成された波形のデータを記憶および表示
する表示部とからなる光パルス試験器において、 前記データ演算部は、Ａ／Ｄ変換部で変換された電気信
号のデータを、各プローブパルスの同一順位のサンプリ
ングポイントごとにプローブパルスの出射繰返し回数に
等しい数ずつ集計してそれぞれの平均値を演算するディ
ジタルアベレージャと、 前記サンプリングポイントごとの平均値を、最初のサン
プリングポイントから連続するｎ番目まで集計してその
平均値を演算し、その結果を第ｎ番目のサンプリングポ
イントの波形データとして出力し、その後サンプリング
ポイントを１個ずつ後方に移動しながら、同様にしてｎ
個ずつの移動平均値を演算してそれぞれを第ｎ＋１番目
以降のサンプリングポイントの波形データとして出力す
る移動平均処理部とを含むことを特徴とする光パルス試
験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993003331U JP2590762Y2 (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993003331U JP2590762Y2 (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0662346U JPH0662346U (ja) | 1994-09-02 |
| JP2590762Y2 true JP2590762Y2 (ja) | 1999-02-17 |
Family
ID=11554377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993003331U Expired - Fee Related JP2590762Y2 (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2590762Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101908926A (zh) | 2006-02-03 | 2010-12-08 | 株式会社藤仓 | 光线路监视装置和光线路监视方法 |
-
1993
- 1993-02-08 JP JP1993003331U patent/JP2590762Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0662346U (ja) | 1994-09-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19981110 |
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